JPS5913059A - 無電気めつきのための前処理方法 - Google Patents

無電気めつきのための前処理方法

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JPS5913059A
JPS5913059A JP58068499A JP6849983A JPS5913059A JP S5913059 A JPS5913059 A JP S5913059A JP 58068499 A JP58068499 A JP 58068499A JP 6849983 A JP6849983 A JP 6849983A JP S5913059 A JPS5913059 A JP S5913059A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は誘電体材料の前処理に関するものであり、更に
具体的には誘電体基体上に導電性金属を無電気付着する
だめの前準備として誘電体基体を処理することに関する
。この前処理は基体の外表面ばかりか孔の内面にも適用
可能である。本発明は取りわけ印刷回路カード及び印刷
回路板、の製造用に好適である。
〔背景技術〕
印刷回′路板等の製造に際して、基体として誘電性シー
ト材料が用いられる。その基体の主表面の片面又は両面
に導電性回路パターンが設けられる2、。
導電性回路パターンは種々の公知技術を用いて所望の回
路パターンを形成するため銅の層を食刻する除去技術、
銅を基体表面上に所望回路の形で直接的に無電気めっき
するEDB”(無電気直接付着)技術、剥取銅の薄層で
所望の回路パターンを残す剥取技術等を含む。これらの
技術では倒れも、層間の接続はめつきスルーホールによ
ってなされる。そのようなスルーホールをめっきするに
当つっては、銅が誘電体基体上に(孔の壁面上に)直接
的にめっきされなければならない。そればかシか、若し
もEDB技術を用いるならば基体め表面上に銅が直接め
っきされなければならない。
誘電体基体は非導電性なので、その上に(孔の壁面上又
は基体の表面上に)めっきするためには、金属の付着に
先立って下地処理(シード)又は触媒処理が、なされな
ければならない。
基体を触媒処理するために広く用いられている方法の中
には、金属性パラジウム分子の層を形成(3) するため塩化錫増感溶液及び塩化パラジウム活性剤を用
いるものがある。例えば、誘電体基体を触゛ 媒“゛処
理する1つの方法が米国特許第3011920号に示さ
れている。その方法は基体を先づコロイド状金属の溶液
で処理することにより基体の反応性を高め、反応性の高
まった誘電体基体に対する保護コロイドを除去するため
選択的な溶媒で処理を速め、然る後反応性の高まった基
体上に金属(例えば銅塩の溶液及び還元剤からの銅)の
被覆を無電気的に付着することを含む。
又、米国特許第3099608号では、誘電体基体上に
半コロイド状溶液からパ→ジウ゛ム金属のような金属分
子の「導電性化剤」型の薄膜を付着することにより、導
電性化された基体上に導電性金属を電気めっき出来るよ
うにする導電性ペースを設ける前処理を含む。米国特許
第3632388号は、予備的なりロム酸食刻工程とそ
れに続く錫・パラジウムのヒドロシルで活性化する工程
と、を用いるめっき工程で重合プラスチック基体を処理
する方法を開示している。
(4) 上述の従来技術の方法は非導電性の誘電体基体上に導電
性材料の薄層を無電気やつき又Bq気めつきするために
使われてきた。
最近では、米国特許第4066809号を「6重下地処
理」と呼ばれ多方法の利用を開示している。
この方法は誘電体材料の表面を水溶性塩化畔増感溶液に
触れさせ、それに続いて誘電性す囚の表面を水溶性塩化
パラジウム活性剤溶液に触れさせ、然る後誘電体材料の
表面を水溶性塩化パラレ′ウム/塩化錫/塩酸の下地処
理浴にp$1れさせることを含む。  2      
  、      。
5基体を表面、活性剤で処理、する、方法も幾つか提案
されておシ、米国特許第4301190号は基体上への
非貴傘触媒1の付着憔を床くするため「吸収性変性剤」
で基体を予じめ湿潤処理することを開示している。[吸
収性変性剤qとして成る種の表□ 面活性剤、水和酸化物ゾル、及び成る種の錯化剤が推賞
されている。            □米国特許第3
5637.84号は非導、電体Ω、未面を多官能表面、
活性剤で処理する工程、ゆすぎ洗い。
工程、及び12工程塩化錫−塩化パラジウム処理工程、
又は1工程酸、錫−パラジウム水ゾル処理」の何れかに
よって活性化する工程を含み、めっきのために非導電体
を前処理する方法を提案している。
米国特許第3684572号は表面の食刻後1つ触媒処
理前に、非導電体の表面を成る種の第4アミン塩単官能
表面活性剤又は単1荷電表面活性剤で処理する工程を含
む非導電体めつき方法を示す。
米国特許第3573937号は非導電性基体をめっきす
るためのプロセスに関するものであって、塩化錫で反応
性を高め、且つ塩化パラジウムで活性化する前に成る種
の洗浄剤で表面をゆすぎ洗いする工程に・ついて言及し
ている。
、米国特許第3515649号、3877981号、及
び3930072号は触媒の付着前の工程以外の工程で
のめつき処理中に表面活性剤を使うことを開示している
米国特許第4008345号は無電気付着のための方法
を示しており、その方法では触媒反応的に処理された表
面が15よりも低いPIIl″を有する酸水溶液で洗浄
される。使用する酸は塩酸、過塩素酸、又は硝酸である
〔本発明の開示〕
本発明は後続の無電気めっきのために、誘電体材料の下
地処理又は活性化処理の効率を高めることに関する。こ
れは引いては、導電性金属の無電気めっきを改善し信頼
性を高めることになる。めっきの改善は誘電体基体の主
表面上ばかシかスルーホールの内面に於ても達成される
例えば後続のめつき処理のための誘電体基体下地処理中
に、既に表面に銅などの導電性金属が存在することがあ
りうる。既に存在する金属はパラジウム触媒のような下
地処理剤を吸引する傾向を有し、触媒を最も必要とする
誘電体基体上に最も少量の触媒しか存在しない結果を生
じさせる。このことは、基体の内面に銅が存在すること
がありうるスルーホールをめっきするとき取りわけ著し
く7) い。本発明によれば、スルーホールのめつきは銅界面の
縁が存在するにも拘らず大体一様になる。
そればかりか本発明は、唯1度の下地処理工程を使うだ
けで孔と(若しもEDB方法が使われるなら)主表面上
の両方に優れだめつきの達成を可能ならしめる。
具体的に言えば、本発明は誘電体基体上に導電性金属を
無電気めっきするため、誘電体基体材料の少くとも1つ
の面を前処理する方法に向けられる。本発明の方法は誘
電体基体の少くとも1つの面を、少くとも2つの利用可
能なイオン部分(Ionic  Mo1eties )
を含む多官能イオン共重合体材料を含んだ組成物で接触
させるととを含む。イオン重合体材料で被覆された表面
は、次にその上に導電性金属の無電気めっきを開始しし
うる触媒的領域を直接的に寿える触媒又は触媒的領域を
導出する前駆物質を含んだ組成物と接触させることによ
り活性化される。被覆された表面が基体の孔及び/又は
主要表面にできる。
重合体材料のイオン的特性は触媒分子と関連しく8) たイオン電荷と反対である。例えば触媒と関連したイオ
ン電荷が蔭イオンであるときは、重合体材料は陽イオン
である。
〔本発明の実施態様〕
本発明のプロセスは広範な誘電体(非導体)基体を処理
又は前処理するのに適用可能である。従来技術で示され
た熱可塑性樹脂、熱硬化性樹脂、ガラス等の誘電体基体
が本発明に従って処理されてもよい。
代表的な熱硬化性重合体材料はエポキシ、フェノール系
材料、及びポリアミドを含む。誘電体材料はガラス充填
エポキシ又はフェノール系材料のような充填剤及び/又
は強化材を含んだ重合体の塑造品であってもよい。フェ
ノール系材料の例と一シてはフェノール、レゾルシノー
ル、クレゾールを含む。適した熱可塑性重合体材料の例
はポリプロピレンなどのポリ1オーレフンイン類、ポリ
カーボネート類、二) IJル・ゴム類及びABS重合
体を含む。
1表面」又は「面」なる用語は基体の主表面ばか勺でな
くスルーホールの内側表面(内面)をも意味する。例え
ば剥取り銅の薄層上に加法的傾めっきされることにより
、又は減法的プロセスにより回路が設けられつつある場
合には、本発明はめつきされたスルーホールを下地処理
するのに有用である。本発明は無電気直接ボンド(ED
B)が採用されている場合に溶液で下地処理するために
も有用である。この場合には回路は回路板の孔中及び全
表面上の両方に所望の通り加法的にめっきされる。
誘電体基体を処理する本発明のプロセスを開始するに先
立って、回路板の所望のスルーホールが形成され、誘電
体とスルーホールが適切に清浄化され且つ前処理される
前処理には、例えば砂及び/又は蒸気吹付などの物理的
方法、及び/又は溶剤膨潤などの化学的方法によって活
性領域を作ることを含んでよい。
代表的な溶剤はNメチル・ヒロリジンである。基体は硫
化クロム酸組成物で前処理されてもよい。
本発明に従って基体は多官能イオン重合体を含む水溶液
で処理される。重合体は、同一極性の少くとも2つの活
性の即ち利用可能なイオン官能部分を持たなければなら
ない点で多官能イオン物質である。重合体は少くとも水
に混和可能であり、水溶性又は少くとも本発明で使用さ
れる水成分に溶解可能であることが望ましい。望ましい
イオン部分は第4フォスフオニウム群及び第4アンモニ
ウム群のような陽イオン部分である。少くとも2つのイ
オン部分を含む重合体は市販されている。
市販の多官能触媒重合体の例はHercules社製の
Reten 210、Reten 220、及びRet
en′500であって「水溶性重合体」と呼ばれている
Reten 210は粉状であシ、アクリルアミド及び
p・メタクリルオキシエチル・トリメチルアンモニウム
硫酸メチルの共重合体であって、1%溶液めブルックフ
ィールド粘度は6oo−io。
Ocpsである。
Re’tea 220は粉状であり、アクリルアミド及
びp・メタクリtvvw−t−シエチルートリメチルア
ンモニ←ム硫酸メチルの共重合体であって、1ts溶液
のブルックフィールド粘度は800−1200ep8で
ある。
Reten 300は液体であシ、β・メタクリルオキ
シエチル・トリメチルアンモニウム硫酸メチルのホモ重
合体であって、1チ溶液のブルックフィールド粘度は3
00 ’ 700 apeである。
Reten重合体の分子重量は通常比較的高く、約50
000乃至1000000又はそれ以上に及ぶ。これら
の高分子重量の重合体は固体であシ、その主要な化学的
骨組構造物はポリアクリルアミドである。陽イオンRe
ten(正荷電)はポリアクリルアミドへ種々のテトラ
アルキル・アンモニウム化合物を付着することによって
得られる。これらの第4アンモニウム群は合重体に多数
の正電荷を与える。
これに加えて上述のように、本発明は分子重量及び荷電
官能性を変えうる種々の異った形の水溶性の高分子電解
質又は重合体の使用に関する。例えば蔭イオン(負荷電
)重合体は正荷電コロイドを誘電体表面に付着する力を
強めるために使用できる。この場合は重合体はポリアク
リルアミドの骨組構造をも有し、且つ付着された活性荷
電群としてカルボン酸群を有する。
本発明の望ましい実施態様では、イオン重合体は重量比
で約0.01乃至1チ、望ましくは約0.05乃至0.
5 %の共重合体の希釈水溶液として使用される。水溶
液は、約1乃至7のβH1望ま・しくは約2乃至3の−
ttを与えるため、He□Ilのような無機酸を通常含
む。約2乃至3の、II/の採用は、重合体の付着作業
を容易化する目的で重合体溶液を比較的低粘度にするた
めに望ましい。−Hが約4乃至5より大になると粘度は
著しく増加する。
酸は重量比で約2乃至10チの量が通常存在する。
イオン重合体での処理は凡そ約1乃至10分であり、望
ましくは約1乃至2分である。   ・多官能重合体は
、あとで基体に付着されるべき触媒分子に関連した極性
とは反対の極性の表面を与える。この極性の相異は触媒
分子の静電気的吸着を生じさせる。
基体がイオン重合体組成と接触された後に、基体はゆす
ぎ洗いされて基本に吸収されなかった過剰な重合体が除
去される。
次に基体は無電気めっきプロセスを開始しうる触媒組成
を含んだ組成物と接触せしめるこ乍によシ活性化される
。化合物は、触媒領域を直接的に与える金属又は触媒領
域をもたらす前駆物質として働らく金属を゛含む。金属
は基本形、合金、化合物、又はそれらの混合物として存
在してもよい。
−窒マしい金属触媒は金、パラジウム、及びプラチナの
ような貴金属である。それだけでなく、本発明に従って
基体の前処理が改善された見地から、触媒は銅、ニッケ
ル、コバルト、鉄、亜鉛、マンガン、及びアルミニウム
のような非貴金属であってもよい。
最も望ましい触媒はパラジウムである。代表的なパラジ
ウム組成物は、望ましくはPddCNlす5亭るパラジ
ウム塩を約1.2−2.5t/lと、望ましくは5nC
j! −2HOである錫塩を約80−12 509/lと:望ましくはHCJである酸を約1010
0−l50/を含む。HClが37%HCj溶液の形で
与えられたとき、約290−360m1のHCE溶液を
使うのが望ましい。最も望ましい組成は約1.5 ?/
1(DPdCII2と、約10Or/lのS n Cl
 2と、約280 ml / tの31HCjを含む。
その組成は通常約18°±6°Cの温度に保たれる。溶
液中のパラジウム分子はそれから外方に延びる。首飾り
(ペンダント)状の負電荷を関連して持つものと信じら
れる。具体的に言えば、塩化パラジウム溶液中で次のこ
とが生じるものと信じられる。
Sn   +Pd   −+  Pd’十 Sn”ゝC
1− 従ってパラジウム・錫触媒システムではイオン重合体は
陽イオン重合体(正に荷電)である。
代表的な3重下地処理プロセスは誘電体基体及び/又は
スルーホールを塩化錫増感溶液(S n Cl 2/H
CJ)と先ず接触させることを含む。接触時間は4−1
0分、望ましくは7分が代表的である。
誘電体の表面をこの溶液と接触させると、スルーホール
を含むすべての表面に錫(Sn+2)の層が付着するこ
とにより前処理される。塩化錫はその後基体及び/又は
スルーホールから水でゆすぎ洗いされる。約55°−8
0°Cの温度範囲の熱湯ゆすぎ洗いが望ましい。熱湯は
過剰な塩化錫を除去し、且つ表面上のS n Cl 2
を加水分解してゼラチン状の銀金水酸化物を生じさせ、
それが基体表面上に錫錯体として吸収される。
次の下地処理ステップは誘電体基体表面及び/又はスル
ーホール表面を塩化パラジウム活性剤と接触させること
を含む。ここで2価のパラジウムが基体表面上の錫錯体
と相互作用してその上に金属パラジウム分子の粘着層を
形成する。これは誘電体基体をパラジウム活性剤浴中に
2+1分間浸漬することによって達成される。このステ
ップは最後の下地処理ステップの粘着性を高め且つ最後
の下地処理ステップで付着される最終的触媒層の濃度を
増加する。
下地処理の第3ステツプは、基体表面及び/又はスルー
ホール表面を塩化パラジウム/塩化錫/塩酸下地処理浴
と接触させることを含む。5分間の接触時間が望ましい
が、実際の接触時間は1乃至10分の範囲で変えても満
足な結果が得られることがわかった。このステップは最
終的な触媒層を付着させる。この層は銅のような加法的
金属が誘電体基体の表面上及びスルーホール内に無電気
的にめっきされるのを許容する。
この3重プロセスの第1ステツプ用の溶液を準備するに
当り、56乃至579/lのS n C12’2HOの
成分を有する塩化錫と37チ塩酸との50 mA / 
lの比率の配合(溶液のpHは0.2乃至0.5の範囲
に調整)が望ましい前処理溶液を与えることがわかった
。S n CJ 2・2H20はHCj中に溶解され、
出来上った混合物はイオンを除いた水のタンクへ注入さ
れる。pHが凡そ04で且つ溶液が18°±6°Cの温
度に保たれたとき最適の結果が得られることが大体わか
った。
5重下地処理プロセスの第2ステツプ用の塩化パラジウ
ム浴は50グラムのパラジウム(濃度ハロ16乃至o、
 17 t7t )と凡そ3780 mlの37チ塩酸
(濃度は10 ml / L )  とを混合すること
によって作られる。p a c t 2は塩酸中に溶解
されて出来上った混合物は脱イオン化された水に添加さ
れる。浴は18°±・6°Cの温度に保たれ、pHは0
.75乃至1.00の間に保たれ、溶液中の銅の含有量
は50/1000000以下に保たれる。
最後の触媒塩化パラジウム/塩化錫/塩酸下地処理浴は
、1.2乃至2.5t/lのPdCl2と、80乃至1
50f/lの5nC12・2H20と、290乃至36
0 mlの37%H(J /1を溶液とより成る浴を含
む。この第3の下地処理浴は18゜±6°Cの温度に保
たれる。浴の最適溶液は約15f/lのPdCl2と、
100 f/lのS n CJ 2と、280 ml 
/ Lの37%塩酸とを含む。
次にニッケル又は銅のような金属が処理済みの表面上に
無電気めっき法によりめっきされる。金属仲所望の厚さ
に被覆される。使用された望ましい金属は銅である。望
ましい銅無電気めっき浴とその被覆方法は米国特許第6
844799号及び第41524<S7号に示されてい
る。
銅無電気めっき浴は一般に水様組成物であって第2銅イ
オン源、還元剤、銅イオンのための錯化剤及びpH調整
剤を含む。そのめっき浴も又、シアンイオン源及び表面
活性を含むのが望ましい。
一般に使用される第2銅イオン源は硫酸第2銅、又は使
用されるべき錯化剤の第2銅塩である。硫酸第2銅を使
用するときは、約3乃至15 t/l。
最も望ましく9約9乃、至12 f/lの!だけ使うの
力5望ましい。使用される最もありふれた還元剤はホル
ムアルデヒドであって、本発明の望ましい実施例では約
07乃至71/l、最も望ましくは約0.7乃至2.2
t/lの量だけ使用される。他の還元剤の例としてはパ
ラホルムアルデヒド、トjリオキサン、ジメチル・ヒダ
、ントイン、グリオキサルのようなホルムアルデヒド前
駆物質又は誘導体:アルカリ金属水素化硼素(水素化硼
素ナトリウム及び水素化硼素カリウム)及びトリメタオ
キシ水素化硼素ナトリウムのような置換水素化硼素類:
アミンボラン(イソプロピル・アミンボラン及びモルフ
ォリンボラン)のようなボラン類が含まれる。次亜燐酸
還元剤も本発明の範囲内で無電気Ni 及びCuめつき
のために使用できる。
適当な錯化剤の例としてはロッシェル塩、エチレン・ジ
アミン・テトラ酢酸、エチレン・ジアミン命テトラ酢酸
のナトリウム(モノ・ナトリウム、ジ・ナトリウム、ト
リ・ナトリウム及びテトラ・ナトリウム)塩、ニトリロ
テトラ酢酸及びそのアルカリ塩、グルコン酸、グルコネ
ート類、トリエタノール番アミン、グルコン(ガンマ)
ラクトン、変性エチレン・ジアミン・アセテート類(N
ハイドロオキシエチル会エチレン・ジアミン・トリアセ
テートのようなもの)を含む。そのほかに多数の適当な
、第2銅錯化剤が米国特許第2996408号、307
5856号、3Q75855.2968.805号に示
されている。、錯化剤の量は溶液中に存在する第2銅イ
オンの量によって決まるが、一般に約20乃至50f7
’t、、又は3乃至4倍の分子濃剰状態である。
めっき浴は被覆されるべき表面を湿潤状態にするのを助
ける1表面活性剤を含んアもよい。満足な表面活性剤は
例えば商品名Gafac RE −610で市販されて
いる有機燐酸エステルである。一般に表面活性剤は約0
02乃至039/lだけ存在する。。それに加えて浴の
pHは、一般に所望の値になるように所望の量だけ水酸
化ナトリウム又は水酸化カリウムのような塩基化合物を
添加することによシ制御される。無電気めっき浴の望ま
しいpHは16乃至11.8である。
更に望ましくは、めっき浴がシアン化物イ、オンをも含
むことである。最も望ましくは浴のシアン化物濃度を0
.00.02乃至、、O,OOO4モルの範囲で与える
だめ、約10乃至25 mW / l (iりシアン化
物イオンを含むことである。本発明に従って使用しうる
シアン化物の例はアルカリ金属シアン化物、・アタカ、
り土金属シアン化物及びアンモニウム・ビ7ン化物であ
る。更にめっき浴は従来技術で周知の他の微量添加物を
含んでもよい。。
使用された望ましいめっき浴は1.060乃至1゜0β
、′0の範囲内の比重を有する。更に浴の温度は70乃
至80°C1最も望ましくは70乃至75°Cに保たれ
るのが良い。
浴中902含有量を約2乃至4 Pp、” s望ましく
は、約2.5乃至3.5ppm に保つのが良い。02
含有量は酸素及び本活性気体を浴中に注入することによ
って制御できる。
浴中への気体の総括的流量は一般に浴3785を当シ約
1乃至20SCFM、望ましくは同3乃至8邸CFMで
ある。
以下に本発明の実施例とそうでない実例を対比的に示す
〔実例1(本発明)〕 アルコールで予じめ清浄化されたガラス基体が100 
mlの8%HCJ水溶液当り約0052のReten浴
中に約3分間浸漬される(Retenで被覆される)。
その後基体は脱イオン化された水でゆすぎ洗いされ、空
気で乾燥される。被覆された基体は次に、約1.5 f
 /1(7) PdCl2、約1002/lのS n 
CJ 21及び約280 mA / tの67%HCj
lを含み約18°Cの温度の浴中に約6分間浸漬される
。その後基体は空気で乾燥される。
基体の上には目に見えるPd触媒膜が出来ている。
次に基体は調熱電気加法めっき浴中に約10分間浸漬さ
れる。無電気めっき浴は約10r/lのCu S O5
H20,35f/lのエチレン・ジアミン・テトラ酢酸
2水化物、0.25y/zのGAFACRE−610,
14mグ/lのシアン化ナトリウム、及び2 ml /
 Lの37%HCHO水溶液を含む。そのめっき浴の比
重は約107゜pHはNa OHの添加により117、
浴の温度は73°+5°Cである。浴中の02含有量は
約25乃至3.5ppmに保たれる。気体の流量は約1
28CFMである。更にめっき網棚はめっき中絶えず攪
拌される。
めっき後の基体はその上に連続的な銅膜を持つ。
〔実施例2(対比用)〕 アルコールテ予じめ清浄化されたガラス基体カシリカ・
コロイドで被覆されて、その表面上に負電荷が与えられ
た。基体は脱イオン化された水でゆすぎ洗いされ、空気
で乾燥された。シリカ・コロイドで被覆されたガラス基
体は次に実例1で使用されたのと同じ塩化パラジウム溶
液中に同じ条件下で浸漬された。しかしガラス基体上に
は膜が形成されなかった。
〔実例3(対比用)〕 アルコールで予じめ清浄化されたガラス基体が実例1で
使用されたのと同じ塩化パラジウム溶液中に同じ得件下
で浸漬された。しかしガラス基体上には膜が形成されな
かった。
実例1を実例2及び3と対比すると、本発明によって優
れた膜形成効果が得られることがわかる。
IJ1人  インターナショ六いビジネス・マシーンズ
・コーポレーション復代理人 弁理士  篠   1)
  文   雄ティ アメリカ合衆国ニューヨーク州 クロトン・オン・ハドソン・サ ツシ・ドライブ4番地

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)誘電体基体材料の少くとも1つの面を、該面に対
    する導電性金属の無電気めっきのため前処理する方法で
    あって、 上記面に少くとも2つの利用可能なイオン部分を含んだ
    多官能イオン共重合体材料を有する第1の組成物を接触
    させ、但し上記イオン部分はその後上記面に与えられる
    触媒領域の触媒分子の関連電荷とは反対極性の電荷を有
    するものとし、然る後上記面上に導電性金属の無電気め
    っき開始を可能ならしめる触媒的領域を直接的に与える
    触媒又は該触媒的領域をもたらす前駆物質を含んだ第2
    の組成物を上記面に接触させることを特徴とする無電気
    めっきのための前処理方法。
  2. (2)上記多官能イオン共重合体材料は多官能陽イオン
    共重合体材料であることを特徴とする特許請求の範囲第
    (1)項記載の前処理方法。
  3. (3)上記多官能イオン共重合体材料はアクリルアミド
    及び第4アンモニウム化合物の共重合体であることを特
    徴とする特許請求の範囲(1)項記載の前処理方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007262542A (ja) * 2006-03-29 2007-10-11 Fujifilm Corp 金属膜形成方法、金属膜形成用基板、金属膜積層体、金属パターン形成方法、金属パターン形成用基板、金属パターン材料、及び、ポリマー前駆体層形成用塗布液組成物
JP2016121375A (ja) * 2014-12-24 2016-07-07 キヤノン・コンポーネンツ株式会社 めっき皮膜付樹脂製品及びその製造方法

Families Citing this family (44)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4670306A (en) * 1983-09-15 1987-06-02 Seleco, Inc. Method for treatment of surfaces for electroless plating
US4888209A (en) * 1983-09-28 1989-12-19 Rohm And Haas Company Catalytic process and systems
US4719145A (en) * 1983-09-28 1988-01-12 Rohm And Haas Company Catalytic process and systems
US4554182A (en) * 1983-10-11 1985-11-19 International Business Machines Corporation Method for conditioning a surface of a dielectric substrate for electroless plating
JPS6083395A (ja) * 1983-10-11 1985-05-11 インタ−ナショナル ビジネス マシ−ンズ コ−ポレ−ション 無電解メツキのために誘電体基板の表面を調整する方法
US4847114A (en) * 1984-01-26 1989-07-11 Learonal, Inc. Preparation of printed circuit boards by selective metallization
US4761304A (en) * 1984-01-26 1988-08-02 Learonal, Inc. Process for printed circuit board manufacture
US4759952A (en) * 1984-01-26 1988-07-26 Learonal, Inc. Process for printed circuit board manufacture
DE3530617A1 (de) * 1985-08-23 1987-02-26 Schering Ag Konditionierungsmittel fuer die behandlung von basismaterialien
US4718972A (en) * 1986-01-24 1988-01-12 International Business Machines Corporation Method of removing seed particles from circuit board substrate surface
US4748104A (en) * 1986-11-10 1988-05-31 Macdermid, Incorporated Selective metallization process and additive method for manufactured printed circuit boards
US4859571A (en) * 1986-12-30 1989-08-22 E. I. Du Pont De Nemours And Company Embedded catalyst receptors for metallization of dielectrics
US4737446A (en) * 1986-12-30 1988-04-12 E. I. Du Pont De Nemours And Company Method for making multilayer circuits using embedded catalyst receptors
DE3743741A1 (de) * 1987-12-23 1989-07-06 Basf Ag Polymere konditionierungsmittel zur vorbehandlung von nichtmetallischen oberflaechen fuer eine chemische metallisierung
DE3743743A1 (de) * 1987-12-23 1989-07-06 Basf Ag Polymere konditionierungsmittel zur vorbehandlung von nichtmetallischen oberflaechen fuer eine chemische metallisierung
US4963541A (en) * 1989-02-22 1990-10-16 Abbott Laboratories Pyrimido-pyrimidine lipoxygenase inhibiting compounds
US4969979A (en) * 1989-05-08 1990-11-13 International Business Machines Corporation Direct electroplating of through holes
US5039550A (en) * 1990-01-23 1991-08-13 The United States Of America As Represented By The Secretary Of Commerce Colloidal processing method for coating ceramic reinforcing agents
US5298685A (en) * 1990-10-30 1994-03-29 International Business Machines Corporation Interconnection method and structure for organic circuit boards
US5318803A (en) * 1990-11-13 1994-06-07 International Business Machines Corporation Conditioning of a substrate for electroless plating thereon
DE4141416A1 (de) * 1991-12-11 1993-06-17 Schering Ag Verfahren zur beschichtung von oberflaechen mit feinteiligen feststoff-partikeln
JPH0760821B2 (ja) * 1991-05-17 1995-06-28 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション ポリマー基材の状態調整方法
US5316803A (en) * 1992-12-10 1994-05-31 International Business Machines Corporation Method for forming electrical interconnections in laminated vias
US5374346A (en) * 1993-08-09 1994-12-20 Rohm And Haas Company Electroplating process and composition
US5495665A (en) * 1994-11-04 1996-03-05 International Business Machines Corporation Process for providing a landless via connection
WO1996020294A1 (fr) 1994-12-27 1996-07-04 Ibiden Co., Ltd. Solution de pre-traitement pour depot autocatalytique, bain et procede de depot autocatalytique
EP0817175A1 (en) * 1995-03-08 1998-01-07 TAKAHASHI, Migaku Magnetic recording medium and method of manufacturing the same
US5626736A (en) 1996-01-19 1997-05-06 Shipley Company, L.L.C. Electroplating process
US6110396A (en) * 1996-11-27 2000-08-29 International Business Machines Corporation Dual-valent rare earth additives to polishing slurries
US5876490A (en) * 1996-12-09 1999-03-02 International Business Machines Corporatin Polish process and slurry for planarization
US5997997A (en) * 1997-06-13 1999-12-07 International Business Machines Corp. Method for reducing seed deposition in electroless plating
US6025057A (en) * 1997-12-17 2000-02-15 International Business Machines Corporation Organic electronic package and method of applying palladium-tin seed layer thereto
JP2002517593A (ja) 1998-06-10 2002-06-18 ロデール ホールディングス インコーポレイテッド 金属cmpにおける研磨用組成物および研磨方法
US6730409B1 (en) * 1999-05-27 2004-05-04 International Business Machines Corporation Promoting adhesion between a polymer and a metallic substrate
US6630743B2 (en) 2001-02-27 2003-10-07 International Business Machines Corporation Copper plated PTH barrels and methods for fabricating
US7148566B2 (en) * 2001-03-26 2006-12-12 International Business Machines Corporation Method and structure for an organic package with improved BGA life
US6852152B2 (en) * 2002-09-24 2005-02-08 International Business Machines Corporation Colloidal seed formulation for printed circuit board metallization
US20040091818A1 (en) * 2002-11-12 2004-05-13 Russell Winstead High resolution 3-D circuit formation using selective or continuous catalytic painting
KR100717927B1 (ko) 2005-01-14 2007-05-11 주식회사 엘지화학 무전해 도금 공정용 팔라듐 촉매 용액의 제조방법 및 그의활성화 방법
JP2010538160A (ja) * 2007-08-31 2010-12-09 ゼタコア インコーポレイテッド 興味ある分子の結合を促進するための表面処理方法、該方法により形成されたコーティングおよび装置
US20090056994A1 (en) * 2007-08-31 2009-03-05 Kuhr Werner G Methods of Treating a Surface to Promote Metal Plating and Devices Formed
DE102010012204B4 (de) * 2010-03-19 2019-01-24 MacDermid Enthone Inc. (n.d.Ges.d. Staates Delaware) Verbessertes Verfahren zur Direktmetallisierung von nicht leitenden Substraten
US9345149B2 (en) 2010-07-06 2016-05-17 Esionic Corp. Methods of treating copper surfaces for enhancing adhesion to organic substrates for use in printed circuit boards
TWI615073B (zh) * 2015-04-09 2018-02-11 柏彌蘭金屬化研究股份有限公司 製成可撓式金屬積層材之方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5447766A (en) * 1977-09-22 1979-04-14 Showa Highpolymer Co Ltd Surface treatment of non-conductive substrate

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2996403A (en) * 1957-04-05 1961-08-15 Davohn Corp Metal silicate luminescent screens and method of making same
US3011920A (en) * 1959-06-08 1961-12-05 Shipley Co Method of electroless deposition on a substrate and catalyst solution therefor
US3421922A (en) * 1965-03-08 1969-01-14 Bruce W Wilson Process for preconditioning a nonmetallic surface for chemically depositing a metal thereon
US3372059A (en) * 1967-04-24 1968-03-05 Dow Chemical Co Chemical reduction process for silver, copper, or nickel deposition
US3515649A (en) * 1967-05-02 1970-06-02 Ivan C Hepfer Pre-plating conditioning process
US3573973A (en) * 1967-11-13 1971-04-06 Ibm High speed additive circuit process
US3563784A (en) * 1968-09-09 1971-02-16 Macdermid Inc Pre-activation treatment in the electroless plating of synthetic resin substrates
US3684572A (en) * 1970-07-13 1972-08-15 Du Pont Electroless nickel plating process for nonconductors
US3877981A (en) * 1973-04-30 1975-04-15 Rca Corp Method of electroless plating
US3844799A (en) * 1973-12-17 1974-10-29 Ibm Electroless copper plating
US3930072A (en) * 1974-06-28 1975-12-30 Universal Oil Prod Co Stabilization of metal plating baths
US3998602A (en) * 1975-02-07 1976-12-21 Carl Horowitz Metal plating of polymeric substrates
US4024305A (en) * 1975-06-04 1977-05-17 International Business Machines Corporation Method for producing a resin rich epoxy prepreg and laminate
US4066809A (en) * 1976-06-28 1978-01-03 International Business Machines Corporation Method for preparing substrate surfaces for electroless deposition
US4152467A (en) * 1978-03-10 1979-05-01 International Business Machines Corporation Electroless copper plating process with dissolved oxygen maintained in bath
US4301190A (en) * 1978-08-17 1981-11-17 Nathan Feldstein Pretreatment with complexing agent in process for electroless plating
US4244789A (en) * 1979-01-24 1981-01-13 Stauffer Chemical Company Method of metallizing materials

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5447766A (en) * 1977-09-22 1979-04-14 Showa Highpolymer Co Ltd Surface treatment of non-conductive substrate

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007262542A (ja) * 2006-03-29 2007-10-11 Fujifilm Corp 金属膜形成方法、金属膜形成用基板、金属膜積層体、金属パターン形成方法、金属パターン形成用基板、金属パターン材料、及び、ポリマー前駆体層形成用塗布液組成物
JP2016121375A (ja) * 2014-12-24 2016-07-07 キヤノン・コンポーネンツ株式会社 めっき皮膜付樹脂製品及びその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP0100452B1 (en) 1988-02-03
CA1191745A (en) 1985-08-13
US4478883A (en) 1984-10-23
EP0100452A1 (en) 1984-02-15
JPS6321752B2 (ja) 1988-05-09
DE3375588D1 (en) 1988-03-10

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