JPS5915324A - 位相差測定装置 - Google Patents

位相差測定装置

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JPS5915324A
JPS5915324A JP12403382A JP12403382A JPS5915324A JP S5915324 A JPS5915324 A JP S5915324A JP 12403382 A JP12403382 A JP 12403382A JP 12403382 A JP12403382 A JP 12403382A JP S5915324 A JPS5915324 A JP S5915324A
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JP
Japan
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circuit
signal
quadrant
phase difference
phase
Prior art date
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Pending
Application number
JP12403382A
Other languages
English (en)
Inventor
Akihiko Inoue
明彦 井上
Yukio Takimoto
滝本 幸男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Nippon Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp, Nippon Electric Co Ltd filed Critical NEC Corp
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Publication of JPS5915324A publication Critical patent/JPS5915324A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R25/00Arrangements for measuring phase angle between a voltage and a current or between voltages or currents

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Phase Differences (AREA)
  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の属する技術分野〕 本発明は、信号の位相が連続的に変化するとき、360
°あるいはそのN分の1′ft基本単位とした位相差の
測定をする位相差測定装置に関する。本発明は、例えば
人工衛星までの距離の変化を測定する場合、すなわち伝
送路の距離が変って位相が変る場合、あるいは核融合装
置のプラズマの密度の測定を行う場合、すなわち伝播路
の伝送速度が変って位相が変る場合等に使用される。
〔従来技術の説明〕
従来、通信人工衛星までの距離の変化を測定するため忙
は、衛星において折シ返えし送出された信号を受信し、
その距離の変化を位相差の変化として地上の送信信号を
基準にして測定する。
また、核融合装置のプラズマ密度を測定するためには、
第1図に示すように、発振器1の信号を測定信号と基準
信号に分渡し、一定の基準信号回路3と測定物件のプラ
ズマ5の中での伝送速度の変化とを位相差の変化として
位相差測定回路4を用いて測定することにより換算でき
る。
衛星の距離の変化量が周波数f、の測定信号の波長忙較
べてきわめて大きい場合や、上記核融合装置のプラズマ
密度が高くな多信号の伝搬速度が非常圧遅くなる場合な
どKは、測定信号の36ooの整数倍の大きな位相差を
測定する必要があシ、通常の位相比較器は使用できない
そのためのひとつの解決方法として、分局器によシ受信
周波数f:N(Nは整数)分周してから位相比較器へ加
える方法がある。これにより本来の位相比較器のN倍の
範囲に位相測定範囲が拡大されるが、分周している時間
だけ測定時間が長(必要になシ、急激な位相変化に対す
る応答が悪く、すなわち時間分解能が悪(なる欠点があ
った。
〔発明の目的〕
本発明は上記の欠点を解決するもので、36o0の整数
倍の位相変化量もしくは36o0のN分の1の整数倍の
位相変化量を時間に対して高い分解能で測定することを
目的とする。
〔発明の要点〕
本発明は、測定信号と基準信号とを用いて位相の変化量
を測定する位相差測定装置において、第1の信号(例え
ば測定信号)を少な(とも2つに分波し、この分波され
た各々の信号のうち少(とも1つは周期TのN分の1(
Nは3以上の整数)の時間を有する遅延素子を通る回路
と、第2の信号(例えば基準信号)を微分してサンプル
信号に変換する微分回路と、ザングル信号発生時に遅延
回路の出力を含む前記第1の各々の信号の論理積より位
相の象限判定を行う象限判定回路と、−サンプル前の象
限を記憶する象限記憶回路と、象限判定回路出力と象限
記憶回路の出力の論理積より方向判定を行う方向判定回
路とを含み、第1および第2の信号の位相差が前身って
定めた角度以上に変化する毎にカウントアツプあるいは
カウントダウンすることを特徴とする。
〔実施例の説明〕
以下添付図面圧従い本発明の実施例について述べる。先
ず第2図のブロック構成図を基にして、本発明の位相差
測定装置について説明する。
第2図は本発明実施例装置のブロック構成図である。図
でA (t)は第一の信号(この例では測定信号)であ
る。B (t)は第三の信号(この例では基準信号)で
ある。信号A (t)は遅延回路11を介して、信号B
 (t)は微分回路12ヲ介して、それぞれ象限判定量
N113に加えられる。この象限判定回路の出力は、象
限記憶回路14に加えられ、その出力と象限判定回路の
出力とは、方向判定回路15に入力される。この方向判
定回路15の出力は、アップダウンカウンタ16に与え
られる。
第3図はこの装置の動作を説明するタイムチャートであ
る。この装置の動作を説明すると、第2図で測定信号A
 (t)は2分波され、その一方は第3図(イ)に示さ
れる波形として出力され、他方は周期Tの4分の1の位
相遅れを生ずる第2図の遅延回路11により第3図(ロ
)に示される波形となる。前記のそれぞれの波形(イ)
、(ロ)は象限判定回路13により、第3図e→の2進
数表示に示さiするような4分の1周期毎の象限判定信
号圧なる。
一方、第2図の基準信号B (t)は、第3図(ニ)の
波形で示され、微分回路12を通り、かつ正のパルスだ
けが出力されるよう波形整形された第3図(ホ)で示さ
れる波形となり、前記象限判定回路のサンプル信号とな
る。
ここで360°の位相差の測定を行う場合には、象限判
定信号としての2進数表示(第3図(ハ))を、第4図
に示すように平面上の各象限■〜■に対応させ、右廻り
矢印ARに何回、左JFI矢印ALに何回回転したかを
計舷する。これは単にある特定の前後隣り合う2カ所の
象限について測定することで十分である。いま、簡単の
ため第1象限■および第2象限■について考えると、第
2象限から出発して位相が360度進んだ場合、■→■
→■→■→■と各部[を通り、ふたたび第2象限へと変
化したことになるので、第1象限から第2象限への変化
を検出することで実現できる。
また位相が360度遅れた場合は、今後は第2象限から
第1象限への変化を検出すればよい。これもの位相の進
み遅れの検出には、1サンプル前の象限を記憶している
象限記憶回路14と方向判定回路15とが用いられる。
これらの検出信号を7ツプ/ダウンカウンタ−6のアッ
プパルスまたはダウンパルスとしてそれぞれカウントす
ることKよシ、560度の整数倍の変化を測定し読出し
/表示回路に表示することが可能になる。
第5図は本発明の象限判定回路13、象限記憶回路14
、方向判定回路15およびアップダウンカウンタ16の
具体的実施例を示す回路図である。
前記分波および遅延された測定信号A (t)およびA
(t−一つは微分回路出力のサンプルパルス信号が加え
られた時刻毎に対応した位相状態を示す。
すなわち象限判定を行うために、反転回路21.22お
よび論理積(AND )回路31〜34から構成される
回路に入力される。4つの位相状態に対応してサンプル
信号ごとに論理積(AND )回路31〜34は出力の
いずれが1つに「1」が生じ、フリッグ70ングFF、
、〜14に加えられる。7リングフロツプFF21〜鵞
4は1サンプル前の信号の状態を記憶する隣や合った象
限を比較することで方向判定を行うためには、少くとも
隣り合う象限でかつ1サンプル前の状態と比較するため
4個の7リツプ70ツブFFII 、 I! 、 21
 、2!の出力の組合せを検出すれば良い。この関係を
第1表に示す。論理積(AND)回路35出力は第1象
限から第2象限に変ったとき、信号を送出しアップダウ
ンカウンタ16ヲアツプさせ、又論理回路36出力は第
2象限から第1象限に加わったとき信号を送出しアップ
ダウンカウンタ16をダウンさせる。このようにしてア
ップダウンカウンタ16の出力が位相差を示す。
第1表 第2表 また第2表は90°変化を単位として位相変化を測定す
る場合の方向と変化を検出する論理積(AND)回路の
機能を示したものである。
このようKして本実施例のように周期Tの4分の1の遅
延回路を用いた位相差測定装置は、最大位相変化量とし
て1サンプル時間に90度までが測定可能であり、しか
も分周器による方法に比べ時間分解能が格段に優れてい
る。なお、第5図において破線の部分は説明上示しであ
るが実際の回路の場合なくともよい。また、本発明の説
明を簡単にするため測定信号t−2波に分波し、遅延回
路は周期Tの4分の1の場合について説明を行ったが、
4分の1に限らずさらに細分することにより小さい位相
変化を測定することができる。
第6図に周期Tの5分の1の遅延により72゜(560
’15 )の変化を測定する他の実施例装置の場合の回
路を示し、各部の波形を第7図(a)と第7図(b)に
示す。
上記例では、信号A (t)を測定信号、信号B (t
)を基準信号と設定したが、これは逆に設定しても同様
に本発明を実施することができる。
〔効果の説明〕
以上説明したように本発明の位相差測定装置は基準信号
の周期ごとに位相差を測定することによシ、時間分解能
を悪(することなく1.大きな360度の整数倍の位相
差あるいは360度のN分の1の整数倍の位相差を正し
く測定することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の実施例装置の配置を示す概要図。 第2図は、本発明実施例装置のブロック構成図。 第3図は、第2図の各部の信号波形図。 第4図は、第3図の信号用の象限判定図。 第5図は、本発明実施例装置の!気回路図。 第6図、第7図は本発明の他の実施例のブロック構成及
び信号波形図。 1・・・発振器、2・・・測定信号A (t)、3・・
・基準信号B (t)、4・・・位相差測定回路、5・
・・測定物件、11.41.42.43.44・・・遅
延回路、12・・・微分回路、13・・・象限判定回路
、14・・・象限記憶回路、15・・・方向判定回路、
16・・・アップダウンカウンタ、21.22.23.
24.25,26・・・反転回路、31.32.33.
34・・・論理積(AND )回路、FF1. 、 F
F1.、FF1.、FF、4、FF21. FFzx、
FFtH,FF24 °°・フリップフロッグ。 特許出願人 日本電気株式会社 代理人 弁理士 井 出 直 孝 ii  口 ;¥13 回 肩4 図 ′115 図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)測定信号または基準信号の一方が接続された第一
    の入力端子(A(t))と、 測定信号または基準信号の他方が接続された第二の入力
    端子(B(t))と、 上記第一の入力端子の信号をその同期のN分の1(Nは
    6以上の整数)の時間だけ遅延させる遅延回路(11)
    と、 上記第二の入力端子の信号を微分する微分回路(12)
    と、 上記第一の入力端子の信号および上記遅延回路の出力信
    号の論理積と上記微分回路の信号出力タイミングでとる
    回路を含み上記入力端子の信号および上記遅延回路の出
    力信号の位相の象限判定を行う象限判定回路(15)と
    、 この象限判定回路の1周期前の象限を記憶する象限記憶
    回路(14)と、 上記象限判定回路の出力と象限記憶回路の出力との論理
    積をとる方向判定回路(15)と、を含み、 測定信号と基準信号の位相差が前取て定めた角度以上に
    変化する毎にカウントアツプあるいはカウントダウンす
    るアップダウンカウンタ(16)とを備えたことを特徴
    とする位相差測定装置。
JP12403382A 1982-07-15 1982-07-15 位相差測定装置 Pending JPS5915324A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62140072A (ja) * 1985-12-12 1987-06-23 ドイチエ・アイテイ−テイ−・インダストリ−ズ・ゲゼルシヤフト・ミト・ベシユレンクタ・ハフツンク デジタル位相計回路
JP2020046257A (ja) * 2018-09-18 2020-03-26 富士電機株式会社 無線温度測定システム

Cited By (3)

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JPH0664099B2 (ja) * 1985-12-12 1994-08-22 ドイチエ・アイテイ−テイ−・インダストリ−ズ・ゲゼルシヤフト・ミト・ベシユレンクタ・ハフツンク デジタル位相計回路
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