JPS59198370A - 3値論理素子の診断方式 - Google Patents
3値論理素子の診断方式Info
- Publication number
- JPS59198370A JPS59198370A JP58072853A JP7285383A JPS59198370A JP S59198370 A JPS59198370 A JP S59198370A JP 58072853 A JP58072853 A JP 58072853A JP 7285383 A JP7285383 A JP 7285383A JP S59198370 A JPS59198370 A JP S59198370A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output
- circuit
- high impedance
- expected value
- state
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の利用分野〕
本発明は、3値論理素子を含む、デジタル論理回路の回
路診断に関し、従来診断が不可能となっていた、ハイイ
ンピーダンス状態にかかわる診断性を改善することに関
するものである。
路診断に関し、従来診断が不可能となっていた、ハイイ
ンピーダンス状態にかかわる診断性を改善することに関
するものである。
従来技術ζこ3いて、かかる3値論理素子の出力ビンが
)IZ状態にあるときは、以下の如(、処理を行ってい
た。
)IZ状態にあるときは、以下の如(、処理を行ってい
た。
(i) 出力値不確定レベルとみなし、出力期待1直
を判定しない。
を判定しない。
(1) 試験装置に同紙されている終端抵抗等の機能
を考慮し、H,Lいずれかの状態にあるものとして判定
する。
を考慮し、H,Lいずれかの状態にあるものとして判定
する。
いずれの場合も、H2状態そのものを試験装置で認識し
ない為に、H2状態に関連する回−路部の診断が不可能
と云う欠点があった。
ない為に、H2状態に関連する回−路部の診断が不可能
と云う欠点があった。
本発明の目的は、3([t!理素子の出力ビンのH2状
態を試験装置にg識させ、上記状態にかかわる回路状態
を、正硼に判定させる手段を提供することにある。
態を試験装置にg識させ、上記状態にかかわる回路状態
を、正硼に判定させる手段を提供することにある。
例えば3111N論理素子の出力ビンがL状態から、H
z状態に変化するテストシーケンスにおいては試験装置
に備えた終端抵抗および浮遊容量等により電荷の光放電
を行わせ、当該ビンの電位を最終的にH状態と同じ電位
に安定させることができるが、この場合の出力電位変化
は、他の電位変化に較べ出力確定時間に関して、顕著な
相異が発生する。即ぢ、この変化状態を判定することに
より、1−I Z状態を識別することが可能となる。
z状態に変化するテストシーケンスにおいては試験装置
に備えた終端抵抗および浮遊容量等により電荷の光放電
を行わせ、当該ビンの電位を最終的にH状態と同じ電位
に安定させることができるが、この場合の出力電位変化
は、他の電位変化に較べ出力確定時間に関して、顕著な
相異が発生する。即ぢ、この変化状態を判定することに
より、1−I Z状態を識別することが可能となる。
〔発明の実施90 )
以下、本発明の実施例を図1〜3で説明する。
第1図は、幻象とするトライステート素子の論理シンボ
ルとその動作表を示したものである。
ルとその動作表を示したものである。
第2図は、被試験回路と、試験装置の回路接続状態を示
したものである。今、被試験回路中のトライステート素
子6の人力信号2および4の状態が前段回路1,3によ
り変化し、出力信号5がL状態からHz状態に変化か生
じた場合、試験装置内の終端抵抗7および図示しない浮
遊容量により充放電されるため、その電位変化は著じる
しく遅延され、入力アンプ8に償却される。10は診断
データの出力期待i1[と、芙際に観御jされた出力1
直の比較回路であり、判定時刻は各テストの開始時刻(
入力信号値の確定時刻)から一定時間後に行うことがで
きる。9は出力期待値変更回路であり、上記判定時刻の
設定に従い、当該出力ビンの期待値を、直前のテスト結
果とするか、変化後の期待値とするかを選択する機能を
有する。今出力判定時刻がトライステート出力の変化に
較べ充分早い設定がなされている場合、回路9は判定回
路10に対して、前回テストの出力期待値を判定するよ
う制御する。一方、出力判定時刻が充分遅く設定されて
いる場合には、出力変化後の出力期待値を指定する。こ
の制御は、試験装置に入力される診断データと設定され
た出力判定時刻の値により、一意的に決定することがで
きる。
したものである。今、被試験回路中のトライステート素
子6の人力信号2および4の状態が前段回路1,3によ
り変化し、出力信号5がL状態からHz状態に変化か生
じた場合、試験装置内の終端抵抗7および図示しない浮
遊容量により充放電されるため、その電位変化は著じる
しく遅延され、入力アンプ8に償却される。10は診断
データの出力期待i1[と、芙際に観御jされた出力1
直の比較回路であり、判定時刻は各テストの開始時刻(
入力信号値の確定時刻)から一定時間後に行うことがで
きる。9は出力期待値変更回路であり、上記判定時刻の
設定に従い、当該出力ビンの期待値を、直前のテスト結
果とするか、変化後の期待値とするかを選択する機能を
有する。今出力判定時刻がトライステート出力の変化に
較べ充分早い設定がなされている場合、回路9は判定回
路10に対して、前回テストの出力期待値を判定するよ
う制御する。一方、出力判定時刻が充分遅く設定されて
いる場合には、出力変化後の出力期待値を指定する。こ
の制御は、試験装置に入力される診断データと設定され
た出力判定時刻の値により、一意的に決定することがで
きる。
第3図に以上のタイムチャートを示す。被試験回路の入
力信号は、各テストシーケンスの先頭時刻で確定し、ト
ライステート素子の出力ビンがL状態からHz状態に変
化する場合は、通常の回路遅延よりも充分遅く変化する
。まず第1回目のテストで、出力測定時刻をAに設定し
、テストを行う。この場合、テストシーケンスn+1に
おけるトライステート出力ビンの期待値は、テストシー
ケンスnと同じものとして判定される。次に、出力測定
時刻をBに設定しテストを行う。この場合、テストシー
ケンスn+1におけるトライステート出力ビンの期待値
は、充放電完了後の安定状態が用いられる。
力信号は、各テストシーケンスの先頭時刻で確定し、ト
ライステート素子の出力ビンがL状態からHz状態に変
化する場合は、通常の回路遅延よりも充分遅く変化する
。まず第1回目のテストで、出力測定時刻をAに設定し
、テストを行う。この場合、テストシーケンスn+1に
おけるトライステート出力ビンの期待値は、テストシー
ケンスnと同じものとして判定される。次に、出力測定
時刻をBに設定しテストを行う。この場合、テストシー
ケンスn+1におけるトライステート出力ビンの期待値
は、充放電完了後の安定状態が用いられる。
以上のように、本実施例の回路診断8来施することによ
り、トライステート索子のHzi71の正常性をNgす
ることができる。
り、トライステート索子のHzi71の正常性をNgす
ることができる。
本発明によれば、従来診断が不可能であったトライステ
ート素子のHz状態の回路診断が可能になる。また出力
判定時刻を二度に分け、各々の出力期待値の変更を、出
力判定時刻の値と、診断データから容易に決定できるの
で、従来の試験装置でも容易に、本診断方式に移行でき
る効果がある。
ート素子のHz状態の回路診断が可能になる。また出力
判定時刻を二度に分け、各々の出力期待値の変更を、出
力判定時刻の値と、診断データから容易に決定できるの
で、従来の試験装置でも容易に、本診断方式に移行でき
る効果がある。
第1図は、トライステート素子の論理シンホル例と動作
説明図、第2図は、本発明の一実施例の回路構成図、第
3図は、診断時のタイムチャート図である。 1.3・・・トライステート素子の入力前段回路2.4
・・・トライステート索子の入力信号5・・・トライス
テート素子の出力信号6・・・トライステート素子 7・・・終端抵抗 8・・・入力アンプ 9・・・期待値変更制御回路 10・・・出力判定回路 第1図 茅 3図 B イ畠号 2 HL
説明図、第2図は、本発明の一実施例の回路構成図、第
3図は、診断時のタイムチャート図である。 1.3・・・トライステート素子の入力前段回路2.4
・・・トライステート索子の入力信号5・・・トライス
テート素子の出力信号6・・・トライステート素子 7・・・終端抵抗 8・・・入力アンプ 9・・・期待値変更制御回路 10・・・出力判定回路 第1図 茅 3図 B イ畠号 2 HL
Claims (1)
- t fi 的ハイレベル(H) 、ローレベル(L)#
よびハイインピーダンス(Hz)の3状態を取り得る素
子の出力ビンにおいて、当該出力ビンが(Hz)状態に
あることを認識せしめるデータと、当該出力ビンが(n
z)状態にあるとき、内蔵しである終端抵抗等により、
これを電気的に(H)、(L)いずれかのレベルに補正
し得る機能と、出力測定時間を任意に設定できる機能を
有する試験装置において、出力測定時間を長、短二度に
亘り診断することを特徴とする3値論理素子の診断方式
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58072853A JPS59198370A (ja) | 1983-04-27 | 1983-04-27 | 3値論理素子の診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58072853A JPS59198370A (ja) | 1983-04-27 | 1983-04-27 | 3値論理素子の診断方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59198370A true JPS59198370A (ja) | 1984-11-10 |
Family
ID=13501338
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58072853A Pending JPS59198370A (ja) | 1983-04-27 | 1983-04-27 | 3値論理素子の診断方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59198370A (ja) |
-
1983
- 1983-04-27 JP JP58072853A patent/JPS59198370A/ja active Pending
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