JPS59110967A - 弁素子の製造方法 - Google Patents

弁素子の製造方法

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JPS59110967A
JPS59110967A JP57220593A JP22059382A JPS59110967A JP S59110967 A JPS59110967 A JP S59110967A JP 57220593 A JP57220593 A JP 57220593A JP 22059382 A JP22059382 A JP 22059382A JP S59110967 A JPS59110967 A JP S59110967A
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は微細な機械式弁およびその製造法に関し、特
に電気機械変換手段と弁との相互作用によって引き起さ
れるポンプ作用によりインク簡の噴射およびインクの補
給を行なうインクジーットヘッドに適した弁素子および
ぞの製造法に関する。
インクジーットヘッド用の弁素子としては、特願昭55
−81184に示されたものか知られている。同出願明
細書には異なった構造の弁素子がいくつか示されている
が、その中の代表的tものについて構造概略を示すと第
1図(a)、(b)l(c)のようである。すなわち、
第1図(a)に示すように中心に円筒状のインク通路1
01を有する円板状の弁座102と、中心に配された円
板状の弁103を周囲の腕104と円環状固定部分10
5とにより支えている弁部品106とを重ね合せるこ七
により構成されへ送状インク通路101は弁103によ
り遮断されている。弁座102と弁部品106とは、弁
部品周囲の円環状の同定部分105でのみ密着固定され
てあり、第1図(b)に示すように、インク通路101
側から圧力が作用する弁103が押し上げられ、弁10
3と弁座102の間隙を通ってインクが流出するが、第
1図(c)1こ示すように圧力が逆方向に作用すると弁
103は弁座102に押し付けられるためインクの流れ
は遮断される。
弁103の直径はインク通路101の直径より大きくと
られるが、二つの直径の差は、順方向の流れを容易にす
るために、できるだけ小さいことが望ましい。その結果
、弁座102と弁部品105との極めて高い重ね合せ精
度が要求されるため、弁素子の組立は困難であり、しか
も組立てられた弁素子の良品率が低かったり、特性のば
らつきが大きい等の問題があった。
才だ、上記方法による組立ては、弁素子を多量にかつ安
価に製造するためには不適当であった。
この発明の目的は上記問題を解決した弁素子およびその
製造方法を提供することにある〇この発明によれば、流
体が通る微細孔を有する弁座と、前記孔を覆う弁き、前
記弁を支え流体の圧力に応じて前記弁を変位させる支持
部と、前記支持部を前記弁座に取り付ける固定部とから
なる弁素子において、前記弁座をフォトエレクトロフォ
ーミングにより形成し、さらに前記弁、前記支持部およ
び前記固定部を前記弁座上にフォトエレクトロフォーミ
ングにより形成することにより前記弁座、前記弁、前記
支持部および前記固定部を一体化したことを特徴とする
弁素子が得られる。
さらにこの発明によれば流体が通る微細な孔を有する弁
座と、前記孔を覆う弁と、前記弁を支え流体の圧力に応
じて前記弁を変位させる支持部と、前記支持部を前記弁
座に取り付ける固定部とからなる弁素子を製造する方法
において、少なくとも表面に導電層を有する基板上に所
定の厚さのフォトレジストを塗布し、さらに鍍金する部
分のレジストを取り除くことにより微細孔を有する弁座
のパターンを形成する工程と、前記レジストの無い部分
を鍍金により概略前記レジストと同じ厚さまで所定の金
属にて埋めて弁座を形成する工程と、前記弁座の表面に
前記弁および支持部と前記弁座との間に位置し、少なく
ともその表面層から導電性を有するスペーサを形成する
工程き、前記スペーサが形成された弁座上に前記弁座の
微細孔をしうように配置されかつ前記微細孔より大きな
所定の寸法形状を有する弁と前記弁の支持腕および固定
部とからなる弁部材のパターンをフォトレジストにより
形成する工程と、前記弁部材のパターンに応じて所定の
金属により鍍金を行ない弁部材を形成する工程と、前記
基板、前記弁パターンを形成したフォトレジスト、前記
弁部材パターンを形成したフォトレジストおよび前記ス
ペーサを堆り除く工程とからなることを特徴とする弁素
子の製造方法が得られる。
以下この発明について図面を参照しながら詳細に説明す
る。
第2図(a) + (b)を参照すると、この発明によ
る弁素子の実施例は、第2図(−にその概略断面図を示
したように1中央部にその横断面が円の流路201を有
する弁座202と、流路201を遮蔽するように配置さ
れた弁203と、弁203をささえる腕204と固定部
205とからなる弁部材206とからなり弁部材206
は弁座202と、固定部205にて固着されている。一
方、弁203と腕204は弁座204と分離している。
弁部材206の平面形状は任意の形状にすることが可能
であるが、代表的な一例としては第2図(b)に示すよ
うに円環状の固定部205の中心部に同心円状に弁20
3が形成され、弁203を支持する腕204は十字状に
4本設けられている。弁203の直径は流路201のそ
れより大きい。弁座202右よび弁部材206はフォト
レジストによるパターニングと鉱金技術と1こよるフォ
トエレクトロフォーミングにより形成され金m割刺とし
てはニッケル、金、クロム等の1lrI蝕性材料か適し
ている。また、弁座202上に弁部材206を同一材料
にてフォトエレクトロフォー−ミンクにて形成すること
により弁座と弁部材とが一体構造物となる。但し、弁座
202と弁部材200を同なる材料により形成した場合
でも固定部における接合力が大きい組合せを用いれば、
弁座と弁部材とか分離してしまうことはない。本実施例
に。おいてインクジーットヘッド用に適した弁素子の寸
法の一例を示すと流通路201の直径は180μmであ
り、弁部材をニッケルで形成したとき弁203の直径は
200μm1支持腕204の巾および長さはそれぞれ5
0μmおよび400μmであり、弁部材206の厚みは
約10μmであった。
次に第3図(a)〜セ)を参照すると、前記第1の実施
例で示した弁素子は次のような製造プロセスによって作
られる。第3図(a>に示すように基板301はガラス
板3020片面に導電4303を蒸着法にて形成したも
のである。導電層は弁素子を形成する材料と選択的にエ
ツチングが可能となるもので例られる。ここでは弁素子
をニッケルで形成しているので、導電層はガラス板30
2側よりアルミニニウム層、ニッケル層となっている。
ただしニッケル層は先の工程で鍍金を行なうときのアル
ミニュウム層の保護のためでアルミニュウム層のみでも
問題はない。アルミニュウム層の厚さは数百^〜数千X
槁で特に制御はないが最終工程アルミニ具−ム層を溶解
するため厚い方が望才しい。
またニッケル層は、数十〜数百λ程度で、アルミニニー
ム層を保護できる範囲で薄いことが望ましいO このような基板301上にフォトレジスト眉304を形
成し、弁座のパターンを露光し、現像により弁座の形状
に導電層303が露出した/N6ターンを形成する0)
fトレジスト層の厚さは形成する弁座の厚さと等しく、
本実施例では、フィルムレジストの厚さ20〜60μm
程度のものを使用した0このようにフォトレジストによ
りパターニングされた基板は第3図(b)に示されるよ
うに電鋳によりレジストの無い部分が鍍金され、弁座3
05が形成される。ここでは、スルファミン酸ニッケル
浴を用いてニッケルを鍍金した。鍍金属は、レジスト層
304とほぼ等しくする必安があり、厚さの差が±5μ
m以内であることが望ましい0次に第3図(C)に示す
ように中央部にフォトレジストによりスペーサ306を
形成する。これは、@終工程において取り除かれるもの
で第2図(a)において弁203と腕204とを弁座か
ら分離させるためのものである。次に第3図(d)に示
すように次の電鋳を行なうための導電層307を全面に
形成する。これは弁座と同じ金Hが望ましく、ここでは
ニッケルを蒸着して形成した0その他の方法としては例
えば無電解ニッケル鍍金によりニッケル膜か形成できる
。次に第3図(e)に示すように導電層307上に弁3
09、腕310および一定部311とからなる弁部材の
パターンをフォトレジスト308により形成する0この
とき弁のパターン309は、弁座の孔のレジストパター
ン304aを覆うように形成される。これは、フォトレ
ジストを露光するときのマスク1合せにより行なうこと
ができるため、目合せ精度か弁座と弁部材とを個別に作
り重ねる従来の方法より格段に向上するO また、弁部材のパターンの内、固定部311の下にはス
ペーサ306が無い。次に謁31N(f)に示すように
電鋳により弁部材312をニッケル鍍金する0このとき
の鍍金の厚さは、レジスト930gの厚さとは無関係で
良く、弁の順方向の流体抵抗値に応じて決めることがで
きる。−例としては、10μm前後の値が選ばれる0最
後に導電層303、レジスト層304.308、および
スペーサ306を溶解して第3図(g)のように弁素子
が得られる0導電層303はアルミニュウムで形成され
ており、水酸化す) IJウムを用いて弁素子を構成し
ているニッケルと選択的に溶解することができる。また
レジスト層もニッケルを溶解せずレジストを溶解する溶
液を使用する。またこの工程においてスペーサ306の
表面がニッケル導電R307で覆われているため溶解が
進まない場合には、酸等を用い導電層307をエツチン
グし、取り除くことによりスペーサー306が表面に表
われ溶解することができる0 次に第4図(a)、 (b) 、(c)を用いて本発に
よる第2の製造プロセスの実施例を説明するO同図は、
第1の製造プロセスの実施例とスペーサを形成する方法
が異なる。即ち第3図(b>図までは同様のプロセスに
て弁座の形成まで行なう。次にスペーサの形成はまず第
4図(a)に示すようにニッケル鍍金層305およびレ
ジスト層304の上面にアルミニニウム層401を蒸着
等により形成する。次に第4図(b)のようにその上面
にフォトレジスト402によりスペーサを形成する部分
のパターンを形成するO さらにエツチングによりレジストパターン402の無い
部分のアルミニーラム層を取り除くと第4図(C)に示
すようにアルミニュウムよりなるスペーサ403が形成
される。このスペーサは導電性があるため次の工程とし
ては先の第1の製造プロセスで第3図(e)に示した弁
、腕および固定部とからなる弁部材のパターンをフ、ト
レジスト1こより形成する工程に入ることができその後
の工程も同様に行なうことができる。この製造法では、
スペーサがアルミニーラムの蒸着膜からできているため
最終工程で、このスペーサを取り除くのは容易でありま
た、厚さが薄いため取り除いた抜弁や腕と弁座との間隙
はほとんど生じない0 この実施例ではアルミニニウム層のみの例を示したが後
の工程で弁部材のパターンを電鋳するときメッキ液によ
り腐蝕されるときは基板oj場合と同様アルミニュウム
層の上面にニッケル等の保良層を形成しても良い0 以上のように本発明によれば、弁素子を構成する弁座$
よび弁部材(弁、腕および固定部)がすべてフォトエレ
クトロフーミング1こより形成することができ、弁素子
の寸法積置が向上し、さらに弁座の微細孔と弁との位置
合せを、マスク1合せにより行なうことができるため位
置精度も向上する0 また、以上の説明では一つの弁素子について説明してき
たが一つの基板上に同一の弁素子を多数同時に形成する
ことが可能で寸法や位[If精凝が艮いため特性のそろ
った弁素子を犬−に製作可能となるO
【図面の簡単な説明】
第1図(a) I(b) 、(c)は、従来の7「ンク
ジーットヘッド用弁素子の概略図、第2図(a) 、 
(b)はこの発明による弁素子の1実施例を説明するた
めの概略図、第3図(a) 〜(gl bよび第4図(
al 、 (b+ e (c)は、この発明による弁素
子の製造法の第1および第2の実施例を説明するための
概略断面図である。 なお、図において、101および201はインク通路、
102および202は弁座、103および203は弁、
104および105は腕、105および205は円環状
固定部部分、】o6および206は弁部材、301は基
板、302はカラス板、303は導電層、304はフォ
トレジスト層、304aは弁座の微細孔のパターン、3
05はフォトエレクトロフォーミングで形成された弁座
、306はスペーサ、307は導電層、308はフォト
レジスト層、309.310および311は、フォトレ
ジストによる弁、腕および固定部のパターン、312は
フォトエレクトロフォーミングで形成されだ弁部材、4
01はアルミニーラム層、402はフォトレジストパタ
ーン、403はスペーサである。 第7図 第2図 03 第3図 卓3図 案4図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、 流体が通る微細孔を有する弁座と、前記孔を覆う
    弁と、前記弁を支え流体の圧力に応じて前記弁を変位さ
    せる支持部と、前記支持部を前記弁座に取り付ける固定
    部とからなる弁素子において、前記弁座をフォトエレク
    トロフォーミングにより形成し、さらに前記弁、前記支
    持部および前記固定部を前記弁座上にフォトエレクトロ
    フォーミングにより形成することにより前記弁座、前記
    弁、前記支持部および前記固定部を一体化したことを特
    徴とする弁素子。 2、流体が通る微細な孔を有する弁座と、前記孔を覆う
    弁と、前記弁を支え流体の圧力に応じて前記弁を変位さ
    せる支持部と、前記支持部を前記弁座に取り付ける固定
    部とからなる弁素子を製造する方法において、少なくと
    も表面に導電層を有する基板上に所定の厚さのフォトレ
    ジストを塗布し、さらに鍍金する部分のレジストを取り
    除くことにより微細孔を有する弁座のパターンを形成す
    る工程と、前記レジストの無い部分を鍍金により概略前
    記レジストと同じ厚さまで所定の金属にて埋めて弁座を
    形成する工程と、前記弁座の表面に、前記弁および支持
    部と前記弁座との間に位置し、少なくとも表面層が導電
    性を有するスペーサを形成する工程と、前記スペーサが
    形成された弁座上に前記弁座の微細孔を覆うように配置
    されかつ前記微細孔より大きな所定の寸法形状を有する
    弁と前記弁の支持部および固定部とからなる弁部材のパ
    ターンをフォトレジストにより形成する工程と、前記弁
    部材のパターンを所定の金属で鍍金し弁部材を形成する
    工程と、前記基板、前記弁座パターンを形成したフォト
    レジスト、前記弁部材パターンを形成したフォトレジス
    トおよび前記スペーサを取り除く工程とからなることを
    特徴とする弁素子の製造方法。
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