JPS59171686A - 記録用部材 - Google Patents

記録用部材

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JPS59171686A
JPS59171686A JP58044224A JP4422483A JPS59171686A JP S59171686 A JPS59171686 A JP S59171686A JP 58044224 A JP58044224 A JP 58044224A JP 4422483 A JP4422483 A JP 4422483A JP S59171686 A JPS59171686 A JP S59171686A
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JP
Japan
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layer
recording
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organic material
material layer
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JP58044224A
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Munehisa Mitsuya
三矢 宗久
Morio Taniguchi
彬雄 谷口
Yasushi Miyauchi
靖 宮内
Motoo Akagi
赤城 元男
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Hitachi Ltd
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    • G11B7/24Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
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  • Thermal Transfer Or Thermal Recording In General (AREA)
  • Optical Record Carriers And Manufacture Thereof (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、記録用部材に関する。とくに基板上に形成し
た記録用薄膜にレーザービーム等の記録用ビームを照射
することによって直接、又は間接的に発生した熱により
該薄膜が蒸発、あるいは溶融除去されることを利用した
記録用部材に関する。
〔発明の背景〕
レーザ光によって局所的に記録膜の融解・除去を行ない
情報の記録を行なう方式において、記録媒体の熱伝導率
が小さいことが必須である。かかる観点から、これまで
Teを主成分とする媒体の検討が進められているが、記
録感度が十分でないこと、及び材料に毒性があることが
問題となっている。それに反して有機物はその熱伝導率
が極めて小さいこと、及び毒性のない材料を選べるとい
う利点がある。そのだめ有機物を用いた記録膜が各所で
検討されている。記録ビームを吸収させるために、有機
層に接して無機層を設ける記録膜(%願昭54−344
28)あるいは有機染料を用いる記録膜等である。とこ
ろが、これらにおいては形成するビットの形状が悪いた
め、十分な8/Nが得られていないということが明らか
になった。
〔発明の目的〕
本発明は、記録層である有機物層の溶融除去を捉進し、
良好な記録ビットをあけることにより再生S/N比の太
きい、なおかつ記録感度の高い記録用部材を提供するこ
とにある。
〔発明の概要〕
本発明は、有機層の下層に表面エネルギーが小さく、シ
かも熱により変形しない層を設け、有機層と下層との親
、和性を低くすることにより上記欠点を改善したもので
ある。その手段としてスパッタ法及び/又はプラズマ重
合法により、フッ素系ポリマ一層を形成しその上に熱に
よって融解除去される有機物層を形成した。本発明の記
録用部材は、−例として第1図(a) K示す如き断面
構造を持つ。これに、光吸収層2で発生した熱によシ記
録層5を融解除去する構造である。本記録用部材はガラ
ス又はプラスチック材料からなる基板1の上部に形成さ
れた光を吸収して熱を発生する第1の無機材料層2、及
び該無機材料層の上に形成てれた反射率を読み出し光の
波長に合わせるための第2の無機材料層3、史にこの上
に形成されたフッ素系ポリマーからなる第1の有機材料
層4、及びこの上に形成された第2の有機材料層5とか
らなる。本記録用部材に対して基板側あるいは有機材料
層側から照射されたビームは第1の無機材料層に吸収さ
れ、この時発生した熱によって第2の有機材料層が融隔
除去される。従ってここで用いられる第2の有機材料は
記録光を吸収しないものでもよい。第1及び第2の無機
材料としては前記特願昭54−34424に記載されて
いる材料を使うことができる。
第1の有機材料層は、第2の有機材料層との親和性を低
くシ、記録層の融解除去を促進するものであるから、表
面エネルキーの低い材料であればいかなる材料でも用い
ることができる。一般に、表面エネルギーが低い有機化
合物としては、フッ素を含む化合物が知られている。こ
の様な材料には、第1群として、テトラフルオロエチレ
ン、ヘキサフルオ口グロペン、クロロトリフルオロエチ
レン、フッ化ビニル、フッ化ビニリデンなどの重合物、
第2群としてテトラフルオロエチレンーヘキサフルオロ
フC1/<ン共重合体、テトラフルオロエチレン−ペル
フルオロ(アルキルビニルエーテル)共重合体などの共
重合プラスチック、第3群としてフッ化ビニリデン−へ
キサフルオロプロペン共重合体、ポリ(トリフルオロプ
ロピルメチルシロキサン)、テトラフルオロエチレン−
プロピレン共重合体、テトラフルオロエチレン−トリフ
1」ン ルオロニト奥メタン共甫合体、ポリ(フルオロアルコキ
シホスファゼン)などのフッ素系エラストマーなどがあ
げられる。これらは、単体又は混合物で用いることがで
きる。特にプラズマ重合により形成する材料としては、
第1群の材料がより好捷しい。この第1の有機材料層の
厚みは、薄すぎると均一な膜とならず、ま′Pc厚すぎ
ると感度が低下することから、5〜5Qnmの範囲が好
ましく、5〜15nmの範囲がより好ましい。
第2の有機材料層は、炭化水素、炭化水素のハロゲン誘
導体、アルコール、カルボン酸の金属塩。
アルデヒド、ケトン、ニトロ化合物、ニトロン化合物、
アミン化合物、スピラン系化合物、複素環式化合物等を
少なくとも1種含む。また上記材料とBiやTeなどの
無機材料との混合層として用いても艮い。また前記第1
の有機材料層に用いる筒分子化合物以外の合成又は天然
高分子化合物を用いることもできる。
これらの有機材料のうち、融点又は軟化点又は昇華温度
が60C以上300C以下のものが好ましく、70C以
上200C以下のものが特に好ましい。
融点又は軟化点又は昇華温度が低すぎると信頼性が低下
する。高すぎると有機材料層を融解除去するために必要
なビームのパワーが太きくなる。
すなわち記録感度が低下する。
第2の実機材料層の厚みは20〜200 nmの範囲が
好ましく、30〜1100nの範囲が特に好ましい。膜
厚が小さすき゛ると、有機材料層を融解除去した部分と
融解除去しない部分との反射率差が小さく、十分な再生
信号を得ることができない。
膜厚が大きすぎると、記録感度が低下する。
無機材料層の形成方法は、スパッタリング、電子ビーム
蒸着、真壁蒸着などの方法によって行なう。
第1の有機材料層の形成は、スパッタ法又はプラズマ重
合法などの方法で、第2の有機材料層の形成は、真空蒸
着、電子ビーム蒸着、スパッタリングなどの方法によっ
て行なう。
本発明の別の例として、第1図(b)に示す如き断面構
造を持つ。これに、有機物層自身が光を吸収して熱を発
生し、その熱で有機物層が融解除去される構造を持つ情
報記録媒体である。この記録媒体は、所定基板1上に無
機材料からなる光反射層2、更にこの上に形成されたフ
ッ素ポリマーからなる第1の有機材料層4及びこの上に
形成された光を吸収して熱を発生する第2の有機材料か
らなる記録層5から構成されている。無機材料層の材料
としては、反射率が大きくかつ安定な材料であればいか
なる材料も用いることができる。第1の有機材料層とし
てに、上記の材料を用いることができる。第2の有機材
料層の材料としては、光を吸収して熱を発生するもので
あればいかなる材料も用いることが出来る。たとえば、
ニトロソ染料。
ア ニトロ染料、オシ染料、スチルベン染料、ジフェニルメ
タン染料、  トリアリールメタン染料、ザンセン染料
、アクリジン染料、キノリン染料、メチン染料、ポリメ
チン染料、チアゾール染料、インダミン染料、アジン染
料、オキサジン染料、チアジン染料、アミノケトン染料
、オキシケトン染料。
アントラキノン染料、インジゴイド染料、フタロシアニ
ン染料、トリフェニルメタン染料、ピラゾロン染料、キ
サンチン染料、アリザリン染料、キノンイミン染料、メ
チン染料、4アニン色素などの有機染料、アゾ系、キノ
リン系、アントラキノン系、Bフェニルメタン系、フタ
ロシアニン系などの有機顔料、テトラベンゾ[de、h
i。
Op、St〕ペンタセン、ベンゾ〔a〕ペリレンなどの
多環系芳香族化合物などを用いることができる。これら
の材料は、単体で、または炭化水素。
炭化水素のハロゲン化物2種々の高分子化合物中に分散
して用いても良い。
〔発明の実施例〕
実施例1 直径30 cm 、厚さ1.1咽の円板状化学強化ガラ
スを回転数120rlXlで回転させながら、この円板
上にBiを50nmの膜厚に蒸着し、次に5b2s3を
30nmの厚さに蒸着した。この上に厚ざ1゜nmのテ
トラフルオロエチレンのプラズマ重合膜を形成し、更に
この上にn C36H74(融点76U)を5Qnmの
膜厚に蒸着して記録用部材を完成した。この記録用部材
を回転数24Orpmで回転させながら、半導体レーザ
ーで記録再生を行った。
半導体レーザーの発振波長は830 nm、最大出力1
5mWであシ、記録媒体上のスポット径が1.5μmに
なるように集光した。パルス幅30〜500nsで記録
を行い、パルス幅5onsの時の記録開始パワーは20
 m J /cm”であり、40mJ/cm2で記録し
た時の再生S/N比はフッ素ポリ了−を含せない記録用
部材に比べて6dB向上した。記録ビットをSEMで観
察したところ、フッ素系重合膜を有する記録膜ではこれ
がないものに比べて、周囲のはっきりしたきれいな穴が
おいていた。またこの記録に要する工坏ルキーは膜厚3
゜nmのTe膜の約1/3である。
実施例2 実施例1と同様の方法でガラス円板上にBiを5Qnm
の膜厚に蒸着した。この上に厚さ10nmのテトラフル
オエチレンのプラズマ重合膜を形成し、更にこの上にn
−C36H74とテトラベンゾペンタセンを70:30
重量比となるように同時に蒸着し、70nmの膜を作製
した。この記録用部材を回転数240rrmで回転させ
ながら、1.5μmに集光したH e −N eレーザ
ーで記録再生を行った。記録パルス幅30〜500ns
′7’記録を行い、パルス幅50nsの時の記録開始パ
ワーは25mJ/Crn2であった。再生S/N比につ
いても、実施例1と同様の結果を得た。
実施例3 テフロンをターゲットとして13i上にスパッタ法によ
りテフロン層を形成し、この上にn−036H7,とテ
トラベンゾペンタセンを70:3Q重甘比となるように
同時に蒸着し70nmの膜を作製した。この記録用部材
の記録感度と再生S/Nについて実施例2とN−の結果
を得た。
〔発明の効果〕
本発明によれば、記録ビット形状が改善できるので、信
号のS/N比を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)及び(b)は、本発明の記録用部材の実施
例の断面図である。 1・・・基板、2,3・・・無機材料層、4・・・第一
の有機第  1  図 (α) (b)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、集光したレーザー光照射によυ、有機材料からなる
    記録層に対してビットを形成し、情報の記録を行なう記
    録用部材において、ビットを形成する層の基板側に接し
    て低表面エネルギーを有するフッ素系化合物の層を設け
    たことを特徴とする記録用部材。
JP58044224A 1983-03-18 1983-03-18 記録用部材 Granted JPS59171686A (ja)

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JP58044224A JPS59171686A (ja) 1983-03-18 1983-03-18 記録用部材

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JP58044224A JPS59171686A (ja) 1983-03-18 1983-03-18 記録用部材

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JPS59171686A true JPS59171686A (ja) 1984-09-28
JPH0452235B2 JPH0452235B2 (ja) 1992-08-21

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ID=12685568

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JP58044224A Granted JPS59171686A (ja) 1983-03-18 1983-03-18 記録用部材

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Cited By (1)

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JPH0452235B2 (ja) 1992-08-21

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