JPS59123980A - 光学式読取り装置 - Google Patents
光学式読取り装置Info
- Publication number
- JPS59123980A JPS59123980A JP23011382A JP23011382A JPS59123980A JP S59123980 A JPS59123980 A JP S59123980A JP 23011382 A JP23011382 A JP 23011382A JP 23011382 A JP23011382 A JP 23011382A JP S59123980 A JPS59123980 A JP S59123980A
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06K—GRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
- G06K7/00—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns
- G06K7/10—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation
- G06K7/10544—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation by scanning of the records by radiation in the optical part of the electromagnetic spectrum
- G06K7/10821—Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns by electromagnetic radiation, e.g. optical sensing; by corpuscular radiation by scanning of the records by radiation in the optical part of the electromagnetic spectrum further details of bar or optical code scanning devices
- G06K7/10831—Arrangement of optical elements, e.g. lenses, mirrors, prisms
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ファクシミリ、複写機等に用いられる光学式
読取シ装置に関するものである。
読取シ装置に関するものである。
第１図及び第２図は、この様な光学式読取シ装置の従来
例を示している。これらの第１図及び第２図に示す様に
、光学式読取シ装置は集束性光伝送体アレイ（１）を有
している。
例を示している。これらの第１図及び第２図に示す様に
、光学式読取シ装置は集束性光伝送体アレイ（１）を有
している。
なおこの伝送体アレイ（１）は、ガラス或いはプラスチ
ック等の透明な材料で円柱状に形成された屈折率分布型
レンズ（２）を最密状態で例えば２列に多数配列し、そ
れらの隙間に不透明な樹脂を充填したものであり、個々
のレンズ（２）の作る正立等倍実像を順次部分的に重ね
ることによって、二次元的な広がシを有する像を一度に
伝送できる様にした光学素子である。
ック等の透明な材料で円柱状に形成された屈折率分布型
レンズ（２）を最密状態で例えば２列に多数配列し、そ
れらの隙間に不透明な樹脂を充填したものであり、個々
のレンズ（２）の作る正立等倍実像を順次部分的に重ね
ることによって、二次元的な広がシを有する像を一度に
伝送できる様にした光学素子である。
また屈折率分布型レンズ（２）は、その屈折率が軸心位
置で最大であり半径方向へ距離の二乗に略比例して減少
している為に、光の入出射端面が平面であってもレンズ
作用を有しており←ｔ１に伴つ、−１光が軸心を中心と
して蛇 行しながら進むレンズである。
置で最大であり半径方向へ距離の二乗に略比例して減少
している為に、光の入出射端面が平面であってもレンズ
作用を有しており←ｔ１に伴つ、−１光が軸心を中心と
して蛇 行しながら進むレンズである。
伝送体アレイ（１）は一方の端面（１ａ）が透明な原稿
台（８）と対向する様に配設されておシ、この原稿台（
８）上に載置され且つ端面（１ａ）と対向している原稿
（３）の帯状′の部分がＬＥＤアレイ等の光源（４）に
よって下方から照射される様になっている。また伝送体
アレイ（１）の他方の端面（１ｂ）に対向する様にＣＣ
Ｄアレイ等のイメージセンサ（５）が配設されている。
台（８）と対向する様に配設されておシ、この原稿台（
８）上に載置され且つ端面（１ａ）と対向している原稿
（３）の帯状′の部分がＬＥＤアレイ等の光源（４）に
よって下方から照射される様になっている。また伝送体
アレイ（１）の他方の端面（１ｂ）に対向する様にＣＣ
Ｄアレイ等のイメージセンサ（５）が配設されている。
以上の様な構成に於いては、光源（４）から射出され原
稿（３）によって反射される光は、端面（１ａ）から伝
送体アレイ（１）中へ入射する。伝送体アレイ（１）中
を進行し端面（１ｂ）から射出される光は、イメージセ
ンサ（５）によってセンスされる。
稿（３）によって反射される光は、端面（１ａ）から伝
送体アレイ（１）中へ入射する。伝送体アレイ（１）中
を進行し端面（１ｂ）から射出される光は、イメージセ
ンサ（５）によってセンスされる。
この様な光の伝送及びセンシングが原稿（３）の巾方向
に於いて同時に行われるので、原稿（３）を矢印入方向
へ徐々に移動させるか、或いは逆に原稿（３）を静止さ
せておいて伝送体プレイ（１）、光源（４）及びイメー
ジセンサ（５）等を矢印Ｂ方向へ徐々に移動させれば、
原稿（３）の全面を読取ることができる。っまシこの場
合は、原稿（３）が被読取シ体となっている。
に於いて同時に行われるので、原稿（３）を矢印入方向
へ徐々に移動させるか、或いは逆に原稿（３）を静止さ
せておいて伝送体プレイ（１）、光源（４）及びイメー
ジセンサ（５）等を矢印Ｂ方向へ徐々に移動させれば、
原稿（３）の全面を読取ることができる。っまシこの場
合は、原稿（３）が被読取シ体となっている。
ところで、屈折率分布型レンズ（２）を用いた伝送体ア
レイ（１）は、理想的には王立等倍実像を結ぶので、イ
メージセンサ（５）には原稿（３）のイメージセンサ（
５）に対応する部分、つまり読取るべき部分からの反射
光のみが伝送体アレイ（１）を経由して入射するはずで
ある。
レイ（１）は、理想的には王立等倍実像を結ぶので、イ
メージセンサ（５）には原稿（３）のイメージセンサ（
５）に対応する部分、つまり読取るべき部分からの反射
光のみが伝送体アレイ（１）を経由して入射するはずで
ある。
からの収差があり、この収差に起因して、媚幹蜘−−−
−、・、゛ 原稿（３）のイメージセンサ（５）
に対応しない部分、つまシ読取るべきでない部分からの
反射光も伝送体ア１／イ（１）を経由してイメージセン
サ（５）へ入射し、この為に読取り機構の解像力が低下
するという問題点がある。
−、・、゛ 原稿（３）のイメージセンサ（５）
に対応しない部分、つまシ読取るべきでない部分からの
反射光も伝送体ア１／イ（１）を経由してイメージセン
サ（５）へ入射し、この為に読取り機構の解像力が低下
するという問題点がある。
本発明は、上述の問題点ζこ鑑み、極めて簡単な構成で
あるにも拘らず高い解像力を有する光学式読取シ装置を
提供することを目的としている。
あるにも拘らず高い解像力を有する光学式読取シ装置を
提供することを目的としている。
以下、本発明による光学式読取り装置の一実施例を第６
図を参照しながら説明する。
図を参照しながら説明する。
この第３図から明らかな様に、本実施例は、反射防止マ
スク（６）を原稿台（８）の下面に当接させ、且つこの
マスク（６）に形成された一本のスリット（７）を原稿
（３）の読取るべき部分に対向させて配設したことを除
いて、第１図及び第２図に示した従来例と光の反射を防
止する様にしたものでアリ、伝送体プレイ（１）が移動
するときはこのマスク（６）も伝送体アレイ（１）と一
体になって動く様に構成されている。
スク（６）を原稿台（８）の下面に当接させ、且つこの
マスク（６）に形成された一本のスリット（７）を原稿
（３）の読取るべき部分に対向させて配設したことを除
いて、第１図及び第２図に示した従来例と光の反射を防
止する様にしたものでアリ、伝送体プレイ（１）が移動
するときはこのマスク（６）も伝送体アレイ（１）と一
体になって動く様に構成されている。
第３図に示す様な実施例に於いては、光源（４）からの
光の内、伝送体アレイ（１１の端面（１ａ）で受光され
る光は、スリット（７）からの反射光、つまり原稿（３
）の読取るべき部分からの反射光のみである。従って、
これ以外の部分が光源（４）からの光を反射し、この反
射光が伝送体アレイ（１１を経由してイメージセンサ（
５）によってセンスされるということがないので、との
読取りヘッドは高い解像力を有することになる。
光の内、伝送体アレイ（１１の端面（１ａ）で受光され
る光は、スリット（７）からの反射光、つまり原稿（３
）の読取るべき部分からの反射光のみである。従って、
これ以外の部分が光源（４）からの光を反射し、この反
射光が伝送体アレイ（１１を経由してイメージセンサ（
５）によってセンスされるということがないので、との
読取りヘッドは高い解像力を有することになる。
第１図及び第２図に示した様な従来例に於いては、光源
（４）によって照射される原稿１３１の帯状の部分の巾
は約５〜１０ｍであり、伝送体プレイ（１）によって形
成される帯状の像の巾は約４Ｍであるが、イメージセン
サ（５）の巾は約０．１ｍであるので、これより少し大
きい巾の像があれば十分であり、それ以外の光は解像力
低下の原因になる。しかしスリット（７）の巾Ｗ１があ
まり小さ過ぎると、今度はイメージセンサ（５）に形成
される像が必要以上に小さくなり、光量の減少によって
解像力が低下する。
（４）によって照射される原稿１３１の帯状の部分の巾
は約５〜１０ｍであり、伝送体プレイ（１）によって形
成される帯状の像の巾は約４Ｍであるが、イメージセン
サ（５）の巾は約０．１ｍであるので、これより少し大
きい巾の像があれば十分であり、それ以外の光は解像力
低下の原因になる。しかしスリット（７）の巾Ｗ１があ
まり小さ過ぎると、今度はイメージセンサ（５）に形成
される像が必要以上に小さくなり、光量の減少によって
解像力が低下する。
スフ（６）の巾Ｗ２は、少なくとも伝送体アレイ（］１
の視野中以上であればよい。
の視野中以上であればよい。
第４図は光学式読取り装置の解像力を測定する方法を示
すものであって、第４図Ａは反射防止マスクの無い従来
の読取りヘッドの解像力を測定する方法を示している。
すものであって、第４図Ａは反射防止マスクの無い従来
の読取りヘッドの解像力を測定する方法を示している。
この第４図Ａに示す様に、原稿（３１上には、互いに等
しい巾を有する黒線と白線との対が並んだテストパター
ン旧）が印桐されており、とのテストパターン旧）から
の反射光を伝送体アレイ（１１が受光し、画像（１２＋
を形成している。
しい巾を有する黒線と白線との対が並んだテストパター
ン旧）が印桐されており、とのテストパターン旧）から
の反射光を伝送体アレイ（１１が受光し、画像（１２＋
を形成している。
第４図Ｂは、第４図Ａに於ける直線Ｘ、及びＸ２上の光
量レベルを示している。即ち、Ｉ ｍａｘ ＝ １ ［
ＪＯｌＩ ｍｉｎ ＝ Ｏの値を有する光量レベルの矩
形波は、伝送体アレイ（１１によって、ｉ ｍａｘ 、
ｉ ｍｉｎの値を有するややダした波形に変侠されて
いる。
量レベルを示している。即ち、Ｉ ｍａｘ ＝ １ ［
ＪＯｌＩ ｍｉｎ ＝ Ｏの値を有する光量レベルの矩
形波は、伝送体アレイ（１１によって、ｉ ｍａｘ 、
ｉ ｍｉｎの値を有するややダした波形に変侠されて
いる。
コノ様な状態を、次式で示されるＭＴＦ （Ｍｏｄｕｌ
ａｔｉｏｎＴｒａｎｓｆｅｒ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ ）に
よって表わされる解像力について測定した。
ａｔｉｏｎＴｒａｎｓｆｅｒ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ ）に
よって表わされる解像力について測定した。
Ｐａ１ｒ ／ ｗｎ ； １ ｒｍ当りの黒線さ白線と
の対の数）の場合、黒線と白線との対の多数について測
定したＭＴＦの最大値＝６８．６チ１最小値＝６３・７
チ１平均値＝ ６６．１チであった。
の対の数）の場合、黒線と白線との対の多数について測
定したＭＴＦの最大値＝６８．６チ１最小値＝６３・７
チ１平均値＝ ６６．１チであった。
第４図Ｃは、反射防止マスクを有する本実施例の光学式
読取り装置の解像力を測定する方法を示している。マス
ク（６）としては、巾が０．５ ｒｕｎのスリット（７
）を有するものを使用した。この場合、黒線と白線との
対の多数について測定したＭＴＦは、最大値＝ ８２．
６％、最小値＝７５．０％、平均値＝７９２チとなり、
本実施例の光学式読取り装置が従来例よりも高い解像力
を有していることが確かめられた０ 以上、本発明を一実施例に基いて説明したが、本発明は
この実施例Ｉこ限定されるものではなく、各種の愛更が
可能である。例えば、この実施例に於いては透明な原稿
台（８）の上面に原稿（３）を載＃しマスク１Ｂ＋を原
稿台１８）の下面に当接させて、下方から原稿（３１を
照射する様にしたが、原稿１３）を上方から照射する様
にすれば、透明な原稿台（８）を使用する必要はなく、
従ってマスク（６）を原稿（３１に接触或いは近接させ
ることができる。
読取り装置の解像力を測定する方法を示している。マス
ク（６）としては、巾が０．５ ｒｕｎのスリット（７
）を有するものを使用した。この場合、黒線と白線との
対の多数について測定したＭＴＦは、最大値＝ ８２．
６％、最小値＝７５．０％、平均値＝７９２チとなり、
本実施例の光学式読取り装置が従来例よりも高い解像力
を有していることが確かめられた０ 以上、本発明を一実施例に基いて説明したが、本発明は
この実施例Ｉこ限定されるものではなく、各種の愛更が
可能である。例えば、この実施例に於いては透明な原稿
台（８）の上面に原稿（３）を載＃しマスク１Ｂ＋を原
稿台１８）の下面に当接させて、下方から原稿（３１を
照射する様にしたが、原稿１３）を上方から照射する様
にすれば、透明な原稿台（８）を使用する必要はなく、
従ってマスク（６）を原稿（３１に接触或いは近接させ
ることができる。
上述の述く、本発明は、スリットを有する反射防止マス
クを被読取り体と対向させて配設し、この被読取り体の
内の前記スリットに対向する部分からの反射光を集束性
光伝送体アレイで受光する様にしたものであるから、極
めて簡単な構成であるにも拘らず高い解像力を有する［
ｉ２リヘッドを提供するときができる。
クを被読取り体と対向させて配設し、この被読取り体の
内の前記スリットに対向する部分からの反射光を集束性
光伝送体アレイで受光する様にしたものであるから、極
めて簡単な構成であるにも拘らず高い解像力を有する［
ｉ２リヘッドを提供するときができる。
第１図は従来例を示す一部分を切欠いた概略的な斜視図
、第２図は第１図に示した従来例の概略的な側面図、第
６図は本発明の実施例を示す概略的な側面図、第４図は
解像力を測定する方法を示しており、Ａは第１図に示し
た従来例の測定方法を示す概略的な斜視図、Ｂは測定結
果を示す概略的なグラフ、Ｃは第３図に示した実施例の
測定方法を示す概略的な斜視図である。 なお図面に用いられている符号において、（１１・・・
・・・・・・・・・・・・集束性光伝送体アレイ（３１
・・・・・・・・・・・・・・・原稿（４）・・・・・
・・・・・・・・・・光源（６）・・・・・・・・・・
・・・・・反射防止マスク（７）・・・・・・・・・・
・・・・・スリットである。 代理人 土星 勝 ｌ 常包芳男 ｌ 杉浦俊貴
、第２図は第１図に示した従来例の概略的な側面図、第
６図は本発明の実施例を示す概略的な側面図、第４図は
解像力を測定する方法を示しており、Ａは第１図に示し
た従来例の測定方法を示す概略的な斜視図、Ｂは測定結
果を示す概略的なグラフ、Ｃは第３図に示した実施例の
測定方法を示す概略的な斜視図である。 なお図面に用いられている符号において、（１１・・・
・・・・・・・・・・・・集束性光伝送体アレイ（３１
・・・・・・・・・・・・・・・原稿（４）・・・・・
・・・・・・・・・・光源（６）・・・・・・・・・・
・・・・・反射防止マスク（７）・・・・・・・・・・
・・・・・スリットである。 代理人 土星 勝 ｌ 常包芳男 ｌ 杉浦俊貴
Claims (1)
- スリットを有し被読耶り体と対向する様に配設された反
射防止マスクと、一方の端面が前記スリットに対向する
様に配設された集束性光伝送体プレイとを夫々具備し、
光源によって前記被読取り体が照射されたとき、前記被
読取シ体の内の前記スリットに対向する部分で反射され
る光が前記集束性光伝送体アレイの前記一方の端面で受
光される様に構成した光学式読取り装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23011382A JPS59123980A (ja) | 1982-12-29 | 1982-12-29 | 光学式読取り装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23011382A JPS59123980A (ja) | 1982-12-29 | 1982-12-29 | 光学式読取り装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59123980A true JPS59123980A (ja) | 1984-07-17 |
Family
ID=16902766
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23011382A Pending JPS59123980A (ja) | 1982-12-29 | 1982-12-29 | 光学式読取り装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59123980A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5058982A (en) * | 1989-06-21 | 1991-10-22 | Orbot Systems Ltd. | Illumination system and inspection apparatus including same |
| US6437312B1 (en) | 1999-08-05 | 2002-08-20 | Orbotech, Ltd. | Illumination for inspecting surfaces of articles |
| US6847442B1 (en) | 1998-06-16 | 2005-01-25 | Orbotech, Ltd. | Illuminator for inspecting substantially flat surfaces |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57111975A (en) * | 1981-07-20 | 1982-07-12 | Matsushita Electric Works Ltd | Blade retaining spring |
-
1982
- 1982-12-29 JP JP23011382A patent/JPS59123980A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57111975A (en) * | 1981-07-20 | 1982-07-12 | Matsushita Electric Works Ltd | Blade retaining spring |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5058982A (en) * | 1989-06-21 | 1991-10-22 | Orbot Systems Ltd. | Illumination system and inspection apparatus including same |
| US6847442B1 (en) | 1998-06-16 | 2005-01-25 | Orbotech, Ltd. | Illuminator for inspecting substantially flat surfaces |
| US7215417B2 (en) | 1998-06-16 | 2007-05-08 | Orbotech Ltd. | Illuminator for inspecting substantially flat surfaces |
| US6437312B1 (en) | 1999-08-05 | 2002-08-20 | Orbotech, Ltd. | Illumination for inspecting surfaces of articles |
| US6832843B2 (en) | 1999-08-05 | 2004-12-21 | Orbotech, Ltd. | Illumination for inspecting surfaces of articles |
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