JPS59190293A - 単結晶育成装置 - Google Patents

単結晶育成装置

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Publication number
JPS59190293A
JPS59190293A JP6340483A JP6340483A JPS59190293A JP S59190293 A JPS59190293 A JP S59190293A JP 6340483 A JP6340483 A JP 6340483A JP 6340483 A JP6340483 A JP 6340483A JP S59190293 A JPS59190293 A JP S59190293A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
single crystal
crucible
heater
melt
temperature gradient
Prior art date
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Pending
Application number
JP6340483A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshio Shoji
利男 東海林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokin Corp
Original Assignee
Tohoku Metal Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tohoku Metal Industries Ltd filed Critical Tohoku Metal Industries Ltd
Priority to JP6340483A priority Critical patent/JPS59190293A/ja
Publication of JPS59190293A publication Critical patent/JPS59190293A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/14Heating of the melt or the crystallised materials

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、単結晶を引上げる方式(単結晶用」二げ式)
の単結晶育成装置に関するものである。
ヱ)1結晶引上げ式の単結晶育成装置は、引上けるべき
単結晶の融液(メルI・)を貯えるためのるつぼと、該
るつぼの共力に置かれた。該るっぼ内の融液から引」こ
けられる単結晶が急激に冷却されることを避けるだめの
アフターヒーターとを有している。るつぼの側面の周囲
には、加熱コイルを有する電気炉が配置されている。
このような単結晶育成装置において引−1xけた単結晶
の光学的均一性をg察ずろと、単結晶の先端部(下端部
)近くの直胴部にザフグレインが発生していることが良
く有る。これは、メルトかるつぼ−Aイ畳二人っていた
ときに、引上げ・1山力向のdll’1度勾配が最適な
ど温度勾配になっていたにもかかわらず、単結晶用」二
けによるメルト?夜面低[Jに伴うるっは壁のアフター
ヒーター的力ロ熱効果の増大によって、メルト液面近傍
の温度勾配が必要以」二に小さく(緩く〕なることによ
る。このため、メルト液面万傍では、引りけ・袖方向の
温度勾配よりも、るっは半径方向の2:ia度分在不均
−が支配的となり、それによる熱応力によって光学的に
不均一な部分が発生ずる。
従来、これを防ぐ方法として、加熱コイルを徐々に下げ
、アフターヒーターの加熱を弱めていく方法を用いてい
た。しかし、この加熱コイル降十〆去ては、メルト吊−
がMつだそれぞれの状γト1;での最通t1情度勾配を
示す加熱コイル位置をろつけなければならないことや、
加熱コイル降゛1・に伴うるつぼ温度変化による単結晶
の直径変動などの問題があった。
本発明の目的は、単結晶用りげ中に、加熱コイル降下な
どの面倒な操作を必要とせず、引」二げ軸方向の温度勾
配を、るつぼ内の融液の波向降ドに関係なく常に一定に
保つことかできる単結晶用」二げ式の単結晶育成装置を
提供することにある。
本発明によれは、引上げるべき単結晶の融液を貯えるた
めのるつぼと、該るつぼ内の融液から引」二げられる単
結晶が急激に冷却されることを避けるためのアフターヒ
ーターとを有する単結晶用」二げ式の単結晶育成装[6
において、前記アフターヒーターを前記融液の液面に汀
かぜたことを特徴とする単結晶育成装置が得られる。
以−(九図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
第1図を参照すると、従来の単結晶用」−げ式の単結晶
育成装置が示されている。図において。
1は回転引」−はシャフト、2’t=i、種子結晶であ
る。
ろは対流による熱の逃げを防ぐだめの」二重、4及び5
は外側及び内側保2+’l+1が」、6は中蓋である。
7はアルミするつは、8はZrO2粉末、9はr’ す
るっぽ、10は引」二は軸方向の温度勾配を緩くするた
めに用いるアフターヒーターである。11は引]二けら
れた単結晶、12はtMJ!液(メルト)である。16
は電気炉の加熱コイルである。この単結晶育成装置は、
るつぼ9内の融液12から引りけらfitた単結晶11
の保iMi”tを行うために。
外側保温筒4及び内側保温筒5を設けて、二重保温構造
としている。
この単結晶育成装置においては、引−には軸方向の64
清度勾配を緩くするだめのアフターヒーター10は中蓋
乙の上(二置いであるため、メルト?夜面が低下するこ
と(二上ってメルト波向に対するアフターヒーター10
の相対的位置関係が変化する。単結晶引上けによるメル
ト液面低下に伴うるつぼ9の壁のアフターヒーター的加
熱効果の増大によって、メルト液面近傍の温度勾配か必
及以−Lに緩くなることは、既述したとおりである。し
かも、中蓋乙の中央部に穴が設けられ′Cいるため、こ
の中蓋乙の大部分で軸方向のi:li’1度勾配が負か
ら正に変わる現象か現れる。その急激な温度変化(二よ
っても、引−にけた単結晶内に熱歪みが発生ずる。
第2図を参照すると2本発明の一実施例によるLP結晶
引」−は式の単結晶rj成装置j・寸、アフターヒータ
ー10の下部を内側にかぎ形に折曲げ。
このアフターヒーター10をメルト12の7(j−面に
l’?かせたことを特徴とする。
本実施例では、アフターヒーター1Dをノルド12のl
fシ面に庁、かせたため、メルト波向にり]するアフタ
ーヒーター10の相対的位置関係が”、lirに一定で
あり、しかも1)i」述の/)、(:+き中蓋6の大部
分での引」−は軸方向の#+iL度勾配の急激な変化は
生じない。
更に具体的な例をあける。中蓋6の上に長さ100ix
のアフターヒーター10を置いた第1図の装置(直径1
00 rppのPl、るつぼ9を使用。)によって、引
」二げた単結晶(40朋φ×200朋)か、その先端部
(下端部)を基準にして5U〜100籠の間(上☆’A
部を基イ1(にすると100〜150闘の間)で光学的
均一性が良好てあったとする。
この際、単結晶の体積とメル)M少1dとはほぼ同しで
あることから、最適温度勾配を示ずときのノル1−液面
位置が求まる。該ノル1−液面位置は、この例では、1
6〜24蛯となる。従って。
第2図の装置でメルトが一杯のとき1例えば]、4さ1
16荘のアフターヒーター10をメル)・液面:二l′
−スかせれlj、第1図の装fi/i、てメルトがi 
6 ym低下した時の最適保tj11i1状、幌に、保
つことができる。
以−1−説明したように本発明によれill:、r15
結晶引」こげ中に、加熱コイル降下などの[hj倒な操
作を必要とせず、引上げ軸方向の、信度勾配を、るつぼ
内の融液の液面防上に関係なく常に一定に保つことがで
きる単結晶用」−げ式の単結晶育成装置が得られる。従
って、引上は軸方向に対して一様に結晶性の良好な単結
晶を引」−けることかてき1単結晶の長尺化によるコヌ
トダウンがijJ能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の単結晶育成装置を示す断面図。 第2図は本発明の一実施例による単結晶育成装置を示す
断面図である。 1・回転中」二はシャフト、2・・種子結晶、6・・・
上蓋、4・・外側保温筒、5・・・内イtlll保温1
町、6・・中蓋、7・・アルミするつぼ、8・・ジルコ
ニア粉末、9・−・Pl、るつぼ、10 アフターヒー
ター。 11・・単結晶、12・・融液、13 ・加熱コイル。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 引上けるべき単結晶の融液を貯えるためのるつぼと
    、該るつぼ内の融液から引」−げられる単結晶か急激に
    冷却されることを避けるためのアフターヒーターとを有
    する単結晶引上げ式の単結晶育成装置において、 r)
    i+記デアフタ−ヒーター的記融液の液面に1才かぜだ
    ことを特徴とする¥1結晶育成装置。
JP6340483A 1983-04-11 1983-04-11 単結晶育成装置 Pending JPS59190293A (ja)

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JP6340483A JPS59190293A (ja) 1983-04-11 1983-04-11 単結晶育成装置

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ID=13228328

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Cited By (3)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60118699A (ja) * 1983-11-30 1985-06-26 Sumitomo Electric Ind Ltd 砒化ガリウム単結晶製造装置と砒化ガリウム単結晶
JPS63166795A (ja) * 1986-12-26 1988-07-09 Toshiba Ceramics Co Ltd シリコン単結晶引上装置
JPS63166792A (ja) * 1986-12-26 1988-07-09 Toshiba Ceramics Co Ltd シリコン単結晶引上装置

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5562892A (en) * 1978-11-01 1980-05-12 Hitachi Chem Co Ltd After-heater

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JPH0751474B2 (ja) * 1986-12-26 1995-06-05 東芝セラミツクス株式会社 シリコン単結晶引上装置
JPH0751475B2 (ja) * 1986-12-26 1995-06-05 東芝セラミツクス株式会社 シリコン単結晶引上装置

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