JPS5912340A - 電気光学的粒体検査装置 - Google Patents
電気光学的粒体検査装置Info
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- JPS5912340A JPS5912340A JP12123582A JP12123582A JPS5912340A JP S5912340 A JPS5912340 A JP S5912340A JP 12123582 A JP12123582 A JP 12123582A JP 12123582 A JP12123582 A JP 12123582A JP S5912340 A JPS5912340 A JP S5912340A
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- JP
- Japan
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- electro
- grain
- optical
- endless belt
- particle inspection
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/02—Food
- G01N33/10—Starch-containing substances, e.g. dough
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- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は粒体検査装置に係り、特に列状に整列させた粒
体を一粒づつ光学的に検査する粒体整送装置を有する電
気光学的粒体検査装置に関する。
体を一粒づつ光学的に検査する粒体整送装置を有する電
気光学的粒体検査装置に関する。
穀類などの粒体中に含有する腐敗粒、変色粒、胴割粒又
は異物などの不良粒を電気光学的に選別排除する方法は
すでに提案されている。例えば多量の粒体°を電気光学
検出器へ順次整列させて送り込む粒体整送装置を有する
電気光学的粒体検査装置が、実願昭５６−７１９７４号
に具体化されている。この実願昭５６−７１９７４号で
説明している粒体整送装置は、外周に清って列をなして
設けられた多数の粒孔にそれぞれ一粒づつ粒体を拾い上
げて整送する回転円板を有する構成となっている。
は異物などの不良粒を電気光学的に選別排除する方法は
すでに提案されている。例えば多量の粒体°を電気光学
検出器へ順次整列させて送り込む粒体整送装置を有する
電気光学的粒体検査装置が、実願昭５６−７１９７４号
に具体化されている。この実願昭５６−７１９７４号で
説明している粒体整送装置は、外周に清って列をなして
設けられた多数の粒孔にそれぞれ一粒づつ粒体を拾い上
げて整送する回転円板を有する構成となっている。
しかして、上記の整送装置は、その粒孔に粒体がその基
準軸を沿えて一粒づつ拾われるようにもくろまれおυ、
はとんどの粒体が基準軸をそろえて拾い上げられるが多
少の粒体はそろわずに、よって粒孔に充分に入り込まず
に送られる場合がちる。
準軸を沿えて一粒づつ拾われるようにもくろまれおυ、
はとんどの粒体が基準軸をそろえて拾い上げられるが多
少の粒体はそろわずに、よって粒孔に充分に入り込まず
に送られる場合がちる。
そこで本発明の第１の目的は、全ての粒体がその基準軸
をそろえて、コンベアの粒孔に確実に拾われる粒体整送
装置を有する光学的粒体検査装置を提供することにある
。
をそろえて、コンベアの粒孔に確実に拾われる粒体整送
装置を有する光学的粒体検査装置を提供することにある
。
本発明によれば、ベルトコンベアの無端ベルトに複数列
で、縦長の形状の粒体−粒を容易に受容するサイズのか
つ粒体−粒と相似形状の粒孔を多数設けておき、ベルト
コンベアを斜め上昇配置となし、その下端部に粒孔列と
整合し、粒体−粒の横幅とほぼ等しい幅のテーパー溝を
櫛形に複数列設け、このテーパー溝をがイドとして粒体
が、粒孔と同一方向に指向されるよう構成した粒体整送
装置が提供される。
で、縦長の形状の粒体−粒を容易に受容するサイズのか
つ粒体−粒と相似形状の粒孔を多数設けておき、ベルト
コンベアを斜め上昇配置となし、その下端部に粒孔列と
整合し、粒体−粒の横幅とほぼ等しい幅のテーパー溝を
櫛形に複数列設け、このテーパー溝をがイドとして粒体
が、粒孔と同一方向に指向されるよう構成した粒体整送
装置が提供される。
以上の構成の粒体整送装置に送られた粒体は一粒づつ斜
方光線が照射させられ、粒体を拡散透過する透過光酸を
電気光学的素子で検知して、整粒、不良粒の検査が行わ
れるのであるが、電気光学素子は、拡散透過光線以外の
、例えば粒体と粒孔の間のすき間をすシ抜けて直接電気
光学素子に入射する光線も検出する恐れがある。
方光線が照射させられ、粒体を拡散透過する透過光酸を
電気光学的素子で検知して、整粒、不良粒の検査が行わ
れるのであるが、電気光学素子は、拡散透過光線以外の
、例えば粒体と粒孔の間のすき間をすシ抜けて直接電気
光学素子に入射する光線も検出する恐れがある。
そこで本発明の他の目的は、上記電気光学素子が拡散透
過光線のみ受光するように構成したＴｈ気先光学的検出
器有する′峨気光学的粒体倹査装置を提供することであ
る。
過光線のみ受光するように構成したＴｈ気先光学的検出
器有する′峨気光学的粒体倹査装置を提供することであ
る。
上記他の目的に鑑みた本発明の構成によれば、ベルトコ
ンベアの粒孔内に拾い上げられて整送される粒体は、光
源と電気光学素子との間に設けられ、該電気光学素子と
対向するごとく設けられた直交ニコル偏光フィルタを介
して、拡散透過光線の光量を測定する電気光学検出器を
有する電気光学的粒体検査装置が提供される。
ンベアの粒孔内に拾い上げられて整送される粒体は、光
源と電気光学素子との間に設けられ、該電気光学素子と
対向するごとく設けられた直交ニコル偏光フィルタを介
して、拡散透過光線の光量を測定する電気光学検出器を
有する電気光学的粒体検査装置が提供される。
以下に本発明を実施例の形で添付国とともに詳細に説明
する。
する。
第１図と第２図を参照して、無端ベルト１は、従動プー
リ２、モータ３駆動の駆動フ０−リ４および補助ゾーリ
５のまわシをめぐり走行し、従動プーリ２を下端として
上端の駆動プーリ４までを玄米を整送する上昇走行面と
して配設させ、複数列の粒孔１ａが無端ベルトの走行方
向にならんで設けられている。走行面の上昇傾斜角度は
約４５°度が好ましい。この粒孔１ａは、縦長の形状を
しており、その縦軸方向を無端ベルト１の走行方向に向
けられて設けられている。粒孔１ａの形状およびサイズ
は、玄米−粒と相似の形状をしており、かつひとまわり
大きなサイズとされ、玄米−粒が、その縦軸方向（以下
基準軸と称す）を粒孔１ａのその縦軸方向と渚えて整合
した時、粒孔１ａにスムースに落下するようなものとさ
れている。又粒孔１ａは無端ベルト１の表面から裏面ま
でその断面形状巨視的には不変のまま貫通している。し
かして粒孔１ａの内周面は、サンドブラストなどをかけ
て艶消し面とし反射光が受光素子に及ぶことを防止して
いる。無端ベルト１の裏面は、コンベアループの内側に
設けられたスライド台６ ａ＋ ６ ｂ＋６０のスライ
ド面上を滑動しうるように配設され、よって粒孔１ａ中
の玄米−粒がコンベアループの内側に入り込むことが防
止されている。又粒孔中の玄米の配置状態は、光学的検
知出力に非常に大きな影響を与えるだめ、出来るだけ均
一な状態で入り込む事が望ましい。粒孔は貫通穴とし、
玄米はスライド台全滑動することにより、最初不安定な
状態であっても徐々に安定してくる効果がある１、走行
面の下端部には玄米投入ホッパ７か設けられ、ここに投
入された玄米は、ホッパ７の底部の作用をなし、下面を
走行面がスライドするがイド板８が設けられている。こ
のガイド板８は第２図で明瞭に理解されるように、無端
ベルト１に設けた粒孔１ａの各列と整合する複数のテー
パ溝８ａが櫛型に設けられており、このテーパ溝８ａの
最小幅は、玄米−粒の幅とほぼ等しくされているから、
ホッパ５に投入された玄米は、この−”ｊ−−パ溝８ａ
に落込んでその基準軸を走行面の走イ１方向に、す々わ
ち粒孔１ａの縦軸方向にそろえて整向される。
リ２、モータ３駆動の駆動フ０−リ４および補助ゾーリ
５のまわシをめぐり走行し、従動プーリ２を下端として
上端の駆動プーリ４までを玄米を整送する上昇走行面と
して配設させ、複数列の粒孔１ａが無端ベルトの走行方
向にならんで設けられている。走行面の上昇傾斜角度は
約４５°度が好ましい。この粒孔１ａは、縦長の形状を
しており、その縦軸方向を無端ベルト１の走行方向に向
けられて設けられている。粒孔１ａの形状およびサイズ
は、玄米−粒と相似の形状をしており、かつひとまわり
大きなサイズとされ、玄米−粒が、その縦軸方向（以下
基準軸と称す）を粒孔１ａのその縦軸方向と渚えて整合
した時、粒孔１ａにスムースに落下するようなものとさ
れている。又粒孔１ａは無端ベルト１の表面から裏面ま
でその断面形状巨視的には不変のまま貫通している。し
かして粒孔１ａの内周面は、サンドブラストなどをかけ
て艶消し面とし反射光が受光素子に及ぶことを防止して
いる。無端ベルト１の裏面は、コンベアループの内側に
設けられたスライド台６ ａ＋ ６ ｂ＋６０のスライ
ド面上を滑動しうるように配設され、よって粒孔１ａ中
の玄米−粒がコンベアループの内側に入り込むことが防
止されている。又粒孔中の玄米の配置状態は、光学的検
知出力に非常に大きな影響を与えるだめ、出来るだけ均
一な状態で入り込む事が望ましい。粒孔は貫通穴とし、
玄米はスライド台全滑動することにより、最初不安定な
状態であっても徐々に安定してくる効果がある１、走行
面の下端部には玄米投入ホッパ７か設けられ、ここに投
入された玄米は、ホッパ７の底部の作用をなし、下面を
走行面がスライドするがイド板８が設けられている。こ
のガイド板８は第２図で明瞭に理解されるように、無端
ベルト１に設けた粒孔１ａの各列と整合する複数のテー
パ溝８ａが櫛型に設けられており、このテーパ溝８ａの
最小幅は、玄米−粒の幅とほぼ等しくされているから、
ホッパ５に投入された玄米は、この−”ｊ−−パ溝８ａ
に落込んでその基準軸を走行面の走イ１方向に、す々わ
ち粒孔１ａの縦軸方向にそろえて整向される。
投入ホッパγの下流側には、板ばね９ａと剛毛ブラシ９
ｂを担持するならし装置９が設けらえしている。先ず板
ばね９ａで余分な玄米粒をはじき飛し更に、この剛毛ブ
ラシ９ｂの先端で、無端ベルト１０粒孔１ａに玄米の表
面をなでることにより一粒づつを確実に入りこませるよ
うにさせ、単に粒孔１ａに引掛かって移送されている玄
米をはじいてホッパ７にもどすようにしている。よって
ガイド板８の先端はすくい角を与えて無端ベルト１の走
行面をすベリ落ちてくる玄米が容易にホッパＩ内にもど
されるようにすることが好ましい。
ｂを担持するならし装置９が設けらえしている。先ず板
ばね９ａで余分な玄米粒をはじき飛し更に、この剛毛ブ
ラシ９ｂの先端で、無端ベルト１０粒孔１ａに玄米の表
面をなでることにより一粒づつを確実に入りこませるよ
うにさせ、単に粒孔１ａに引掛かって移送されている玄
米をはじいてホッパ７にもどすようにしている。よって
ガイド板８の先端はすくい角を与えて無端ベルト１の走
行面をすベリ落ちてくる玄米が容易にホッパＩ内にもど
されるようにすることが好ましい。
さらに上流側には、電気光学的検出器１０が設けられ、
光源１０ａからの光を無端ベルト１の粒（ＬＩ＆に照射
し、玄米−粒を通過した光線の光量を受光素子１０ｂで
検出する。
光源１０ａからの光を無端ベルト１の粒（ＬＩ＆に照射
し、玄米−粒を通過した光線の光量を受光素子１０ｂで
検出する。
第６図を参照して電気光学的検出器１０を詳細に説明す
る。
る。
第６図において、スライド台６ａには、それ自体を横断
するようにスロツ）１０ｃが設けられており、そとには
透光板１０ｄがその上面をスライド台６ａのスライド面
と同面になるようにはめこまれ、さらにその透光板１０
ｄの下面に対し、第１偏光板１０ｅがは９つけられるよ
うにしてはめ込まれている。又この透光板１０ａと対向
する位置において、無端ベルト１の直上には、第２偏光
板１０ｆが設けられている。この第２偏光板１０ｆに対
向してさらにその上方に受光素子１０１）が設けられて
いる。第１と第２の偏光板１Ｑｅ、１０ｆハ、対となっ
て直交ニコル偏光フィルりｋ ４’ｆ＋Ｖ成している。
するようにスロツ）１０ｃが設けられており、そとには
透光板１０ｄがその上面をスライド台６ａのスライド面
と同面になるようにはめこまれ、さらにその透光板１０
ｄの下面に対し、第１偏光板１０ｅがは９つけられるよ
うにしてはめ込まれている。又この透光板１０ａと対向
する位置において、無端ベルト１の直上には、第２偏光
板１０ｆが設けられている。この第２偏光板１０ｆに対
向してさらにその上方に受光素子１０１）が設けられて
いる。第１と第２の偏光板１Ｑｅ、１０ｆハ、対となっ
て直交ニコル偏光フィルりｋ ４’ｆ＋Ｖ成している。
このため光源１０ａからの直接光を透光板１０ｄ１粒孔
１ａｅ通して、受光素イ１０ｂが受光することがないだ
め、受光累イ１０ｂには玄米−粒を拡散透過した光線の
み達しせしめるようになっている。なお受光素子ＩＱｂ
Ｆｊ１、無端ベルト１に設けられた粒孔１ａの列の数だ
け、この列に対向して設けられている。
１ａｅ通して、受光素イ１０ｂが受光することがないだ
め、受光累イ１０ｂには玄米−粒を拡散透過した光線の
み達しせしめるようになっている。なお受光素子ＩＱｂ
Ｆｊ１、無端ベルト１に設けられた粒孔１ａの列の数だ
け、この列に対向して設けられている。
受光素子１０ｂは、受光量を電気信号に変換して、これ
を処理演算回路（図示せず）に送り、整粒、不良粒の判
定を行う。スライド台５ａｉ透明ガラス板等にしておけ
ば、スロツ）１０Ｃおよび透光板１０ａは不要となる。
を処理演算回路（図示せず）に送り、整粒、不良粒の判
定を行う。スライド台５ａｉ透明ガラス板等にしておけ
ば、スロツ）１０Ｃおよび透光板１０ａは不要となる。
駆動ローラ４を通過した後無端ベルト１は、急降下し、
補助プーリ５をまわった所で而が下方を向くため、粒孔
１ａの玄米は落下して受は６詣１１に受容される。なお
参照番号１２は剛毛ブラシ１２ａを有する掃除ブラシ装
置である。
補助プーリ５をまわった所で而が下方を向くため、粒孔
１ａの玄米は落下して受は６詣１１に受容される。なお
参照番号１２は剛毛ブラシ１２ａを有する掃除ブラシ装
置である。
本発明を実施例の形で説明したが本発明は上記実施例に
限定されず、特許請求の範囲の項に記載される範囲で様
々に変更されるものである。
限定されず、特許請求の範囲の項に記載される範囲で様
々に変更されるものである。
例えば上記実施例では玄米等の不良粒を検査する目的で
、電気光学的粒体検査装置を構成したが、その地回様の
形状を有する錠剤その細粒体の検査のだめの電気光学的
粒体検査装置についても本発明の範囲に含まれるものと
考えられる。
、電気光学的粒体検査装置を構成したが、その地回様の
形状を有する錠剤その細粒体の検査のだめの電気光学的
粒体検査装置についても本発明の範囲に含まれるものと
考えられる。
第１図は、本発明の一実施例である玄米の電気光学的粒
体検査装置を概略的に断面図で図示する図。 第２図は、第１図に図示の電気光学的検査装置の上面図
。 第５図は、第１図のｍ−ｍ線に溢う拡大断面図。 １・・・無端ベルト、１ａ・・・粒孔、２・・・従動ロ
ーラ、３・・・モータ、４・・・駆動ローラ、５・・・
補助ローラ、６ａ、６ｂ、６ｃ・・・スライド台、７・
・・投入ホッパ、８・・・ガイド板、８ａ・・・テーパ
溝、９・・・ならし装置、９ａ・・・板ばね、９ｂ・・
・剛毛ブラシ、１０・・・電気光学的検出器、１Ｏａ・
・・光源、１０ｂ・・・受光素子、１０ Ｃ・・・スロ
ット、１０ ｄ ・・・透光板、１０ｅ、１０ｆ・・・
偏光板（直交ニコル偏光フィルタ）１１・・・受は容器
、１２・・・掃除ブラシ装置紅、１２ａ・・・１ｆｌｌ
ｌ１毛ブラシ 代理人 浅 利 皓 外４名
体検査装置を概略的に断面図で図示する図。 第２図は、第１図に図示の電気光学的検査装置の上面図
。 第５図は、第１図のｍ−ｍ線に溢う拡大断面図。 １・・・無端ベルト、１ａ・・・粒孔、２・・・従動ロ
ーラ、３・・・モータ、４・・・駆動ローラ、５・・・
補助ローラ、６ａ、６ｂ、６ｃ・・・スライド台、７・
・・投入ホッパ、８・・・ガイド板、８ａ・・・テーパ
溝、９・・・ならし装置、９ａ・・・板ばね、９ｂ・・
・剛毛ブラシ、１０・・・電気光学的検出器、１Ｏａ・
・・光源、１０ｂ・・・受光素子、１０ Ｃ・・・スロ
ット、１０ ｄ ・・・透光板、１０ｅ、１０ｆ・・・
偏光板（直交ニコル偏光フィルタ）１１・・・受は容器
、１２・・・掃除ブラシ装置紅、１２ａ・・・１ｆｌｌ
ｌ１毛ブラシ 代理人 浅 利 皓 外４名
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （１） ベルトコンベアの無端ベルトに複数列で、縦
長形状の粒体−粒を容易に受容するサイズのかつ粒体−
粒と相似形状の粒孔を多数設けておき、ベルトコンベア
を斜め上昇配置となし、該ベルトコンベアの下端部に粒
孔列と整合し、粒体−粒の横幅とほぼ等しい幅を最小幅
とするテーパー溝ガイド部材を複数設けた粒体整送装置
を有する電気光学的粒体検査装置。 （２、特許請求の範囲の第（１）項に記載の′電気光学
的粒体検査装置において、前記ベルトコンベアの上昇角
度は、４５°度である電気光学的粒体検査装置。 （３） 特許請求の範囲の第（２）項に記載の電気光
学的粒体検査装置において、前記ガイド部材は、投入ホ
ッパの底部を構成している電気光学的粒体検査装置つ （４）特許請求の範囲の第（１）項から第（３）項のい
ずれか一項に記載の電気光学的粒体検査装置において、
前記ガイド板の下流側に、前記無端ベルトの粒孔の粒体
を整向整置させるならし装置を設けた電気光学的粒体検
査装置。 （５）特許請求の範囲の第（４１項に記載の電気光学的
粒体検査装置において、前記ならし装置は、板ばねと、
先端が、該無端ベルトと接している剛毛ブラシを有して
いる電気光学的粒体検査装置。 （６）特許請求の範囲の第（１）項から第（５）項に記
載の電気光学的粒体検査装置において、前記無端ベルト
は、スライド台表面上をすべるように構成され、前記粒
孔は、その横断面が不変で該無端ベルトを貫通している
電気光学的粒体検査装置。 （カ ベルトコンベアの無端ベルト粒孔内に拾い上げら
れて整送される粒体は、光源と゛電気光学素子との間に
設けられ、該電気光学素子と対向する直交ニコル偏光フ
ィルタを介することにより流体の拡散透過光線のみの光
量を□測定する電気光学検出器を有する電気光学的粒体
検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12123582A JPS5912340A (ja) | 1982-07-14 | 1982-07-14 | 電気光学的粒体検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12123582A JPS5912340A (ja) | 1982-07-14 | 1982-07-14 | 電気光学的粒体検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5912340A true JPS5912340A (ja) | 1984-01-23 |
Family
ID=14806252
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12123582A Pending JPS5912340A (ja) | 1982-07-14 | 1982-07-14 | 電気光学的粒体検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5912340A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01120652U (ja) * | 1988-02-05 | 1989-08-16 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5614143A (en) * | 1979-07-14 | 1981-02-10 | Satake Eng Co Ltd | Detector for fissured rice |
| JPS5636729U (ja) * | 1979-08-24 | 1981-04-08 |
-
1982
- 1982-07-14 JP JP12123582A patent/JPS5912340A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5614143A (en) * | 1979-07-14 | 1981-02-10 | Satake Eng Co Ltd | Detector for fissured rice |
| JPS5636729U (ja) * | 1979-08-24 | 1981-04-08 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01120652U (ja) * | 1988-02-05 | 1989-08-16 |
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