JPS59155708A - 板厚自動制御装置の板厚測定方法 - Google Patents

板厚自動制御装置の板厚測定方法

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JPS59155708A
JPS59155708A JP2923183A JP2923183A JPS59155708A JP S59155708 A JPS59155708 A JP S59155708A JP 2923183 A JP2923183 A JP 2923183A JP 2923183 A JP2923183 A JP 2923183A JP S59155708 A JPS59155708 A JP S59155708A
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JP
Japan
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steel plate
thickness
plate thickness
plate
frequency divider
Prior art date
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Pending
Application number
JP2923183A
Other languages
English (en)
Inventor
Masahiro Machida
昌弘 町田
Hidefumi Tachibana
橘 秀文
Mitsuru Koriki
高力 満
Shoichi Horiuchi
堀内 昭一
Takashi Maruyama
隆 丸山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Nippon Steel Corp
Original Assignee
Hitachi Ltd
Sumitomo Metal Industries Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Sumitomo Metal Industries Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2923183A priority Critical patent/JPS59155708A/ja
Publication of JPS59155708A publication Critical patent/JPS59155708A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness
    • G01B15/025Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness by measuring absorption

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、板厚自動制御装置の板厚測定方法、特に放射
線を利用して鋼板の板厚を直接測定する方法に関する。
〔従来技術〕
数問から20鴫前後の鋼板の圧延には、多段方式の板厚
自動制御装置が用いられている。一般に行われている板
厚制御方法は、圧延機の最終段出側にX線などを利用し
た厚さ計を設置して直接板厚を測定する方法と、中間段
において圧延ロールのギャップから間接的に測定する方
法がある。そして得られた測定値を基に各段の圧延機に
それぞれ目標板厚を圧延する条件をフィードバックし、
最終段出側板厚を一定に押える方法がとられている。こ
のような圧延方法においては、各段の出側板厚を目標値
に制御する必要があるため、圧延中の板厚が制御情報と
して必要であるっ しかし、従来の前者の測定方法では最終段出側板厚の測
定であるため応答速度が遅く、また後者の測定方法は間
接的に求めるもので誤差が多く、いずれの方法でも精度
よく板厚を制御するには限界がある。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、上記した従来技術の欠点をなくシ、応
答速度が速くよシ正確な板厚測定が行える板厚自動制御
装置の板厚測定方法を提供するにある。
〔発明の概要〕
上記目的を達成すべく本発明は、中間段において鋼板を
直接測定するようにしたものである。中間段における直
接測定には、10〜25咽前後の板厚測定に適したエネ
ルギーを有し、かつ圧延機の間に設置できる小形の線源
が必要であるっこのため、線源として、t7oTm、 
57C0、75Se、 +611 Eu。
15”Gdlおよび90Sr−Pb を用いるようにし
た。
第   1   表 これらの線源は、第1表に示すように異なる複数のエネ
ルギーの放射線を放出するものであるが、複数の放射線
を弁別して検出すると応答速度が遅くなるため、弁別す
ることなく一括して検出器にて1莢出される。異なる複
数のエネルギーの放射線を放出する線源を用いて板厚を
求める、場合の理論式は(1)式で示さ汎るっ I−■10 e−/’m1 pχ十l2oe−Pm2p
Z+I3.、、、、、。
・・・・・・・・・(1) ここに、 I:鋼板があるときの放射線の強さ I+01120・・・:鋼板がないときのそれぞれの放
射線の強さ μ、1.μ、、2・・・:質量吸収係数で、それぞれの
放射線と鋼板とによって決ま る定数 ρ:原鋼板密度 χ:鋼板の厚さ である。
したがって、各放射線を弁別しないと鋼板の板厚を求め
ることができない。
しかるに本発明においては、(2)式に示すように単一
のエネルギーの放射滅とみなし、そのときのいわゆる線
源の質量吸収係数へを求めておき、イ則定するようにし
たものである。
1=ioe−””       ・−・・・・−(2)
線源の質量吸収係数iは線源によって異なるが、例えば
170Tmの場合は第1図に示すように板厚χの逆関数
で近似できる如く、全て板厚χの関数として表わすこと
ができる。したがって、線源の質量吸収係数へと板厚χ
との関係を上記(2)式に導入した理論式を用いれば、
複数の放射線を弁別することなく板厚測定が可能となる
尚、第1表に示した線源を用いて精度良く板厚測定を行
うためには、螢光減衰時間が短かく、高原子番号の物質
からなるシンチレータが好ましく、これは08Fおよび
BaFシンチレータ、あるいは有機螢光体に高原子番号
物質を混入したシンチレータで実現される。
〔発明の実施例〕
以下実施例によシ本発明の詳細な説明する。
第2,3図は本発明に係る基本的な方法の一例を示すも
ので、多段方式の圧延機10A〜l0G(通常5〜7段
の圧延機が配置されている。)を通過する過程で鋼板1
2は徐々にうずく圧延され、最終段出側において数閣の
厚さになる。今、圧延機の中間段10DとIOE間に厚
さ計14が設置されている。圧延機の間には第3図に示
す如く鋼板12のたるみを吸収するためのルーパー16
が設けられており、鋼板12はこのルーパー4で押し上
げられ一定の張力を維持するようになされている。厚さ
計14の線源部4Aよシ発した放射線は、鋼板12を透
過して検出器14Bに入射し、パルス潜号に変換さnプ
リアンプ18で増巾した後ディスクリミネータ20でノ
イズ成分をカットし分周器22で分周される。放射線法
で鋼板12の厚さを高精度で測定するためには、検出器
14Bに光電子増倍管が使用されるが、安定度を維持す
るため一般にゲイン補償がなされる。このため、プリア
ンプ18の信号をもう一つのディスクリミネータ24と
分周器26で処理し、前記信号とを高圧制御回路28に
入れ光藏子増倍管の印加電圧を制御し安定化がはかられ
る。分周器22からのもう一方の信号は、カウンター3
0で計数された後演算処理装置32であらかじめプログ
ラムされた手順にしたがい計数値から板厚を演算する。
この状態で測定される板厚は鋼板が傾斜しているため、
傾斜角をθとし、真の板厚をto1測定板厚をtとする
と、 to=t−褐θ      ・・・・・・・・・(3)
の関係となり、θが決まれば測定値に補正し真の板厚を
求めることができる。
したがって、ルーパー16に直結されたルーパー角度発
信器34の信号から鋼板12の傾斜角を演算し角度補正
かり能となる。
具体的な面正方法例を次に説明する。
第4図は、鋼板2の傾斜角(θ′+θ“)が一定で頑む
くがルーパー4を頂点として一定として扱える場合の例
で、ルーパー角度θLより鋼板の傾斜角(θ′+θ“)
は次の様に求められる。
ルーパー4の支点イからの距離m、nは次式で求められ
る。
m = tSiflθL       −−−=<4ン
n=tcosθ1・・・・・団・(s)したがって、θ
“、θ′との関係は次式で表わされる。
n −)( 一θ〃=□       ・・・・旧・・CC)a十m (!ff)、(C)式から求める鋼板2の傾斜角をθと
すると次式で求めることができろう ・・・・・・・・・(9) したがってこのθをもとに前記(3)式で傾き補正を行
い、真の板厚が求められる。
第5図は、鋼板2が湾曲する場合の例である。
今、鋼板2の湾曲をsin近似すると次のようになる。
y = f (x)= h sinw x     ・
−・・−・−(りここでり、wは次のように表わされる
h=tsinθL + r  H−−・・・(+Q)W
=□     ・・・・・・・・・(II)2(a+t
cmθL) A点(厚さ測定位置を示す。)での座標は(a+m、f
 (a十m))となる。
A点での鋼板の傾きは(々)式を微分して次式で求めら
れる。
y’=f’(x)= hwcoswx       =
(19−)したがってA点での傾きは次の様になる。
f’(a−1−m)=hwcosw(a−1−m)  
 −−−−・−・(13)今、X = f’ (a十m
 )  とすると、$6図よりθム=tan−’)( したがって傾き補正後の真の板厚は次のように求められ
る。
tQ=tcosθ、 = t cos (m−’ X 
)= t cos [tan−1(hwcosw (a
−1−m ) ) ]・・・・・・・・・(1腎) 尚、鋼板12の(峻斜角は距離センサーを用いても測定
できる。
〔発明の効果〕
以上本発明によれば、異なる複数のエネルギーの放射線
を放出する線源を用い、中間段において鋼板の板厚を直
接測定するようにしたため、応答性が良くしかも正確な
板厚測定が可能となシ、板厚精度向上に大きな効果をも
たらすことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は17°Tmにおける鋼板板厚と質量吸収係数と
の関係を示す図、第2図は本発明になる厚さ計と圧延機
との関係を示す図、第3図は厚さ計の全体構成を示すブ
ロック図、第4図および第6図は板厚補正方法を示す説
明図である。 10A−10G・・・圧延機、12・・・鋼板、14・
・・厚■1 図 4田権板厚(寞広) 72図 ソ3図 4 ゛ 譲4図 3

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、圧延機を多段に設置して鋼板の圧延を行うものにお
    いて、異なる複数のエネルギーの放射線を放出する線源
    と、前記鋼板を透過した放射線の強さを検出する検出器
    とを、前記圧延機間に設置して鋼板の板厚を測定するよ
    うにし、この条件に基づいて圧延機の圧延条件を制御す
    るようにしたことを特徴とする板厚自動制御装置の板厚
    測定方法。
JP2923183A 1983-02-25 1983-02-25 板厚自動制御装置の板厚測定方法 Pending JPS59155708A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62259010A (ja) * 1986-05-02 1987-11-11 Sumitomo Special Metals Co Ltd プロフイ−ル測定装置及び制御装置
CZ305194B6 (cs) * 2013-11-28 2015-06-03 Vysoká Škola Báňská-Technická Univerzita Ostrava Způsob modelování mechanických procesů sypkých hmot a zařízení k provádění tohoto způsobu

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