JPS59101945A - デ−タハイウエイ診断方式 - Google Patents

デ−タハイウエイ診断方式

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Publication number
JPS59101945A
JPS59101945A JP57211879A JP21187982A JPS59101945A JP S59101945 A JPS59101945 A JP S59101945A JP 57211879 A JP57211879 A JP 57211879A JP 21187982 A JP21187982 A JP 21187982A JP S59101945 A JPS59101945 A JP S59101945A
Authority
JP
Japan
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data
test data
converter
highway
line
Prior art date
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Pending
Application number
JP57211879A
Other languages
English (en)
Inventor
Osamu Nakamura
修 中村
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPS59101945A publication Critical patent/JPS59101945A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L43/00Arrangements for monitoring or testing data switching networks
    • H04L43/50Testing arrangements

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Small-Scale Networks (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (イ)発明の技術分野 本発明は通信回線の診断方法に係り、特に環状の伝送路
を有するデータハイウェイシステムにおけるハイウェイ
諒断方式に関する。
(に)従来技術と問題点 第1図はデータハイウェイの一般的構成を示す図であり
、図中1は監視装置、2〜4はステーションであり、各
ステーションは共通制御部(CC)と回線対応部(LS
−)とから成っている。5は伝送路であり、矢印はデー
タの流れを示す。蕗2図はハイウェイ診断の概念を示す
図であり、図中1は監視装置、10〜12はステーショ
ン2〜4(STO,1,2)の共通制御部、13〜15
はステーション2〜4の回線対応部、16はテストデー
タ送信用メモリ(M、EMl)、17はテストデータ受
信用メモIJ (MEM2)を示し、矢印はテストデー
タの流れを示す。
MEMlから送出されたテストデータは伝送路を通って
ますSTOに到着する。STOに到着したテストデータ
はSTOの共通制御部10によってそのテストデータは
回線対応部へ送られ、そこで並列データの形式から直列
データの形式にいったん変換されたあと折返され、ふた
たび並列データに変換され共通制御部を通して伝送路に
送出される。STOより送出されたテストデータは次に
STI、Sr1に向い、そこでもSTOと同様の処理を
うけ監視装置に戻ってくる。監視装置に戻ったテストデ
ータはMEM2に格納され、その内容とMEMlの送信
テストデータを比較することによってハイウェイの診断
が行われる。
第3図は従来のハイウェイ診断時における回線対応部の
構成を示す図、第4図はそのタイミングを示す図である
。以下、第3図、第4図によって従来のハイウェイ診断
時における回線対応部の動作およびテストデータ受信用
メモリに格納されるデータの様子を説明する。
第4図のMEMIはテストデータ送出用メモリを示し、
図では1ワードが3ビツトの構成となっており、テスト
データは1ワ一ド単位で伝送路上)送出される。MEM
lより送出され、ステーションに到達したテストデータ
は共通制御部の処理によって1ワ一ド単位で第3図に示
す回線対応部のレジスタ20に書込韮れる。第3図の2
1は並列データを直列データに変換するP/S変換器、
22はP/S変換器21に新しいデータを6ノ℃込むこ
とを指示するカウンタ、23はカウンタ22の出力であ
り、P/′S7L換器21に対して次のデータを読込む
ことを指示する信号、CLKRはP/S変換器21およ
びカウンタ22のタイミングクロックであり、本クロッ
クに同期してP/S変換器21、カウンタ22は動作す
る。レジスタ20のデータを直列データに変換するタイ
ミンクを示したのが第4図のCLKR,LOAD、RD
て示されるタイミングチャートである。ここでLOAD
は第3図の23に相当する信号、RDはP/S変換器2
1の出力5に相当する信号である。また、Xはワード0
がくる前のP/S11器の出力24の状態を示しカ でいる。このタイミンクチャートからかがる様にMEM
Iより送出されたテストデータ(ワード0゜1.2  
)はLohDtg号が10”になる毎にレジスタ20か
らiテG出されP/S変換器21によって直列データR
Dにfl’Aされる。第3図の25はP/S変換器21
の出力24 (RD )をCL K Sによってサンプ
リングし、並列データに変換するS/P変換器、ここで
CLKSはCLKRが反転したクロックであり、P/S
変換器21の出力RDはその中央でS/P変換器25に
サンプリングされる。26はS/Pi換器25に1ワ一
ド分の並列データができる毎にその内容をレジスタ27
に書込むための書込み信号28を作成するカウンタを示
す。P/S変換器21の直列データ出力を並列データに
変換する様子を示したのが第4図のCLKS、5T−R
,SDで示されるタイミングチャートである。
ここでSTRはS/P変換器25の出力をレジスタ27
に1込む信号を示し、第3図の信号28に相当する信号
であり、第4図に示すように本信号は、S/P変換器2
5が3ヒツト(1ワ一ド分)RDをサンプリングする毎
に60”から61′に変化し、その変化によってそれ才
でサンプリングされた1ワ一ド分のデータ(SD)はレ
ジスタ27に書込まれ、レジスタ27から共通制御部を
通して伝送路に送出される。そして監視装置内のテスト
データ受信用メモリMgM2に入る。ここでMEM1内
の送信テストデータとMEMZ内の受信テストデータを
見るとMEM2内の受信テストデータの構成はMEMl
の中のものにくらべ、ヒツトの位置がずれた形となって
いる。これはP/S変換部21で直列データを送出し始
めるタイミングき、S/P変換部25で並列データを組
立て始めるタイミングが同期していないために起きるも
ので、第4図のようにMEMIの送信テストデータの各
ワードのビット構成とMBM2の受信テストデータの各
ワードのビット構成がちがうと、単にワード単位でデー
タを読出し比較するわけにはいかず、MEM2の内容を
組立て直す必要があり、その作業量はたいへんなもので
あった。
El  発明の目的 本発明は、テストデータ送出用メモリから送出されるテ
ストデータの各ワードのビット構成とハイウェイを一巡
してきたテストデータの各ワードのビット構成とが同じ
になるように回線対応部において制御することにより、
監視装置での送信テストデータと、受信テストデータの
比較診断が容易に行えるハイウェイ診断方式を提供する
ことを目的とする。
に)発明の構成 上記目的を達成するために、本発明は環状データ伝送路
に監視装置および複数のステーションノードが接続され
、該ステーションノードは、データ端末装置等を接続す
るための回線対応部と、該回線対応部の制御を行う共通
制御部から構成され、上記環状データ伝送路との間詔よ
び上記データ端末装置との間において直列データ形式で
データの送受が行われ、ハイウェイ診断時には当該ステ
ーションノード内において上記直列データがいったん並
列データに変換されて処理されるよう構成されたデータ
ハイウェイシステムであって、上記監視装置内にもうけ
られたテストデータ送出用メモリからのテストデータを
環状データ伝送路に送出し、該テストデータを各ステー
ションノードの回線対応部の端末側位置にて折返すこと
によって環状データ伝送路を一巡してきたテストデータ
を上記監視装置内にもうけられたテストデータ受信用メ
モリに省込み、上記テストデータ送出用メモリとテスト
データ受信用メモリの内容を比較することによって環状
データ伝送路および各ステーションノード(共通制御部
、回線対応部等)の動作の診断を行うよう構成されたデ
ータハイウェイシステムにおいて、上記回線対応部に、
上記共通制御部から転送されてくる並列データを直列デ
ータに変換し、ふたたび並列データに変換する際に共通
制御部から回線対応部に入ってくるデータと回線対応部
から共通制御部に出力されるデータの各ワードのビット
構成が同じになるように制御する手段をもうけることに
より監視装置から現状伝送路へ送出される送信テストデ
ータと、環状伝送路を一巡して監視装置にもどってくる
受信テストデータの各ワードのピッ構成が同じになるよ
うに構成したことを特徴とする。
(ホ)発明の実施例 第5図は本発明による一実施例によるハイウェイ診断時
の回線対応部の#tpを示す図であり、図中30は共通
制御部によりデータがセットされるレジスタ、31はレ
ジスタ30のデータを読出しCI、−KRに同期して直
列データに変換するP/S変換器、32はP/S変換器
31に対してレジスタ30のデータを読込むこきを指示
する信号33を発生するカウンタ、34はP/S変換器
31の出力で回線対応部の内部(実線)または折返しコ
ネクタ等により外部(破線)で折返されS/P変換器3
5に入力されている。35は入力データをCLKSに同
期して並列データに変換するS/P変換献36はS/P
変換器35にて1ワードの並列データが作成されたこと
を監視し、レジスタ37に対してデータ書込み信号を発
生するカウンタ、38は本発明によるワード同期回路で
カウンタ32の出力またはカウンタ36の出力のうちい
ずれか一方をレジスタ37のデータ書込み信号39とし
て選択するセレクタで、例えば第6図に示すような構成
となっている。WRAPはハイウェイ診断中であるこL
を示す信号で、WRAP信号が有効のときセレクタ38
はカウンタ32の出力33をレジスタ37のデータ書込
み信号として選択する。37はS/Pi換器35の出力
データを読込み共通制御部へ出力するレジスタを示す。
才た、CLKSはC−LKRが反転されたクロックとな
っており、P/S変換器31の出力データをその中央で
S/P変換器35にサンプリングするようになっている
第7図は第5図におけるタイミンクを示す図である。以
下第5図、第7図を用いて本発明による回線対応部の動
作および、テストデータ送信用メモリ(MEMI)とテ
ストデータ受信用メモリ(MEM2)に入る受傷テスト
データの状態を説明する。
第7図のMEMIは送もテストデータか格納されている
メモリを示し、1ワードは3ヒツトて構成されており、
テストデータは1ワ一ド単位で監視装置より伝送路に送
出される。伝送路に送出されたテストデータはステーシ
ョンに到着すると共通制御部によって、第5図に示す回
線対応部のレジスタ30にセットされる。レジスタ30
にセットされたデータはP/S変換器31によって読出
されCLKRに同期して直列データに変換される。
そのタイミングを示したのが第7図のCLKR,L−O
AD、RDで示されるタイミングチャートであり、ここ
でLOADはP/S変換器31にレジスタ30よりデー
タを読出ずことを指示する信号て第5図の信号33に相
当する信号、RDはP/S変換器31の出力34に相当
する。
第7図よりわかるとおり、レジスタ30にセットされた
データ(ワード0,1.2・・・ )はLOADが“0
″になる毎にP/S変換器31によって読出され、RD
で示されるような直列データに変換される。部列データ
に変換されたデータは回線対応部の内部または外部で折
返されS/P変換器35に入る。S/P変換器35では
直列デー・夕に変換されたデータR’DをCLKSによ
ってサンプリングして並列データに変換し、その出力は
レジスタ37にセットされるが、このときレジスタ37
のデータ書込み信号(ST’R)としてLOAD伯号が
信号されているためS/P変換器35がテストデータの
各ワードの最後のビット(図ではデータc、f。
i、l )をサンプリングしたときSTRは0”から”
1′へと変化し、このタイミンクでS/P変換器35の
出力はレジスタ37にセットされる。このときセットさ
れる各ワードのビット構成は共通制御部から回線対応部
に送られてくるデータの各ワードのヒッhm成と同じで
あり、それは共通制御部を通して伝送路へ送出されて監
視装置にもどりMEM2に格納される。こうすることに
より第7図に示すようにMEM2にはMEMIと同じワ
ード構成のデータが入る。MEMIのテストデータと同
じワード構成であれはその内容を比較するのは簡単で、
MEM 1 、 M、EM 2より1ワードすつデータ
をとり出し比べれは良く、従来のようにM E M 2
のデータを組立て直したすせずにすむために監視装置で
の制御が非常に簡単になる。
(へ)発明の効果 本発明によれは、受傷テストデータを送イ8テストデー
タの内容と比較する場合ワード単位の比較作業だけです
み、愛情テストデータを組立て直す必要がなくなるため
に監視装置での制御が非常に簡単になる。
【図面の簡単な説明】
第1図は一般的なデータハイウェイの構成を示す図、第
2図はハイウェイ診断方法の概念を示す図、第3図は従
来のハイウェイ診断時における回線対応部の構成を示す
図、第4図は第3図に示す回線対応部の動作を示すタイ
ミングチャート、第5図は本発明の一実施例によるハイ
ウェイ診断時の回線対応部の構成を示す図、第6図はセ
レクタの構成例を示す図、第7図は第5図図示実施例の
回線対応部の動作を示すタイミンクチャートである。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 環状データ伝送路に監視装置および複数のステーション
    ノードか接続され、該ステーションノードは、データ端
    末装置等を接続するための回線対応部と、該回線対応部
    の制御を行う共通制御部から構成され、上記環状データ
    伝送路との間および上記データ端末装置との間において
    直列データ形式でデータの送受が行われ、ハイウェイ診
    断時には当該ステーションノード内において上記直列デ
    ータがいったん並列データに変換されて処理されるよう
    構成されたデータハイウェイシステムであって、上記監
    視装置内にもうけられたテス・トデータ送出用メモリか
    らのテストデータを環状データ伝送路に送出し、該テス
    トデータを各ステーションノードの回線対応部の端末側
    位置にて折返すことによって環状データ伝送路を一巡し
    てきたテストデータを上記監視装置内にもうけられたテ
    ストデータ受信用メモリに書込み、上記テストデータ送
    出用メモリとテストデータ受信用メモリの内容を比較す
    ることによって環状データ伝送路および各ステーション
    ノード(共通制御部、回線対応部等)の動作の診断を行
    うよう構成されたデータハイウェイシステムにおいて、
    上記回線対応部lこ、上記共通制御部からの並列データ
    を直列データに変換し、ふたたび並列データに変換する
    際に、共通制御部から回線対応部に入ってくるデータと
    回線対応部より共通制御部に出力されるデータの各ワー
    ドのビット構成が同じになるよう制御する手段をもうけ
    ることにより監視装置から環状伝送路へ送出される送信
    テストデータと環状伝送路を一巡して監視装置にもどっ
    てくる受信テストデータの各ワードのビット構成が同じ
    になるように構成したことを特徴とするデータハイウェ
    イ診断方式。
JP57211879A 1982-12-02 1982-12-02 デ−タハイウエイ診断方式 Pending JPS59101945A (ja)

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JP57211879A JPS59101945A (ja) 1982-12-02 1982-12-02 デ−タハイウエイ診断方式

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JPS59101945A true JPS59101945A (ja) 1984-06-12

Family

ID=16613129

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JP57211879A Pending JPS59101945A (ja) 1982-12-02 1982-12-02 デ−タハイウエイ診断方式

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JP (1) JPS59101945A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04297757A (ja) * 1991-03-12 1992-10-21 Mitsubishi Electric Corp 冷凍装置
JP2017126858A (ja) * 2016-01-13 2017-07-20 株式会社デンソー 電子制御装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04297757A (ja) * 1991-03-12 1992-10-21 Mitsubishi Electric Corp 冷凍装置
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