JPS59189165U - 試験装置 - Google Patents

試験装置

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JPS59189165U
JPS59189165U JP8540783U JP8540783U JPS59189165U JP S59189165 U JPS59189165 U JP S59189165U JP 8540783 U JP8540783 U JP 8540783U JP 8540783 U JP8540783 U JP 8540783U JP S59189165 U JPS59189165 U JP S59189165U
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JP
Japan
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test equipment
terminal group
terminal
test device
test
Prior art date
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Pending
Application number
JP8540783U
Other languages
English (en)
Inventor
伊藤　則文
塩谷　全哲
Original Assignee
三菱電機株式会社
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Publication date
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Priority to JP8540783U priority Critical patent/JPS59189165U/ja
Publication of JPS59189165U publication Critical patent/JPS59189165U/ja
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  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は従来の試験装置の構成を示す結線図、第２図は
この考案の一実施例による試験装置の構成を示す結線図
である。 １．２・・・・・・試験器、３Ａ、　　３Ｂ・・・・・
・機器、５Ａ。 ５Ｂ、　　５Ｇ、　　５Ｄ・・曲多芯ケーブル、５Ａ、
　　６Ｂ。 ６Ｇ、　　６Ｄ・・・・・・端子群、７・・・・・・ス
イッチ、３Ａ。 ８Ｂ・・・・・・多芯ケーブル、９・・・・・・切替盤
。なお、図中同一符号は同−又は相当部分を示す。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 試験内容の異なる複数の試験器で段階的に機器を試験す
    る試験装置において、各試験器が接続される複数組の第
    １の端子群と、各機器が接続される複数組の第２の端子
    群と、上記第１の端子群と上記第２の端子群との接続を
    切替えるスイッチとを備えていることを特徴とする試験
    装置。
JP8540783U 1983-06-02 1983-06-02 試験装置 Pending JPS59189165U (ja)

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JP8540783U JPS59189165U (ja) 1983-06-02 1983-06-02 試験装置

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8540783U JPS59189165U (ja) 1983-06-02 1983-06-02 試験装置

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JPS59189165U true JPS59189165U (ja) 1984-12-15

Family

ID=30215372

Family Applications (1)

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JP8540783U Pending JPS59189165U (ja) 1983-06-02 1983-06-02 試験装置

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