JPS5915305A - 同軸共振器の共振周波数自動調整機 - Google Patents
同軸共振器の共振周波数自動調整機Info
- Publication number
- JPS5915305A JPS5915305A JP12483882A JP12483882A JPS5915305A JP S5915305 A JPS5915305 A JP S5915305A JP 12483882 A JP12483882 A JP 12483882A JP 12483882 A JP12483882 A JP 12483882A JP S5915305 A JPS5915305 A JP S5915305A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- frequency
- coaxial resonator
- polishing
- machine
- measuring means
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01P—WAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
- H01P7/00—Resonators of the waveguide type
- H01P7/10—Dielectric resonators
Landscapes
- Control Of Motors That Do Not Use Commutators (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
という）の共振周波数自動調整機に関するものである。
従来より、同軸共振器１、例えばｒ Ｆ． Ｍ共振器は
、第１，２図に示すようにセラミック誘電体２の厚肉円
環の外周面及び内周面、場合によっては厚肉円環の軸方
向に直交する一方の端面にも銀の焼きつけもしくは銅メ
ッキを行って外、内の導体３，３を形成して、製造され
ている。
、第１，２図に示すようにセラミック誘電体２の厚肉円
環の外周面及び内周面、場合によっては厚肉円環の軸方
向に直交する一方の端面にも銀の焼きつけもしくは銅メ
ッキを行って外、内の導体３，３を形成して、製造され
ている。
ところで、上記同軸共振器１の共振周波数は、セラミッ
ク誘電体２の軸方向の寸法やセラミック誘電体２の誘電
率に応じて変動する。しかるに、」１記同軸共振器１の
製造においては、セラミックできない。そのため、従来
、同軸共振器１の共振周波数の調整を次のような方法に
よって行なっている。
ク誘電体２の軸方向の寸法やセラミック誘電体２の誘電
率に応じて変動する。しかるに、」１記同軸共振器１の
製造においては、セラミックできない。そのため、従来
、同軸共振器１の共振周波数の調整を次のような方法に
よって行なっている。
すなわち、同軸共振器ｌの共振周波数を周波数測定手段
によって測定した後、上記同軸共振器１の端面１ａを、
その共振周波数の目標値となるように、見込みにより研
摩し、その後、再度、上記同軸共振器１の共振周波数を
測定し、また、その端面１ａを研摩するという手作業を
何度も繰り返して行なっている。
によって測定した後、上記同軸共振器１の端面１ａを、
その共振周波数の目標値となるように、見込みにより研
摩し、その後、再度、上記同軸共振器１の共振周波数を
測定し、また、その端面１ａを研摩するという手作業を
何度も繰り返して行なっている。
ため、手間がかかり生産コストが高くなるうえに、製品
の品質に大きなバラツキが生じるといった問題がある。
の品質に大きなバラツキが生じるといった問題がある。
また、上記のように見込みにより、同軸共振器１の端面
１ａを研摩しでいるため、端面１ａの削りすきにより、
目標周波数以上の同軸共振器が得られるという問題もあ
る。
１ａを研摩しでいるため、端面１ａの削りすきにより、
目標周波数以上の同軸共振器が得られるという問題もあ
る。
そこで、本発明は、」１記問題を解消すべくなしたもの
であって、同軸共振器の周波数を目標の周波数に自動的
に調整して、製造費の低減を図ることができるうえに、
製品の品質を向上かつ均一化できる共振周波数自動調整
機を提供することを目的としている。
であって、同軸共振器の周波数を目標の周波数に自動的
に調整して、製造費の低減を図ることができるうえに、
製品の品質を向上かつ均一化できる共振周波数自動調整
機を提供することを目的としている。
このため、本発明に係る共振周波数自動調整機は、一定
位置で同軸共振器をチャックした後、一定角度回転して
上記同軸共振器の開放端面を研摩・測定位置に停止させ
、さらに、一定角度回転して同軸共振器を搬出する回転
送り装置と：周波数測定手段と研摩機とを有して上記周
波数測定手段又は研摩機を上記研摩・測定位置に選択的
に移動させる加工機と：上記周波数測定手段の出力と上
記研摩機の回転を表わす出力を受けて、上記加工機の周
波数測定手段又は研摩機を上記研摩・測定位置に選択的
に移動させると共に、上記研摩機の回転数を制御する信
号を出力する制御装置とを備えて、上記制御装置の出力
により加工機を動作させることによって、研摩・測定位
置に停止させた同軸共振器に対して研摩機を一定回転数
回転駆動させて」−記同軸共振器の端面を研摩し、制御
装置において回転数に対する周波数の変化率を上記周波
数測定手段の出力と上記研摩機の回転数を表わす信号と
に基づいて算出し、上記変化率に基づいて目標の周波数
未満の前段周波数に対応する回転数を算出して、上記回
転数を表わす信号で研摩機を所定回転数回転させた後、
を記周波数測定手段で同軸共振器の周波数を測定させ、
該周波数測定手段から出力される実測周波数と上記前段
周波数とを比較して、上記画周波数の偏差を表わす信号
に基づいて、回転数に対する周波数の修正変化率を算出
し、その修正変化率を表わす信号に基づいて、目標周波
数を得るために研摩機の回転数を表わす信号を作成して
、加工機に出力して目標周波数を有する同軸共振器を自
動的に得るようにしたことを特徴としている。
位置で同軸共振器をチャックした後、一定角度回転して
上記同軸共振器の開放端面を研摩・測定位置に停止させ
、さらに、一定角度回転して同軸共振器を搬出する回転
送り装置と：周波数測定手段と研摩機とを有して上記周
波数測定手段又は研摩機を上記研摩・測定位置に選択的
に移動させる加工機と：上記周波数測定手段の出力と上
記研摩機の回転を表わす出力を受けて、上記加工機の周
波数測定手段又は研摩機を上記研摩・測定位置に選択的
に移動させると共に、上記研摩機の回転数を制御する信
号を出力する制御装置とを備えて、上記制御装置の出力
により加工機を動作させることによって、研摩・測定位
置に停止させた同軸共振器に対して研摩機を一定回転数
回転駆動させて」−記同軸共振器の端面を研摩し、制御
装置において回転数に対する周波数の変化率を上記周波
数測定手段の出力と上記研摩機の回転数を表わす信号と
に基づいて算出し、上記変化率に基づいて目標の周波数
未満の前段周波数に対応する回転数を算出して、上記回
転数を表わす信号で研摩機を所定回転数回転させた後、
を記周波数測定手段で同軸共振器の周波数を測定させ、
該周波数測定手段から出力される実測周波数と上記前段
周波数とを比較して、上記画周波数の偏差を表わす信号
に基づいて、回転数に対する周波数の修正変化率を算出
し、その修正変化率を表わす信号に基づいて、目標周波
数を得るために研摩機の回転数を表わす信号を作成して
、加工機に出力して目標周波数を有する同軸共振器を自
動的に得るようにしたことを特徴としている。
以下に、図示の実施例に基づいて本発明を具体的に説明
する。
する。
第３，４図において、６は相打供給装置、７は回転送り
装置としての回転テーブル、８は加工機、９は良品収納
部拐、１０は不良品収納部利、１１は制御装置である。
装置としての回転テーブル、８は加工機、９は良品収納
部拐、１０は不良品収納部利、１１は制御装置である。
上記Ｈ料供給装置６は、支持スタンド１２の」１端に固
定され、ホッパ１３と搬入ロータ１４とを備えている。
定され、ホッパ１３と搬入ロータ１４とを備えている。
上記ホッパ１３は、該ホッパ１３内に投入された多数の
同軸共振器１を１個ずつ」１記搬入ロータ１４に供給す
るように出口を絞っている。上記搬入ロータ１４は、外
周近傍に軸方向に沿って多数の同軸共振器挿入用溝１４
ａ、・・・、１４ａを有する円柱体であって、畝溝１４
ａの」１端位置で上記ホッパ１３から１個ずつ同軸共振
器ｌを」二記溝１４ａ内に挿入する一方、上記溝１４ａ
の下端位置で上記供給装置６の前側に位置する上記回転
テーブル７の後記するアーム先端のチャック部材内に背
側より図示しない駆動シリンダの作動で同軸共振器１を
上記溝１４ａ−内に挿入するようにしている。
同軸共振器１を１個ずつ」１記搬入ロータ１４に供給す
るように出口を絞っている。上記搬入ロータ１４は、外
周近傍に軸方向に沿って多数の同軸共振器挿入用溝１４
ａ、・・・、１４ａを有する円柱体であって、畝溝１４
ａの」１端位置で上記ホッパ１３から１個ずつ同軸共振
器ｌを」二記溝１４ａ内に挿入する一方、上記溝１４ａ
の下端位置で上記供給装置６の前側に位置する上記回転
テーブル７の後記するアーム先端のチャック部材内に背
側より図示しない駆動シリンダの作動で同軸共振器１を
上記溝１４ａ−内に挿入するようにしている。
」１記回転テーブル７は、９ｂＰ間隔をあけて配した４
本のアーム部７ａ、・・・、７ａからなる十字部月を回
転可能に支持スタンド１２に支持してなる。
本のアーム部７ａ、・・・、７ａからなる十字部月を回
転可能に支持スタンド１２に支持してなる。
各アーム部７ａの先端には、チャック部材１５を設け、
シリンダ２２の駆動に伴う該チャック部材１５の開閉に
より、上記同軸共振器１の外周面を、該同軸共振器１の
研摩・測定端面（以下、「端面」と略す）ｌａを加工機
側に突出させた状態で、チャックし、もしくは同軸共振
器１を搬出するようにしている。上記チャック部材１５
は、第４図に示すように、シリンダ１６の、駆動により
、同軸共振器１の軸方向に前後動して、後記する研摩機
２０に当接して、同軸共振器１の端面１ａを研摩しうる
ようにしている。上記各アーム７ａは、約９０°ずつ回
転軸１７０回りに回転して、第３図中、回転軸１７に対
して、上方の搬入位置Ａ１右１５の研摩・測定（ｉ２置
Ｂ１下方の良品搬出位置Ｃ及び左方の不良品搬出位置り
に夫々停止するようにしている。
シリンダ２２の駆動に伴う該チャック部材１５の開閉に
より、上記同軸共振器１の外周面を、該同軸共振器１の
研摩・測定端面（以下、「端面」と略す）ｌａを加工機
側に突出させた状態で、チャックし、もしくは同軸共振
器１を搬出するようにしている。上記チャック部材１５
は、第４図に示すように、シリンダ１６の、駆動により
、同軸共振器１の軸方向に前後動して、後記する研摩機
２０に当接して、同軸共振器１の端面１ａを研摩しうる
ようにしている。上記各アーム７ａは、約９０°ずつ回
転軸１７０回りに回転して、第３図中、回転軸１７に対
して、上方の搬入位置Ａ１右１５の研摩・測定（ｉ２置
Ｂ１下方の良品搬出位置Ｃ及び左方の不良品搬出位置り
に夫々停止するようにしている。
上記加工装置８は、」−記回転テーブル７のアーム７ａ
の研摩・測定位置Ｉ３の略後側に配され、上下方向−直
線」−に上から順に周波数測定手段１８、ブラシ１９及
び研摩機２０の研摩板２０ａを設けＣ１回転テーブル７
により研摩・測定位置Ｂに位置さぜられた同軸共振器１
の端面１ａに対し、駆動シリンダ２１の駆動で加工機８
を上下動させ周波数測定手段１８または研摩機２０を選
択的に」−記研摩・測定位置Ｂに停止させるようにして
いる。
の研摩・測定位置Ｉ３の略後側に配され、上下方向−直
線」−に上から順に周波数測定手段１８、ブラシ１９及
び研摩機２０の研摩板２０ａを設けＣ１回転テーブル７
により研摩・測定位置Ｂに位置さぜられた同軸共振器１
の端面１ａに対し、駆動シリンダ２１の駆動で加工機８
を上下動させ周波数測定手段１８または研摩機２０を選
択的に」−記研摩・測定位置Ｂに停止させるようにして
いる。
上記周波数測定手段１８は、同軸共振器１に対し測定チ
ャック（図示せず。）が近づいて同軸共振器１の共振周
波数を測定するようになっている。
ャック（図示せず。）が近づいて同軸共振器１の共振周
波数を測定するようになっている。
上記研摩機２０は、研摩板２０ａの回転により同軸共振
器１の端面１ａを研摩するようになっている。上記ブラ
シ１９は、上記研摩機２０で研摩された同軸共振機１の
端面１ａに付着した削りカスやゴミ等を加工機８が下降
する際に取り除くようにしている。
器１の端面１ａを研摩するようになっている。上記ブラ
シ１９は、上記研摩機２０で研摩された同軸共振機１の
端面１ａに付着した削りカスやゴミ等を加工機８が下降
する際に取り除くようにしている。
多数の同軸共振器収納用溝９ａ、・・・、９ａを有する
回転可能な円柱体であって、加工機８で研摩し、周波数
を測定した後、目標の周波数に達した同軸共振器１を、
チャック部材１５の開操作に伴い、その各収納用溝９ａ
内に良品収納部材９の回転で逐次収納するようにしてい
る。
回転可能な円柱体であって、加工機８で研摩し、周波数
を測定した後、目標の周波数に達した同軸共振器１を、
チャック部材１５の開操作に伴い、その各収納用溝９ａ
内に良品収納部材９の回転で逐次収納するようにしてい
る。
’、’５ｚ Ｊ＝記不良品収納箱１０は、回転テーブル
７のアーム７ａの不良品搬出位置りに設けられ、研摩し
、周波数測定された同軸共振器１のうち、目標の周波数
に達しなかった不良品の同軸共振器１′を、チャック部
材１５から搬出して収納するようにしている。
７のアーム７ａの不良品搬出位置りに設けられ、研摩し
、周波数測定された同軸共振器１のうち、目標の周波数
に達しなかった不良品の同軸共振器１′を、チャック部
材１５から搬出して収納するようにしている。
さらに、上記制御装置Ｊ１はマイクロコンピュータから
構成され、該制御装置１１の出力により加工機８を動作
させることによって研摩・測定位置Ｂに停止させた同軸
共振器１に対して研摩機２゜を一定回転数回転駆動させ
て上記同軸共振器１の端面１ａを研摩するようになって
いる。そして、回転数に対する周波数の変化率を上記周
波数測定手段１８の出力と上記研摩機２０の回転数を表
わす信号とに基づいて算出し、上記変化率に基づいて目
標の周波数未満の前段周波数に対応する回転数を算出し
て、上記回転数を表わす信号で研摩機２０を所定回転数
回転させる。その後、上記周波数測定手段１８で同軸共
振器１の周波数を測定させ、該周波数測定手段１８から
出力される実測周波数と上記前段周波数とを比較して、
上記画周波数の偏差を表わす信号に基づいて、回転数に
対する周波数の修正変化率を算出する。誉して、その修
正変化率を表わす信号に基づいて、目標周波数を得るた
めに研摩機２０の回転数を表わす信号を作成して、加工
機８に出力して目標周波数を有する同軸共振器１を自動
的に得るようにしている。
構成され、該制御装置１１の出力により加工機８を動作
させることによって研摩・測定位置Ｂに停止させた同軸
共振器１に対して研摩機２゜を一定回転数回転駆動させ
て上記同軸共振器１の端面１ａを研摩するようになって
いる。そして、回転数に対する周波数の変化率を上記周
波数測定手段１８の出力と上記研摩機２０の回転数を表
わす信号とに基づいて算出し、上記変化率に基づいて目
標の周波数未満の前段周波数に対応する回転数を算出し
て、上記回転数を表わす信号で研摩機２０を所定回転数
回転させる。その後、上記周波数測定手段１８で同軸共
振器１の周波数を測定させ、該周波数測定手段１８から
出力される実測周波数と上記前段周波数とを比較して、
上記画周波数の偏差を表わす信号に基づいて、回転数に
対する周波数の修正変化率を算出する。誉して、その修
正変化率を表わす信号に基づいて、目標周波数を得るた
めに研摩機２０の回転数を表わす信号を作成して、加工
機８に出力して目標周波数を有する同軸共振器１を自動
的に得るようにしている。
次に、上記構成に係る自動調整機の作動を説明する。
まず、ホッパ１３内に投入された同軸共振器１を搬入口
−り１４の回転により、搬入位置へまで搬び、該搬入位
置へに位置する回転テーブル７のアーム７ａのチャック
部材１５に同軸共振器１をチャックする。この状態では
、同軸共振器１の銀の焼きつけ等がされていない研摩・
測定端面１ａが、チャック部材１５から支持スタンド側
すなわち加工機側に突出している。そして、回転テーブ
ル７のアーム７ａを第３図中時針回りに９０°回転させ
で、チャックされた同軸共振器１を研摩・測定位置１３
に停止させる。
−り１４の回転により、搬入位置へまで搬び、該搬入位
置へに位置する回転テーブル７のアーム７ａのチャック
部材１５に同軸共振器１をチャックする。この状態では
、同軸共振器１の銀の焼きつけ等がされていない研摩・
測定端面１ａが、チャック部材１５から支持スタンド側
すなわち加工機側に突出している。そして、回転テーブ
ル７のアーム７ａを第３図中時針回りに９０°回転させ
で、チャックされた同軸共振器１を研摩・測定位置１３
に停止させる。
次いで、」二記、駆動ンリンダ２１の駆動により加工機
８を上昇させて、上記同軸共振器１に研摩機２０の研摩
板２０ａを対向させるようにする（第４図参照）と共に
、アーム先端に設けたンリンダ１６の作動によりチャッ
ク部材１５とともに同軸共振器１を加工機側に後進させ
、同軸共振器Ｊの端面１ａを少し研摩して而出しを行う
。これは、同軸共振器１の導電体を形成する銀をセラミ
ック誘電体２（第２図参照）に手塗りする際、銀が余分
な所に付着したり、セラミック誘電体２の製造面を形成
していないためである。
８を上昇させて、上記同軸共振器１に研摩機２０の研摩
板２０ａを対向させるようにする（第４図参照）と共に
、アーム先端に設けたンリンダ１６の作動によりチャッ
ク部材１５とともに同軸共振器１を加工機側に後進させ
、同軸共振器Ｊの端面１ａを少し研摩して而出しを行う
。これは、同軸共振器１の導電体を形成する銀をセラミ
ック誘電体２（第２図参照）に手塗りする際、銀が余分
な所に付着したり、セラミック誘電体２の製造面を形成
していないためである。
次いで、駆動シリンダ２１により加工機８を下降させ、
ブラシ１９で同軸共振器１の端面１ａを清掃したのち、
周波数測定手段１８で同軸共振器１の初四周波数を測定
する（第３図中一点鎖線で示す）。そして、駆動シリン
ダ２１により加工機８を上昇させて再び同軸共振器１の
端面１ａを一定回転数００分だけ研摩板２０ａを回転さ
せて研摩する（第３図中実線で示す）。そして、再び、
加工機８を下降させて同軸共振器１の周波数測定手段１
８で測定し、上記一定回転数ｎ□ に対応する周波数の
変化分子１ を得る。次いで、」二組周波数測定手段１
８の出力の変化分子１ と研摩機２゜である。この変化
率をもとに、周波数ｆ□から目たがって、目標周波数ｆ
２を得るためには、回転数（ｎ２−ｎ□）分だけ研摩機
２０を回転させて、同軸共振器１を研摩すればよいが、
上記変化率の誤差により目標周波数°を得られないこと
や、同軸共振器１の削りすぎにより、同軸共振器１の周
波数が目標周波数ｆ２を超えるということを防１ｊ二す
るため、目標周波数「２未満の前段周波数ｆ３にに対応
する回転数（ｎａ ｎ １ ） を算出して、回転
数（ｎ３−ｎ□）を表わす信号で研摩機２０を所定回転
数（ｎ３−ｎｌ）分だけ回転させた後、周波数測定装置
１８で同軸共振器１０周波数を測定する。この結果、回
転数（ｎ３ ｎ□）に対応して周波数ｆ３が得られれば
、次に、回転数０２と０３ との差に対応する（ｎ２ｎ
ａ）分、研摩機２０を回転させて同軸共振器１を研摩す
れは目標の周波数１２の同軸共振器１が得られる。しか
し、」１記回転数０３に対して第５図ウニ点鎖線に示す
如く実測周波数１４が得られれば、この実測周波数「４
と上記前段周波数ｆ３ とを比較して、画周波数の偏差
を表わす信号に基づいて、研摩機２ｏの回転数に対する
周波数の修正変化率（ｆ４Ｆ□）／（ｎ３−ｎｌ）を算
出する。該修正変化率は第５図に二点鎖線でする。そし
て、研摩機２ｏを回転数（ｎ４−０３）分だけ回転させ
、同軸共振器１を研摩することにより、目標の周波数「
２の同軸共振器１を得る。この目標の周波数「２の同軸
共振器１は、回転テーブル７を第３図中時釧回りにアー
ム７ａを９００回転させて、良品搬出位置Ｃでチャック
部材１５を開いて良品収納部材９内に搬出する。
ブラシ１９で同軸共振器１の端面１ａを清掃したのち、
周波数測定手段１８で同軸共振器１の初四周波数を測定
する（第３図中一点鎖線で示す）。そして、駆動シリン
ダ２１により加工機８を上昇させて再び同軸共振器１の
端面１ａを一定回転数００分だけ研摩板２０ａを回転さ
せて研摩する（第３図中実線で示す）。そして、再び、
加工機８を下降させて同軸共振器１の周波数測定手段１
８で測定し、上記一定回転数ｎ□ に対応する周波数の
変化分子１ を得る。次いで、」二組周波数測定手段１
８の出力の変化分子１ と研摩機２゜である。この変化
率をもとに、周波数ｆ□から目たがって、目標周波数ｆ
２を得るためには、回転数（ｎ２−ｎ□）分だけ研摩機
２０を回転させて、同軸共振器１を研摩すればよいが、
上記変化率の誤差により目標周波数°を得られないこと
や、同軸共振器１の削りすぎにより、同軸共振器１の周
波数が目標周波数ｆ２を超えるということを防１ｊ二す
るため、目標周波数「２未満の前段周波数ｆ３にに対応
する回転数（ｎａ ｎ １ ） を算出して、回転
数（ｎ３−ｎ□）を表わす信号で研摩機２０を所定回転
数（ｎ３−ｎｌ）分だけ回転させた後、周波数測定装置
１８で同軸共振器１０周波数を測定する。この結果、回
転数（ｎ３ ｎ□）に対応して周波数ｆ３が得られれば
、次に、回転数０２と０３ との差に対応する（ｎ２ｎ
ａ）分、研摩機２０を回転させて同軸共振器１を研摩す
れは目標の周波数１２の同軸共振器１が得られる。しか
し、」１記回転数０３に対して第５図ウニ点鎖線に示す
如く実測周波数１４が得られれば、この実測周波数「４
と上記前段周波数ｆ３ とを比較して、画周波数の偏差
を表わす信号に基づいて、研摩機２ｏの回転数に対する
周波数の修正変化率（ｆ４Ｆ□）／（ｎ３−ｎｌ）を算
出する。該修正変化率は第５図に二点鎖線でする。そし
て、研摩機２ｏを回転数（ｎ４−０３）分だけ回転させ
、同軸共振器１を研摩することにより、目標の周波数「
２の同軸共振器１を得る。この目標の周波数「２の同軸
共振器１は、回転テーブル７を第３図中時釧回りにアー
ム７ａを９００回転させて、良品搬出位置Ｃでチャック
部材１５を開いて良品収納部材９内に搬出する。
波数ｆ２未満の場合には、上記同軸共振器１を、良品搬
出位置Ｃで搬出せずに該良品搬出位置Ｃから第３図中時
針回りにさらに９００回転した不良品搬出位置Ｉ）でチ
ャック部材１５から搬出し、不良品収納箱１０内に収納
する。
出位置Ｃで搬出せずに該良品搬出位置Ｃから第３図中時
針回りにさらに９００回転した不良品搬出位置Ｉ）でチ
ャック部材１５から搬出し、不良品収納箱１０内に収納
する。
なお、本発明は本実施例に限定されることなく、その他
種々の態様で実施できる。例えば、上記回転テーブル７
のアーム７ａは９０°間隔の４本に限定されるものでは
なく、任意の間隔で任意の本数だけ設けてもよい。また
、加工機８の移動も」二Ｆ運動に限らず、一点を中心と
した回動運動により同様の効果を奏するようにしてもよ
い。
種々の態様で実施できる。例えば、上記回転テーブル７
のアーム７ａは９０°間隔の４本に限定されるものでは
なく、任意の間隔で任意の本数だけ設けてもよい。また
、加工機８の移動も」二Ｆ運動に限らず、一点を中心と
した回動運動により同様の効果を奏するようにしてもよ
い。
上記説明から明らかなように、本発明によれば、一定位
置で同軸共振器をチャックした後、−・定角度回転して
上記同軸共振器の開放端面を研摩・測定位置に停止させ
、さらに、一定角度回転して同軸共振器を搬出する回転
送り装置と；周波数測定手段と研摩機とを有して上記周
波数測定手段又は研摩機を上記研摩・測定位置に選択的
に移動させと る加工へ：上記周波数測定手段の出力と上記研摩機の回
転を表わす出力を受けて、上記加工機の周波数測定手段
又は研摩機を上記研摩・測定位置に選択的に移動させる
と共に、上記研摩機の回転数を制御する信号を出力する
制御装置とを備えて、上記制御装置の出力により加工機
を動作させることによって研摩・測定位置に停止させた
同軸共振器に対して研摩機を一定回転数回転駆動させて
」−記同軸共振器の端面を研摩し、制御装置において回
転数に対する周波数の変化率を上記周波数測定手段の出
力と上記研摩機の回転数を表わす信号とに基づいて算出
し、」１記変化率に基づいて目標の周波数未満の前段周
波数に対応する回転数を算出し゛Ｕ１Ｊ：記回転数を表
わす信号で研摩機を所定回転数回転させた後、」１記周
波数測定手段で同軸共振器の周波数を測定させ、該周波
数測定手段から出力される実測周波数と上記前段周波数
とを比較して、上記画周波数の偏差を表わす信号に基づ
いて、回転数に対する周波数の修正変化率を埠出し、そ
の修正変化率を表わす信号に基づいて、目標周波数を得
るために研摩機の回転数を表わす信号を作成して、加工
機に出力して目標周波数を有する同軸共振器を自動的に
得るようにしたので、製造費の低減を図ることができる
うえに、製品の品質を向上かつ均一化できる。
置で同軸共振器をチャックした後、−・定角度回転して
上記同軸共振器の開放端面を研摩・測定位置に停止させ
、さらに、一定角度回転して同軸共振器を搬出する回転
送り装置と；周波数測定手段と研摩機とを有して上記周
波数測定手段又は研摩機を上記研摩・測定位置に選択的
に移動させと る加工へ：上記周波数測定手段の出力と上記研摩機の回
転を表わす出力を受けて、上記加工機の周波数測定手段
又は研摩機を上記研摩・測定位置に選択的に移動させる
と共に、上記研摩機の回転数を制御する信号を出力する
制御装置とを備えて、上記制御装置の出力により加工機
を動作させることによって研摩・測定位置に停止させた
同軸共振器に対して研摩機を一定回転数回転駆動させて
」−記同軸共振器の端面を研摩し、制御装置において回
転数に対する周波数の変化率を上記周波数測定手段の出
力と上記研摩機の回転数を表わす信号とに基づいて算出
し、」１記変化率に基づいて目標の周波数未満の前段周
波数に対応する回転数を算出し゛Ｕ１Ｊ：記回転数を表
わす信号で研摩機を所定回転数回転させた後、」１記周
波数測定手段で同軸共振器の周波数を測定させ、該周波
数測定手段から出力される実測周波数と上記前段周波数
とを比較して、上記画周波数の偏差を表わす信号に基づ
いて、回転数に対する周波数の修正変化率を埠出し、そ
の修正変化率を表わす信号に基づいて、目標周波数を得
るために研摩機の回転数を表わす信号を作成して、加工
機に出力して目標周波数を有する同軸共振器を自動的に
得るようにしたので、製造費の低減を図ることができる
うえに、製品の品質を向上かつ均一化できる。
第１，２図は夫々同軸共振器を示す斜視図及び断面図、
第３，４図は夫々本発明の一実一・流側に係る自動調整
機の概略正面図及び側面図、第５図は研摩機の回転数に
対する同軸共振器の共振周波数の変化率を示す図である
。 １・・・同軸共振器、１ａ・・・端面、７・・・回転テ
ーブル、８・・・加工機、１１・・・制御装置、１５・
・・チャック部徊、１８・・・周波数測定手段、２ｏ・
・・研摩機、Δ・・・搬入位置、Ｂ・・・研摩・測定位
置、Ｃ・・・良品搬出位置、■）・・・不良品搬出位置
。 特 許 出 願 人 株式会社月田製作所代 理 人
弁理士 青 山 葆 ほか２名第４図 第５図 回転歓
第３，４図は夫々本発明の一実一・流側に係る自動調整
機の概略正面図及び側面図、第５図は研摩機の回転数に
対する同軸共振器の共振周波数の変化率を示す図である
。 １・・・同軸共振器、１ａ・・・端面、７・・・回転テ
ーブル、８・・・加工機、１１・・・制御装置、１５・
・・チャック部徊、１８・・・周波数測定手段、２ｏ・
・・研摩機、Δ・・・搬入位置、Ｂ・・・研摩・測定位
置、Ｃ・・・良品搬出位置、■）・・・不良品搬出位置
。 特 許 出 願 人 株式会社月田製作所代 理 人
弁理士 青 山 葆 ほか２名第４図 第５図 回転歓
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １１）誘電体同軸共振器の開放端面を研摩して目標の共
振周波数に調整する同軸共振器の共振周波数自動調整機
にして、 一定位置で上記同軸共振器をチャックした後、一定角度
回転して上記同軸共振器の研摩・測定位置に停止させ、
さらに、一定角度回転して同軸共振器を搬出する回転送
り装置と、 周波数測定手段と研摩機とを備えて上記周波数測定手段
又は研摩機を上記研摩・測定位置に選択的に移動させる
加工機と、 上記周波数測定手段の出力と上記研摩機の回転を表わす
出力を受けて、上記加工機を移動させると共に、上記研
摩機の回転数を制御すべく、研摩機を一定回転数回転駆
動させて上記同軸共振器の端面を研摩した際の回転数に
対する周波数の変化率を上記周波数測定手段の出力と上
記研摩機の回出して、その回転数を表わす信号で研摩機
を所定回転数回転させた後、」二記周波数測定手段で同
軸共振器の周波数を測定させ、該周波数測定手段から出
力される実測周波数と上記前段周波数とを比較して、上
記画周波数の偏差を表わす信号に基づいて、回転数に対
する周波数の修正変化率を算出し、その修正変化率を表
わす信号に基づいて、目標周波数を得るために研摩機の
回転数を表わす信号を作成出力する制御装置を備えたこ
とを特徴とする同軸共振器の共振周波数自動調整機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12483882A JPS5915305A (ja) | 1982-07-16 | 1982-07-16 | 同軸共振器の共振周波数自動調整機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12483882A JPS5915305A (ja) | 1982-07-16 | 1982-07-16 | 同軸共振器の共振周波数自動調整機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5915305A true JPS5915305A (ja) | 1984-01-26 |
| JPS632483B2 JPS632483B2 (ja) | 1988-01-19 |
Family
ID=14895337
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12483882A Granted JPS5915305A (ja) | 1982-07-16 | 1982-07-16 | 同軸共振器の共振周波数自動調整機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5915305A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03214904A (ja) * | 1990-01-19 | 1991-09-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 誘電体共振器の共振周波数調整用トリミング装置 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4946115A (en) * | 1988-06-22 | 1990-08-07 | Mueller Gerhard | Device for taking up a line |
| JPH02107966U (ja) * | 1989-02-17 | 1990-08-28 |
-
1982
- 1982-07-16 JP JP12483882A patent/JPS5915305A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03214904A (ja) * | 1990-01-19 | 1991-09-20 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 誘電体共振器の共振周波数調整用トリミング装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS632483B2 (ja) | 1988-01-19 |
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