JPS59146008A - 合焦検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

本発明は、カメラ、顎微ぜ５等の光学装ｊｉ？ｉ　に用
いられる横ずれ像検出方式を用いた合焦検１（冒−」６
に関するものである。 第１図は従来の横ずね像検出方式を用いた合焦検１１０
８置の基本的構成を示す線図である。この従来例Ｏこお
いては、結像レンズ１σ〕射出瞳を分割す２）複数の微
小な射出ｔｆ＋？分割ン分割系０学系　１．　＜、　ｋ
　りｎ　）カＣ］ｌ、ｔ　Ｚ）ｉｉ’＋Ｉ　’ｌ’　ｉ
ｌ、　（’ｉ！　＠　’ＩＥ手段２ど、ｎｉｌ　記射出
１１ｉ　分Ｗｊｌ″７（′、学糸２）、Ｇこより分’（
１１された前３（１、結像レンズｌσ）各射出瞳からの
光中の少なくとも−ｒ７１＜を選択的Ｃ・て受光できる
ようＧこ前記の１ｌｉｉｌ、分割光学系２にのそれぞれ
に対し、対を７（ずように配置されているｎ対の受光素
子３に−Ａ、　、　３に−Ｂ　（１＜ｌ（＜−１１）か
ら成る・ヅ光米子列３とから構成されている。また受光
素子列３は、結像レンズ１の予定焦平面又はその１ｒｉ
ｉと共役な若しくはそれらの面の近傍ＩＬｌ配置さねで
いる。このように構成することに３しり　、Ｖ：光重（
子列３の奇数第１の萼・光り（子肛３１−Ａ、３□−Ａ
　ｌ　−−−１３ｎ−Ａからなる第１の受光素子列と、
偶数番目の受光素子１７１３１−Ｂ　＋　３２−Ｂ　＋
　−−−＋　３ｒ＋−Ｂから４ｒる第２の受光素子列に
はへ１１ハ１−１結像レンズ１の非合焦状態！・こ応じ
て相斤に逆方向（こず１１．　ｚ、　ｇｌ・（出（１へ
分割像が各列に投影されることになるので、これらの描
ずオ）像を前記第１の受ｙ（：素子列と第２の受光４（
子列とによって光１１Ｌ変押し、？■らオ」るＩ（：１
ｖ１．変換出力Ｇ・二基き結像ｌ・ンズ］の合用状卯力
’　ｉｆｆ　（＋ｌｌ＋　ｌ　ｔ＋、　７）。 上記ｆｆｌｆｔ戊例６・−おいてけイ゛〃イずわ像発生
手段である射出瞳分割ゲＣ：学系どしてストライ−・”
マスタべ用い、このストライブマスクの各Ｊ（：　；％
；　ｉｆ、’Ａｒ１１（（こ欠１して・１Ｃ・ンＵ零「
・列３σ）名Ｘｌ　（７）　−”：’＞　ｙｒ、　；４
７子３ｊ−Ａ　、　３ｊ−Ｂ　’Ｇ：ソｉ”Ｌぞね対応
するイル１置Ｇ・二配列し、こねにより隣接関係Ｇこあ
る奇数番目の心・尤＼七子と（，１１数番１］の受光素
子とが結Ｎ＋レシズｌの１／、！、　ｌｘろ領語を通過
する射出１１１１分割ン’（’；　中ヲ各ｌＪ５’ｌ　
Ｌ　’＝ｊｙ　ン１ｃ７−４−　ルｊうＭ　ｆ（￥　Ｉ
ｔ’ｄ：さねテいる。 ｊ″Ｊて、各・ツソＣ，木□−／’　７１’　Ｇ：　ｒ
ｆ’ｉ戊する受光素子３・−Ａと３−ＢＣ，−は結イや
レンズ１ｇ）ｌｌＱ’＋４・相＝ｒ　ｔ、　＜分割しコ たゲ（、中をパ、ン足ずろことが望ましい。 １−７かｌ−、、η〜２Ｆ・４に示′４゛よ−）Ｇこ横
ずね像発生手段２　Ｔあるストライブマスクと・妥ゲｒ
：１子列３どを直線状Ｇ、−配列４るｔｉＩ’ｆ成−（
゛は、ｙ（：ＩＩべＩｔ近傍に醒１ｉ′、＋さゎている
へｆ・ソｌ’；−’８子四３−八と３７−Ｂには相宿し
いソ（′、東が入射されるが、’／ｆ：　ｉｌｌ＋　、
ｊ：りずれたイ（１ｉｒ□Ｈｃ：＝配ｊ＋”ｉさノ１で
いる愛ソｊ′、型子４ｊ３．−Ａと；３ｎｌ−Ｂに６７
１、＋　；ｈ　＋　ワの素工に６入射イ゛るソＣ，市が
大ｌＩ府Ｇこ相３Ａシでしまう。 このたＭ）合焦１１、′ｊてあ１〕でも第１列と第２列
ｑ）寝ンｃ、累イ間６、−おいてソｃ１屯出勾が不平Ｐ
軒Ｇこη〔る不↓Ｌ合が生し、正し７い合焦検出が困♂
！（ｔＧこ４〔ってしまう。 こσ）欠点を解消−４る方法として、第３図に示Ｊよう
ＣＪｌ結像レンズ１とストライブマスクよりなる横ずｆ
１１徴生手段２との１１！１に補ｉ）二し／ンズ４、を
介挿し、古畳＊、す了４．−：　％ｔ−，−なンＣ４東
に〒入射さするノｊ法が提案されている。し′ｆＪＮシ
、この方ｉムでは交換レンズを装着した場合にｊ１３：
Ｉ：’３な補市バ１７−が変化し２でしまう欠点がある
ばかりでなく　、ｉ’ｉｌζ品点数ノぐび１’１Ｍ整箇
所も増加し、史には実！ｊ、＋、ｌスベ・−スが増加４
る欠点も牛する。 本発明の目的は、トー述のｊｔｏきｉｌｉ　、ｌニレシ
ス°を用いることなく、簡？）１なｌ′ｌＩＩ？成ｉＪ
−より各２−１の愛ゲｒ、ノそ子ＧＪ均一なｙｃ、　ｒ
＋ｊを入射さ」→るこト：’ｌｒ　？’　Ｎ１．１：　
’Ｊ　ＩＥ　４７１？７：？金片検出を一行なうことが
でざる含イＩ・検出８す１？°７肴・４！−イ１１ｖる
ことにある１、 本分１１１目；１、横ず第１像発生手段と・ツ光１７ｆ
−列とを結イ（ルシズのｔ　１ｔＱＩ−４中心と１”　
Ｚ）ｌ’（Ｌ’、１−１佳−配置ｉ”ｉ’−１４）こと
４Ｙ　Ｊ：り各外Ｉのヘン光宋二ｆｃ、二均−なソ（：
　１．ｊを入４４させる（ことを１．５徴としている。 以−ト同曲をか照し５て不発、明を１ｉｃ細に説明Ｊ−
る。 まず、横ずれ像が発生ずる原理についで、１（δ明する
。第−ｉ＝　ｌ￥１は、光軸上の点ン（：　ｉＧ４１ｏ
　ｏより４（シム−光線が結像レンズ１１の開ＩＩＩを
ｉｔ？！〆１′１０．てヴ・光シＫ　Ｔ１３］　−Ａ　
、１．３３””　Ｈに受光されるｉｒｔ跡を示している
。 光線がＨｉ＋ｉ渦４ろｌ−ンズ開口」−の位）１・昌こ
より受光素子に対重−る入射角が相違するため、受光素
子１３ｊ−４ｃこけ結像レンズ１１の上半分であるＡ　
ｆｉ＋’ｉ域を）１ａ渦する光束が主に受光され、孝子
］−３ｊ−Ｂには十゛半分’ＣＡｓるＢ領Ｍをｉｉｌ過
するンに束が主に受光さ′Ａｉル（、今’ｙ　ンスＫＭ
　Ｄ　＋ｃ、ニー１６　イーＣ光ｌ！ｌ＋　２１１Ｑ７
１Ｊ受光素子の配列方向と同一方向をｘ　１ｌＯ１１と
し、このｘ　＋ｉ＋　−１の点をｉｌ’ｌフイ：ｊＳ　
ｔ、、て苅を形成している受光４（子１８ｊ−Ａと１３
ｊ−Ｂにや・光される全慴・光量に対する各孝子σ、　
、−３，ｙ（：ＦＩｌσ）割合を受光率とする。第５図
はレンズ開Ｄ　−ＩＴ、、　ｉ・二お目る上記Ｘ軸上の
点のソ（：　＋１６１＋中心からのＷ↑＋皿Ｘと各入子
の受光率とのＷ）係を示してい７〕。 こ（−〇横１！η１（は結像レンズ１１−の光１（η１
１中心Ｏがらの距離、糸ｉＸ’ｈｉ＋は受ソロ率？示し
、実線ＧＡ受’／Ｃ累子１３ｊ−Ａの受光率を、破線は
受光素子１３ｊ”’　Ｂの・受ソ

【７率を姑しでいる。 受光素子１３　ｊ”−Ａの受ｙＣ：率はレンズ開［ｉ上
の端ｆｉｌＸであるＸ＝ｌで最大となり、１斬次１１線
的に減少し開［−１の他！Ｍｉｊ　Ｘ　＝　−１で最小
になる。−・方、受光素子１３］　”−Ｂの受′／６率
はＸ−＝−１て最大となり、直Ｐ’ｐ　ｍＪ　Ｃ（Ｚ　
ｈＱ少１７、Ｘ　＝　ｌ　’Ｔ’　Ｑ’ｒ％小トする。 そして、受ｙ〔′７米子３ｊ−Ａと３ｊ　−Ｂの心？・
光字Ｃａｔ対称の関係にある。ここで、−杵な入θ・ｌ
　ｙにを与λ１：場合Ｇこ各受光素子が開［−１１−の
位ｊ（ｊ　Ｘ　＝　−１が「）Ｘ−１までの間で受ソｃ
する光量を全ヤ）にｈｌとし、ｘ＝を及ヒｘ　＝　−ｔ
、　ｉｐらｆｔ’！　ｎ　シＴ　ｆ　９　）’／；　（
、Ｘ）ｊ、４　ｔ、コなるＸ屯１１上σ〕２つのイＩ装
置を重心ｑ−Ａ、クーＢとする。そして、これらの重心
をｉｉｎ過する屯心光糾、（は各受光素子で受光さ才す
る光重の特１１／１を表わしている。 第６１゛４　？Ｊ光軸上の点光源１ｏ（１がら発した、
光中のうち受光会ダ子１．３ｊ−，Ａと１．３ｊ−８に
より受光される重心光線１０２・−Ａ　、　１（１２−
Ｂの軌跡を表わしコＪ でおり、ｉ’ｌυ１０３　、１　（１４，、１０５ｉ；
ｉ　１ｉｉｌ　Ｌｊ’　ン（ｌ’／　ｉｔ”ｉ：　％合
焦位置１り、後ビン位置をそれぞ第１示している。第７
図は第〔５図に示ずｎｉｌビン位ｉｉ／ｌ、’　１．　
Ｃ１３、合焦位置１０４、及び後ビン位ｆｉ”（１０５
に寝・光素子列を配置した場合にＡ列及びＢ列の受光素
子ｔｊＹにょリイｕら才する像バ９−ン］−０３−Ａ　
、１０３−Ｂ　ｔ　１０４−Ａ　＋１０４、−Ｂ　、１
０５−Ａ　、１０５−１”ｌを示したものである。この
ように非合焦位防′］ｏ８及び１０５においてはＡ列及
びＢ列にそれぞれ横ずれした被写体像が形成され、合焦
位１ｉ”７１０４においてはＡ列及び８例の被写体像は
一致する。このようＧこやに′ｒメ体像の描ずれ６４八
列とＢ列の重心ｙ１−柘１１０１ｊ〜Ａと１０１−Ｂど
が結像し〉ズ１１の予定焦平面上て一致しないときに生
ずる。 ［７かし々′から前述した如く、従来の合焦検出１置Ｇ
こｔ３いて（４光４＊よりずオ］たイ＼γ１トｔにある
受）’Ｉ’＋　ｆＲ：ｆ−において対を形成するヴーゲ
Ｃ素子に均一＆、ニア１．ｉ７が入射されｔ「いた入）
）正補′な合ヂ、ハ検出ケし？！ｊないｆ：１合を生じ
て［２，まっ。 第８図Ｇｔ本発明を−・眼レフカメラＣ４ｌ、ｚｌ”’
３川し人−ｆ′−１１合の・例を示ｔ　ｊ：’ｊ戊図で
ある。撮影レンズ１１を１ＩＩｊ堝したソに　Ｉｌｙ　
Ｔ：１クイツクリターンミラー　］７のほぼ中央Ｍ、　
Ｈト；成されているハーフミラ−川８により二分１リリ
され、ハーフミラ−１８で反射された光中は子方に配Ｊ
Ｙ、ｌされているファインダー系にうＮが才］ると共ｃ
コ、ハーフミラ−１８を透過した光はクイックリターン
ミラー　１７の後方に配置した全反射ミラ〜　１９を介
してゼ：））：ビレンス１１の九ｉｌｌ＋を中心とし２
て円内上０１−配設した横ずれ像発生手段であるストラ
イブマスク１２及び−５光求千列１３に導１））れる。 Ｃｉ７−’ｌ　Ｊ：、　’）　ニ構ずれ発生手段である
ストライプマスク１２及び受ゲＩ′：赤子列１３を光ｌ
ｌ１１１１を中心とする円周−ヒに配置することＧこよ
り＞’Ｃけ１１力１「）各ヴ・光、４ｆ：子への距離が
等し、くなり各受ソに　＄　、ｌｆ−ｂ、＝は被写体が
ら発した光（ＰがＪ！’＝＋　−ｃ、−人射し、前述し
た不具合点が解消され、ｉＥ　＠、　ｉｔ合焦検出が可
能に乙「る。尚、第８図Ｇこむいて司り２０は撮影フィ
ルムを示しでいる。 第１１図に本発明に係るストライプマスｈ１−２　上受
光素子列１８ｇ’　ｉ！Ｙ’　ａ（なｆｉ”ｆ　ｈｔ、
を承す３、第！１　図ａ　ｌｔ本例の構成を示す平面図
であり、第１Ｊ図すは第９図ａのＩ−ｉ線で切った断面
図である。、受ソｒ零子列］３は２ｊ個σ）侃ｒ　ｙｒ
、ぶ丁・がそれぞれ一定の間ＩＱ、秀で円環状に塙板１
．３　ａ上６ＪＺ配列さＪｌでいる。ぞして配列方向Ｇ
こ対して奇数番目の受ソ（、素子ｐｏｐ　ｌ　３−　Ａ
ど偶数番目の受光麻ヂ・群］３−Ｂを（、”Ｉｔ成する
と共に、ぞねぞ才■１９！Ｊ　ｐ９するぶ子をもつで・
ツ・ソｒ、侶子対１３−Ａ　、　１３−Ｂ、　−−−１
３−Ａ、　）３□１−ＢＨｉ’々成する。 ｉ　　　　　　　　　　　　　ｎ ストライブマスク−、２［：ｔガラス、高分子７　イ）
）／　ｌ＼等のｙＱ　［ｉｌｉ　：ＩにイＩｉ　１２　
ａ　）、　Ｇこ円環状にＮｉ　ｊｉｆｆ　Ｆｌ−ｙｌ　
−Ｃｎ　個０）ストライブマスク１２〜１２ｎを蒸譜、
印刷Ｍに】 より形１芭し、そ才１ぞ１１の７スク１７Ｈにζ”　ｐ
ｔ＞け玉しンス。 １１を：　ｉｎｔ渦した光１ｆを１秀が′６する円１？
（状の閏に−１１２ｂを月ソ成１する。干して各マスク
は対応するへＦ−：ｌ（：　塁子欠１の一部を（ＨＣ＜
ン’＋’；−４るよう円環状Ｇこ配列する。 ン５（ｃごトご已円甲゛１幻ストラーイフ′マスク１２
１！ｌひ・ｙ　ｙＣ。 ＪＥ千何列１３用いた場合θ）ｉ、ｌｌｉず′ｉ１、像
７）発理原理Ｃごついて１１（ス１ｌｌＩ４′る。第１
０図に示すようＧ、−田作１状０．７：ｌＮｔ’、　列
Ｆ、、　ｔ”ｔ　Ｔ：　イロ”％　’）（：　、仕−１
：”列１．２０＋　円内す嘗１（、ＳＩＣｒＴ、ｌ−Ａ
　、１：う１−Ｆｌ　、　１３ｊ−Ａ　、　１３ｊ−１
ｔ　、　１３に−Ａ　。 １　：（ｋ−Ｂ　、　１−　：３１−Ａ及Ｄ　１．３７
−　Ｂ　８Ｃ％ｒ　−４’　Ｚ）レンス開［−１１−の
小心位１ど１１０１・−Ａ　、　１０１−Ｂ　、　１　
ｏ　１Ｊ−Ａ。 −１ １０Ｊ−Ｂ　、１（１１に−Ａ　、１０１に−Ｂ　、１
０１．−Ａ　。 １０１□−Ｂ及び各受ｙＣニジ（（ｆ・の愛ソに率の＋
１１略を２１゛暑（１図ｂ−ｅに示す。第１０図ｂ〜ｅ
ｃこおけ／：）濃１すはＡ列側箇′やＩ６オ（子の受光
率を示し、戸ｊＵ、が高いことＩｔ、　Ａ列の素子の受
光率が高くＢ列の下ｒ・の・平光率が低いことを表わし
ている。対の関係もこＪ）るＡ列とＢ列σ）、７１．’
、−：ｌｒ、Ｘ＋で子（ｙ）ｆｆｉ心付置は常に光軸に
対して対称なイＩ’装置にあり、同列のぐ・Ｙ（：　：
Ｍ手間においては配列位若に？：ｒ：い対応する重心位
置も円（ｙｄ方向Ｇご移動している。従って、各・ツ・
＞ｒ、　：Ｊ、Ｃ子Ｉ：ｔ、　ｉＩＩ　ｒ、ｉｓ　、、
ｌ・の位置Ｇ、二対応し′Ｃ接糾一方向に１６′１丁ね
した像をｊ受尾し、全体として円内方向（にずれたｒ蒙
≧１・検出（ることＣ１二なる。即ち、Ａ列及こｒＢ列
σ）末子Ｇ、−よりイ１１「）ね、７．、イ９Ｉバ々−
ンは非合１イ”ＩＪＳＱＲ＋こＬｉ；、ｔ−Ｃ＋＋＋旨
１１方向又ｉ；ｔ　Ｊ’ｊ時ｆｉｌ’−ｈ向＋＝　横ず
わを／４−ニー４’ることｔ（Ｌ　１：（る。第１１１
：ＩＢＶ　ｆｉｌ’ｉ−ｊ”才＋　ｒＴ　ｔ＋＝、　Ｔ
、　ｒ＜、＞とパ８・ン（、４ｒ了、、Ｌ−５−直線状
６．Ｔｈ配列しブ１：とぎｔｒ＋伸バ々−ンと円１．’
ｉｌ　［に配列したときの各イρ１バクーンを示す。従
来のよう６・（ｌ′ｌ終イ状に−配列した」１〜合には
合イｆ・時ｃ５−おいてｃｔＡ列とＢ列σ）イφバタ−
シが一゛牧し、ｊ’ｌｉｌヒ゛ンノｉ　ｒＦイ号ヒ′ン
１１．’ｒＬＪＩ　＋、１１白線ｒ白４．’、−。 ノ）向に描−イ゛才ｌを牛Ａ′る。一方、ソ（、ｉｌｌ
＋を中心Ｇ、−シて円内ＩＣ５二配５１１１．た場合（
、−は合（ｆｌｌｌ、１ｒＴＪ　Ａ列と１３列内像パタ
ーンが一致し、＋’１１ビン４及び倍ビンの１情には’
ｌｆ：　４；Ｉ＋を中心（、−ニして時ｄ１方向又６，
１反ｔＬ’（ｒｉ１方向’　ｌ＆＋　’１”れを発生す
る。尚、ｒ・“１ず才１像発生手段及びゃ−Ｊ（：素子
は必１′しも全円１ｆｉｌ←−目り配列する必苛けなく
、ｌＪ）　フ、Ｃくとも−・対の・υ・光米子とイシ′
什４′１］像発１１゛手段とを円周−にに配列ずれば同
様（こイ苗ず才１像を発生しイＪ　。 合焦検出がＩＩ″ｉ能で３−＞る。 第１２［ツ！ａ及びｂ（・４本発明の他の実絶倒を示す
ものであり、描ずれ像発生手段としてへ◇小角臨界ブリ
ズトアレイ１４を用い　６ｊ（小角臨界ブリズムアＩ−
イ１４・と・ヅ光二（〈子列］３とを光軸を中心にして
円１ｉｔ、、Ｉ　Ｊ−に配列Ｉ７たものである。微小角
臨界プリズノ・アレイを用いて結像レンズの■？・１を
分割し、横−４’　１１像を発生させ合焦状卯を評価す
るｊｌｌ、合であっても１’“１″１ず才〕像発生手段
と受光素子列を直線状Ｇこ配列するど’ｊＣ；軸よりず
れた位ｉどに配置″さねている受＞”（：　ｆｆ１ｃ　
Ｆ　Ｎ　Ｇ−二け１）（１述しブとように隣接し対をな
しているヴ・光〒に子ζこ入射する光コー東が不均一も
・二４ｃり望ましく乙「い。この欠点を解消するだめの
微小角）：〜冗ブリズ１ｈ−７”Ｉ、　−ｆ’　１４・
と寝′光素子列１３とを光中（ｉを中心ＧＪ−１，テ円
１ｉ’ｄＪ＝　ｃ、＝配列し、客受３’ｅ　累−ｒ−Ｍ
　Ｊ’＝Ｊ　−４’−光中を人射さぜるようＧこした右
のＣある。尚、第１２図（こおいてはプリズムアレイ１
４．とや・）に＝ｉｒ　’ｐ列１３どを全円周のしｉに
百１）で配列したが、全円１−１に亘り配列したものと
同一の（メ；“、能力？びグ＋　ＩＩＦ：　１：　１■
（ｔことはいうまでもない。 第１３　Ｆｆｉ　ａ及Ｕ　ｂ　Ｖａｔイｉ’ｎ　ｌ’ね
像発生手↓−（シとｌ、　７　フライレンズアレイ１！
′ｉを使ＪＩ−Ｉ　Ｌ、たにｌ’ｊ、合σ）実艙例を・
示している。フライＩ・ンズア１ノーｆを・川し）るす
１１．合Ｃにも直線状（４−配列すると対を３”ｉ　１
３ｔ、する受光ス（子ｔＪ−入射する光束が不均一・ｃ
＝　ｉ：ｃり正（＄　ｆｃ合焦検出がＹｊ］Ｃわ才１に
＜＜ムる。よって、フライ１／ンズ共レ・イ］５と受光
翠子列１３とを）′１）軸を中・い、ニジて円内−トＧ
こ配列することにより被写体か「）の光Ｍｆを各・Ｗ・
光ｙ　子４Ｊ、均−ｃコ入射１−ルよ−）　ｃ＝しｋ　
＋：　（１）−Ｃ庚、ｚ＋。 尚、フライレンズアレイ１５を用いろｌＩ、％　Ｑ　Ｉ
Ｊｌｊ、　７ライレンズアレイ１５を結像し・ンズ（）
）予シ＋を用事ｉｌＩ’ｉ又はこの近傍むこ配置Ｆｆ’
、　Ｌ、受１）’？；　”４Ｅ　ｒ←１フライＬ−シ・
ズ了しイ１５の予ｒ、＋−を用事面又（１こＴ７）ｊｌ
ｒ　ｆ：師こ一配置ン′置ツなければなら１Ｃい。第１
−１．図とキ、１５ｔ’４Ｃま微小面１界角ブリズＪ、
−７”レイ１４・及（ＪＳフンイレンズアレイＩ５を各
々ｙＣ；ＩＩＩＩＩる已・中心にし１円［１［１・（、
ニー配列ｔツたｊｌｊ。 合に被％ｉ体からの光わ４がτ「ｎ過才／）Ｌ−ンズ開
［１［−の位置と一久１の受光素子１３ｊ−Ａ、　、　
１．８ｊ−Ｂの尚ソｆ；率とθ）　Ｉ’、！　係を示し
ている。プリズム、フライ１／ンズ共（・−八−ダ１」
の−！’、　’Ｊ−１，；（］　−Ａ　’こけほぼｊＩ
′ｉｔ廿モレニ、・ス”［１＋’Ｊ　ｒ−１、−、にの
例λば十半分をｉｌ渦するソロ束σ）みフッ（受）ｃさ
′１１、Ｂ列σ）孝子１３・−１３には下半分σ）領域
を１７１−ｉ過１−るコ ＪＣ：東のみが受光されている。こυ−）点ストライフ
°マスク２用イ、ｌ’、　ｆ４％　合４Ｃ什１べ１Ｉｆ
ｉ’＋分シ：１１がより汀’、　１ｉｉｆｔ　Ｔ、’　
；Ｅ＋４゜ことを表わしている。り貝、−プリズム−ｒ
レイ及Ｃｙフライレンズアレ・イを用いる場合共に’−
Ｎ＋！、　列ｉ（１１ｔｔ４９ニセ、Ｉワ”）　−４’
　７ｆ　？　形成ｔ　ルＡ　列及（Ｊ　Ｂ　列（７）　
”：”　’Ｉｃ、　”６　’Ｆ　’　ｔＨ’、Ｉｊ”　
ｔ／い／ｆ′；束が條・光されでいる。 第１６図は配列とＢ列の受光孝子群１３　ｊ−Ａ　＋］
３・−Ｂ５ｈいＧこ接近する一？！ｆｃる円周上Ｇこ配
列しコ た−Ｆ絶倒を示すものである。各受光孝子σ）　’ｇＬ
ｆ質＋’＋ｊ＋な受光面１ｔ１を同一に４゛れば配列及
びＢ列σ）受光］ダ子０こ相等しい１０束を入射さ−け
ることができ、ま−、ニスドライブマスク１２は対応す
る受光素子をソ】ノ（−する、Ｌうに構成することによ
り横ずれイ（仝を正＾またＧ、Ｉ発生させることができ
る６、 次Ｇこ本発明にかかる合焦検出判′ｉｒ！方法Ｇ・−Ｚ
）Ｉ、＼てＷＲ７明する、たと文は、受ｓ’ｒ、素子列
１３−Ａの受光孝子群Ａの出力をＡｎ、受光シ（子列１
　：３−　Ｂσ〕′受ゲ（、素二ｒ・群Ｂの出力をＢｎ
とし、受ソロ　”’Ｆ＝千列（〕）（ヤσ）４ｆｉ’ｉ
　Ｊ’　Ｒを表わす訂価門数Ｆとして、たとえ（Ｊ゛、
Ｆ−Σ（ｌＡｎ＋１−Ｂｎ−１ｌ　）−ＣｌＡ１１−Ｂ
ｎ＋１．　”を用いる。この場合において合焦位ｉｉ（
’ｉて゛（ま横”す′才］。 を生じないので零の値とｆｆす、合焦位置か０外ｉ］る
と横ずれを生じ、第１７図（こ示−４−、Ｊ：うＧ、１
非合焦の方向に応じて正負の符−叶が反転する曲線ｈ’
　１人４　「）ねる。従って上記の肛価門数ＦをｌＩｊ
ｆ　ｔＫ　ｂて合ｆ！１　’ｌ’１Ｊ７ｉｆをイイなえ
ば、極めて広い結像光、学系σ）渭＜　ｌｔＨ範囲ζこ
わたって、合焦状態を検１（臂（−イ）ことがｉｉｆ　
（ｆ’：とｌ、ｒす、しかも、昌い検出精ｆＱ’　９も
って合焦状態を検出することかできる。 以上説明したように本発明Ｃごよ才１ば、横ず才］像発
生手段及び受光素子を光軸を−・中心とする円周、Ｊ−
：むこ配列しているから被写体からのソＣ１中を各受光
素子に均一に入射させることが川−能になり、合焦検出
の精度を一層昌めＫ）ことができる。また、（ｊ’Ｊ写
体十Ｇこ：１ントラストの強い境界イ゛；１がをイロる
場合又は？＞写体が光学的１７７１期性をイ１１−２て
いる場合Ｇ、ｍ　ｔζいて６．ｔ、労ｙ（−に子が直線
状０・−配列さハ、ている受光素子σ）配列方向き境界
拓１の方向とか一致ずろことが多く、コントラストの強
い１イχ界ρ；Ｉ及び被写体の周１１０ヴ（様を検出で
きない場合を生ずるが、本発明のように受）＋６素子を
円周＋６こ配列すわけコントラストの強い境界斬！及び
被写体のｆ’ｓ（１１ＪＩ枠様をともＧに検出てき、合
焦検出の’ｌ’＋’ｉ度を−・層高めることがてき′る
。４”だ、受ソＣ：夫千を円環状に配列している１Ｊ）
「）、受光１モ子の配列がＮｉ＜　１！ｅし、１０線状
に配列したｔ（１・＾成のよ）Ｇこｆ１１１部の受光孝
子が有効に０作刺しｔｒくなるようなことにはならず、
全ての受光素ｆ・を有効（ＧＪ−利用することができる
。一般ｃ＝　％、＝；写体を広い１ｌｉｌ″ｉ囲に１（
り検出するＧ、二は受光素子列が長いことが望まし２い
。よって−２１ｒ数の受光素子を用いて検出するｔ４％
合には本発明のようＧこ素子を円１；′Ｊ状Ｇこ配列才
る方が直線状Ｇこ配列する場合に比べ広い中ｉ］、囲に
ぼり検出することができる。更にストライブマスクが）
［ニ成さ７１．７いる刃板と受光素子が配列されている
１１シ板との：：Ｐｔ　ＩＩＩ′ｉｇ　１．Ｉｌ率が相
異し−ｒ　イ’り　ト”；＋　＃’、’ｊ　７ｊ、１）
度変化によりストライブマスクの配列ピッチと受光公子
θ）配列ビッグとがずれてしＮ・い合焦伸出σ〕精度が
低下してしまうが、本発明０）ようにストラ、イブマス
クと受光率に子とを円環状ｉＪ１配置列−ｔｉ’ｔば基
板は中心部より放射状Ｇこ伸＠１：するたλりピッチの
−４１１゜を生ぜず、温Ｉ９変化Ｇこ弾い合焦検出装置
を４７．（供することができる。 ４［て曲のＦ／ｌｉ屯な説明 第１図６１従来の描ずわ検出方式に、ｒろ合弘検出装Ｖ
ｔの基本構成図、 第２図Ｇ；を受）ｌ（、素子ノグびストライブマスクを
的わ１１状に配列した場合の受光ｙＣ：　＜ＬＬのｉ！
ｉＩ［、跡を示−４糾ｊ図、Ｎ’、　３　［’ｌは補正
レンズを用いた揚台の傳・ｙ５１：　！’：を示ず線１
゛４、 第４図ζ・４１ｈ心光線の軌跡を示すｅ’Ｊ　ｔ）６・
第５１￥ｌ　ｉ・；を受光光束が通１ｌｌｌ′ｈするｌ
／レンズ開１”Ｔ十〇）イ＼゛ｌＷｅと受光率との関係
を示す線図、 第６図は重心ｙＣ，１ｉｂｐの軌跡荀示ず線（・４、第
７図Ｇ：を各焦点状態に：Ｉ−５はる像パターンを示４
線図、 第８図は本発明を−ＩＩＮ　ｌ〜フカメラＣ，ニー適１
１１シスー場合の構成図、 第９［￥ｌａけ本発明に係るストライブマスクと受光素
子列の構成図、第９図すは第９図ａのＩ−Ｔ断面図、 第１０　ｉ￥ｌ　ａ〜ｅけ各位置の受光素子に苅する重
心位ｌｉ″Ｉ及び受う′６率の概略を示す線図、第１１
図ａけ横゛４′れ像発生手段及び受光素子列を直線状Ｇ
３−配置したときの各焦点状態における像パターンを表
わす線ＩＡ１第１１Ｓｏｌ　ｂは円周上に配列したとぎ
の各焦点状態６．ｍお（」る像パターンを表わず線図、 第１２図ａは横ずれ像発生手段と１．て＋’＝＄小１：
タ界角プリズムアレイを用いたときσ）構成を示す平面
図、第１２図ｂ　Ｔｉｔ第１第１２力ａ−１断面図、第
１８図ａは横ずれ像発生手段としてフライレンズアレイ
を用いたときの構成を示ず平（６１図、第１３図すは第
１３１’ｌ　ａのＩ−１断面図、第１４図はｉ吸小臨界
角プリズムアレイを用いたときの対を４ぐず受）＋６素
子の受光率と光線がＩｌ：ｉ過するレンズ開［１上σ）
位１；２Ｉとの関係を示す線図、第］ｓｌ￥Ｉｌ；ｔフ
ライレンズアレイを用いたときの対をなす受光素子の受
光率とｙ（：線が１１１ｉ渦オるｔ・ンズ開［」上の位
ｉ２＋との関係を示す配′！図、第１６園はＡ列とＢ列
の受ｙ（Ｉ孝子！（Ｙを一１Ｉ′Ｉ（なる円周トに配置
した実絶倒の構成図、 第１，７図は焦点状態における検出信じ・σ）態様２示
す線図である。 １、］１・・・結像レンズ　　２・・・横４′第１像発
生手段８．１８・・・受光素子列　　４・・・補正レン
ズ１２・・・ストライブマスク １４、・・・微小臨Ｗ角ブリズノ・アレイ］５・・・フ
ラ・ｆレンズアレイ １７・・・クイックリターンミラー ■８・・・ハーフミラ−］９・・・全反射ミラー２０・
・・フィルム　　　　　］００・・・焦光４１：還１０
１−　Ａ・・・Ａ列の素子に対する小心イ＋’装置１０
１、−　Ｂ・・・Ｂ列の素子Ｇこ対才る重心イ＼’７．
　ｊｉ”ｊｌ−（＋　２−　Ａ・・・Ａ列の孝子の重心
光線の１１ｔＩｌ跡１０２−Ｂ・・・Ｂ列の孝子の重心
光線σ）軌ｈｒｔｒ第１図 第２図 第８図 第４Ｎ 第５閣 第７図 第８問 第１０図 （ｄ　）　　　　　（ｅ　） 第１１図　　ａ 第１２図 ｂ ｆラーリ ｋ 第１３図 ａ　　　　　　　　　　ｂ 第１４図 一ノ　　　　　　　Ｏｌ −，４２’− 第１５図 第１６図 第１７図 手続補正−升 昭ｆｌｌ　５４１年　５　月　・１・１１１、事件の表
示 昭和５８年　特　　ｊｊ’（：　ｌ１ｉｌｉ第ｔ　（１
５Ｇｌ　＋　；’２、発明の名称 自焦検出装櫛 ３、　ｉ＋ｌｉ止をする者 ｉｌ（件、ｌの門イｔ　特ｒ　ｒ　ｉ（Ｉ　１頭人（０
３７）副リンバス光学上業株式会社σ）け？ｔ　ｒ（ｒ
な説明Ｊ　）（＋Ｆ（１）、＝　ヨ（Ｊ　］゛４１ｒ１
ｉ７、補正ノ内容（’ｌ１ｌｔ’ｌ：ｃ）ｉｌｎ　＋υ
（１）明ｆ’ｌｌｌ　Ｉ’シバ合２　に”ｊ　＞’Ｉ’
Ｓ　９　’（ＪのＦ奇蜀第、１１」を［−奇数番・１−
Ｉ」にｒｉｌ’　、ｉｌ（’Ｊる。 （２）同第７（゛１第５行〜６行の（−１ｏ　１．１−
Ａと１０１ｊ−ＢＪをｌ−１０２−Ａど１．０２ｊ−Ｂ
ｊにイＩ１１：する。 、Ｊ （３）同・第９１．ｊ第５イＪσ）１円環状」を削除し
７、同均第９ｒＪ：の「発１４１１原理」を「発生原理
］にＪｌ’　、＋Ｅ　’−・１ 同白第１０竹σ）［第１　（１９１−１を１第１Ｏ図ａ
］に、（丁［ピする。 （４）同第１１頁第１行〜３？−Ｊ″の［少なくとも一
一一一一・・ｌ′ｉ１能である。１をＬ全円周の一部Ｏ
こ配列し７てもかまわない、３」に４ｉ正する３、 （５）同第１３０第１１？−ｆ〜１８行を削除する１、
（６）同第１ａｇ、ｌＩ口？■の１−Ａｊをｒ　Ａｊ−
Ｊに１イ］’　ｊＥ　ｌ、、同白第２　？Ｊのｆ−Ｂ、
ｌをｆ−ＢＪｌに＃ｌ’　ｉＩ−’几、同し′−↓第４
行の式を次のとおり６．二訂正する。 ［Ｆ−９Σ（ｌＡｊ＋ｘ−１３ｊ−ｘ　ｌ　−ＩＡｊ−
Ｂｊ＋、ｌ　）　ＪＪ＝１ （ア）１司ｉ丁Ｓ　１４　Ｂ、ｊ　＊＼１８イーＪ−第
１５］ｊ第８１１の［８トか、被写体十に一一一一一−
・層高めることかで％　りｙ。１を次のとおりに、訂正
する。 ［まだ被写体十にコントラストの強い境’／ｌ’　＃ｌ
Ｊｊ！が存在する場合に、受ｙ／、素子’ｒ　ｉＥ＜、
　ｋ・−ｊ状に配列］すると、受九素子の配列方向が、
コンｌ−ラスト０）９１ｉい境界ｒ１（に対して内角を
なずｊＪ）合には、↑ｔ’ｊ　ｌ朋よく合馬検出を行な
う事ができるが、配列−１７ｉ向と境界線が平行な場合
には、精度よく合焦検出を行Ｘ［う１１）ができない３
、こね（こ対して、受ソｒし）ぞ子を円甲状に配列し、
た１７４合には、土、ｉＪ　Ｗ線の方向Ｃ３−よらず？
’＋’を度よく合ヱ（１（・〕出を？−Ｊ’　Ｉｔ　’
ｉことかでき≧−）３、ｔた、ｒ支”ｊ　体カニ５’Ｃ
”？−的Ｌ（−１ｆ’ｉｌ　Ｒ１１＋：１ｇ　ヲ＋ｔ　
シ（−イルｊＭ合、受Ｊ（Ｈ−１１子を偵ホ゛ｄ状に配
列した場合Ｇ、二は、結像ｙ０学系の駆動と共（こ何面
１す「かで合焦表示がなさねるが、受ソ（：、　：Ｒ＜
　ｆ・を円）ｇｌ状Ｇこ配’、ｉｌ　した場合４Ｊ二は
、被″Ｉ体１−のヤン′ｔ″、水子と（１１野の円周１
−に沿−二）てｊ古］其ＪＪ　Ｍ：　’＆・ｆＪ’　Ｌ
、てしハるＪ）４　、％をト′亡イて、（−（７）　４
；Ｑ　／ｊ　ｌｊ’；ｊ動作を起さない利点がある。」 （８）回り１へ１５〔Ｊ汀）１２７丁〜１７了Ｊσ）　
Ｌ−、−・メｊ受゛に−−一−−イ・Ｑ出することが゛
てきる。−１を削１；“ｉ７する。 （ｇ）同”ＩＮ　１．、８　、’ｊ“、（・１＼４イ１
〜５行を削除し、１＋−ｉＪ　ｊ：：’ｊ　ｉ’（’、
　ｆ３行ｒｔ）　ｌ’　ｉＱ、１７１ｖｌＪ　＝＊　ｒ
ｉｉｉ　１６１＊１　Ｊに、ｒ１′ｌＴ：する。 （１０）図冊中、第８図、第５図、’Ｔ”　ｌ”’１　
％　第９図ａ。 ｂ、第１０図（ｂ）　、　（Ｃ）　、　（（ｉ）　、　
（＋３）　、第１２１４ｂ、第１８図すを別イ、ｉ（訂
止１ン［のとおりに８Ｊ正し、ｔ＝　ヨｒＪ　；Ｎ　１
７図を第１６１￥ｌ　６’ｌ　ｉｒＩ正する。 （訂止図 第１０図 （ｂ）　　　　　（ｅ） 第１２図　　　　第１３図 第１６図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １　結像光学系の非合焦状部に応じて像の横ずれを発生
   させる手段と、該横ずれした像を検出する複数の受光素
   子とを具える合焦検出装置？°１において、前記横ずれ
   を発生させる手段と受光素子とを［１１１記結像光学系
   のソＣ軸を中心として円ｊ、Ｔｊｌ−トに配置斤したこ
   とを特徴とする合焦検出装置ど７゜