JPS59101945A - デ−タハイウエイ診断方式 - Google Patents
デ−タハイウエイ診断方式Info
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- JPS59101945A JPS59101945A JP57211879A JP21187982A JPS59101945A JP S59101945 A JPS59101945 A JP S59101945A JP 57211879 A JP57211879 A JP 57211879A JP 21187982 A JP21187982 A JP 21187982A JP S59101945 A JPS59101945 A JP S59101945A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- test data
- converter
- highway
- line
- Prior art date
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- Pending
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-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04L—TRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
- H04L43/00—Arrangements for monitoring or testing data switching networks
- H04L43/50—Testing arrangements
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Small-Scale Networks (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（イ）発明の技術分野
本発明は通信回線の診断方法に係り、特に環状の伝送路
を有するデータハイウェイシステムにおけるハイウェイ
諒断方式に関する。
を有するデータハイウェイシステムにおけるハイウェイ
諒断方式に関する。
（に）従来技術と問題点
第１図はデータハイウェイの一般的構成を示す図であり
、図中１は監視装置、２〜４はステーションであり、各
ステーションは共通制御部（ＣＣ）と回線対応部（ＬＳ
−）とから成っている。５は伝送路であり、矢印はデー
タの流れを示す。蕗２図はハイウェイ診断の概念を示す
図であり、図中１は監視装置、１０〜１２はステーショ
ン２〜４（ＳＴＯ，１，２）の共通制御部、１３〜１５
はステーション２〜４の回線対応部、１６はテストデー
タ送信用メモリ（Ｍ、ＥＭｌ）、１７はテストデータ受
信用メモＩＪ （ＭＥＭ２）を示し、矢印はテストデー
タの流れを示す。
、図中１は監視装置、２〜４はステーションであり、各
ステーションは共通制御部（ＣＣ）と回線対応部（ＬＳ
−）とから成っている。５は伝送路であり、矢印はデー
タの流れを示す。蕗２図はハイウェイ診断の概念を示す
図であり、図中１は監視装置、１０〜１２はステーショ
ン２〜４（ＳＴＯ，１，２）の共通制御部、１３〜１５
はステーション２〜４の回線対応部、１６はテストデー
タ送信用メモリ（Ｍ、ＥＭｌ）、１７はテストデータ受
信用メモＩＪ （ＭＥＭ２）を示し、矢印はテストデー
タの流れを示す。
ＭＥＭｌから送出されたテストデータは伝送路を通って
ますＳＴＯに到着する。ＳＴＯに到着したテストデータ
はＳＴＯの共通制御部１０によってそのテストデータは
回線対応部へ送られ、そこで並列データの形式から直列
データの形式にいったん変換されたあと折返され、ふた
たび並列データに変換され共通制御部を通して伝送路に
送出される。ＳＴＯより送出されたテストデータは次に
ＳＴＩ、Ｓｒ１に向い、そこでもＳＴＯと同様の処理を
うけ監視装置に戻ってくる。監視装置に戻ったテストデ
ータはＭＥＭ２に格納され、その内容とＭＥＭｌの送信
テストデータを比較することによってハイウェイの診断
が行われる。
ますＳＴＯに到着する。ＳＴＯに到着したテストデータ
はＳＴＯの共通制御部１０によってそのテストデータは
回線対応部へ送られ、そこで並列データの形式から直列
データの形式にいったん変換されたあと折返され、ふた
たび並列データに変換され共通制御部を通して伝送路に
送出される。ＳＴＯより送出されたテストデータは次に
ＳＴＩ、Ｓｒ１に向い、そこでもＳＴＯと同様の処理を
うけ監視装置に戻ってくる。監視装置に戻ったテストデ
ータはＭＥＭ２に格納され、その内容とＭＥＭｌの送信
テストデータを比較することによってハイウェイの診断
が行われる。
第３図は従来のハイウェイ診断時における回線対応部の
構成を示す図、第４図はそのタイミングを示す図である
。以下、第３図、第４図によって従来のハイウェイ診断
時における回線対応部の動作およびテストデータ受信用
メモリに格納されるデータの様子を説明する。
構成を示す図、第４図はそのタイミングを示す図である
。以下、第３図、第４図によって従来のハイウェイ診断
時における回線対応部の動作およびテストデータ受信用
メモリに格納されるデータの様子を説明する。
第４図のＭＥＭＩはテストデータ送出用メモリを示し、
図では１ワードが３ビツトの構成となっており、テスト
データは１ワ一ド単位で伝送路上）送出される。ＭＥＭ
ｌより送出され、ステーションに到達したテストデータ
は共通制御部の処理によって１ワ一ド単位で第３図に示
す回線対応部のレジスタ２０に書込韮れる。第３図の２
１は並列データを直列データに変換するＰ／Ｓ変換器、
２２はＰ／Ｓ変換器２１に新しいデータを６ノ℃込むこ
とを指示するカウンタ、２３はカウンタ２２の出力であ
り、Ｐ／′Ｓ７Ｌ換器２１に対して次のデータを読込む
ことを指示する信号、ＣＬＫＲはＰ／Ｓ変換器２１およ
びカウンタ２２のタイミングクロックであり、本クロッ
クに同期してＰ／Ｓ変換器２１、カウンタ２２は動作す
る。レジスタ２０のデータを直列データに変換するタイ
ミンクを示したのが第４図のＣＬＫＲ，ＬＯＡＤ、ＲＤ
て示されるタイミングチャートである。ここでＬＯＡＤ
は第３図の２３に相当する信号、ＲＤはＰ／Ｓ変換器２
１の出力５に相当する信号である。また、Ｘはワード０
がくる前のＰ／Ｓ１１器の出力２４の状態を示しカ でいる。このタイミンクチャートからかがる様にＭＥＭ
Ｉより送出されたテストデータ（ワード０゜１．２
）はＬｏｈＤｔｇ号が１０”になる毎にレジスタ２０か
らｉテＧ出されＰ／Ｓ変換器２１によって直列データＲ
Ｄにｆｌ’Ａされる。第３図の２５はＰ／Ｓ変換器２１
の出力２４ （ＲＤ ）をＣＬ Ｋ Ｓによってサンプ
リングし、並列データに変換するＳ／Ｐ変換器、ここで
ＣＬＫＳはＣＬＫＲが反転したクロックであり、Ｐ／Ｓ
変換器２１の出力ＲＤはその中央でＳ／Ｐ変換器２５に
サンプリングされる。２６はＳ／Ｐｉ換器２５に１ワ一
ド分の並列データができる毎にその内容をレジスタ２７
に書込むための書込み信号２８を作成するカウンタを示
す。Ｐ／Ｓ変換器２１の直列データ出力を並列データに
変換する様子を示したのが第４図のＣＬＫＳ、５Ｔ−Ｒ
，ＳＤで示されるタイミングチャートである。
図では１ワードが３ビツトの構成となっており、テスト
データは１ワ一ド単位で伝送路上）送出される。ＭＥＭ
ｌより送出され、ステーションに到達したテストデータ
は共通制御部の処理によって１ワ一ド単位で第３図に示
す回線対応部のレジスタ２０に書込韮れる。第３図の２
１は並列データを直列データに変換するＰ／Ｓ変換器、
２２はＰ／Ｓ変換器２１に新しいデータを６ノ℃込むこ
とを指示するカウンタ、２３はカウンタ２２の出力であ
り、Ｐ／′Ｓ７Ｌ換器２１に対して次のデータを読込む
ことを指示する信号、ＣＬＫＲはＰ／Ｓ変換器２１およ
びカウンタ２２のタイミングクロックであり、本クロッ
クに同期してＰ／Ｓ変換器２１、カウンタ２２は動作す
る。レジスタ２０のデータを直列データに変換するタイ
ミンクを示したのが第４図のＣＬＫＲ，ＬＯＡＤ、ＲＤ
て示されるタイミングチャートである。ここでＬＯＡＤ
は第３図の２３に相当する信号、ＲＤはＰ／Ｓ変換器２
１の出力５に相当する信号である。また、Ｘはワード０
がくる前のＰ／Ｓ１１器の出力２４の状態を示しカ でいる。このタイミンクチャートからかがる様にＭＥＭ
Ｉより送出されたテストデータ（ワード０゜１．２
）はＬｏｈＤｔｇ号が１０”になる毎にレジスタ２０か
らｉテＧ出されＰ／Ｓ変換器２１によって直列データＲ
Ｄにｆｌ’Ａされる。第３図の２５はＰ／Ｓ変換器２１
の出力２４ （ＲＤ ）をＣＬ Ｋ Ｓによってサンプ
リングし、並列データに変換するＳ／Ｐ変換器、ここで
ＣＬＫＳはＣＬＫＲが反転したクロックであり、Ｐ／Ｓ
変換器２１の出力ＲＤはその中央でＳ／Ｐ変換器２５に
サンプリングされる。２６はＳ／Ｐｉ換器２５に１ワ一
ド分の並列データができる毎にその内容をレジスタ２７
に書込むための書込み信号２８を作成するカウンタを示
す。Ｐ／Ｓ変換器２１の直列データ出力を並列データに
変換する様子を示したのが第４図のＣＬＫＳ、５Ｔ−Ｒ
，ＳＤで示されるタイミングチャートである。
ここでＳＴＲはＳ／Ｐ変換器２５の出力をレジスタ２７
に１込む信号を示し、第３図の信号２８に相当する信号
であり、第４図に示すように本信号は、Ｓ／Ｐ変換器２
５が３ヒツト（１ワ一ド分）ＲＤをサンプリングする毎
に６０”から６１′に変化し、その変化によってそれ才
でサンプリングされた１ワ一ド分のデータ（ＳＤ）はレ
ジスタ２７に書込まれ、レジスタ２７から共通制御部を
通して伝送路に送出される。そして監視装置内のテスト
データ受信用メモリＭｇＭ２に入る。ここでＭＥＭ１内
の送信テストデータとＭＥＭＺ内の受信テストデータを
見るとＭＥＭ２内の受信テストデータの構成はＭＥＭｌ
の中のものにくらべ、ヒツトの位置がずれた形となって
いる。これはＰ／Ｓ変換部２１で直列データを送出し始
めるタイミングき、Ｓ／Ｐ変換部２５で並列データを組
立て始めるタイミングが同期していないために起きるも
ので、第４図のようにＭＥＭＩの送信テストデータの各
ワードのビット構成とＭＢＭ２の受信テストデータの各
ワードのビット構成がちがうと、単にワード単位でデー
タを読出し比較するわけにはいかず、ＭＥＭ２の内容を
組立て直す必要があり、その作業量はたいへんなもので
あった。
に１込む信号を示し、第３図の信号２８に相当する信号
であり、第４図に示すように本信号は、Ｓ／Ｐ変換器２
５が３ヒツト（１ワ一ド分）ＲＤをサンプリングする毎
に６０”から６１′に変化し、その変化によってそれ才
でサンプリングされた１ワ一ド分のデータ（ＳＤ）はレ
ジスタ２７に書込まれ、レジスタ２７から共通制御部を
通して伝送路に送出される。そして監視装置内のテスト
データ受信用メモリＭｇＭ２に入る。ここでＭＥＭ１内
の送信テストデータとＭＥＭＺ内の受信テストデータを
見るとＭＥＭ２内の受信テストデータの構成はＭＥＭｌ
の中のものにくらべ、ヒツトの位置がずれた形となって
いる。これはＰ／Ｓ変換部２１で直列データを送出し始
めるタイミングき、Ｓ／Ｐ変換部２５で並列データを組
立て始めるタイミングが同期していないために起きるも
ので、第４図のようにＭＥＭＩの送信テストデータの各
ワードのビット構成とＭＢＭ２の受信テストデータの各
ワードのビット構成がちがうと、単にワード単位でデー
タを読出し比較するわけにはいかず、ＭＥＭ２の内容を
組立て直す必要があり、その作業量はたいへんなもので
あった。
Ｅｌ 発明の目的
本発明は、テストデータ送出用メモリから送出されるテ
ストデータの各ワードのビット構成とハイウェイを一巡
してきたテストデータの各ワードのビット構成とが同じ
になるように回線対応部において制御することにより、
監視装置での送信テストデータと、受信テストデータの
比較診断が容易に行えるハイウェイ診断方式を提供する
ことを目的とする。
ストデータの各ワードのビット構成とハイウェイを一巡
してきたテストデータの各ワードのビット構成とが同じ
になるように回線対応部において制御することにより、
監視装置での送信テストデータと、受信テストデータの
比較診断が容易に行えるハイウェイ診断方式を提供する
ことを目的とする。
に）発明の構成
上記目的を達成するために、本発明は環状データ伝送路
に監視装置および複数のステーションノードが接続され
、該ステーションノードは、データ端末装置等を接続す
るための回線対応部と、該回線対応部の制御を行う共通
制御部から構成され、上記環状データ伝送路との間詔よ
び上記データ端末装置との間において直列データ形式で
データの送受が行われ、ハイウェイ診断時には当該ステ
ーションノード内において上記直列データがいったん並
列データに変換されて処理されるよう構成されたデータ
ハイウェイシステムであって、上記監視装置内にもうけ
られたテストデータ送出用メモリからのテストデータを
環状データ伝送路に送出し、該テストデータを各ステー
ションノードの回線対応部の端末側位置にて折返すこと
によって環状データ伝送路を一巡してきたテストデータ
を上記監視装置内にもうけられたテストデータ受信用メ
モリに省込み、上記テストデータ送出用メモリとテスト
データ受信用メモリの内容を比較することによって環状
データ伝送路および各ステーションノード（共通制御部
、回線対応部等）の動作の診断を行うよう構成されたデ
ータハイウェイシステムにおいて、上記回線対応部に、
上記共通制御部から転送されてくる並列データを直列デ
ータに変換し、ふたたび並列データに変換する際に共通
制御部から回線対応部に入ってくるデータと回線対応部
から共通制御部に出力されるデータの各ワードのビット
構成が同じになるように制御する手段をもうけることに
より監視装置から現状伝送路へ送出される送信テストデ
ータと、環状伝送路を一巡して監視装置にもどってくる
受信テストデータの各ワードのピッ構成が同じになるよ
うに構成したことを特徴とする。
に監視装置および複数のステーションノードが接続され
、該ステーションノードは、データ端末装置等を接続す
るための回線対応部と、該回線対応部の制御を行う共通
制御部から構成され、上記環状データ伝送路との間詔よ
び上記データ端末装置との間において直列データ形式で
データの送受が行われ、ハイウェイ診断時には当該ステ
ーションノード内において上記直列データがいったん並
列データに変換されて処理されるよう構成されたデータ
ハイウェイシステムであって、上記監視装置内にもうけ
られたテストデータ送出用メモリからのテストデータを
環状データ伝送路に送出し、該テストデータを各ステー
ションノードの回線対応部の端末側位置にて折返すこと
によって環状データ伝送路を一巡してきたテストデータ
を上記監視装置内にもうけられたテストデータ受信用メ
モリに省込み、上記テストデータ送出用メモリとテスト
データ受信用メモリの内容を比較することによって環状
データ伝送路および各ステーションノード（共通制御部
、回線対応部等）の動作の診断を行うよう構成されたデ
ータハイウェイシステムにおいて、上記回線対応部に、
上記共通制御部から転送されてくる並列データを直列デ
ータに変換し、ふたたび並列データに変換する際に共通
制御部から回線対応部に入ってくるデータと回線対応部
から共通制御部に出力されるデータの各ワードのビット
構成が同じになるように制御する手段をもうけることに
より監視装置から現状伝送路へ送出される送信テストデ
ータと、環状伝送路を一巡して監視装置にもどってくる
受信テストデータの各ワードのピッ構成が同じになるよ
うに構成したことを特徴とする。
（ホ）発明の実施例
第５図は本発明による一実施例によるハイウェイ診断時
の回線対応部の＃ｔｐを示す図であり、図中３０は共通
制御部によりデータがセットされるレジスタ、３１はレ
ジスタ３０のデータを読出しＣＩ、−ＫＲに同期して直
列データに変換するＰ／Ｓ変換器、３２はＰ／Ｓ変換器
３１に対してレジスタ３０のデータを読込むこきを指示
する信号３３を発生するカウンタ、３４はＰ／Ｓ変換器
３１の出力で回線対応部の内部（実線）または折返しコ
ネクタ等により外部（破線）で折返されＳ／Ｐ変換器３
５に入力されている。３５は入力データをＣＬＫＳに同
期して並列データに変換するＳ／Ｐ変換献３６はＳ／Ｐ
変換器３５にて１ワードの並列データが作成されたこと
を監視し、レジスタ３７に対してデータ書込み信号を発
生するカウンタ、３８は本発明によるワード同期回路で
カウンタ３２の出力またはカウンタ３６の出力のうちい
ずれか一方をレジスタ３７のデータ書込み信号３９とし
て選択するセレクタで、例えば第６図に示すような構成
となっている。ＷＲＡＰはハイウェイ診断中であるこＬ
を示す信号で、ＷＲＡＰ信号が有効のときセレクタ３８
はカウンタ３２の出力３３をレジスタ３７のデータ書込
み信号として選択する。３７はＳ／Ｐｉ換器３５の出力
データを読込み共通制御部へ出力するレジスタを示す。
の回線対応部の＃ｔｐを示す図であり、図中３０は共通
制御部によりデータがセットされるレジスタ、３１はレ
ジスタ３０のデータを読出しＣＩ、−ＫＲに同期して直
列データに変換するＰ／Ｓ変換器、３２はＰ／Ｓ変換器
３１に対してレジスタ３０のデータを読込むこきを指示
する信号３３を発生するカウンタ、３４はＰ／Ｓ変換器
３１の出力で回線対応部の内部（実線）または折返しコ
ネクタ等により外部（破線）で折返されＳ／Ｐ変換器３
５に入力されている。３５は入力データをＣＬＫＳに同
期して並列データに変換するＳ／Ｐ変換献３６はＳ／Ｐ
変換器３５にて１ワードの並列データが作成されたこと
を監視し、レジスタ３７に対してデータ書込み信号を発
生するカウンタ、３８は本発明によるワード同期回路で
カウンタ３２の出力またはカウンタ３６の出力のうちい
ずれか一方をレジスタ３７のデータ書込み信号３９とし
て選択するセレクタで、例えば第６図に示すような構成
となっている。ＷＲＡＰはハイウェイ診断中であるこＬ
を示す信号で、ＷＲＡＰ信号が有効のときセレクタ３８
はカウンタ３２の出力３３をレジスタ３７のデータ書込
み信号として選択する。３７はＳ／Ｐｉ換器３５の出力
データを読込み共通制御部へ出力するレジスタを示す。
才た、ＣＬＫＳはＣ−ＬＫＲが反転されたクロックとな
っており、Ｐ／Ｓ変換器３１の出力データをその中央で
Ｓ／Ｐ変換器３５にサンプリングするようになっている
。
っており、Ｐ／Ｓ変換器３１の出力データをその中央で
Ｓ／Ｐ変換器３５にサンプリングするようになっている
。
第７図は第５図におけるタイミンクを示す図である。以
下第５図、第７図を用いて本発明による回線対応部の動
作および、テストデータ送信用メモリ（ＭＥＭＩ）とテ
ストデータ受信用メモリ（ＭＥＭ２）に入る受傷テスト
データの状態を説明する。
下第５図、第７図を用いて本発明による回線対応部の動
作および、テストデータ送信用メモリ（ＭＥＭＩ）とテ
ストデータ受信用メモリ（ＭＥＭ２）に入る受傷テスト
データの状態を説明する。
第７図のＭＥＭＩは送もテストデータか格納されている
メモリを示し、１ワードは３ヒツトて構成されており、
テストデータは１ワ一ド単位で監視装置より伝送路に送
出される。伝送路に送出されたテストデータはステーシ
ョンに到着すると共通制御部によって、第５図に示す回
線対応部のレジスタ３０にセットされる。レジスタ３０
にセットされたデータはＰ／Ｓ変換器３１によって読出
されＣＬＫＲに同期して直列データに変換される。
メモリを示し、１ワードは３ヒツトて構成されており、
テストデータは１ワ一ド単位で監視装置より伝送路に送
出される。伝送路に送出されたテストデータはステーシ
ョンに到着すると共通制御部によって、第５図に示す回
線対応部のレジスタ３０にセットされる。レジスタ３０
にセットされたデータはＰ／Ｓ変換器３１によって読出
されＣＬＫＲに同期して直列データに変換される。
そのタイミングを示したのが第７図のＣＬＫＲ，Ｌ−Ｏ
ＡＤ、ＲＤで示されるタイミングチャートであり、ここ
でＬＯＡＤはＰ／Ｓ変換器３１にレジスタ３０よりデー
タを読出ずことを指示する信号て第５図の信号３３に相
当する信号、ＲＤはＰ／Ｓ変換器３１の出力３４に相当
する。
ＡＤ、ＲＤで示されるタイミングチャートであり、ここ
でＬＯＡＤはＰ／Ｓ変換器３１にレジスタ３０よりデー
タを読出ずことを指示する信号て第５図の信号３３に相
当する信号、ＲＤはＰ／Ｓ変換器３１の出力３４に相当
する。
第７図よりわかるとおり、レジスタ３０にセットされた
データ（ワード０，１．２・・・ ）はＬＯＡＤが“０
″になる毎にＰ／Ｓ変換器３１によって読出され、ＲＤ
で示されるような直列データに変換される。部列データ
に変換されたデータは回線対応部の内部または外部で折
返されＳ／Ｐ変換器３５に入る。Ｓ／Ｐ変換器３５では
直列デー・夕に変換されたデータＲ’ＤをＣＬＫＳによ
ってサンプリングして並列データに変換し、その出力は
レジスタ３７にセットされるが、このときレジスタ３７
のデータ書込み信号（ＳＴ’Ｒ）としてＬＯＡＤ伯号が
信号されているためＳ／Ｐ変換器３５がテストデータの
各ワードの最後のビット（図ではデータｃ、ｆ。
データ（ワード０，１．２・・・ ）はＬＯＡＤが“０
″になる毎にＰ／Ｓ変換器３１によって読出され、ＲＤ
で示されるような直列データに変換される。部列データ
に変換されたデータは回線対応部の内部または外部で折
返されＳ／Ｐ変換器３５に入る。Ｓ／Ｐ変換器３５では
直列デー・夕に変換されたデータＲ’ＤをＣＬＫＳによ
ってサンプリングして並列データに変換し、その出力は
レジスタ３７にセットされるが、このときレジスタ３７
のデータ書込み信号（ＳＴ’Ｒ）としてＬＯＡＤ伯号が
信号されているためＳ／Ｐ変換器３５がテストデータの
各ワードの最後のビット（図ではデータｃ、ｆ。
ｉ、ｌ ）をサンプリングしたときＳＴＲは０”から”
１′へと変化し、このタイミンクでＳ／Ｐ変換器３５の
出力はレジスタ３７にセットされる。このときセットさ
れる各ワードのビット構成は共通制御部から回線対応部
に送られてくるデータの各ワードのヒッｈｍ成と同じで
あり、それは共通制御部を通して伝送路へ送出されて監
視装置にもどりＭＥＭ２に格納される。こうすることに
より第７図に示すようにＭＥＭ２にはＭＥＭＩと同じワ
ード構成のデータが入る。ＭＥＭＩのテストデータと同
じワード構成であれはその内容を比較するのは簡単で、
ＭＥＭ １ 、 Ｍ、ＥＭ ２より１ワードすつデータ
をとり出し比べれは良く、従来のようにＭ Ｅ Ｍ ２
のデータを組立て直したすせずにすむために監視装置で
の制御が非常に簡単になる。
１′へと変化し、このタイミンクでＳ／Ｐ変換器３５の
出力はレジスタ３７にセットされる。このときセットさ
れる各ワードのビット構成は共通制御部から回線対応部
に送られてくるデータの各ワードのヒッｈｍ成と同じで
あり、それは共通制御部を通して伝送路へ送出されて監
視装置にもどりＭＥＭ２に格納される。こうすることに
より第７図に示すようにＭＥＭ２にはＭＥＭＩと同じワ
ード構成のデータが入る。ＭＥＭＩのテストデータと同
じワード構成であれはその内容を比較するのは簡単で、
ＭＥＭ １ 、 Ｍ、ＥＭ ２より１ワードすつデータ
をとり出し比べれは良く、従来のようにＭ Ｅ Ｍ ２
のデータを組立て直したすせずにすむために監視装置で
の制御が非常に簡単になる。
（へ）発明の効果
本発明によれは、受傷テストデータを送イ８テストデー
タの内容と比較する場合ワード単位の比較作業だけです
み、愛情テストデータを組立て直す必要がなくなるため
に監視装置での制御が非常に簡単になる。
タの内容と比較する場合ワード単位の比較作業だけです
み、愛情テストデータを組立て直す必要がなくなるため
に監視装置での制御が非常に簡単になる。
第１図は一般的なデータハイウェイの構成を示す図、第
２図はハイウェイ診断方法の概念を示す図、第３図は従
来のハイウェイ診断時における回線対応部の構成を示す
図、第４図は第３図に示す回線対応部の動作を示すタイ
ミングチャート、第５図は本発明の一実施例によるハイ
ウェイ診断時の回線対応部の構成を示す図、第６図はセ
レクタの構成例を示す図、第７図は第５図図示実施例の
回線対応部の動作を示すタイミンクチャートである。
２図はハイウェイ診断方法の概念を示す図、第３図は従
来のハイウェイ診断時における回線対応部の構成を示す
図、第４図は第３図に示す回線対応部の動作を示すタイ
ミングチャート、第５図は本発明の一実施例によるハイ
ウェイ診断時の回線対応部の構成を示す図、第６図はセ
レクタの構成例を示す図、第７図は第５図図示実施例の
回線対応部の動作を示すタイミンクチャートである。
Claims (1)
- 環状データ伝送路に監視装置および複数のステーション
ノードか接続され、該ステーションノードは、データ端
末装置等を接続するための回線対応部と、該回線対応部
の制御を行う共通制御部から構成され、上記環状データ
伝送路との間および上記データ端末装置との間において
直列データ形式でデータの送受が行われ、ハイウェイ診
断時には当該ステーションノード内において上記直列デ
ータがいったん並列データに変換されて処理されるよう
構成されたデータハイウェイシステムであって、上記監
視装置内にもうけられたテス・トデータ送出用メモリか
らのテストデータを環状データ伝送路に送出し、該テス
トデータを各ステーションノードの回線対応部の端末側
位置にて折返すことによって環状データ伝送路を一巡し
てきたテストデータを上記監視装置内にもうけられたテ
ストデータ受信用メモリに書込み、上記テストデータ送
出用メモリとテストデータ受信用メモリの内容を比較す
ることによって環状データ伝送路および各ステーション
ノード（共通制御部、回線対応部等）の動作の診断を行
うよう構成されたデータハイウェイシステムにおいて、
上記回線対応部ｌこ、上記共通制御部からの並列データ
を直列データに変換し、ふたたび並列データに変換する
際に、共通制御部から回線対応部に入ってくるデータと
回線対応部より共通制御部に出力されるデータの各ワー
ドのビット構成が同じになるよう制御する手段をもうけ
ることにより監視装置から環状伝送路へ送出される送信
テストデータと環状伝送路を一巡して監視装置にもどっ
てくる受信テストデータの各ワードのビット構成が同じ
になるように構成したことを特徴とするデータハイウェ
イ診断方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57211879A JPS59101945A (ja) | 1982-12-02 | 1982-12-02 | デ−タハイウエイ診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57211879A JPS59101945A (ja) | 1982-12-02 | 1982-12-02 | デ−タハイウエイ診断方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59101945A true JPS59101945A (ja) | 1984-06-12 |
Family
ID=16613129
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57211879A Pending JPS59101945A (ja) | 1982-12-02 | 1982-12-02 | デ−タハイウエイ診断方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59101945A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04297757A (ja) * | 1991-03-12 | 1992-10-21 | Mitsubishi Electric Corp | 冷凍装置 |
| JP2017126858A (ja) * | 2016-01-13 | 2017-07-20 | 株式会社デンソー | 電子制御装置 |
-
1982
- 1982-12-02 JP JP57211879A patent/JPS59101945A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04297757A (ja) * | 1991-03-12 | 1992-10-21 | Mitsubishi Electric Corp | 冷凍装置 |
| JP2017126858A (ja) * | 2016-01-13 | 2017-07-20 | 株式会社デンソー | 電子制御装置 |
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