JPH043642B2 - - Google Patents
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- JPH043642B2 JPH043642B2 JP2792383A JP2792383A JPH043642B2 JP H043642 B2 JPH043642 B2 JP H043642B2 JP 2792383 A JP2792383 A JP 2792383A JP 2792383 A JP2792383 A JP 2792383A JP H043642 B2 JPH043642 B2 JP H043642B2
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- thermistor
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- atomic
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- metal elements
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- 239000011651 chromium Substances 0.000 claims description 6
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 5
- 239000011701 zinc Substances 0.000 claims description 4
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 claims description 2
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L manganese(2+);methyl n-[[2-(methoxycarbonylcarbamothioylamino)phenyl]carbamothioyl]carbamate;n-[2-(sulfidocarbothioylamino)ethyl]carbamodithioate Chemical compound [Mn+2].[S-]C(=S)NCCNC([S-])=S.COC(=O)NC(=S)NC1=CC=CC=C1NC(=S)NC(=O)OC WPBNNNQJVZRUHP-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 claims 1
- 239000011572 manganese Substances 0.000 description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 6
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052596 spinel Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000011029 spinel Substances 0.000 description 4
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 2
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 2
- 229910020630 Co Ni Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910002440 Co–Ni Inorganic materials 0.000 description 1
- PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N Manganese Chemical compound [Mn] PWHULOQIROXLJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 101100513612 Microdochium nivale MnCO gene Proteins 0.000 description 1
- 229910003310 Ni-Al Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 description 1
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 1
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 238000000921 elemental analysis Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000007496 glass forming Methods 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 1
- 238000010298 pulverizing process Methods 0.000 description 1
- 229910002076 stabilized zirconia Inorganic materials 0.000 description 1
- JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N tellanylidenegermanium Chemical compound [Te]=[Ge] JBQYATWDVHIOAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009834 vaporization Methods 0.000 description 1
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Thermistors And Varistors (AREA)
Description
産業上の利用分野
本発明は、200〜700℃で利用できうる中、高温
用のサーミスタ用酸化物半導体に関するものであ
る。 従来例の構成とその問題点 従来から良く知られているMn−Co−Ni酸化物
系サーミスタ材料は、汎用デイスク型サーミスタ
として主に用いられてきたが、高温使用下での抵
抗値変動が大きいため、300℃を越えるような高
温度では使用することができず、300℃以下の温
度で使用されたきた。一方、700〜1000℃の高温
で使用できる材料としては、安定化ジルコニア
(ZrO2−Y2O3,ZrO2−CaO等)、Mg−Al−Cr−
Fe酸化物スピネル系等が開発されている(特公
昭48−705号公報、特公昭49−63995号公報、特公
昭50−16894号公報、特公昭50−16895号公報、特
開昭53−33756号公報)。しかし、これらの酸化物
材料も焼成温度が1600℃を越える高温でなければ
ならず、通常の電気炉(最高1600℃)を用いたの
では焼成できないものであつた。その上、これら
酸化物の焼結体であつても抵抗値の経時変化は大
きく、きわめて安定なものでさえ10%(1000時間
後)程度であり、経時安定性に問題があつた。 また、センサ市場から200〜700℃で安定性に優
れたサーミスタの要望が一段と高くなり、これに
対応したサーミスタ材料{Mn−Ni−Al酸化物
系:特開昭57−95603号公報、(NiXMgYZnZ)
Mn2O4スピネル系:特開昭57−88701号公報、
(NipCoqFerAlsMnt)O4スピネル系:特開昭57−
88702号公報等が提案されてきたが、まだ評価段
階である。 発明の目的 本発明は上記問題点に鑑みてなされたもので、
その目的とするところは、200〜700℃で適当な抵
抗値を示し、安定に使用できるサーミスタ用酸化
物半導体の提供にある。 発明の構成 本発明のサーミスタ用酸化物半導体は、金属元
素として亜鉛(Zn)5.6〜33.3原子%、マンガン
(Mn)11.1〜75.0原子%およびクロム(Cr)5.6〜
55.6原子%の3種を含有し、これら3種の金属元
素の合計が100原子%を有するものである。ここ
で、組成物はZnxMnyCrzO4で表わすことができ、
x+y+z=1となる。つまり、各々の陽イオン
分布は〔Zn2 x +(Mn2+,Mn3+,Mn4+)yCr3 z +〕O4の
スピネル型構造を取るものである。上記の組成範
囲にあるものは、抵抗値の500℃、1000時間後の
経時変化は約+5%以内であり、従来の材料と比
較してきわめて安定な特性を有するものである。 実施例の説明 以下、本発明の実施例について説明する。ま
ず、市販の原料ZnO,MnCO3,Cr2O3を下記の第
1表に示すそれぞれの原子%の組成になるよう配
合した。これをボールミルで混合後乾燥させ、
1000℃で仮焼する。これを再びボールミルで粉砕
し、得られたスラリーを乾燥する。このスラリー
の乾燥後、ポリビニルアルコールをバインダーと
して添加混合し、所要量採つて2本の白金線と一
体成形する。この成形体を1500℃で2時間焼成す
る。このようにして製造されたサーミスタ材料の
各組成比について、500℃における抵抗値、サー
ミスタ定数および500℃における抵抗値経時変化
率を第1表に併せて示した。また、代表例につい
てのX線回折法による結晶構造を示した。
用のサーミスタ用酸化物半導体に関するものであ
る。 従来例の構成とその問題点 従来から良く知られているMn−Co−Ni酸化物
系サーミスタ材料は、汎用デイスク型サーミスタ
として主に用いられてきたが、高温使用下での抵
抗値変動が大きいため、300℃を越えるような高
温度では使用することができず、300℃以下の温
度で使用されたきた。一方、700〜1000℃の高温
で使用できる材料としては、安定化ジルコニア
(ZrO2−Y2O3,ZrO2−CaO等)、Mg−Al−Cr−
Fe酸化物スピネル系等が開発されている(特公
昭48−705号公報、特公昭49−63995号公報、特公
昭50−16894号公報、特公昭50−16895号公報、特
開昭53−33756号公報)。しかし、これらの酸化物
材料も焼成温度が1600℃を越える高温でなければ
ならず、通常の電気炉(最高1600℃)を用いたの
では焼成できないものであつた。その上、これら
酸化物の焼結体であつても抵抗値の経時変化は大
きく、きわめて安定なものでさえ10%(1000時間
後)程度であり、経時安定性に問題があつた。 また、センサ市場から200〜700℃で安定性に優
れたサーミスタの要望が一段と高くなり、これに
対応したサーミスタ材料{Mn−Ni−Al酸化物
系:特開昭57−95603号公報、(NiXMgYZnZ)
Mn2O4スピネル系:特開昭57−88701号公報、
(NipCoqFerAlsMnt)O4スピネル系:特開昭57−
88702号公報等が提案されてきたが、まだ評価段
階である。 発明の目的 本発明は上記問題点に鑑みてなされたもので、
その目的とするところは、200〜700℃で適当な抵
抗値を示し、安定に使用できるサーミスタ用酸化
物半導体の提供にある。 発明の構成 本発明のサーミスタ用酸化物半導体は、金属元
素として亜鉛(Zn)5.6〜33.3原子%、マンガン
(Mn)11.1〜75.0原子%およびクロム(Cr)5.6〜
55.6原子%の3種を含有し、これら3種の金属元
素の合計が100原子%を有するものである。ここ
で、組成物はZnxMnyCrzO4で表わすことができ、
x+y+z=1となる。つまり、各々の陽イオン
分布は〔Zn2 x +(Mn2+,Mn3+,Mn4+)yCr3 z +〕O4の
スピネル型構造を取るものである。上記の組成範
囲にあるものは、抵抗値の500℃、1000時間後の
経時変化は約+5%以内であり、従来の材料と比
較してきわめて安定な特性を有するものである。 実施例の説明 以下、本発明の実施例について説明する。ま
ず、市販の原料ZnO,MnCO3,Cr2O3を下記の第
1表に示すそれぞれの原子%の組成になるよう配
合した。これをボールミルで混合後乾燥させ、
1000℃で仮焼する。これを再びボールミルで粉砕
し、得られたスラリーを乾燥する。このスラリー
の乾燥後、ポリビニルアルコールをバインダーと
して添加混合し、所要量採つて2本の白金線と一
体成形する。この成形体を1500℃で2時間焼成す
る。このようにして製造されたサーミスタ材料の
各組成比について、500℃における抵抗値、サー
ミスタ定数および500℃における抵抗値経時変化
率を第1表に併せて示した。また、代表例につい
てのX線回折法による結晶構造を示した。
【表】
表のうち、試料1,2,19は1600℃の高温でも
焼結しにくく特定測定が不可能であつた。また、
試料7,12,13,15,17,18は抵抗値の経時変化
が大きいため範囲外とした。 今回の試料には乾式成形による白金線埋込の素
子を用いたが、同じ材料組成についてビード型ま
たは湿式成形法による白金電極としたチツプのガ
ラス封入タイプ素子においても同様の結果を得
た。 なお、本発明の実施例については原料混合およ
び仮焼物粉砕混合にメノウ玉石を用いた。また、
上記実施例の試料(焼結体)について元素分析を
行つた結果、SiおよびB等のガラス形成物元素の
混入はサーミスタ構成元素の100原子%に対して
すべての試料において1原子%以下であつた。 発明の効果 以上の実施例からわかるように、本発明のサー
ミスタ用酸化物半導体は、高温における特性が従
来品に比べてきわめて安定しており、高温で高い
信頼性が要求されている温度測定に最も適してい
ると言える。すなわち、例えば電子レンジ、石油
気化の温度制御および安全装置用等の利用分野で
の貢献が期待できるものである。
焼結しにくく特定測定が不可能であつた。また、
試料7,12,13,15,17,18は抵抗値の経時変化
が大きいため範囲外とした。 今回の試料には乾式成形による白金線埋込の素
子を用いたが、同じ材料組成についてビード型ま
たは湿式成形法による白金電極としたチツプのガ
ラス封入タイプ素子においても同様の結果を得
た。 なお、本発明の実施例については原料混合およ
び仮焼物粉砕混合にメノウ玉石を用いた。また、
上記実施例の試料(焼結体)について元素分析を
行つた結果、SiおよびB等のガラス形成物元素の
混入はサーミスタ構成元素の100原子%に対して
すべての試料において1原子%以下であつた。 発明の効果 以上の実施例からわかるように、本発明のサー
ミスタ用酸化物半導体は、高温における特性が従
来品に比べてきわめて安定しており、高温で高い
信頼性が要求されている温度測定に最も適してい
ると言える。すなわち、例えば電子レンジ、石油
気化の温度制御および安全装置用等の利用分野で
の貢献が期待できるものである。
Claims (1)
- 1 金属元素として亜鉛5.6〜33.3原子%、マン
ガン11.1〜75.0原子%およびクロム5.6〜55.6原子
%を含有し、これら3種の金属元素を総合計100
原子%含有するサーミスタ用酸化物半導体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2792383A JPS59154001A (ja) | 1983-02-22 | 1983-02-22 | サ−ミスタ用酸化物半導体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2792383A JPS59154001A (ja) | 1983-02-22 | 1983-02-22 | サ−ミスタ用酸化物半導体 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59154001A JPS59154001A (ja) | 1984-09-03 |
JPH043642B2 true JPH043642B2 (ja) | 1992-01-23 |
Family
ID=12234401
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2792383A Granted JPS59154001A (ja) | 1983-02-22 | 1983-02-22 | サ−ミスタ用酸化物半導体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59154001A (ja) |
-
1983
- 1983-02-22 JP JP2792383A patent/JPS59154001A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS59154001A (ja) | 1984-09-03 |
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