JPS59122070A - Ｐｃｓ測定装置 - Google Patents
Ｐｃｓ測定装置Info
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- JPS59122070A JPS59122070A JP57234513A JP23451382A JPS59122070A JP S59122070 A JPS59122070 A JP S59122070A JP 57234513 A JP57234513 A JP 57234513A JP 23451382 A JP23451382 A JP 23451382A JP S59122070 A JPS59122070 A JP S59122070A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（ａｌ技術分野
この発明はＯＣＲ，ＯＭＲなどの光学検出装置、または
画像判別装置などに使用される、印刷物のｐｃｓ値を表
示するｐｃｓ測定装置に関する。
画像判別装置などに使用される、印刷物のｐｃｓ値を表
示するｐｃｓ測定装置に関する。
（ｂ）従来技術
周知のようにｐｃｓ測定装置は被測定物の印刷部の反射
率や濃度を光学的に検出するもので、被測定物のバンク
グラウンドの反射率Ｒｐと印刷部の反射率Ｒ４との反射
光のレヘル差比を求める装置である。
率や濃度を光学的に検出するもので、被測定物のバンク
グラウンドの反射率Ｒｐと印刷部の反射率Ｒ４との反射
光のレヘル差比を求める装置である。
従来のｐｃｓ測定装置は検出部が−・個の感光素子（ホ
トダイオードまたはホトトランジスタ）で構成されてい
たため、その測定領域が０．２鰭ψ程度と非常に狭かっ
た。このため印刷物の印刷濃度にバラツキのあるもの、
たとえばドントプリンタで印刷された印刷物の濃度を測
定するには、印刷物の一定領域内を数個所ないし数十開
所測定し、マニュアルにて平均を取ると行った方法で行
われなければならず測定効率が悪いという欠点があった
。
トダイオードまたはホトトランジスタ）で構成されてい
たため、その測定領域が０．２鰭ψ程度と非常に狭かっ
た。このため印刷物の印刷濃度にバラツキのあるもの、
たとえばドントプリンタで印刷された印刷物の濃度を測
定するには、印刷物の一定領域内を数個所ないし数十開
所測定し、マニュアルにて平均を取ると行った方法で行
われなければならず測定効率が悪いという欠点があった
。
ｉｃ１発明の目的
この発明の目的は、濃度変化のある印刷物の測定におい
ても一回の測定で一定領域のｐｃｓ値を得ることが出来
て、測定効率の大幅に向上したＰＣＳ測定装置を提供す
ることにある。
ても一回の測定で一定領域のｐｃｓ値を得ることが出来
て、測定効率の大幅に向上したＰＣＳ測定装置を提供す
ることにある。
（ｄ１発明の構成
この発明は要約すれば、
被測定物の印刷部を含む一定の領域の反射光を受光する
イメージセンサを設け、ハノククラウンドの反射率デー
タと印刷物の各画素ごとの反射率データとをそれぞれ基
準反射率データ記憶部と印刷部反射率データ記憶部に記
憶し、これらの反射率データに基づいて印刷部反射率デ
ータの平均値データを求め、さらにその平均値データと
前記基準反射率データとから平均ｐｃｓ値を求めるよう
にしたものである。
イメージセンサを設け、ハノククラウンドの反射率デー
タと印刷物の各画素ごとの反射率データとをそれぞれ基
準反射率データ記憶部と印刷部反射率データ記憶部に記
憶し、これらの反射率データに基づいて印刷部反射率デ
ータの平均値データを求め、さらにその平均値データと
前記基準反射率データとから平均ｐｃｓ値を求めるよう
にしたものである。
ｔｅｌ実施例
第１図はこの発明の実施例であるｐｃｓ測定装置の外観
図、第２図は同ｐｃｓ測定装置のブロック図、第３図は
変換部の構成図、第４図は演算部および出力部の構成図
である。
図、第２図は同ｐｃｓ測定装置のブロック図、第３図は
変換部の構成図、第４図は演算部および出力部の構成図
である。
第１図において印刷物を挟め込むサンプルボード１は本
体の後方に取り付けられ、印刷物の七ノド位置を確認す
るビューボー１・２は本体の上方に配置されている。ヒ
ユーボート２には測定領域を示す枠と反射率測定の箇所
を示す点が示されており、×５倍と×２０倍の倍率のレ
ンズ切り換えが出来るようにしである。本体の前部乙こ
配置さり、ろランプ３はＰＣ８表示を行い、その前に位
置するＰＣＳセットスイッチ６と連動して点灯する。ラ
ンプ４はＰＣ８測定の実行状態を示し、スクートスイノ
チ７と連動して点灯し、ｐｃｓ測定終了後自動的に消灯
する。また、ランプ５は反射率表示を行い、反射率スイ
ッチ８と連動して点灯する。
体の後方に取り付けられ、印刷物の七ノド位置を確認す
るビューボー１・２は本体の上方に配置されている。ヒ
ユーボート２には測定領域を示す枠と反射率測定の箇所
を示す点が示されており、×５倍と×２０倍の倍率のレ
ンズ切り換えが出来るようにしである。本体の前部乙こ
配置さり、ろランプ３はＰＣ８表示を行い、その前に位
置するＰＣＳセットスイッチ６と連動して点灯する。ラ
ンプ４はＰＣ８測定の実行状態を示し、スクートスイノ
チ７と連動して点灯し、ｐｃｓ測定終了後自動的に消灯
する。また、ランプ５は反射率表示を行い、反射率スイ
ッチ８と連動して点灯する。
上記ランプ３と５の点灯と消灯は対照関係にあり、ラン
プ３の点灯中はランプ５が消灯しており、ランプ５の点
灯中はランプ３が消灯する。なお、以」二のスイッチと
ランプとは一体形の照光式スイッチで構成してもよい。
プ３の点灯中はランプ５が消灯しており、ランプ５の点
灯中はランプ３が消灯する。なお、以」二のスイッチと
ランプとは一体形の照光式スイッチで構成してもよい。
反射率スイッチ８の斜め上方に配置される数字表示管９
は反射率を表示する。また、本体１の前面パネルには電
源スィッチ１１および上記数字表示管９の表示内容をＢ
ＣＤコードで外部に出力するコネクタ１０が配置されて
いる。
は反射率を表示する。また、本体１の前面パネルには電
源スィッチ１１および上記数字表示管９の表示内容をＢ
ＣＤコードで外部に出力するコネクタ１０が配置されて
いる。
第２図において、印刷物２０に対向配置された光源３０
の反射光ａはレンズ、絞り、フィルタからなる光学系部
３１を通り、検出部３２へ入る。
の反射光ａはレンズ、絞り、フィルタからなる光学系部
３１を通り、検出部３２へ入る。
検出部３２はＣＣＤイメージセンサ（たとえば１００Ｘ
１００画素）にて構成され、駆動部３５からのＣＣＤ１
ｉＴｉｉ素の走査信号すにしたがって反射光の光量に比
例した（濃度に反比例した）アナログ信号を出す。増幅
部３３は上記検出部３２からのアナログ信号を増幅し、
変換部３４は増幅部３３で増幅された増幅信号ｄをＡ／
Ｄ変換して４ピノ１− Ｂ ＣＤコードの反射率データ
として演算部３６へ出力する。第３図に示すようにこの
変換部３４は、演算部３ ［ｉからのＣＣＤ画素セレク
ト信号ｆによって形成される画素走査信号と同期したボ
ールド信号Ｃを駆動部３５から受けて、増幅信号ｄを保
持するホールド回路５０ （アナログスイッチ）と、ホ
ールドされた増幅信号ｇをＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換回
路５１とで構成される。変換部３４からの反射率データ
ｅは演算部３６へ入力する。演算部３６は第４図に示す
ように、ＣＣＤ各画素ごとの反射率データを記↑５ａす
る記憶回路６１と、装置の制御およびデータの比較と平
均演算を行うＣＰＵ６０とを備え、ＰＣＳセットスイッ
チ６が押されるまではＣＣＤ画素の中央位置のデータを
出力し、ＰＣＳセットスイッチ６が押され、その後一定
時間経過して演算結果が出るまで何も出力せず、演算結
果後は平均ｐｃｓ値を出力する。
１００画素）にて構成され、駆動部３５からのＣＣＤ１
ｉＴｉｉ素の走査信号すにしたがって反射光の光量に比
例した（濃度に反比例した）アナログ信号を出す。増幅
部３３は上記検出部３２からのアナログ信号を増幅し、
変換部３４は増幅部３３で増幅された増幅信号ｄをＡ／
Ｄ変換して４ピノ１− Ｂ ＣＤコードの反射率データ
として演算部３６へ出力する。第３図に示すようにこの
変換部３４は、演算部３ ［ｉからのＣＣＤ画素セレク
ト信号ｆによって形成される画素走査信号と同期したボ
ールド信号Ｃを駆動部３５から受けて、増幅信号ｄを保
持するホールド回路５０ （アナログスイッチ）と、ホ
ールドされた増幅信号ｇをＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換回
路５１とで構成される。変換部３４からの反射率データ
ｅは演算部３６へ入力する。演算部３６は第４図に示す
ように、ＣＣＤ各画素ごとの反射率データを記↑５ａす
る記憶回路６１と、装置の制御およびデータの比較と平
均演算を行うＣＰＵ６０とを備え、ＰＣＳセットスイッ
チ６が押されるまではＣＣＤ画素の中央位置のデータを
出力し、ＰＣＳセットスイッチ６が押され、その後一定
時間経過して演算結果が出るまで何も出力せず、演算結
果後は平均ｐｃｓ値を出力する。
出力部３７は＄、算郡部３６らの出力信号の表示を行う
数字表示管９とＢＣＤコードで出力できるコネクタ１０
とから構成されている。以上の構成でＣＰＵ６０は検出
部３２のＣＣＤＩ画累ご画素反射光に比例した信号をＡ
／Ｄ変換後、反射率データとして演算部３６内の記憶回
路６１に取込め、全画素についての比較とその結果の平
均演算を行ってｐｃｓ値を出力できるようにしている。
数字表示管９とＢＣＤコードで出力できるコネクタ１０
とから構成されている。以上の構成でＣＰＵ６０は検出
部３２のＣＣＤＩ画累ご画素反射光に比例した信号をＡ
／Ｄ変換後、反射率データとして演算部３６内の記憶回
路６１に取込め、全画素についての比較とその結果の平
均演算を行ってｐｃｓ値を出力できるようにしている。
次に上記測定装置の動作について第５図〜第７図を参照
して説明する。
して説明する。
第５図（Ａ、）、 （Ｂ）はこの測定装置の動作子１
１５を示ｔ ７ ｏ −−ｆ−＋−１−１ｆｆｉ６１Ｕ
Ｉ （Ａ＞ 、 （Ｂ）はハノクグラーフンド反射率
データ取ｉＡ時のＣＣＤ画素面、タイミングチャートを
示す。また、第７図（Δ）、（Ｂ）は印刷部反射率テー
タ取ｉワ時のＣＣＤ画素面、タイミングチャートを示す
。
１５を示ｔ ７ ｏ −−ｆ−＋−１−１ｆｆｉ６１Ｕ
Ｉ （Ａ＞ 、 （Ｂ）はハノクグラーフンド反射率
データ取ｉＡ時のＣＣＤ画素面、タイミングチャートを
示す。また、第７図（Δ）、（Ｂ）は印刷部反射率テー
タ取ｉワ時のＣＣＤ画素面、タイミングチャートを示す
。
ステップｎｌ（以下、ステップｎ１を甲乙こｎｌという
）で電源スィッチ１１がオンされるとｎ２でレジスタ、
カウンタ類をイニシャライズする。
）で電源スィッチ１１がオンされるとｎ２でレジスタ、
カウンタ類をイニシャライズする。
カウンタＮは被測定物印刷部の画素数をカウントする。
し・ジスタＲｐは被測定物バソクグラウン１−の反Ｕ−
ｊ率デークを基（（へ反射率データとして記憶する。カ
ウンタｎはＣＣＤ企画素の内、全サンプル数を計数する
。レジスタＲ（ｎ）は被測定物印刷部の０〜ｎ番目の画
素の反射率データを記憶する。レジスタＲば（Ｒｐ）−
（Ｒ（ｎ））の値で１より小さいものをカウンタｎが更
新する毎に更新記憶する。レジスタＲ゛は上記レジスタ
Ｒの内容の積算値を記憶する。各レジスタ、カウンタ類
のイニシャライズを終了すると、次に反射率ランプ５を
オンしくｎ３）、サンプルポート１に七ノドされた印刷
物に対する画素の内、中央位置の両＄の反射率を数字表
示管９に表示する。サンプルホード１に印刷物かセット
されていないときには反射率は表示されないが、ｎ５で
印刷物がセ、 ｌ−され、さらにＰＣＳセットスイッチ
６がオンされろと（ｎ６）、そのときの印刷物Ｑこ対す
る中央画幸の反射率が表示される。この段階において（
，１、まずサンプルボード１にセットされｚ）被測定物
をノ＼７クグラウンドだけのものとしくｎ５）、ｎ４で
表示されろ反射率表示をハックグラウンドの反射率とな
るようにする。ザンプルボ−１・１に」＝記のバックグ
ラウンドだけの被測定物がセノｌ−されると、バックグ
ラウンドの反射光ａは、光学系部３１を通過してイメー
ジセンサで構成される検出部３２−１入る。検出部３２
は、駆動部３５からのＣＣＤ画素走査信号すによって走
査されているため、この走査信号すに従ってＣＣＤ上に
照射された□゛反射光の信号は増幅部３３へ導かれる。
ｊ率デークを基（（へ反射率データとして記憶する。カ
ウンタｎはＣＣＤ企画素の内、全サンプル数を計数する
。レジスタＲ（ｎ）は被測定物印刷部の０〜ｎ番目の画
素の反射率データを記憶する。レジスタＲば（Ｒｐ）−
（Ｒ（ｎ））の値で１より小さいものをカウンタｎが更
新する毎に更新記憶する。レジスタＲ゛は上記レジスタ
Ｒの内容の積算値を記憶する。各レジスタ、カウンタ類
のイニシャライズを終了すると、次に反射率ランプ５を
オンしくｎ３）、サンプルポート１に七ノドされた印刷
物に対する画素の内、中央位置の両＄の反射率を数字表
示管９に表示する。サンプルホード１に印刷物かセット
されていないときには反射率は表示されないが、ｎ５で
印刷物がセ、 ｌ−され、さらにＰＣＳセットスイッチ
６がオンされろと（ｎ６）、そのときの印刷物Ｑこ対す
る中央画幸の反射率が表示される。この段階において（
，１、まずサンプルボード１にセットされｚ）被測定物
をノ＼７クグラウンドだけのものとしくｎ５）、ｎ４で
表示されろ反射率表示をハックグラウンドの反射率とな
るようにする。ザンプルボ−１・１に」＝記のバックグ
ラウンドだけの被測定物がセノｌ−されると、バックグ
ラウンドの反射光ａは、光学系部３１を通過してイメー
ジセンサで構成される検出部３２−１入る。検出部３２
は、駆動部３５からのＣＣＤ画素走査信号すによって走
査されているため、この走査信号すに従ってＣＣＤ上に
照射された□゛反射光の信号は増幅部３３へ導かれる。
増幅部３３で一定のレベルに増幅された反射信号は、変
換部３４へ導かれ、ここで中央画素のデータがサンプル
される。変換部３４は上述したように、ホールド回路５
０とΔ／Ｄ変換回路５１とで構成される。ホールド回路
５０には駆動部３５からのホールド信号Ｃが入力し、こ
のホールド信号Ｃが入力したタイミングの反射信号をホ
ールドする。また、Ａ／Ｄ変換回路５１は、ホールドさ
れた信号を△／Ｄ変換によって４ピノ）ＢＣＤコードの
反射率データにし７て６算部３６へ送る。上記ホールド
信号Ｃは、演算部３６から駆動部３５に送出されるＣＣ
Ｄ画素セレクト信号ｆによって形成される。このＣＣＤ
画素セレクト信号ｆは、第６図（Ａ）？・こ示ずように
、中央画素Ｐ （５０，５０）の位置をセレクトする信
号であり、走査信号すとも同期している。反射率データ
Ｃは第６図（Ｂ）に示すように、反射率レベルを１０等
分した場合のデータとして表される。演算部３６は、こ
の反射率データを記憶回路６１のバッファに一時記憶し
、出力部３７へ送り、数字表示管９で表示する。以上の
動作が、サンプルボード１にバックグラウンドの被測定
物をセットした後、Ｐ Ｃ，Ｓセットスイッチ６が操作
されるまでの間に行われる。
換部３４へ導かれ、ここで中央画素のデータがサンプル
される。変換部３４は上述したように、ホールド回路５
０とΔ／Ｄ変換回路５１とで構成される。ホールド回路
５０には駆動部３５からのホールド信号Ｃが入力し、こ
のホールド信号Ｃが入力したタイミングの反射信号をホ
ールドする。また、Ａ／Ｄ変換回路５１は、ホールドさ
れた信号を△／Ｄ変換によって４ピノ）ＢＣＤコードの
反射率データにし７て６算部３６へ送る。上記ホールド
信号Ｃは、演算部３６から駆動部３５に送出されるＣＣ
Ｄ画素セレクト信号ｆによって形成される。このＣＣＤ
画素セレクト信号ｆは、第６図（Ａ）？・こ示ずように
、中央画素Ｐ （５０，５０）の位置をセレクトする信
号であり、走査信号すとも同期している。反射率データ
Ｃは第６図（Ｂ）に示すように、反射率レベルを１０等
分した場合のデータとして表される。演算部３６は、こ
の反射率データを記憶回路６１のバッファに一時記憶し
、出力部３７へ送り、数字表示管９で表示する。以上の
動作が、サンプルボード１にバックグラウンドの被測定
物をセットした後、Ｐ Ｃ，Ｓセットスイッチ６が操作
されるまでの間に行われる。
ＰＣＳセットスイッチ６がオンになると、ｎ６→ｎ７と
進み、表示されているバンクグラウンドの反射率データ
がレジスタＲｐにセットされろ。
進み、表示されているバンクグラウンドの反射率データ
がレジスタＲｐにセットされろ。
このときまでは反射率ランプ５が点灯しているが、ｎ８
において反射率ランプが消灯し、続いてＰＣＳセットラ
ンプ３が点灯する。また、数字表示管９に表示されてい
るバックグラウンドの反射率データを消し、ｎ ］、
１で印刷部のある被測定物のセントを待′つ。バックグ
ラウンドだけの被測定物に代えて、印刷部のある被測定
物がセットされると、ｎ １１．−”ｎ ］ ２へと進
み、スタートスイッチ７の操作を待つ。この操作があれ
ば、ｎ１２−＋ｎ１３と進み、スタートランプ４を点灯
しくｎ１３）、続いてｎ１４でＣＯＤ全画素を対象とし
て約５０画素毎の反射率データを記憶回路６１のレジス
タＲ（ｎ）に順次取り込む。ｎ個の総ての反射率データ
を取り込むと、レジスタＲｐに記憶されるハックグラウ
ンド反射率データとレジスタＲ（ｎ）に記憶される反射
率データとの差をチーニックし、その差が１以上である
画素分についてその差をレジスタＲ′に積算するととも
に、その画素の総数をカウンタＮで計数する（ｎ１６〜
０１８）。差が１以下のものについては何もせす、ｎ２
０、ｎ２２においてｎ個の総ての画素につし）でチーニ
ックを終了するとｎ２３へ進む。以上のように０１６〜
ｎ２２において、印刷部に相当する画素の反射率データ
を和算するとともに、その印刷部の全画千数を計数する
。
において反射率ランプが消灯し、続いてＰＣＳセットラ
ンプ３が点灯する。また、数字表示管９に表示されてい
るバックグラウンドの反射率データを消し、ｎ ］、
１で印刷部のある被測定物のセントを待′つ。バックグ
ラウンドだけの被測定物に代えて、印刷部のある被測定
物がセットされると、ｎ １１．−”ｎ ］ ２へと進
み、スタートスイッチ７の操作を待つ。この操作があれ
ば、ｎ１２−＋ｎ１３と進み、スタートランプ４を点灯
しくｎ１３）、続いてｎ１４でＣＯＤ全画素を対象とし
て約５０画素毎の反射率データを記憶回路６１のレジス
タＲ（ｎ）に順次取り込む。ｎ個の総ての反射率データ
を取り込むと、レジスタＲｐに記憶されるハックグラウ
ンド反射率データとレジスタＲ（ｎ）に記憶される反射
率データとの差をチーニックし、その差が１以上である
画素分についてその差をレジスタＲ′に積算するととも
に、その画素の総数をカウンタＮで計数する（ｎ１６〜
０１８）。差が１以下のものについては何もせす、ｎ２
０、ｎ２２においてｎ個の総ての画素につし）でチーニ
ックを終了するとｎ２３へ進む。以上のように０１６〜
ｎ２２において、印刷部に相当する画素の反射率データ
を和算するとともに、その印刷部の全画千数を計数する
。
ｎ２３では、カウンタＮの計数値が０であるかどうかを
判定するが、０でない場合はｎ２４へ進み、こごで平均
ＰＯ２値↑を算出する。ＰＣ８値Ｌｔハ・ツクグラウン
ドの反射率（Ｒｐ）と印刷部の反射率（Ｒｉ）により、 平均ｐｃｓ値πは、 で求められる。
判定するが、０でない場合はｎ２４へ進み、こごで平均
ＰＯ２値↑を算出する。ＰＣ８値Ｌｔハ・ツクグラウン
ドの反射率（Ｒｐ）と印刷部の反射率（Ｒｉ）により、 平均ｐｃｓ値πは、 で求められる。
ｎ２４でこの平均ＰＯ２値ｒを算出すると、その値を数
字表示管９に表示し、ｎ２６でスタートランプ４を消灯
する。なおｎ２３でカウンタＮが０である場合は、数字
表示管に０が表示される。
字表示管９に表示し、ｎ２６でスタートランプ４を消灯
する。なおｎ２３でカウンタＮが０である場合は、数字
表示管に０が表示される。
被測定物に印刷部が全くない場合、或いは印刷部が殆ど
ハックグラウンドと同じ程度の濃度であイ）場合は、カ
ウンタＮが０となってｎ２７で０が表示されることにな
る。
ハックグラウンドと同じ程度の濃度であイ）場合は、カ
ウンタＮが０となってｎ２７で０が表示されることにな
る。
スタートスイッチ７がオンにされてからｎ２６でスター
トランプがオフになるまで、−ヒ記の演算が行われて平
均ＰＯ２値を表示することになるが、その表示は次にス
フ−１−スイッチ７または反射率スイッチ８がオンにな
るまで続けられる。平均ＰＯ２値が表示されている状態
で、スタートスイッチ７がオンになるとｎ３０へ進み、
スタートランプ４を消灯し、且つレジスタＲｐを除く他
のレジスタ、カウンタ類をイニシャライズしてｎ１４へ
進む。すなわち、バックグラウンドの反射率データを残
した状態でｎ１４以下の処理を再び実行する。したがっ
て、サンプルボード１に別の被測定物がセントされると
、その被測定物の印刷部に対する平均ＰＯ２値が求めら
れるようになる。一方、ｎ２９で反射率スイッチ８がオ
ンされると０３１へ進め、ＰＣＳセットランプ３を消灯
してｎ２へ戻り、総てのレジスタ、カウンタ類をイニシ
ャライズする。したがって、この場合は、Ｉ＼・ツクグ
ラウンドの反射率データも消去するので、ｎ３以下にお
いて新たなバ・ツクグラウンドの反射率データから測定
しなおすことになる。このようにしてハックグラウンド
が同じであるときには、スタートスイッチ７をオンにす
ることによって、次の被測定物の印刷部の平均ＰＯ２値
を直ちに求めることが出来、また、バックグラウンドが
異なる印刷部の平均ＰＯ２値を求めるときには、反射率
フ、イッ千８をオンにしてバックグラウンドの反射率か
ら測定しなおすようにする。
トランプがオフになるまで、−ヒ記の演算が行われて平
均ＰＯ２値を表示することになるが、その表示は次にス
フ−１−スイッチ７または反射率スイッチ８がオンにな
るまで続けられる。平均ＰＯ２値が表示されている状態
で、スタートスイッチ７がオンになるとｎ３０へ進み、
スタートランプ４を消灯し、且つレジスタＲｐを除く他
のレジスタ、カウンタ類をイニシャライズしてｎ１４へ
進む。すなわち、バックグラウンドの反射率データを残
した状態でｎ１４以下の処理を再び実行する。したがっ
て、サンプルボード１に別の被測定物がセントされると
、その被測定物の印刷部に対する平均ＰＯ２値が求めら
れるようになる。一方、ｎ２９で反射率スイッチ８がオ
ンされると０３１へ進め、ＰＣＳセットランプ３を消灯
してｎ２へ戻り、総てのレジスタ、カウンタ類をイニシ
ャライズする。したがって、この場合は、Ｉ＼・ツクグ
ラウンドの反射率データも消去するので、ｎ３以下にお
いて新たなバ・ツクグラウンドの反射率データから測定
しなおすことになる。このようにしてハックグラウンド
が同じであるときには、スタートスイッチ７をオンにす
ることによって、次の被測定物の印刷部の平均ＰＯ２値
を直ちに求めることが出来、また、バックグラウンドが
異なる印刷部の平均ＰＯ２値を求めるときには、反射率
フ、イッ千８をオンにしてバックグラウンドの反射率か
ら測定しなおすようにする。
なお、以上の実施例ではバックグラウンドの反射率デー
タを求めるのに、最初にノ゛・ツクグラウンドだけの被
測定物をセットするようにしているが、印刷部のある被
測定物に印刷禁止領域を予め設定しておけば、その位置
の反射率データをノ＼・ツクグラウンド反射率データと
して取り込むことが出来る。また、反射率データは反射
光の光量に比例したアナログ信号に基づいて形成するよ
うにしているが、濃度に比例したアナログ信号に基づい
て反射率データを形成してもよい。
タを求めるのに、最初にノ゛・ツクグラウンドだけの被
測定物をセットするようにしているが、印刷部のある被
測定物に印刷禁止領域を予め設定しておけば、その位置
の反射率データをノ＼・ツクグラウンド反射率データと
して取り込むことが出来る。また、反射率データは反射
光の光量に比例したアナログ信号に基づいて形成するよ
うにしているが、濃度に比例したアナログ信号に基づい
て反射率データを形成してもよい。
（ｆ１発明の効果
以上のようにこの発明によれば、反射光をイメージセン
サで受光し、一度に総ての画素の反射率データを求める
ようにしたので、測定が簡単でしかも短時間でＰＯ２（
ｅを求めることが出来る。また、印刷部の反射光をイメ
ージセンサで受光することに、Ｌ−って、画素１単位の
面精を比較的小さく設定するごとが出来るため、測定の
精度を向上出来ろ利点がある。
サで受光し、一度に総ての画素の反射率データを求める
ようにしたので、測定が簡単でしかも短時間でＰＯ２（
ｅを求めることが出来る。また、印刷部の反射光をイメ
ージセンサで受光することに、Ｌ−って、画素１単位の
面精を比較的小さく設定するごとが出来るため、測定の
精度を向上出来ろ利点がある。
【図面の簡単な説明】
第１図はこの発明の実施例であるｐｃｓ測定装置の外観
図である。 第２図は同ＰＣ８測定装置のブロック図である第３図は
変換部の構成図である。 第４図は演算部と出力部の構成図である。 第５図（Ａ）、 （Ｂ）は測定動作を示すフローチャ
ートである。 第６図（Δ）、（Ｂ）はバンクグラウンド反射率データ
取得時のＣＣＤ画素面、クイトチヤードを示す。 第７図（Δ）、（Ｂ）は印刷部反射率データ取得時のＣ
ＣＤ画素面、タイムチャートを示す。 ３２−検出部（イメージセンサ）、３４−ｆ換部（反射
率データを求める手段）、 Ｒｐ−（パンクグラウンド反射率データを記す、ａする
）レジスタ、 Ｒ（ｎ）−（印刷部反射率データを記ｊＱする）レジス
タ。 出願人 立石電機株式会社 代理人 弁理士 小森久夫 第１図 第３図 弔４１゛り 第６図（Ａ） （ａｓｂ）ＪＵＵＩＩ丁」Ｉ Ｉ工了’」
ＵＵ工仏号Ｃ）−ｍ−やＪｌ−一一一一ヨー１−−−−
−−＠７図（Ａ） 笛７図（Ｂ）
図である。 第２図は同ＰＣ８測定装置のブロック図である第３図は
変換部の構成図である。 第４図は演算部と出力部の構成図である。 第５図（Ａ）、 （Ｂ）は測定動作を示すフローチャ
ートである。 第６図（Δ）、（Ｂ）はバンクグラウンド反射率データ
取得時のＣＣＤ画素面、クイトチヤードを示す。 第７図（Δ）、（Ｂ）は印刷部反射率データ取得時のＣ
ＣＤ画素面、タイムチャートを示す。 ３２−検出部（イメージセンサ）、３４−ｆ換部（反射
率データを求める手段）、 Ｒｐ−（パンクグラウンド反射率データを記す、ａする
）レジスタ、 Ｒ（ｎ）−（印刷部反射率データを記ｊＱする）レジス
タ。 出願人 立石電機株式会社 代理人 弁理士 小森久夫 第１図 第３図 弔４１゛り 第６図（Ａ） （ａｓｂ）ＪＵＵＩＩ丁」Ｉ Ｉ工了’」
ＵＵ工仏号Ｃ）−ｍ−やＪｌ−一一一一ヨー１−−−−
−−＠７図（Ａ） 笛７図（Ｂ）
Claims (1)
- （１）光源に対向配置された被測定物からの反射光を受
光してバンクグラウンド反射率と印刷部反射率とを測定
し、これらの反射率に基づいて印刷部のｐｃｓ値を求め
るようにした装置において、前記印刷部を含む一定の領
域の反射光を受光するイメージセンサと、このイメージ
センナの出力に基づき各画素ごとの反射率データを求め
る手段と、被測定物バンクグラウンド反射率データを記
憶する基準反射率データ記憶部および被測定物印刷部の
各画素毎の反射率データを記憶する印刷部反射率データ
記憶部を有する反射率データ記憶手段と、前記印刷部反
射率データの平均値データを求めるとともにこの平均値
データと前記基準反射率データとに基づいて平均ｐｃｓ
値を求める平均ＰＣＳＣ算値手段とを備えてなるｐｃｓ
測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57234513A JPS59122070A (ja) | 1982-12-27 | 1982-12-27 | Ｐｃｓ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57234513A JPS59122070A (ja) | 1982-12-27 | 1982-12-27 | Ｐｃｓ測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59122070A true JPS59122070A (ja) | 1984-07-14 |
Family
ID=16972197
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57234513A Pending JPS59122070A (ja) | 1982-12-27 | 1982-12-27 | Ｐｃｓ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59122070A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6325533A (ja) * | 1986-07-17 | 1988-02-03 | Toshiba Seiki Kk | 印刷版の絵柄面積率測定方法 |
| JPH0269748U (ja) * | 1988-11-14 | 1990-05-28 |
-
1982
- 1982-12-27 JP JP57234513A patent/JPS59122070A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6325533A (ja) * | 1986-07-17 | 1988-02-03 | Toshiba Seiki Kk | 印刷版の絵柄面積率測定方法 |
| JPH0269748U (ja) * | 1988-11-14 | 1990-05-28 |
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