JPS59184501A - サ−ミスタ用酸化物半導体 - Google Patents
サ−ミスタ用酸化物半導体Info
- Publication number
- JPS59184501A JPS59184501A JP5812583A JP5812583A JPS59184501A JP S59184501 A JPS59184501 A JP S59184501A JP 5812583 A JP5812583 A JP 5812583A JP 5812583 A JP5812583 A JP 5812583A JP S59184501 A JPS59184501 A JP S59184501A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- thermistor
- oxide semiconductor
- samples
- composition
- stable
- Prior art date
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- Granted
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- Thermistors And Varistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、200″C〜700″Cで利用できうる中、
高温のサーミスタ用酸化物半導体に関するものである。
高温のサーミスタ用酸化物半導体に関するものである。
従来例の構成とその問題点
従来から良く知られているMn −Co −N i酸化
物系サーミスタ材料は、汎用ディスク型サーミスタとし
て主に用いられてきたが、高温使用下での抵抗値変動が
大きいため、300’Cを越えるような7 高温度では使用することができず、300″C以下の温
度で使用されてきた。一方、700°C〜1000°C
の高温で使用できる材料としては、安定化ジルコニア
(Z r 02 Y203. Z r 02 Ca O
等) 、 Mq−An−Cr−Fe酸化物スピネル系等
が開発されている(特公昭48−705 号公報、特公
昭49−63995号公報、特公昭50−18894号
公報、特公昭50−16895号公報、特開昭53−3
3756号公報)。しかし、これらの酸化物材料も焼成
温度が1600°C以上の高温でなければならず、通常
の電気炉(最高1600″C)用いたのでは焼成できな
いものであった。その上、これら酸化物の焼結体であっ
ても抵抗値の経時変化は大きく、きわめて安定なもので
さえ10%(1000時間後)程度であり、経時安定性
に問題があった。
物系サーミスタ材料は、汎用ディスク型サーミスタとし
て主に用いられてきたが、高温使用下での抵抗値変動が
大きいため、300’Cを越えるような7 高温度では使用することができず、300″C以下の温
度で使用されてきた。一方、700°C〜1000°C
の高温で使用できる材料としては、安定化ジルコニア
(Z r 02 Y203. Z r 02 Ca O
等) 、 Mq−An−Cr−Fe酸化物スピネル系等
が開発されている(特公昭48−705 号公報、特公
昭49−63995号公報、特公昭50−18894号
公報、特公昭50−16895号公報、特開昭53−3
3756号公報)。しかし、これらの酸化物材料も焼成
温度が1600°C以上の高温でなければならず、通常
の電気炉(最高1600″C)用いたのでは焼成できな
いものであった。その上、これら酸化物の焼結体であっ
ても抵抗値の経時変化は大きく、きわめて安定なもので
さえ10%(1000時間後)程度であり、経時安定性
に問題があった。
また、センサ市場から200″C〜700″Cで安定定
性に優れたサーミスタの要望が一段と高くなり、これに
対応したサーミスタ材料(Mn −N i −開 、l酸イケ係:轡昭57−95603号公報(N ix
Mg yZnz)Mn204スピネル系:特開昭57−
8870137 、・ 号公報、(NipCo9FerAJ2sMn、 )04
スピネル系:特開昭57−88702号公報等)が提案
されてきたが、丑だ評価段階である。
性に優れたサーミスタの要望が一段と高くなり、これに
対応したサーミスタ材料(Mn −N i −開 、l酸イケ係:轡昭57−95603号公報(N ix
Mg yZnz)Mn204スピネル系:特開昭57−
8870137 、・ 号公報、(NipCo9FerAJ2sMn、 )04
スピネル系:特開昭57−88702号公報等)が提案
されてきたが、丑だ評価段階である。
発明の目的
本発明は上記問題点に鑑みてなされたもので、その目的
とするところは、200″C〜700″Cで適当な抵抗
値全示し、安定に使用できるサーミスタ用酸化物半導体
の提供にある。
とするところは、200″C〜700″Cで適当な抵抗
値全示し、安定に使用できるサーミスタ用酸化物半導体
の提供にある。
発明の構成
本発明は安定なZn−Mn−Cr系酸化物組成にZ r
O2f加えることにより、より安定性の高い材料を得
たことによる。本発明のサーミスタ組成は金属元素とし
て、Zn 5.6〜33.3原子%、Mn11.1−6
6.7原子%およびCr5.e 〜ss、−e原子%の
3種を含有し、この合計が100原子%となる組成に対
し、外削でZr fo、01〜10.○原子%添加する
ものである。ここで、組成物はZnxMnyCr204
+ W ZrO2で表わすことができ、x + y +
z = 1となる。結晶構造上は、ZnXMn。
O2f加えることにより、より安定性の高い材料を得
たことによる。本発明のサーミスタ組成は金属元素とし
て、Zn 5.6〜33.3原子%、Mn11.1−6
6.7原子%およびCr5.e 〜ss、−e原子%の
3種を含有し、この合計が100原子%となる組成に対
し、外削でZr fo、01〜10.○原子%添加する
ものである。ここで、組成物はZnxMnyCr204
+ W ZrO2で表わすことができ、x + y +
z = 1となる。結晶構造上は、ZnXMn。
CrzOガスピネル構造をとり、Z r O2がバテラ
イトとして存在する。上記の組成範囲にあるものは、6
00″G、1000時間後の抵抗値の経時変化が±5%
以内であり、従来の材料と比較してきわめて安定な特性
を有するものである。
イトとして存在する。上記の組成範囲にあるものは、6
00″G、1000時間後の抵抗値の経時変化が±5%
以内であり、従来の材料と比較してきわめて安定な特性
を有するものである。
実施例の説明
以下、本実施例について説明する。
市販の原料ZnO、MnCO3,Cr2O3,ZrO2
を下記の第1表に示すそれぞれの原子%の組成になるよ
う配合する。これをボールミルで混合後乾燥させ、10
0″Cで仮焼する。こ扛ヲ再びボールミルで粉砕し、得
られたスラリーヲ乾燥する。乾燥後、ポリビニルアルコ
ールをバインダとして添加混合し、所要量採って2本の
白金線と一体成形する。これ@1Aoo°Cで2時間焼
成する。このようにして製造されたサーミスタ材料の各
組成比について、500°Cにおける抵抗値、サーミス
タ定数およびcsoo’cにおける抵抗値経時変化率を
第1表に併せて示した〇 5ぺ一−一・ 第 1 表 6ベー゛ (苦印試料は比較試料であり、本発明の範囲外である。
を下記の第1表に示すそれぞれの原子%の組成になるよ
う配合する。これをボールミルで混合後乾燥させ、10
0″Cで仮焼する。こ扛ヲ再びボールミルで粉砕し、得
られたスラリーヲ乾燥する。乾燥後、ポリビニルアルコ
ールをバインダとして添加混合し、所要量採って2本の
白金線と一体成形する。これ@1Aoo°Cで2時間焼
成する。このようにして製造されたサーミスタ材料の各
組成比について、500°Cにおける抵抗値、サーミス
タ定数およびcsoo’cにおける抵抗値経時変化率を
第1表に併せて示した〇 5ぺ一−一・ 第 1 表 6ベー゛ (苦印試料は比較試料であり、本発明の範囲外である。
)
第1表のうち、試料1.10.18については既に本発
明者らが提案済組成であり、試料6,7゜9.14,1
5,17.20は抵抗値の経時変化が大きく、また試料
16は1600°Cの高温でも焼結しにくく特性測定が
困難であったため請求の範囲外とした。
明者らが提案済組成であり、試料6,7゜9.14,1
5,17.20は抵抗値の経時変化が大きく、また試料
16は1600°Cの高温でも焼結しにくく特性測定が
困難であったため請求の範囲外とした。
今回の試料には乾式成形による白金線埋込の素子を用い
たが、主要組成についてビード形あるいは湿式成形法に
よる白金電極を用いたチップのガラス封入タイプ素子に
おいても同様の結果を得た。
たが、主要組成についてビード形あるいは湿式成形法に
よる白金電極を用いたチップのガラス封入タイプ素子に
おいても同様の結果を得た。
なお、本発明の実施例については粉砕混合工程でメノウ
玉石を用いた。また、上記実施例の試料(焼結体)につ
いて元素分析を行った結果、S17ページ およびB等のガラス形成物元素の混入は、サーミスタ構
成元素の1o○原子%に対してすべての試料において1
原子%以下であった。
玉石を用いた。また、上記実施例の試料(焼結体)につ
いて元素分析を行った結果、S17ページ およびB等のガラス形成物元素の混入は、サーミスタ構
成元素の1o○原子%に対してすべての試料において1
原子%以下であった。
発明の効果
本発明はその構成でも述べたように、高温で安定なZ
n −Mn −Cr系酸化物組成にZr○2全加えるこ
とにより、より安定性の高い材料を得たことによる。そ
して、Z r O2は(ZnMnCr)04 に固溶せ
ず、バテライトとして存在するにもかかわらず高温で安
定である。この原因については現在検討中である。
n −Mn −Cr系酸化物組成にZr○2全加えるこ
とにより、より安定性の高い材料を得たことによる。そ
して、Z r O2は(ZnMnCr)04 に固溶せ
ず、バテライトとして存在するにもかかわらず高温で安
定である。この原因については現在検討中である。
以上の実施例かられかるように、本発明のサーミスタ用
酸化物半導体は、高温における特性が従来品に比べてき
わめて安定であり、高温で高い信頼性が要求されている
温度測定に最も適していると言える。すなわち、例えば
電子レンジ、石油気化の温度制御および安定装置用等の
利用分野での貢献が期待できる。
酸化物半導体は、高温における特性が従来品に比べてき
わめて安定であり、高温で高い信頼性が要求されている
温度測定に最も適していると言える。すなわち、例えば
電子レンジ、石油気化の温度制御および安定装置用等の
利用分野での貢献が期待できる。
代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名3−
Claims (1)
- 金属元素として亜鉛5.6〜33.3原子%、マンガン
11.1〜75.0原子%およびクロム5.6−ノ56
.6原子%を含有し、3種の金属元素を総合計100原
子%含有する組成比に対し、外削でジルコニウムi0.
01〜10.0原子%含有するサーミスタ用酸化物半導
体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5812583A JPS59184501A (ja) | 1983-04-01 | 1983-04-01 | サ−ミスタ用酸化物半導体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5812583A JPS59184501A (ja) | 1983-04-01 | 1983-04-01 | サ−ミスタ用酸化物半導体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59184501A true JPS59184501A (ja) | 1984-10-19 |
JPH043643B2 JPH043643B2 (ja) | 1992-01-23 |
Family
ID=13075255
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5812583A Granted JPS59184501A (ja) | 1983-04-01 | 1983-04-01 | サ−ミスタ用酸化物半導体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59184501A (ja) |
-
1983
- 1983-04-01 JP JP5812583A patent/JPS59184501A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH043643B2 (ja) | 1992-01-23 |
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