JPS59118369A - ダイヤフラム製造方法 - Google Patents
ダイヤフラム製造方法Info
- Publication number
- JPS59118369A JPS59118369A JP22695682A JP22695682A JPS59118369A JP S59118369 A JPS59118369 A JP S59118369A JP 22695682 A JP22695682 A JP 22695682A JP 22695682 A JP22695682 A JP 22695682A JP S59118369 A JPS59118369 A JP S59118369A
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- JP
- Japan
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- diaphragm
- silicon wafer
- tool
- round hole
- supersonic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B1/00—Processes of grinding or polishing; Use of auxiliary equipment in connection with such processes
- B24B1/04—Processes of grinding or polishing; Use of auxiliary equipment in connection with such processes subjecting the grinding or polishing tools, the abrading or polishing medium or work to vibration, e.g. grinding with ultrasonic frequency
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Grinding And Polishing Of Tertiary Curved Surfaces And Surfaces With Complex Shapes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は、半導体圧力センサのダイヤフラム製造方法に
関する。
関する。
従来よ)圧力変換器に用いられる半導体圧力センサは、
第1図に示すように、円板状のシリコンウェハ(1)の
一方の主面にSi、N、層(2)を円環状に被着させる
とともに、他方の主面に拡散抵抗層(4)を拡散形成し
たのち、円環状の円周部分のみを残し、5isN、層(
2)が欠除している中央部のみをフッ硝酸からなるエツ
チング液でエツチング加工して凹部(5)を形成するこ
とによシ得られたダイヤフラム(6)を用いている。
第1図に示すように、円板状のシリコンウェハ(1)の
一方の主面にSi、N、層(2)を円環状に被着させる
とともに、他方の主面に拡散抵抗層(4)を拡散形成し
たのち、円環状の円周部分のみを残し、5isN、層(
2)が欠除している中央部のみをフッ硝酸からなるエツ
チング液でエツチング加工して凹部(5)を形成するこ
とによシ得られたダイヤフラム(6)を用いている。
しかるに、上記エツチング液による凹部(5)のエツチ
ング加工には、以下の問題点があった。
ング加工には、以下の問題点があった。
(イ) エツチング加工による場合、Si3N4層とシ
リコン単結晶基板とのエツチング速度との差を用いて凹
部を形成するので、凹部(5)の除去深さは300μm
程度が限度である。
リコン単結晶基板とのエツチング速度との差を用いて凹
部を形成するので、凹部(5)の除去深さは300μm
程度が限度である。
(ロ) エツチング加工による場合、深さのばらつきが
太きいのみならず、凹部(5)の内壁面と底面との交差
部分が丸みを帯びてしまい、圧力センサの特性が低下す
る。
太きいのみならず、凹部(5)の内壁面と底面との交差
部分が丸みを帯びてしまい、圧力センサの特性が低下す
る。
(/ウ 上記(イ)の理由により、四部(5)を深く
加工できないので、ダイヤフラム(6)に台座をガラス
なとで接着したときに発生する熱歪により拡散抵抗層が
影響を受け、圧力センサの特性低下や歩留低下を惹起す
る。
加工できないので、ダイヤフラム(6)に台座をガラス
なとで接着したときに発生する熱歪により拡散抵抗層が
影響を受け、圧力センサの特性低下や歩留低下を惹起す
る。
本発明は、上記事情を参酌してなされたもので、半導体
圧力センサ用のダイヤフラム形成のための加工を高精度
かつ高能率で行うことのできるダイヤプラム製造方法を
提供することを目的とする。
圧力センサ用のダイヤフラム形成のための加工を高精度
かつ高能率で行うことのできるダイヤプラム製造方法を
提供することを目的とする。
ダイヤフラム形成のためのシリコンウェハへの丸穴加工
を超音波加工によシ行うものである。
を超音波加工によシ行うものである。
以下、本発明を図面を参照して、実施例に基づいて詳述
する。
する。
第2図は本実施例のダイヤフラム製造方法に使用される
シリコンウェノ・加工装置を示している。
シリコンウェノ・加工装置を示している。
このウェハ加工装置は、シリコンウェノ・(力を保持し
て位置決めする位置決め機構(8)と、この位置決め機
@(8)が連結されシリコンウェノ・(7)を昇降動さ
せる抑圧e ! (9)と、シリコンウェノ・(7)上
方に配設されシリコンウェハ(7)に丸穴を形成する超
音波加工機構(10)と、加工部位に遊敞砥粒を供給す
るスラリー供給機構(11)とからなっている。上記位
置決め機構(8)は、図示せぬ真空源に接続されシリコ
ンウェハ(力を載置して真空吸着する円柱状の真吸チャ
ック(12)と、との真吸チャックCl2)が載設され
図示せぬステッピングモータによυ互に直交するX方向
及びY方向に駆動されるX−Yテーブル(13)と、と
のX−Yテーブル(19を支持する支持体Iとからなっ
ている。また、上記押圧機構(9)は、基台0Qと、こ
の基台(1靭に埋設された油圧シリンダ(IQと、この
油圧シリンダ(16)を駆動する駆動回路と、真空チャ
ック(121と同軸になるように支持体(14)の下面
に連結されるとともに油圧シリンダ佃のピストンロッド
11nの先端に連結され、かつ孔α樽に真空チャック圓
の軸線方向に摺動自在に嵌合された嵌合体(18a)と
からなっている。さらに、超音波加工機構(1o)は、
装置本体からは離間して設置され振動数20〜5ouz
器 たコイルが巻装され超音波発振楼住0において出力され
た交流電流を機械振動に変換して超音波を生成する例え
ばニッケル、フェライト等の振動子(20)と、この振
動子シ0)の下端部に接続されこの振動子翰よシ伝播し
てきた超音波の振幅を拡大するコーンCt+と、このコ
ーン(2υの下端部に接続されコーン(211によシ増
幅された超音波の振幅をさらに拡大するホーン(221
と、このホーン(22)の下端部に連結された例えばス
テンレス鋼などからなる円柱状の工具@とからなってい
る。さらに、スラリー供給機構(11)は、水と遊離砥
粒とからなるスラリーを格納する貯蔵槽124)と、こ
の貯蔵槽(財)に格納されているスラリーを超音波加工
部位に供給するノズル(2■と、このノズルC5)から
噴出するスラリー量を調節するだめの例えば電磁弁及び
その操作回路からなる図示せぬスラリー制御部と、スラ
リーを回収して貯蔵槽(24)に戻す図示せぬ回収機構
とからなっ゛ている。
て位置決めする位置決め機構(8)と、この位置決め機
@(8)が連結されシリコンウェノ・(7)を昇降動さ
せる抑圧e ! (9)と、シリコンウェノ・(7)上
方に配設されシリコンウェハ(7)に丸穴を形成する超
音波加工機構(10)と、加工部位に遊敞砥粒を供給す
るスラリー供給機構(11)とからなっている。上記位
置決め機構(8)は、図示せぬ真空源に接続されシリコ
ンウェハ(力を載置して真空吸着する円柱状の真吸チャ
ック(12)と、との真吸チャックCl2)が載設され
図示せぬステッピングモータによυ互に直交するX方向
及びY方向に駆動されるX−Yテーブル(13)と、と
のX−Yテーブル(19を支持する支持体Iとからなっ
ている。また、上記押圧機構(9)は、基台0Qと、こ
の基台(1靭に埋設された油圧シリンダ(IQと、この
油圧シリンダ(16)を駆動する駆動回路と、真空チャ
ック(121と同軸になるように支持体(14)の下面
に連結されるとともに油圧シリンダ佃のピストンロッド
11nの先端に連結され、かつ孔α樽に真空チャック圓
の軸線方向に摺動自在に嵌合された嵌合体(18a)と
からなっている。さらに、超音波加工機構(1o)は、
装置本体からは離間して設置され振動数20〜5ouz
器 たコイルが巻装され超音波発振楼住0において出力され
た交流電流を機械振動に変換して超音波を生成する例え
ばニッケル、フェライト等の振動子(20)と、この振
動子シ0)の下端部に接続されこの振動子翰よシ伝播し
てきた超音波の振幅を拡大するコーンCt+と、このコ
ーン(2υの下端部に接続されコーン(211によシ増
幅された超音波の振幅をさらに拡大するホーン(221
と、このホーン(22)の下端部に連結された例えばス
テンレス鋼などからなる円柱状の工具@とからなってい
る。さらに、スラリー供給機構(11)は、水と遊離砥
粒とからなるスラリーを格納する貯蔵槽124)と、こ
の貯蔵槽(財)に格納されているスラリーを超音波加工
部位に供給するノズル(2■と、このノズルC5)から
噴出するスラリー量を調節するだめの例えば電磁弁及び
その操作回路からなる図示せぬスラリー制御部と、スラ
リーを回収して貯蔵槽(24)に戻す図示せぬ回収機構
とからなっ゛ている。
界
そうして、超音波発振m l19) 、スラリー制御部
、油圧シリンダ(16)の駆動回路及びX−Yテーブル
(+31を駆動するステッピングモータは、図示せぬ例
えばマイクロコンピュータなどの演算制御部に接続され
ている。
、油圧シリンダ(16)の駆動回路及びX−Yテーブル
(+31を駆動するステッピングモータは、図示せぬ例
えばマイクロコンピュータなどの演算制御部に接続され
ている。
つぎに、上記構成のウェハ加工装置を用いたダイヤフラ
ム製造方法について述べる。まず、真空チャック12)
の所定位置に円板状のシリコンウェノ・(力を真空吸着
させ保持・固定する。ついで、演算制御部からの制御信
号に基づき、X−Yテーブル叫を駆動してシリコンウェ
ハ(力の所定部位が工具@の直下にくるように位置決め
する。ついで、スラリー供給機構を作動させ、ノズル(
29からAl2O2゜SiC,B4C等の遊離砥粒と、
水又は油からなる加工液との混合物からなるスラリーを
加工部位に供基 給する。さらに、超音波発振榛■により振動子(20に
て、例えば周波数25 KHz 、振動子人力150W
の超音波振動を発生させる。ついで、抑圧機構(9)を
作動させ、位置決め機構(8)を矢印(26)方向に上
昇させて、シリコンウェノ・(力を工具(ハ)に尚接さ
せる。
ム製造方法について述べる。まず、真空チャック12)
の所定位置に円板状のシリコンウェノ・(力を真空吸着
させ保持・固定する。ついで、演算制御部からの制御信
号に基づき、X−Yテーブル叫を駆動してシリコンウェ
ハ(力の所定部位が工具@の直下にくるように位置決め
する。ついで、スラリー供給機構を作動させ、ノズル(
29からAl2O2゜SiC,B4C等の遊離砥粒と、
水又は油からなる加工液との混合物からなるスラリーを
加工部位に供基 給する。さらに、超音波発振榛■により振動子(20に
て、例えば周波数25 KHz 、振動子人力150W
の超音波振動を発生させる。ついで、抑圧機構(9)を
作動させ、位置決め機構(8)を矢印(26)方向に上
昇させて、シリコンウェノ・(力を工具(ハ)に尚接さ
せる。
すると、工具(23)には、コーンシυ及びホーン(2
2)により振幅が拡大された超音波振動が伝播し、工具
1231はシリコンウェハ(7)に対してハンマーのよ
うに振動する。しかして、工具(ハ)とシリコンウェノ
・(力との間に介在している遊離砥粒は、工具(231
により衝撃をうけ、シリコンウェハ(7)にはマイクロ
クラックが生じる。とのようなマイクロクラックを生成
するハンマー打ち作用(hammerin7 act
ion )によシ底部がダイヤフラム(′n+ (第4
図参照)となる翁底の丸穴(ハ)が加工速度1〜1om
m7分で形成される。
2)により振幅が拡大された超音波振動が伝播し、工具
1231はシリコンウェハ(7)に対してハンマーのよ
うに振動する。しかして、工具(ハ)とシリコンウェノ
・(力との間に介在している遊離砥粒は、工具(231
により衝撃をうけ、シリコンウェハ(7)にはマイクロ
クラックが生じる。とのようなマイクロクラックを生成
するハンマー打ち作用(hammerin7 act
ion )によシ底部がダイヤフラム(′n+ (第4
図参照)となる翁底の丸穴(ハ)が加工速度1〜1om
m7分で形成される。
この丸穴(281の深さが所定量に達すると、抑圧機構
)(9)によるシリコンウェノ・(7)の上昇を停止さ
せ、矢印26)とは逆方向に下降させる。しかして、X
−Yテーブル(13)により逐一シリコンウェハ・(力
の位置決めを行い、第3図に示すように、丸穴側・・・
をあらかじめ形成されている拡散抵抗t 09)・・・
に対応した位置に複数個形成し、ダイシング等によシ各
丸穴(イ)・・・ごとに割断する(第4図参照)。しか
して、割断されたシリコンウェハ(力の丸穴(イ)体上
端面に、中央部に貫通孔である受圧孔(至)が形成され
た台座01)をガラス接着する。かくて、本実施例のダ
イヤフラム製造方法は、ダイヤフラム形成のための丸穴
加工を高能率で行うことができる。これにともなって、
ダイヤフラム(27)の側壁の高さをエツチング法に比
べ格段に高くすることができるので、台座01)をガラ
ス接着したときに生じる熱歪の拡散抵抗層(29)への
悪影響を回避することができる。さらに、丸穴(2)・
・・の内底面と内壁面との交差部分に丸みが生じない。
)(9)によるシリコンウェノ・(7)の上昇を停止さ
せ、矢印26)とは逆方向に下降させる。しかして、X
−Yテーブル(13)により逐一シリコンウェハ・(力
の位置決めを行い、第3図に示すように、丸穴側・・・
をあらかじめ形成されている拡散抵抗t 09)・・・
に対応した位置に複数個形成し、ダイシング等によシ各
丸穴(イ)・・・ごとに割断する(第4図参照)。しか
して、割断されたシリコンウェハ(力の丸穴(イ)体上
端面に、中央部に貫通孔である受圧孔(至)が形成され
た台座01)をガラス接着する。かくて、本実施例のダ
イヤフラム製造方法は、ダイヤフラム形成のための丸穴
加工を高能率で行うことができる。これにともなって、
ダイヤフラム(27)の側壁の高さをエツチング法に比
べ格段に高くすることができるので、台座01)をガラ
ス接着したときに生じる熱歪の拡散抵抗層(29)への
悪影響を回避することができる。さらに、丸穴(2)・
・・の内底面と内壁面との交差部分に丸みが生じない。
しだがって、高信頼性のダイヤフラムを大量生産するこ
とができるので、製造価格が大幅に低減する。
とができるので、製造価格が大幅に低減する。
なお、上記実施例に限ることなく、シリコンウェハ(7
)と工具(2:(lとを相対的に回転させるようにすれ
ば、加工精度を向上させることができる。また、シリコ
ンウェハ(力は真空吸着によシ保持することなくワック
ス等による接着により保持してもよい。
)と工具(2:(lとを相対的に回転させるようにすれ
ば、加工精度を向上させることができる。また、シリコ
ンウェハ(力は真空吸着によシ保持することなくワック
ス等による接着により保持してもよい。
さらに、シリコンウェハ(刀体を固定し、工具031側
から加圧力を付与するようにしてもよい。さらにまた、
第5図に示すような、円柱状の突起部03)・・・が複
数個突設された工具(財)を用いることにより、突起部
0■・・・に対応した丸穴(28)・・・を同時に形成
することができるので、加工能率を飛β的に向上させる
ことができる。さらに、第6図に示すように、深さΔH
が5〜30μn1、周縁から中央部にかけての傾斜角θ
が0.03〜0.3度の円錐状若しくは凹曲面状の凹部
G5)を有する工具(36)を用いれば、ふくらみを有
するダイヤスラムを得ることができる。このようなダイ
ヤフラムは、感度の非直線性が、ダイヤフラムの両側の
圧力Pl、P2の差圧(PIF2)の正負によシ対称的
と々るので、低圧測定をはじめとするダイヤフラムが逆
方向に変形する圧力測定における測定精度の低下を防止
できる。
から加圧力を付与するようにしてもよい。さらにまた、
第5図に示すような、円柱状の突起部03)・・・が複
数個突設された工具(財)を用いることにより、突起部
0■・・・に対応した丸穴(28)・・・を同時に形成
することができるので、加工能率を飛β的に向上させる
ことができる。さらに、第6図に示すように、深さΔH
が5〜30μn1、周縁から中央部にかけての傾斜角θ
が0.03〜0.3度の円錐状若しくは凹曲面状の凹部
G5)を有する工具(36)を用いれば、ふくらみを有
するダイヤスラムを得ることができる。このようなダイ
ヤフラムは、感度の非直線性が、ダイヤフラムの両側の
圧力Pl、P2の差圧(PIF2)の正負によシ対称的
と々るので、低圧測定をはじめとするダイヤフラムが逆
方向に変形する圧力測定における測定精度の低下を防止
できる。
本発明のグイ・、・フラム製造方法は、ダイヤフラム形
成の丸穴を超音波加工によ)行うようにしたもので、所
要寸法のダイヤフラムを高能率かつ高精度で作ることが
できる。また、従来のエツチング加工による丸穴形成に
比べて、ダイヤフラムの側壁の高さを胃くすることがで
き、台座を接着した際の熱歪の影響が少なくなるので4
.圧力センサとしての測定精度の信頼性が向上する。
成の丸穴を超音波加工によ)行うようにしたもので、所
要寸法のダイヤフラムを高能率かつ高精度で作ることが
できる。また、従来のエツチング加工による丸穴形成に
比べて、ダイヤフラムの側壁の高さを胃くすることがで
き、台座を接着した際の熱歪の影響が少なくなるので4
.圧力センサとしての測定精度の信頼性が向上する。
笛1図は従来のダイヤフラム製造方法を説明するだめの
断面図、第2図は本発明の一実旅例のダイヤフラム製造
方法に几いられるシリコンウェハ加工装色の太部構成図
、第3図は丸穴加工されたシリコンウェハの平+f+図
、第4図は受圧台に取付けられたダイヤフラムを示す断
面図、第5図及び第6図はそれぞれ本発明の他の実施例
における工具形状を示す断面図である。 (7):シリコンウェハ、 (8):位置決め機構、(
9):押圧機構、 00ノ:超音波加工機構、(1
1):スラ’J−供給機梠、 03+、 (34)、
(361: 工A、鴫丸穴。 代理人 弁理士 則近憲佑 (ほか1名)箪 1 図 り 第3図 16口 12 図
断面図、第2図は本発明の一実旅例のダイヤフラム製造
方法に几いられるシリコンウェハ加工装色の太部構成図
、第3図は丸穴加工されたシリコンウェハの平+f+図
、第4図は受圧台に取付けられたダイヤフラムを示す断
面図、第5図及び第6図はそれぞれ本発明の他の実施例
における工具形状を示す断面図である。 (7):シリコンウェハ、 (8):位置決め機構、(
9):押圧機構、 00ノ:超音波加工機構、(1
1):スラ’J−供給機梠、 03+、 (34)、
(361: 工A、鴫丸穴。 代理人 弁理士 則近憲佑 (ほか1名)箪 1 図 り 第3図 16口 12 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 する方法と、上記工具の上記シリコンウェハに対する当
接部位に遊離砥粒を含有するスラリーを供給する方法と
、上記シリコンウェハに描接している工具に超音波振動
を付与し上記シリコンウェハに丸穴を形成する方法とを
具備することを特徴とするダイヤフラム製造方法。 (2)工具端部には複数の円柱状の突起部が形成されシ
リコンウェハに複数の丸穴を同時に形成することを特徴
とする特許請求の範囲第1項記載のダイヤフラム製造方
法。 (3)工具の端面には凹部が形成されシリコンウェハに
形成された丸穴の底面にふくらみを形成することを特徴
とする特許請求の範囲第1項又は第2項記載のダイヤフ
ラム製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22695682A JPS59118369A (ja) | 1982-12-27 | 1982-12-27 | ダイヤフラム製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22695682A JPS59118369A (ja) | 1982-12-27 | 1982-12-27 | ダイヤフラム製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59118369A true JPS59118369A (ja) | 1984-07-09 |
Family
ID=16853248
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22695682A Pending JPS59118369A (ja) | 1982-12-27 | 1982-12-27 | ダイヤフラム製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59118369A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61142059A (ja) * | 1984-12-15 | 1986-06-28 | Nippon Denshi Kogyo Kk | 超音波破砕加工方法及びその装置 |
JPS63205383A (ja) * | 1987-02-20 | 1988-08-24 | F S K Kk | ウエハ貼着用粘着シ−ト |
JPS63205382A (ja) * | 1987-02-20 | 1988-08-24 | F S K Kk | ウエハ貼着用粘着シ−ト |
US7287537B2 (en) * | 2002-01-29 | 2007-10-30 | Akrion Technologies, Inc. | Megasonic probe energy director |
CN110370102A (zh) * | 2019-07-11 | 2019-10-25 | 汇专绿色工具有限公司 | 超声波冲击加工异形孔的方法 |
-
1982
- 1982-12-27 JP JP22695682A patent/JPS59118369A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61142059A (ja) * | 1984-12-15 | 1986-06-28 | Nippon Denshi Kogyo Kk | 超音波破砕加工方法及びその装置 |
JPS63205383A (ja) * | 1987-02-20 | 1988-08-24 | F S K Kk | ウエハ貼着用粘着シ−ト |
JPS63205382A (ja) * | 1987-02-20 | 1988-08-24 | F S K Kk | ウエハ貼着用粘着シ−ト |
JPH0224871B2 (ja) * | 1987-02-20 | 1990-05-30 | Fsk Kk | |
JPH0224872B2 (ja) * | 1987-02-20 | 1990-05-30 | Fsk Kk | |
US7287537B2 (en) * | 2002-01-29 | 2007-10-30 | Akrion Technologies, Inc. | Megasonic probe energy director |
CN110370102A (zh) * | 2019-07-11 | 2019-10-25 | 汇专绿色工具有限公司 | 超声波冲击加工异形孔的方法 |
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