JPS5892972A - 静電／電子写真画像発生媒体上の較正された見かけの表面電圧を測定する装置および方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は静電／電子写真媒体上の見かけの表面電圧Ｉｋ
測測定るための装置に関するものであり、更に詳しくい
えば、正確な見かけの表面電圧測定に影響を及ぼす温度
、相対湿度、および電気回路の性能の変化を補償するた
めの較正器を有するそのような装置に関するものである
。

近年、ハードコピー・コンピュータ出力のために、写真
複写のために、、一般的に用いられている、静電／電子
写真技術なデータ処理産業が採用している。たとえば、
レーザ・プリンタが開発されている。このレーザ・プリ
ンタにおいては、電子写真ドラムを横切って走査させら
れるレーザ・ビームを変調するために、希望のコンピュ
ータ出力に対応するデジタルデータが用いられる。そし
て。

対応するプリントされた出力は標準的な電子写真担像技
術により得られる。そのような電子写真プリント装置は
シリンドの速度、シリンド品質および信頼度の面で従来
の機械的なプリンタよりはるかに優れている。史に、電
子写真プリント技術はフォントとグラフィックスの性能
の面で他の種類のプリンタよりはるかに大きな融通性を
有する。

電子写真技術を大容量のコンピュータ出カブリントに応
用する際の王な設計上の問題点は、出カシリントの品質
を維持すること、と（に多（のデータ処理の応用では比
較的管理されないで機能する出カブリント動作を行うこ
とを必要とする。プリント品質のための２つの主な基準
は（ａ）プリントの黒さくコントラス）　）　、　（ｂ
）背景のきれいさ、である。電子写真複写機はプリント
の黒さすなわちコントラストと背景のきれいさとの面で
プリントの品質が変動する出力コピーを生ずるのが普通
であるが、ユーザーはそのような変動な一般に訂してい
る。しかし、電子写真プリンタの場合には。

シリンドされた出力の品質が一貫して高いものであるこ
とを期待している。とくに、写真複写で普通に見られる
しみ、すじなどのないきれいな背景のシリンドされた出
力なユーザーは期待するものである。そして、背景がき
れいであれば、プリントのコントラストの変動に対して
ユーザーはかなり寛容となる。

電子１真プリントの品質に影響を及ぼす最も重散な・ぞ
ラメータの１つは電子写真画像発生媒体。

たとえば電子写真ドラムの光導電面、上の見かけの表面
電圧（ＡＳＶ）である。ＡＳＶというのは、ｊｔ。

導電面上の電荷密度を表すものであって、その大きさは
現像された画ｇＩ（すなわち、プリント出力）の光密度
を支配する。周知の電子写真技術に従って０回転ドラム
の光導電面上のＡＳＶがコロナ放電と１１元な用いて制
御され、希望の出力の静電像を生ずる。

これを示すために例をあげれば、市販の電子写真装置は
（ａ）光導電面を２０００Ｖ台の高い正の電位すなわち
ＡＳｖまで最初に充電する第１の正のコロナと、（ｂ）
光導電面の対応する部分が露光された時に負の電荷を与
える第２の負のコロナと、を含む。

その結果、光学的に露光されていない領域のＡＳＶが正
の４００〜５００■まで低くなり、露光された領域のＡ
ＳＶが負の印〜９０Ｖまで低（なり、それにより静電ｇ
Ｉを形成する。正のＡＳＶは希望のプリント像に対応し
、負のＡＳＶはプリントされない背景に対応するから、
負に帯電されているトを一粒子を光導電面に接触させる
ことにより静電像が現偉される。その光導電面において
それらのトナーは正のＡＳＶプリント儂に耐着して紙に
最終的に転写される。

高品質のプリント出力を得るために５元導電面のプリン
ト像と背景とに対応するそれぞれの部分におけるＡＳＶ
のレベルは明確な範囲内になければ夫 ならない、したがって、上に例示した電子写真技術に対
しては、プリント画像のためのＡＳＶ正の４００〜５０
０台でなければならず、背景Ａ８Ｖは負の印〜９（）Ｖ
の範囲でなければならない。とくに。背景Ａ８Ｖが負の
６０ｖ以下であるとすると、負に帯電しているトナー粒
子が十分に反発されないから、い（らかの粒子が光導電
面の背景画像部分に耐着して、写真複写に一般的に見ら
れるしみ、すしなどが生ずることになる。一方、背景Ａ
ＳＷが負の％Ｖ以下であるとすると、共通のトナー／キ
ャリヤ粒子現儂技術の場合には、正に帯電しているキャ
リヤ粒子のうちのい（らかが、耐着している負のトナー
粒子とＥもに１元導電面に転写されて背景が汚れる結果
となる。

光導電面上の適切なＡ８Ｖレベルはコロナ放電の振幅と
光学的な画像発生の強さとを制御することにより確立さ
れる。不幸なことに、与えられたコロナ振幅と光の強さ
とに対して、温度変化、相対湿度の変化、電気回路の性
能の変化のような制御できない数多くの原甲と、既に存
在しているＡＳＶｌ、ｉ のヒステリシス効果とのためにＡＳＷが時間的に変動す
ることになる。実際に、それらの環境要因と電気的要因
は電子写真法の出力の品質の紡記した変動の主な原因で
ある。

環境条件と電気的な条件はあまりに複雑すぎて。

直接に制御することはできない。したがって、出カブリ
ントの質にそれらが及ぼす影響をなくすか。

小さくするために現在性われているやり方は１光重の強
さ、またはコロナの振幅を連続して調節することにより
ＡＳＶを制御することに集中されている。すなわち、先
に例示した電子写真技術の場合には、環境要因と電気的
要因とに１づ＜　ＡＳＶの変化を定期的に測定し、それ
から、通常は光像の強さを調節することによりそれらの
要因を補償して。

光導電面の３１″Ａされている部分の背景ＡＳＶを希望
の範囲（すなわち、−ω〜−９０Ｖ）内に維持すること
により画像の品質を制御できる。この補償方法は光導電
面の露光されていない（プリントされる１ｌｉｌｉ像）
部分の正の４００〜５００　Ｖ　ＡＳＶ　Ｋ　ハ影譬を
及ぼさないが、プリントされた画像の背景をきれいにす
る。

ＡＳＶの＃ｊ定は１元導電面の一部に隣接して配置され
ている検出ヘッドと、検出したＡＳＶをプローブ出力電
圧に変換するために適当なプローブ電子装置とを含む容
量結合された、すなわち、１ｔ［ｆｉ計梨型検出プロー
ブ用いて行われるのが普通である。、しかし、正確なＡ
ＳＶ測定は直線的ではない。その理由は、ＡＳＶ　Ｋ影
響を与えるのと同じ要因、すなわち、温度、相対湿度お
よび電気回路の性能、がゾローブ感度（すなわち、検出
されたＡＳＶとプローブの出力電圧との間の関係）にも
影響を及ぼすからである。通常は、　ＡＳＶＩＩＪ定に
及ぼされるそれらの要因の影響を小さくするために、か
なり複雑な電子装置と手動較正法の一方または両方が用
いられる。

また、ゾローブ検出ヘッドはプローブの電子装置へ父流
結合されるから、プローブの出力電圧はドリフトとオフ
セットの影響な受ける。それらの影響をなくすために、
プローブに既知の基準電圧（通常はアース電位）を定期
的に与えることくより差のＡ８Ｖ指示なとらなければな
らない。アース１準電位な与える現在用いられている方
法は、プローブにアース基準電位が定期的に与えられる
よ５に、検出ヘッドと光導電面の間に接地された音さ、
または振動ダイヤフラムを挿入することである。

ＡＳＶｌｊｌ定に影響を及ぼｊ環境要因と電気的要因を
補償するため、および電子的なドリフトとオフセットと
による影響の少（とも一方ななくすために既知の基準電
圧を与えるための現在の技術では。

電子写真プリント装置においてＡＢＭ　’！ｌ’　Ｉｌ
ｌ定するためには十分に正確である現在入手可能なＡＳ
Ｖデローゾが泳雑な装置となり、そのコストは何百ドル
または刺子ドルもかかることになる。その結果。

それらのＡＳＶ　ｆ　！１２−ブは低価格から中くらい
の価格の１子写真ブリ、ント装置に組込むのには価格が
高すぎる。

本発明の主な目的は、低コス）　ＡＳＷ　ｆ　ａ−ブの
感ＫＣ影響を及ぼす温度、相対湿度および電気回路の性
能のような環境要因と電気的要因の変化を自動的に補償
することにより、画像媒体上のＡＳＷな正確に＃Ｊ定す
る比較的低コストの較正されたＡ８Ｖ８１３定装置な得
ることである。本発明の別の目的は、（ａ）環境要因と
電気的要因によるＡＳＶ　感度の変化を自動的に補償す
るための較正器な含み、（ｂ）環境要因と電気的要因に
よるＡＳＷプローブ感度の変化を決定するようにプロー
ブに既知電圧を加えることができる較正ターゲットを含
み、（Ｃ）周期βシなアース１準電位な得る目的のため
にＡ８Ｙプローゾの一部として別の装置を用いることな
しに、周期的なアース基準電位を得るために電子写真ド
ラムの表面に接地された継ぎ目な用い、（ｄ）　ＡＳＶ
を測定し、プローブ感度な較正して出カプリ／トの質の
融通性を更に高（できるようにするためにプローブ出力
測定のデジタル処理な用いる較正されたＡＳＶ測定装置
を得ることである。

要約すると、それらの目的、および当業者には明らかで
あるその他の目的を達成するために、（電子写真ドラム
の光導電面のような）−１発生媒体上のＡＳＶ　１ｋｉ
ｌＪ定す之ための本発明の較正されたＡＳＶＩＩ１１定
装置は、（ａ）検出範囲を定める検出ヘッドを含み、画
像発生媒体上のＡＢＭ　Ｋ応答してプローブ電圧出力Ｐ
Ｖ（ｔ）　４Ｉ：与えるプローブと、（ｂ）紳」定期間
中にプローブに基準電位ＧＲＥＦｋ定期的に与えるため
の基準電位要素と、（Ｃ）プローブの検出範囲の少くと
も一部の中に配置され、少くとも較正期間中は所定の電
位ＣＴＶ。とＣＴＶ　１の間で切り換えることができる
較正ターゲットと、を含む。

各測定期間中に、　ＡＳＶプローブは時刻ｔ０　に１準
電位ＧＲ１Ｆに応答し、それより後の時刻１．に画像発
生媒体上のＡＳＶＫ応答′して差電圧ｐｖ（ｔ□）−Ｐ
Ｖ（ｔｏ）　　が得られるようにするとともに１次の関
係 によりＡＳＶが決定されるようにする。ここに。

Ｋ□０）はプローブ電圧出力を検出された電位（ＡＳＷ
とＧＲＥＦ）に関係づけるプローブ感度係数である。プ
ローブ感度に□は温度、相対湿度および電気回路の性能
のような環境条件および電気的条件の変化によって時間
的に変化する。

較正期間中は、　ＡＳＶゾローブが較正ターゲットのみ
に応答している間に、較正ターゲットはそれぞれの時刻
ｃｔ、　トｃｔ１に電位ＣＴＶ、とＣＴＶ、の間に切り
換えられて、関係 ｐｖ（ｃｔ□）　−ｐｖ（ｃｔｏ）　＝に２（１）（Ｃ
ＴＶ、　−ＣＴＶ。）に従ってプローブ電圧な与える。

ここに、Ｋ２（ｔ）は較正ターゲット電圧をプローブ電
圧に関係づ分る感度係数である。この感度係数に２（ｔ
）も、環境条件と電気的条件の変化のために時間ととも
に変化する。各較正期間中に、較正ターゲットに与えら
れた実際の差電圧ＣＴＶニーＣＴＶ０と、得られたプ、
ローブ電圧（すなわち、　ｐｖ（ｃｔ、）−ｐｖ（ｃｔ
、）　）　ｋ用いて計算した差電圧（ＣＵＶ□−ＣＴＶ
ｏ）’　　との違いに応答してに２（ｔ）の変化を指示
し、それ−に対応してプローブ感度に１（ｔ）を再較正
して環境条件と電気的条件の変化を補償することにより
、次の測定期間中は正確なＡＳＶＩ！ＩＩ定を行えるよ
うにする。したがって、本発明の方法は、 （ａ）　　画像発生媒体上のＡＳＷに応答するプローブ
を用意する過程と、 （ｂ）　　１ｊｌｌＪ定期間中に、プローブに１重電位
ＧＲＥＦとＡＢＭを定期的に与えて、ＡｇＶ＆決定可能
にする差プローブ電圧出力ＰＶ（ｔ□）　−ｐｖ（ｔ、
）　　を得る過程と。

（Ｃ）　　較正期間中にプローブ感度に１（ｔ）を定期
的に再較正して、環境条件と電気的条件の変化によるに
、（ｔ）の変化を補償してＡＳＶを正確に＃Ｉ定できる
ようにする過程と、 を備える。

較正されたＡＳＶ醐定装定装置子写真ドラムの光導電面
上のＡＳＶを測定するために用いられる好適な実施例に
おいては、ドラムの各回転ごとにＡＳＶプローブにアー
ス基準電位が１回与えられるように、ドラム上に配置さ
れている接地された金属継ぎ目により基準電位ＧＲＥＦ
が与えられる。したがって、（ａｌ接地されている継ぎ
目（ＧＲＥＦ）と、（ｂ１党導電面の一部（ＡＳＶ）と
に関連するプローブ電圧からＡｇＶが決定される。また
、較正ターゲットは、プローブの検出ヘッドの−ｍＫと
りつけられテ、プローブの検出範囲の少くとも一部を占
める金属ターゲットを有する。測定期間中は較正ターゲ
ットは了−スミ位に保たれるからＡＳＷ測定に影Ｗな及
ぼすことはない。較正期間中は、感度係数に２（ｔ）の
変化の指示を発生するために用いられる差電圧ＰＶ　（
ｃ　ｔｌ）　−’ＰＶ　（ｃ　ｔｏ）を得るように、プ
ローブが接地されている継ぎ目の上に配置されている時
に、較正ターゲットの電位はアース電位（ＣＴＶｏ）か
ら較正１準電位（ＣＴＶ、）へ変えられる。

ＡＳＶ測定とプローブ感度の測定はデジタル処理を用い
て行われる。したがって、プローブ電圧は標本化され、
デジタル化され、平均化される。測定期間中は、デジタ
ル化されている差電圧ｐｖ（ｔｌ）−ｐｖ（ｔｏ）を、
較正されたプローブ感度に、（ｔ）のデジタル表現とと
もに処理してＡＳＶのデジタル表現を決定する。較正期
間中は、較正ターゲット電圧に応答して得たデジタル化
された差電圧ＰＶ（ｃｔ工）−ＰＶ（Ｃｔｏ）を、基準
感度係数に２（ＲＥＦ）　　のデジタル表現とともに処
理して、差較正電圧（ＣＴＶ、−ＣＴＶｏ）’　を計算
すゐ、この計算された値と、較正ターゲットに与えられ
た実際の差較正電圧ＣＴＶ、−ＣＴＶ。Ｋ対応する基準
値とを処理して、実際の感度係数に２（ｔ）を基準感度
係数に、（ＲＥＦ）　　Ｋ関連つける比例係数を得る。

次にこの比例係数な処理してプローブ感度に□（１）を
再較正し、環境要因と電気的要因の変化を補償して、各
測定期間中にＡＳＶ＃Ｊ定な正確に行えるようにする。

以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。

較正された好適なＡ８ＶＩＩＪ定装置について以下に行
う絆細な説明は、ｌＴｉＩｇ１発生媒体が電子写真ドラ
ムのｙｔ４１１ｔ面を有する電子写真プリント技術にお
ける応用についてのものであるが、較正されたＡＳＶ＠
ｊ定装置を胴装置、任意の電子写真すなわち静電画像発
生媒体に対して正確なＡＳＷ測定な行うことができる。

まず第１図な参照して、較正されたＡＳＶ測定装置は市
販されたＡＳＶ検出プローブ１０ヲ用いる。このプロー
ブｌＯは、定められた検出範囲を有する検出ヘッド１２
と、プローブ電子回路装置パッケージ１４とを含む。′
ｙｔ、４電上のムＳｖ（電荷密度）を測定ｆ　ルｔ、−
めに、検出ヘッド１２は光導電面に近接した、ＡＳＶ検
出信号を与える位置に配置される。プローブの電子回路
装置１４はそれらの検出信号を交流結合し、それらの検
出信号を出力デａ−ブ電圧ｐｖ（ｔ）に変換する。光導
電面上のＡＳＶを決定するためにプローブ電圧ｐｖ（ｔ
）が処理される。

なるぺ（なら、　ＡＣＶプローブ１０は、モンロー・エ
レクトｏニクス（Ｍｏｎｒｏｅ　Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ
ｓ）　！！！の１０２０型静電電圧計のような比較的低
価格の容量結合検出プローブすなわち電流計型検出プロ
ーブにする。この種のブロー・ブからのプローブ電圧出
力は、ゾローゾ電子（９）路装置における交流結合のた
めにドリフト誤差とオフセット誤差が生じ、かつ、プロ
ーブの感度（すなわち、検出されたＡＳＶとプローブ電
圧出力との関係）が、環境条件と電気的条件の変化によ
り時間とともに変化するから。

光導電面上のＡＳＶを直接正確に測定するのＫは適さな
い。この較正されたＡＳＶ＃Ｊ定装置は、低価格のこの
樵のＡ８Ｖデローゾを用い、ドリフト誤差とオフセット
誤差をなくし、環境条件と電気的条件の変化によるプロ
ーブ感度の電化を補償する較正機能を持たせることＫよ
り、正確なＡＳＶ測定値を得ることができる。

埋　　論 元４電面のような拡がっているターゲット上で一様な電
圧を測定する場合には、ＡＳＶ検出検出−ローブのプロ
ーブ電圧出力Ｐ■は２つの項の和として表すことができ
る。

ＰＶ＝Ｋ（Ｒ，ｔ）　−ｖ　＋Ｆ（ｔ）　　　　ｍここ
に、Ｋ（Ｒ，ｔ）はターゲット・グローブ間の距離Ｒの
関数である比例係数、■はプローブ電圧に対するターゲ
ット電圧、　Ｆ（ｔ）は電子回路装置のオフセットとド
リフトによりひき起される時間的な変化を生ずる電圧で
ある。比例係数Ｋ（Ｒ，ｔ）はプローブの感度と呼ばれ
、それが時間とともに変化する理由は、温度や相対湿度
のような環境条件と電子り路の利得が変化するためであ
る。他の時間依存係数Ｆ　（ｔ）はグローブの電子１路
装置における又流結合の結果である。

ドリフト／オフセット項Ｆ　（ｔ）のために、！ローブ
電圧ＰＶは直接ＡＳＶ＃Ｊ定に対しては小さな値である
。しかし、Ａ８Ｖ測定はＦ　（ｔ）がほぼ一定である期
間中に行うことができるから、ドリフト／オフセット効
果ななくすために差のプローブ電圧をなくすＯとができ
る。適当に短い測定期間中の時刻１ｏとｔ□でプローブ
電圧測定を行うものとすると、差プローブ電圧は次式で
定められる。

ＰＶ（ｔｌ）　−ＰＶ（ｔｏ）　＝Ｋ（ｔｌ）　−Ｖ（
ｔｌ）　＋　ｉｉ’（ｔｌ）−Ｋ（ｔｏ）・Ｖ（ｔ、）
　−Ｆ（ｔｏ）　　ｆ２＋（一定であると仮定している
プローブ・ターゲット間の距離Ｒは便宜上省略しである
。）Ｆ（１１は時間とともに徐々に変化するから、　Ｆ
（ｔ□）がＦ（ｔｏ）にほぼ等しいよう５に測定期間を
選択できる。史に。

電気信号ドリフトＦ（１）はプローブ感度Ｋ（これは徐
々に変化する環境要因に主として依存する）よりもはる
かに速（変化すると予測できるから、Ｋ（ｔｌ）とＫ（
ｔｏ）もほぼ等しいと仮定できる。このような条件の下
では、（２）式は次のようになる。

ｐｖ（ｔｌ）　−ｐｖ（ｔｏ）　＝　Ｋ（ｔ）　（ｖ（
ｔｌ）　−ｖ（ｔ０月　　（３）測定期間（１０〜ｔ工
）中はＫ（ｔ）は一定であると仮定しているが、環境的
要因と電気的要因によるＫ（ｔ）の長時間変化を見分は
省ためにｓ　ｘ（’）の時間依存特性は（３）式におい
ても保持されている。

したがって、ある特定の動作条件に対して適切なプロー
ブ感度Ｋ　（ｔ）が決定されると、対応するターゲット
表面電圧を（４）式に従って決定するために麦プローブ
電圧を使用できる。

ターゲット電圧の１つが既知であれば、他のターゲット
電圧を絶対的な意味で決定できる。たとえば、各測定期
間中の時ｔ０においてプローブに既知の基準電位ＧＲＥ
Ｆ（Ｖ（ｔＱ））を加え、次に時孔ｔ工において光導電
ターゲット面上のＡｇｖ（ｖ（ｔｌ））を加えたとする
と、希望のＡ８Ｖ測定値９を次式に従って正確に決定で
きる・ 任意の既知の基準電位ＧＲＥＦを使用できるが、各測定
期間中に検出グローブにアース基準電位を加えるものと
すると、（５）式は となる。

ＡＳＶ測定およびプローブ較正−概括 ＠ｉ図を参照して、較正されたＡ８Ｖ測定装置は。

引ぎ続く測定期間ｔ０〜ｔ０の間に、まず、時刻ｔ０に
おいてプローブ検出ヘッド１２にアース基準電位ＧＲＥ
Ｆを与え、次に時刻ｔＩにおいて検出ヘッドに光導電面
上の電圧を与えることにより、光導電上の°ＡＳＶを測
定する。その結果としてグローブの電子回路装置１４か
ら得られるプローブ電圧ＰＶ（ｔｏ）とｐｖ（ｔｌ）を
ブロックＩにおいて（６）式に従って処理し、希望のＡ
ＳＶ測定値を得る。引き続く測定期間中に、任意に与え
られた測定期間中は一定であるプローブ感度Ｋ　（ｔ）
は、前記した時間的に変化する環境要因と電気的要因の
ために変化する。Ａ８Ｖを常に正確に測定するために、
較正されたＡＳＶｔ１定装置はプローブ感度Ｋ　（ｔ）
を定期的に較正して、ブロックＩで示されている閉ルー
プ制御を行う。

較正ターゲット 閉ループ較正は、周期的な較正期間中に既知電圧を与え
ることができる較正ターゲラ）を用いることにより、較
正ターゲットに対するプローブ感度の変化なモニタし、
それによりプローブ感度を再較正してそれらの変化を補
償できるようにする。

（４）式を１き換えてプローブ感度係数Ｋ　（ｔ）を次
式のように表すことができる。

このようにして、既知電圧Ｖ（ｔ）をターゲット表面に
加え、得られたプローブ電圧ｐｖ（ｔ）を記録し、更に
この情報ｔ−（７）式に従って処理することによりプロ
ーブ感度Ｋ　（ｔ）を決定できる。

電子写真プリント装置の場合には、（ａ）プローブの検
出ヘッドな光電面に近接して装置しくそれによりプロー
ブとターゲットの閾？距離Ｒを固定し）。

（ｂ）一時的にとりつけられている金属条すなわちター
ゲットを用いるなどして光導電面上の既知電圧な与え、
（Ｃ）得られたプローブ電圧出力を記録し、（ｄ）＋７
）式を用いてＫ（１）な計算する、ことによりＡ８Ｖゾ
ローゾ感度Ｋ　（ｔ）を直線的なやり方で最初に決定で
きる。しかし、電子写真プリント動作中は、光導電面上
の電位を精密に制御することはできないから、プローブ
の検出ヘッドに既知電圧を与えることは一層困難である
。

プローブ感度Ｋ　（ｔ）を連続してモニタするために。

この較正されたＡＳＶを測定装置は別の較正ターゲット
を用いる。この較正ターゲットがプローブの検出範囲の
少（とも一部を占めるように、この較正ターゲットはプ
ローブから一定距離Ｒ′の所に配置され、既知、電圧が
与えられる。ＡＢＭプローブが光電面と較正ターゲット
のような２つの固定されているターゲットにさらされる
と、（１）式におけるターゲット電圧とプローブ電圧の
関係は次式のようになる。

ＰＶ＝Ｋｓ（ｔ）・Ｖｌ（’）＋％２（ｔ）・ＣＴｖ（
ｔ）＋Ｆ（’）　　（ｓ）ここに、　Ｋ　（ｔ）は電圧
がＶ、　（ｔ）である光導電ターゲットに対するプロー
ブ感度係数であり、Ｋ２（ｔ）は電圧がＣＴＶ（ｔ）で
ある較正ターゲットに対するプローブ感度係数である。

較正ターゲット電圧ＣＴＶ（１）がアース電位に保たれ
るものとすると、（８）弐におけるプローブ電圧出力は
次式のようになる。

ＰＶ＝Ｋ（リ−ｖ　（ｔ）　＋ｐ（ｔ）　　　　（９）
１ この式は、較正ターゲットが存在しない時のプローブ電
圧出力な表す＋１１弐に類似する。したがって。

較正ターゲットを用いるＡＳＶ測定装置におけるプロー
ブは、較正ターゲットが７一ス電位に保たれている限り
は、較正ターゲットのないプローブと同様に動作し、し
たがって較正ターゲットの存在を考慮するＣとなしに＊
ｓｖｍ定値を得ることができる。

同様な解析により、プローブ電圧を較正ターゲット電圧
に関係づける次式が得られる。

ＰＶ＝に２（ｔ）−ＣＴＶ（す＋Ｆ（ｔ）　　　　　（
１Ｇしたがって、較正期間中にプローブの検出ヘッドが
、了−スミ位な検出範囲のうち較正ターゲットにより占
められていない部分にアース電位な与えることにより、
または較正期間中に全検出範囲な較正ターゲットに占め
させることにより、較正ターゲット上の電圧だけを検出
させられるものとすると、較正ターゲットに関連する感
度係数に２（１）ｔｊ！：（７）式から直接決定できる
。すなわち、較正期間中に、時刻ｃｔ０とＣ１ＩＫおけ
るそれぞれ既知の電圧ＣＴＶ０．　ＣＴＶ□の間で較正
ターゲットが切り挨えられるものとすると、 となる。ココに、ｐｖ（Ｃ１□）トＰｖ（ｃｔｏ）は較
正ターゲット電圧ＣＴＶ□とＣＴＶ。に対するプローブ
電圧応答である。

プローブ感度係数の、（ａ）光導電面に関連する相対感
度（Ｋ□）と（ｂ）較正ターゲットに関連する相対感度
（Ｋ２）はほぼ一定である。すなわち、Ｋ　（ｔ）：Ａ
−Ｋ　（ｔ）　　　　　Ｑり２ ここに、人はプローブ感度係数に関連する比例定数であ
る。したがって、較正期間中に較正ターゲット感度係数
に、が決定されるか、基準感度に関するに２　の変化の
指示が与えられるものとすると。

ＡＳＶの決定に用いられるプローブ感度にエ　なそれに
対応して再較正できる。較正期間中にに、（ｔ）を再較
正するとプローブ感度に影蕃を及ぼす環境要因とｔ気回
路要因との変化が補償され、次の測定期間中に光導電面
上のＡＳＶを正確に測定できる。

方　法　要約すると、本発明の方法は、（ａ）　　−プ
ローブ感度係数に□（ｔ）のための初期値を決定する過
程と、 （ｂ）　　測定期間中にプローブの検出ヘッドにアース
系卑電位ＧＲＥＦｔ’定期的に与え、それから光導電面
上のＡＳＶ　＆定期的に与えて差ブロー！電圧Ｐ■（ｔ
□）−ＰＶ（ｔ２）　Ｉｋ得る過程と、（Ｃ）　　この
差電圧とプローブ感度に□（りに対する値とす（６）式
に従って処理して希望のムｓｖ測定ｆ［を得る過程と、 （ｄ）　　プローブ感度に□（１）を定期的に再較正し
て環境条件と電気的条件との変化による変化を補償する
過程と、 な補える。

プローブ感度に、（ｔ）な再較正する過程は、（ａ）　
　較正ターゲットに関連する初期基準感度値に２（ＲＥ
Ｆ）　　を決定する過程と、（ｂ）　　較正期間中にプ
ローブに較正ターゲット上の既知電圧ＣＴＶ、　、　Ｃ
ＴＶＸのみなさらして差プローブ電圧Ｐｌｃｔｌ）　−
ｐｖ（Ｃｔｏ）　ｋ得る過程と、（Ｃ）　　この差電圧
と１重恩度値に２（ＲＥＦ）　　を０υ式に従って処理
し、Ｋ２（ＲＩＦ）　　Ｋ対する感度係数に２（ｔ）の
変化の指示を得る過程と、（ｄ）　　Ｋ２（ｔ）の変化
に従ってプローブ感度係数に１（ｔ）を再較正する過程
と、 な備える。

好適なＡＳＶ測定およびプローブ較正 この好適な較正されるＡ８Ｖ測定装置はデジタル処理を
用いて上記の方法を実施するものである。

第２図を参照して、電子写真ドラムの光導電面上の電位
を検出するように光導電面から一定の距離Ｒだけ離れた
位置に？ローブ検出ヘッド１２が配置されるように、　
ＡＳＶプローブが電子写真装置（図示せず）Ｋ設けられ
る。第４図ａ１ｃＩｋ＠照して後で説明するように、プ
ローブ感度を再較正するために用いられる較正ターゲッ
トはプローブ検出ヘッド１２のハウジングの一定距離の
所に直接とりつけられる。前記したように、（プローブ
検出ヘッド１２とプローブ電子回路装置１４を含む）プ
ローブｌＯは、検出ヘッドにより検出された電位に応答
してプローブ電圧出力Ｐｖを発生する市販の容量結合型
すなわち電流計型ＡＳＶ検出プローブな有する。

プローブ電子回路装置１４からのアナログ・ブロー！電
圧・ｐｖ（ｔ）が、　ｐｖ（ｔ）を標本化して、それら
の標本をデジタル形式に変換する回路網２１へ与えられ
る。プローブ電圧ｐｖ（ｔ）を表すそれらのデジタルさ
れた標本は平均化回路網ｎへ与えられる。

この平均化回路網乙はドラム位置信号に応答して希望の
各プローブ電圧測定値に対して、すなわち、御］定期間
中の時刻１０．１１と較正期間中の時刻ｃｔ、とｃｔ、
において所定数の標本を平均化する。

したがって、各時刻１０．１□、　ｃｌｌ）６　ｃｔ□
は、その期間中に対応するブロー！電圧ｐｖ（ｔ）の所
定数のデジタル化された標本が平均化されて１つのプロ
ーブ電圧測定値を与えるような短い期間な表す。たとえ
ば、谷プローゾ電圧の測定値が８個または１６個の標本
を平均して得る好適な較正されるＡＳＶ？ｉｌＪ定装置
が構成されている。

平均化回路網ｎを制御するドラム位置信号が電子写真装
置のドラム符号化輪から得られる。電子写真のドラムの
角一度位置を示すそれらの位置＠号は、電子写真のドラ
ムとプローブ検出ヘッドの相対位置を示すタイミング信
号を発生するために用いられる。それらの信号は測定期
間中と較正期間中に平均化機能を制御する。

平均化な行った後で、デジタル・プローブ電圧測定値が
、以下に説明する各種の演、ｊ！な行５マイクロプロセ
ッサへ与え−られる。

ＡＳＶ測定 ｔ０〜ｔｌのｑ！ｒ測定期間中に平均化回路網ρからプ
ローブ電圧測定値ＰＶ（ｔｏ）　、　ｐｖ＜ｔ、）が得
られる。

各測定期間中は、較正ターゲットがアース電位に保たれ
るから、　ＡＳＶＩｔｌＪ定過程に関与することはない
Ｏ それらのプローブ電圧はプローブ検出ヘッド１２を各種
の電圧にさらすことにより得られる。すなわち、プロー
ブ検出ヘッド１２をｌａ）時刻ｔ０　において基準電圧
ＧＲＥＦにさら丁ことによりプローブ電圧ＰＶ（ｔｏ）
　＆得、（ｂ）時刻ｔ０において光導電面上のＡＳＶに
さらすことによりプローブ電圧ｆｆ（ｔよ）を得る。標
本化し、デジタル化し、かつ平均化した後で、ブロック
加で示されているように、プローブ電圧ｐｖｔｔ０）　
トｐｖ（ｔｌ）を（６）式に従って処３１Ｌ、その測定
期間中におけるムＳＶ測定値を得る。すなわち、デジタ
ル化されたプローブ電圧な適切に加え合わせて差のプロ
ーブ電圧Ｐｖ（ｔ□）　−ｐｖ（ｔｏ）　を得、それか
らその差を、プローブ電圧を検出されたＡ８ＶＫ関連づ
けるプローブ感度に、　（ｔ）の現在の値で除する。プ
ローブ感度に、（ｔ）の現在の値は、各測定期間中に使
用するために、メ、モリ場所に格納される。最初に測定
された後でに′１（ｔ）は定期的に再較正され、その再
較正された値はメモリ場所るに格納され、環境要因と電
気的要因とによるプローブ感度の変化な常に補償するε
とにより正確なＡＳＶ測定を行う。

好適な実施例では、基準電位ＧＲＥＦが接地され、プロ
ーブ電圧Ｐｖ（ｔ、）が光導電面の一部から検出された
ＡＢＭに一致して全部が背景である（すなわち、プリン
ト画像がない）画像を生ずる。したがって。

差電圧ｐｖ（ｔ□）　−ｐｖ（ｔｏ）はアース基準電位
に対する背景Ａ８Ｖに一致する。前記したように、出カ
ブリント品質の１つの１叢な／臂うメータは、きれいな
背景を得るために背景ＡＳＶが定められた範囲内になけ
ればならないことで、プローブ電圧−］ス値ＰＶ（ｔｌ
）を用いてモニタされるのがこのＡ５メータである。

引き続く測定期間中に得られたＡＳＶＩＩＩＩ定値は。

ＡＳＶに影響な及ぼす環境要因と電気的要因が変化して
も、電子写真プロセスで光学的（たとえばレーザ）また
は電気的（たとえばコロナ）にｐＩ！Ｉｋすることによ
り、光導電面上のＡＢＭ　Ｉｋ所定の範囲内に保つため
に帰還モードで使用できる。たとえば。

較正されるム８Ｖ＃Ｊ定装置が１元導電面上の背景ＡＳ
Ｖ　Ｙ希望の範囲内に保つように、レーデの強度ｆ：調
整するために用いられている。そのために、！ＩＩＩＪ
定期間中にブロック２０に従って処理されてから減算器
冴の１つの入力端子へ与えられる。メ汚す場所５からの
１準ＡＳＶ値が減算器の他の入力端子へ与えられて、希
望の基準ＡＳＶＫ対する実際のＡＳＶの変化のデジタル
表現を減算器ムが出力するようにする。このＡＢＶｆ化
の指示は、レーザの強度を調整するレーザ強度制御回路
綱部へ与えられて希望の背景ＡＳＶを与える。

プローブ感度の再較正 最初に１元導電面に関連するプローブ感度に１（ｔ）を
（７）式に従って決定する。すなわち、プリント動作の
開始前に光導電面から距離Ｒの位置にプローブ検出ヘッ
ド１２が配置される。検出ヘッドと一部９較正ターゲッ
トがアース電位に保たれているから、最初の較正電圧が
光導電面へ与えられて、プローブ検出ヘッドがそれらの
電圧にさらされる。好適な実施例においては、２枚のア
ルミニウム箔が光導電面に一時的にとりつけられ、ドラ
ムを（ロ）転させてそれらのアルミニウム箔をプローブ
検出ヘッドの下側にｉｇ′ｒＫ位置させる。その結果得
られたプローブ電圧出力は記録され、Ｋ１（ｔ）の最初
の値が計算され、この最初のプローブ感度のデジタル表
現がメモリ場所２３に格納される。

次の電子写真プリント動作中にプローブ感度に、（ｔ）
が下記のようにして定期的に再較正される。

ｃｔ０〜ｃｔ□の各較正期間中に、プローブ検出ヘッド
がその較正ターゲットに与えられた既知電圧に応答し、
それに対応するプローブ電圧測定値ＰＶ（Ｃ１０）とＰ
Ｖ（Ｃ１，）が平均化回路網ρから得られる。各較正期
間中は、検出ヘッド託は較正ターゲット上の電位だけに
応答する、すなわち、プローブの検出範囲のうち較正タ
ーゲットにより占められていない残りの部分がアース電
位となる。

それらのプローブ電圧は較正ターゲット上に所定の電位
を与えることにより得られる。すなわち。

（１）時刻ｃｔ０において所定の電位ＣＴＶ（、な較正
ターゲットに与えることＫよりプローブ電圧ＰＶ　（ｃ
　ｔｏ）を得、（ｂ）時刻ｃ　ｔ　ｓにおいて所定の電
位ＣＴＶ１を較正ターゲットに与えることＫよりゾロー
ゾ電圧ＰＶ　（ｃ　ｔ　１　）を得る。なるべくなら、
最初の較正電圧ＣＴＶ０は接地する。標本化、デジタル
化および平均化した後で、ブロック関により示されてい
るように、それらのプローブ電圧は００弐に従って処理
される。すなわち、プローブ電圧がまず加え合わされて
差電圧ＰＶ（Ｃ１１）　−ＰＶ（Ｃ１ｏ）を得、それか
ら較正ターゲットに関連する１準感度係数に２（ＲＥＦ
）によりその差電圧を除す。基準感度係数がａυ弐に従
って最初に計算され、Ｋ、ＣＩＣＥＦ）　　のデジタル
表現がメモリ場所３１に格納される。

上記の演算処理により、較正ターゲットに与えられた差
較正電圧に対する計算値（ＣＴＶ、−ＣＴＶｏ）が得ら
れる。較正ターゲットに加えられる実際の差電圧ＣＴＶ
−ＣＴＶ０に関して、この計算された差較正電圧（ＣＴ
Ｖ　−ＣＴＶ、）の変化な解析することにより、環境条
件と電気的条件の変化の結果として基準感度係数に、（
ＲＥＦ）　　Ｋ、烹する感度係数に、（ｔ）の変化の指
示な得ることができる。とくに、計算された差電圧（Ｃ
ＴＶ　−ＣＴＶ、）が除算回路網諺の１つの入力端子へ
与えられる。この除算回路網の他の入力端子へは、較正
ターゲットへ与えた実際の差電圧に対応する基準値が与
えられる。各較正期間に対して、除算回路網諺からの出
力は実際の感度係数に２（ｔ）と基準感度係数との比に
対応する。

較正ターゲットに関連する感度係数に、の変化な表す比
に、（ｔ）／に、（ＲＥＦ）が決定されると、／を導電
面に関連するプローブ感度に１（ｔ）に対する再較正す
れた値を、ブロックあにより示されているように、ａ３
式に従って計算できる。したがって、再較正されたプロ
、−ブ感度係数によ（１）が次式に従って得られる。

Ｋｏ（１）＝ｈ　、　ｘ２（ｔ）／ｘ、（ＲＥＦ）　　
　Ｑ４ここく、比例定数ムは０４式中の比例定数ＡＫ轟
準準備２（ＲＥＦ）　　を乗じたものに一致する。環境
条件１１１１ と電気的条件の変化に対して調整された再較正されたプ
ローブ感度に□（１）がメモリ場所乙に格納される。格
納されたこの再較正されたプローブ感度に１（ｔ）は、
次の測定期間中に光導電面上のＡＳＷの正確な表現を得
る。

プローブ感度ＫＩＫ対する再較正された嬶を得るためＫ
Ｏ２）式を用いる際にはに１とに２の比が一定であると
仮定する。この感度比を変えるものと子側される生な要
因はトナー粒子によるプローブ検出面の汚染である。こ
の汚染によりプローブの抵抗特性と容量特性の少くとも
一方が変えられることになる。実際に、プローブの検出
面をトナー粒子により完全に汚すことによりこの）ナー
汚染の影響を試験した結果によると、プローブ感度の変
化はあまり大きくない（１％以下）ことが認められてい
る。

！ローブヘッドおよび較正ターゲット 次に第４ｍ、　４ｂ、　４ｃ図を参照する。プローブ検
出ヘッド１２は市販されている低価格のＡ８Ｖゾローゾ
を有する通常の型式のものである。このプローブ検出ヘ
ッド１２は７ラング４２ｍ　、　４２ｂと連結部材４２
Ｃとで形成されて検出窓を構成するＭ長いＵ字形の金属
ハウジング４２な含む。この金属ハウジング４２の中に
検出素子４４が配置される。この検出素子はその検出表
面４４ａが検出窓４２ｄＫ！ｉｌｌ接するように連結部
材４２Ｃの内面にとりつけられる。ブローブリード４６
が検出素子Ｉをプローブ電子回路装置のパッケージ（第
１図）Ｋ接続する。

較正ターゲラ）５０がハウジングＣに直接とりつけられ
る。この較正ターゲラ）５０は非導電性板５２により形
成される。この非導電性板の一方の−に金属導電層ヌが
とりつけられる。この非導電性板５２はハウジング４２
の−１１にとりつけられ、その非導電性板圏の肩部５２
ａ　、　５２ｋｌが７ランジ４２ａ。

４２ｂの端部にそれぞれ接触する。したがって、較正タ
ーゲラ）５０はハウジング４２の検出窓４２ｄの一部を
占め、プローブ検出素子Ｉの検出範囲の対応する部分の
中に配置される。較正ターゲット２がハウジング４２に
とりつけられた時に、導電層ヌが金属７ランジ４２ａと
４２ｂに接触しないように導電層８は構成される。

好適な実施例においては、較正ターゲット（資）は検出
素子祠の検出範囲のほぼ５０％を覆うように購成される
。この較正ターゲラ）５０は通常のプリント回路板材料
から作られ、肩部５２ａ　、　５２ｂから導電性の銅Ｉ
ｋ：隷去して導電層な形成するために化学エツチングが
用いられる。較正ターゲット（資）の寸法と、それが機
５プローゾの検出範囲の対応する部分の寸法は設計上の
問題である。更に、較正ターゲットはハクジ７グ荀にと
りつける必要はな（、較正期間中に検出菓子祠から一定
の距離Ｒだけ離れた場所に位置できる限りは、プローブ
の検出範囲内に永久に配置する必要もない。非導電性板
♀にあけられている穴にリード団が挿入されて褥電層ヌ
の上に接点犯を形成する。そのリード団は較正ターゲッ
ト（資）の導電層上の電位な制御するために用いられる
。較正されるＡＳＶ測定装置がＡ８Ｖの測定に用いられ
る測定期間中は、較正ターゲット犯が、検出素子Ｉの検
出範囲の一部に配置されているとしても、ｋ８Ｖ＠Ｊ定
に影響を及ぼさないように、導電層Ｉは了−スミ位に保
た。れる。各較正期間中は、較正ターゲラ）５０の導電
層諷上の電位はアース電位＜　ｃ’ｒｖ０）から予め選
択されている電位（ＣＴＶ、）まで上昇させられてプロ
ーブ感度＆度を再較正できるようＫする。

ＡＳＶ測定とプローブ較正の両方に使用されるプローブ
電圧を発生するために％電子写真ドラムの表面から一定
距離Ｒだけ離れて、そのドラムの表面に現われる電圧を
検出する位置にプローブ検出ヘッドＩＯが設けられる。

ここで第５図な参照してプローブ検出ヘッド１２のハウ
シング４２が、その検出窓が電子写真のドラムの表面Ｋ
ｆｘ接するようにして、電子写真ドラムの一端にとつつ
けられる。

端部効果のためｔプローブの検出範囲がその検出窓４２
ｄをわずかＫこえて拡張されるから、ｊｔ、導電面の縁
部により導入される検出のずれを避けるために１元導電
面の縁部から少くとも約２，５ｃＩＬ（約１インチ）離
してプローブ検出ヘッドを位置させねばならない。した
がって、プローブの検出範囲は較正ターゲット（資）に
よう９占められている部分な除き、光導電面な含む。

適切なプローブ・ドラ人間距離Ｒの選択に際しては相互
に関連する２つの要因を勇躍せねばならない。第１Ｋ、
プローブ感度は次式に従って距離ＲＫ逆比例する。

Ｋ＝ａ／Ｒ＋ｂ　　　　　（１惇 ここに、ａ、ｂは定数である。したがって、この距離８
が所定針だけ変化すると、Ｒがそれらの定数より小さい
時には、プローブ墨度は一層大きく変化する。機械的な
誤差ＫＭづ（プローブ・ドラム表面間距離のずれは避け
ることができないから、Ｒの変化に対応するプローブ感
度の変化をできるだけ小さくするためＫはＲｆｔ十分に
太き（しなければならない、プローブ・ドラム表面間距
離を小さくするとプローブの検出範囲も狭くなるから、
ブロー！測定を狭い範仙に集中して行うことかできる。

たとえば、プローブ検出ヘッドの寸法が廣さ６１、＄０
．５２、奥行０，２５３Ｌ、プローブ・ドラム表面間距
離が３〜５ｍであるモノローｅエレクトロニクス（Ｍａ
ｎｒｏｅ　Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ）製の１０２０型ＡＳ
Ｖ　ｆ　ａ　−ゾは、機械的な誤差による凡の変化に対
してプローブ感度Ａ度がほぼ一定であり、かつ検出範囲
が許容できる程度に狭いことが認められている。

接地された継ぎ目 電子写真ドラム６０は光導電層６コと細い金属継ぎ目６
ｑにより形成された円筒面を有する種類のものである。

その金属継ぎ目は接地されてドラムか／回転するたびに
プローブヘッドにアース基準電位ＧＲＥＦを与える。ド
ラム表面上に存在する接地された継ぎ目を利用する仁と
により、この較正されるＡＳＶ測定装置は、電子的なド
リフト／オフセットの影響をなくすための手段をプロー
ブヘッドの一部として含むことなしに、その電子的７よ
ドリフト／オフセットの彩りをなくすのに必要なアース
基準電位（およびその結果として得られる差プローブ電
圧）を周期的に得る。周期的なアース基準電位を得るた
めのそのようなやシ方は不要であり、プローブヘッドに
関連する通常の基準手段を本発明の較正機能に関連して
用いることができる（ｖＩｔ図を電属して後で行う説明
を参照されたい）。しかし、この好適な方法によυ本発
明の実施におけるコストを低減し、信頼ばを關くするこ
とができる。

電子写真ドラム６０の円周長は最も長いプリント紙をと
りつけられるように十分長く、画像発生光導電面６２は
前方の境界線６６ｍから後方の境界線６６ｂまで延びれ
ばよく、画ｍｉ生には用いられない光導電面６コの境界
部分６６．６１が残される。好適な実施例ではこの較正
されるＡＳＶ測定装置は、接地された継ぎ目に関連する
プローブ電圧測定値とともに、ＡＳＶの決定に用いられ
る、光導電面に関連するプローブ電圧測定値をとるため
に、それらの境界部分の一方、たとえば前方の境界部分
６６を用いる。

前記したように、この較正されるＡＳＶ測定装置の好適
な応用は、電子写真プリント／画像発生プロセスがきれ
いな背景を示すプリントされた出力を常に発生できるよ
うに光導電面上の背景ＡＳＶをモニタすることである。

たとえば、きれいな背景を得るための光導電面上のＡＳ
Ｗが−６０〜−１０ボルトである電子写真画像発生装置
についてこの明細書の始めにお込て述べた。この電圧範
囲外の′延圧では、プリントされた出力の背景のきれい
さは劣化する。ＡＳＶに影響な及はす環境要因、と′畦
気的要因が変化しても背景Ａ８Ｖがそのような予め選択
されている範囲内に留まるように、この較正されるＡＳ
Ｖ測定装置を使用できる。境界部分６６．６♂は画像発
生のためには用いられないから、光導電面６２の残りの
部分で行われるプリント１薄発生の種類または量とは無
胸係にこの較正されるＡｓＶｉｌｌｊ定装置が背景Ａ８
Ｖをモニタできるように、境界部分６４．６１をドラム
の各回転ごとに背景ＡＳＶ電位にすることができる。

プローブ／ドラムの動作 次に、電子写真ドラム６０に関連して本発明の較正され
るＡＳＶ測定装置の動作を説明する。ｍｌＪａ図に示す
波形図と第５図を参照して、光導電面６０上の綽ＡＡ’
　、　ＢＢ’　、　ＣＣ’　、　ＤＤ’がプローブ検出
へラド／２の下を回転するにつれて、時刻Ａ、Ｂ、Ｃ。

Ｄに対応するプロニブ電圧が、プローブ検出ヘッド／２
により検出された電位から得られる。

すなわち、ドラムの各回転の始めＱ時ＡＡにおいて、接
地されている継ぎ目６ダの前縁部ＡＡ’がプローブヘッ
ドノコの下を通るがら、時ｐ＋Ｉ　ＡとＢの間でグロー
ブヘッドｌ−が接地゛されている継ぎ目上のアース基早
・−位を検出し、それに対応するグローブ電圧が得られ
る。時刻Ｂ　ｒ（おいては、接地されている継ぎ目６Ｉ
Ｉと前方の境界部分６６との間の境界（ＢＢ’）がプロ
ーブ検出ヘッド１２の下を通ると、グローブ電圧が境界
部分上の背景ＡＳＶ（たとえば−６θ〜−ｙｏＶ）に対
応する値まで急速に低下する。時刻Ｂと少なくとも時刻
Ｃの間の時間中は、境界線６４ａ（ＣＣ’で示されてい
る）がグローブ検出ヘッド１２の下を通ると、プローブ
曳圧は背景、ＡＳＶに一致する。時刻Ｃの後のある時刻
に光導電面一６２のうち、プリント画像が形成される部
分がプローブ検出ヘッド１２の下を通り、それにょシ得
られるグローブ電圧は背景画像Ｋｍね合わされたプリン
）１１ｇ！１像を有する電子写Ｘ画像に一致する。少な
くとも時刻りまでは、境界！ｂｅ　ａ　（ＤＤ’で示さ
れている）がグローブ検出ヘッド１２の下を通る時には
光導電面６コの画像発生部分がグローブ検出ヘッド１２
の下を通っており、その結果得られるプローブ電圧は、
接地されている継ぎ目６１Ｉの前縁部ＡＡ’がプローブ
検出ヘッドの下を通るまでは、後方境界部分６５の背景
ＡＳＶに対応する。

光導電面６２上の背景ＡＳ■を決定するために用いられ
るプローブ電圧測定値を発生するために、電子写真ドラ
ム６０のλつの表面領域がモニタされる。時刻ＡとＢの
間でグローブ検出ヘッド１２が接地されている継ぎ目６
ｑの上にある間に、アース基準に対応するプローブ電圧
測定値ＰＶ（ｔｏ）が時刻１（、において得られる。同
様に、時刻ＢとＣの間でグローブ検出ヘッド／コが前方
境界部分６６の上にある間に、背景ＡＳＶに対応するグ
ローブ電圧測定値ＰＶ（ｔｌ）が時刻ｔ１において得ら
れる。

第２図を参照して先に説明したように、測定期間中の時
刻ｔＯ＋ｔｌにおいてＡ８Ｖプローブ１０からのプロー
ブ電圧出力を標本化し、デジタル化し、かつ平均化する
ことによシ得たそれらのプローブ電圧測定値を、（６）
式（ブロックＸ）に従って処理して各測定期間中の希望
の背景ＡＳＶ側’ｍ値を得る。それに関連して、背景Ａ
ＳＶに対応するプロ−プ電圧測定値ｐｖ（ｔｌ）　の絶
対値を変化させるドリフト／オフセクトの影醤があった
としても、差のプローブ−圧ＰＶ（ｔｉ）−ｐｖ（ｔｏ
）は、アース基準電位に対する背景ＡＳＶに対応する。

（６）式に従ってプローブ４圧ＰＶ（ｔｏ）とＰＶ（ｔ
ｌ）を処理することにより得られ−７，−Ａ　Ｓ　Ｖ測
だ値の確度は、プローブ感ＩＮ：ｋｘ（ｔ）をに期的に
再較正して環境条件と電気的条件の変化を補償すること
によって高くできる。

定期的な威圧期間中に、接地されている継ぎ目ｂ４Ｉは
プローブ検出ヘッド１２が較正ターゲット上の電位だけ
に応答するようにする。すなわち、時刻ｃｔｏ−ａｔ１
の間の威圧期間中はプローブ検出ヘッド／２が接地され
ている鮪ぎ目−〇上にある時だけプローブ電圧測定が行
われるから、プローブの検出範囲のうち、較正ターゲラ
）Ｋよシ占められていない部分だけがその継ぎ目上のア
ース基準電位にさらされる。呟正ターゲットに関連する
プローブ電圧測定は（グローブ検出ヘッドが接地されて
いる継ぎ目の上にある限如）ドラムの回転中にも行うこ
とができるが、好適な実施例ではその測定はプリント動
作中のアイドリンク時間中に行われ、ドラムはその接地
されている継ぎ目がプローブ検出ヘッドの下になるよう
にして停止させられる。

本発明の好適な実施例は背景ＡＳＶのプローブ電圧測定
値を得るために光導電面６コの境界部分を用いるが、背
景ＡＳＶを示す（すなわち、画像が重畳されていない）
他の光導電面部分も使用できる。たとえば、光導電面全
体を背景ＡＳＶとし、その光導電面の任意の点でＡＳＶ
測定を行う非画像発生試験サイクルを使用できる。背景
ＡＳＶ測定値を得るためのそのような試験サイクルは、
たとえば電子写真ドラムとともに用いられる板正される
ＡＳＶ測定装置のドラムの円周長が最大のプリント紙の
長さより短いとすると、おそらく要求されることになる
。

以上、きれいな背景カ逼高品質プリント７出力の最も重
要な指標であるから、電子写真プリント技術において背
景ＡＳＶを正確に灰定するために祇正されるＡＳＶ測定
測定上置いることを例として本発明の好適な実施例を説
明した。しかし、この較正されるＡＳＶ測定装置はプリ
ント品質の他の重要な面であるプリントの黒さすなわち
コントラストをモニタするために用いることもできる。

そのために、電子写真画像の広１編のベタプリント部分
におけるＡＳＶをモニタせねばならない。たとえば、こ
の明細書の初めの部分で述べた電子写真プロセスの場合
には、電子写真画像の未現像部分圧関連するＡＳＶはな
るべく≠０Ｏ−ｊ００ボルトにする。この好適な実施例
では、この較正されるＡＳＶ測定装置は背景画１＠Ａ８
Ｖがその所定範囲内に留められるようにするととに狙い
を定めているが、プリント画像ＡＳＶは浮動させること
ができる。

好適な電子写真ドラムの場合には、プリン）ＡＳｖをモ
ニタする１つの技術は境界部分６ＡＫペタプリント−像
をプリントすることである。そうすると測定期間中は差
電圧ｐｖ　（ｔｌ）　−ｐｖ　（ｔｏ）が基準アースに
対するプリン）ＡＳＶＫ対応することになる。

プリン）ＡＳＶをモニタする別の技術は、光導電面上に
プリント（たとえば黒）と背景（たとえば白）が棒状に
なって交互に配置された試験パターンを定期的に発生さ
せることである。第３ｂ図の波形図を参照して、時刻Ｘ
とＹの間に光導電面全体がプリント画像に対応するＡＳ
Ｖにされる。

その後で、時刻ＹとＷの間に背景画ｉ＠！ＡＳＶのバー
が形成され、時瀞Ｗと２の間にプリントＩＩ！ＩＩ槍の
別のバーが形成される等である。その結果得られるプリ
ント電圧出力は背景画像ＡＳＶに対応するプリント電圧
ｐｖ（ｂ）とプリント画像ＡＳＶに対応するＰＶ（′ｐ
）−との間で交番する。この試験パターンから、プロー
ブ電圧測定値ＰＶ（ｐ）を用いて差プローブ電圧を発生
し、プリン）ＡＳＶの絶対値を決定できる。プリン）Ａ
ＳＶがその所定範囲内にあるとしても、プリン）ＡＳＶ
のくい違いを修正するためにレーザの強さとコロナ振幅
のうちの少なくとも一方を調整できる。更に１試験パタ
ーンの背景画像バーのうちの任意の７本を用いることに
より背景ＡＳＶをモニタできる。

光導電面上の棟々の点でプリン）ＡＳＶまたは背景ＡＳ
Ｖを測定したい時は、試験パターン技術はとくに有用で
ある。しかし、ドラムの１回転ごとにアース基準が接地
されている継ぎ目によシ与えられる電子写真ドラムに２
いては、アース、ｌｋ測測定ｔｏ）とＡＳＶ測定（ｔｌ
）の間の時間が十分に長くなることがあり、そのために
差電圧ＰＶ（ｔｌ）−ＰＶ（ｔｏ）を用いて電子的なド
リフト／オフセクトの影響を打ち消すことができなくな
ることがある（式（２）　、　（３）とそれらに関連す
る説明を参照のこと）。

これに対する直接的な解決方法は時刻１．）”°で第２
のアース基準測定値をとることと、かつ電子的なドリフ
ト／オフセットの影響がほぼ直線的であるから、ＡＳｖ
測定時刻ｔ１におけるアース基準に対応する実際のプロ
ーブ電圧を得るために簡単に補間することである。

別の実施例 以上説明した本発明の好ｉん実施例は（ａ）定期的Ｋ（
７回転ごとに）アース基準電位を得、（ｂ）較正期間中
にプローブが較正ターゲット上の電位のみに応答するよ
うにプローブ検出ヘッドのためのアース・ターゲットを
得る１こめに、岨子写真ドラムの表面上の接地された継
ぎ目を用いる。しかし、この較正されるＡＳＶ測定装置
はそのような接地された継ぎ目を設けない″−電子写真
ドラム関連して使用することもできる。このような稠耕
の装置には、プリントされるページの長さより短い円周
長を有する、現在開発されている、小型の連続プリント
電子写真ドラムが含筐れる。別のアース基準装置のコス
トを無くすと較正されるＡＳＶ測定装置のコストが低く
なるが、そのようなアース基準装置を設けなければなら
ないとしても、本発明の較正＠能により比較的低コスト
のＡＳＶプローブを用いて正確なＡＳＶを得ることが可
能であるから、大幅′なコスト低減が可能である。

較正されるＡＳＶ測定装置が独立したアース基準電位装
置を含む別の実胤例をＨｔ図に示す。プ。−ブ７゜は、
１□Ｏ’ｉ＋きえやう１つ位、。８７２ｍ、　７コｂが
ハウシングクコの７ランジ侵ａ、４１Ｊｂの対応する部
分に接触する筺−との藺で回動できるフラップ７０を含
む。このフラツグ７０は較正ターゲットＳＯと同じやり
方で非導電性板７コにより作られる。この非導電性板７
コの一方の表面には、非導電性の細長い肩７２ａ、７コ
ｂを残して、導電層７りが形成される。ハウジングリの
検出窓の上にかぶせられた時に、導電層７４Ｃが検出素
子停の全検出範囲を占めるようにフラップ７０は形成さ
れる０導電層７弘に所定の電位な与えることができるよ
うにするために電気的装置（図示鷺ず）が設けられる０
もちろん、フラップ７０をプローブの検出範囲の中に入
れたり、検出範囲から出したりするためにフラップを回
動させたシ、その他のやシ方で動かすための精密な電気
機械的な装置は設計上の問題である０ この別の実施例においては、フラップ７０は測定期間中
に差プローブ電圧を得るために用いられる周期的な基準
電位（たとえばアース）を与えることと、較正期間中に
検出素子杯に既知電位を定期的に与えるための較正ター
ゲットを設けることのコつの機能を果す。較正機能を果
すためには、較正期間中にはフラップ７０がプループの
全検出範囲を占めるから、導電層７弘に与えられている
較正電位だけにプローブは応答する。

結論 以上、環境条件と電気的条件の変化によりＡｓＶプロー
ブの感度が変化しても、比較的低コストのＡＳＶプロー
ブを用いて電子写真ドラムの光導電面上のＡＳＶを正確
に測定する。較正されるＡＳｖ測定装置の実施例につい
て説明した０とくに。

この較正されるＡ８Ｖ測定装置はプリント品質の最も重
要な指標である背景ムＳ■をモニタするために用いられ
る。ＡＳＭプローブ電圧出力したがってＡＳＶの測定値
の確度Ｋｇｅ＊を及ぼすＡＳＶプローブ感度の変化を定
期的にモニタするために較正ターゲットが周込られる０
定期的な較正期間中に較正ターゲットへ既知電圧を与え
ることにより、較正ターゲットに対するプローブ感度の
変化の指標を計算で籾、かつ光導電面上のＡ８Ｖに対す
るプローブ感度の値を再較正するために用いられる。Ａ
８Ｖ測定期間中は、ドリフト／オフセクトの影響をなく
シ、正確な背景＾ＳＶ測定値な得るだめに、プローブ感
度に対する較正された値は、アース基準電位に対する背
景Ａ８ＶＫ対応する差プローブ電圧の処理に用いられる
。電子写真ドラムの表面上の接地されている継ぎ目によ
シアース基準電位が定期的に与えられる。そのために、
較正されるＡＳＶ測定装置の一部として、独立した基準
電位装置を設けるコストを省くことができる。

ＡＳＷプローブからのプローブ電圧出力は、定期的なＡ
８Ｖ測定値と、プローブ感度のための定期的に再較正さ
れる値とを得るために、デジタル的に処理される。

【図面の簡単な説明】

第７図はムＳｖ測定装置のブロック図、第一図はＡ８Ｖ
測定とプローブ感度較正を示す詳しいブロック図、第Ｊ
ａ、ｊｂ図はプローブ電圧出力を表す波形図、第４１１
図は一端にと秒つけられている較正ターゲットを示すム
Ｓｖプローブ検出ヘッドの斜視図、第ｐｂ図は一端にと
９つけられている較正ターゲットを示すＡ８Ｖプローブ
検出ヘッドの端部図、第４Ｃｅ図は一端にとりつけられ
ている較正ターゲットを示すＡ８Ｖプローブ検出へ・１
ドの平面図、第３図はプローブが一端に配置されて偽る
電子写真ドラムの概略斜状図、第を図はプローブの検出
範囲の中に入ったシ、その検出範囲から出たシするため
に回動するフラップにより較正ターゲットが形成される
別の実施例を示すプローブ検出ヘッドの斜視図である０ ＩＯ・・・ＡＢｖ検出プローブ、ｌコ・・・プローブ、
７μ・・・プローブ電子回路装置１ｍ・・・処理ブロッ
ク、二ハ・・標本化しΦ変換器、−・・・平均化回路網
、Ｊ・・・減算器、２・・・基準Ａ８Ｖ装置、コ・・・
レーザ強度制御器、３コ・・・除算器、輻・・・ハウジ
ング、侵畠、弘コｂ・・・７ランジ、鉢・・・検出素子
、杯ａ・・・検出表面、５０・・・較正ターゲット、Ｓ
コ、７コ・・・非導電性板、評、丼・・・金属導電層、
Ｖ・・・電子写真ドラム、　ｊＪ・・・光導電面、６弘
・・・接地された継ぎ目、７ｏ・＝・フラップ０出願人
代理人　　　猪　股　　　　清

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、比較的低価格の見かけの表面電圧（ＡＳＶ）プロー
   ブを用い、温度、相対湿度、および電気回路の性能のよ
   うな環境条件および電気的条件の変化を補償するために
   プローブの感度を定期的に再較正することにより、（電
   子写真ドラムの元導電面のような）静電／電子写真画偉
   発生媒体上の見かけの表面電圧を測定する装置において
   、 偵）定められた検出範囲を有する検出ヘッドを含み、映
   像発生媒体上のＡＳｖに応答して（与えられたプローブ
   −媒体間隔に対して）次の関係。 ＰＶ＝に１（ｔ）　−Ａ８Ｖ＋Ｆ（ｔ）に従ってプロー
   ブ出力電圧ｐｖｆｔ発生するプローブと。 （ｂ）　　（１ｉ１１Ｊ定期間中に、前記プローブな時
   刻ｔ０の時に基準電位ＧＲＥＦに定期的にさらして、前
   期プローブがある遅れた時刻ｔの時に画像発生媒体上の
   ＡＳＶにさらされた時に差プローブ電圧ＰＶ（ｔｌ）　
   −Ｐ■（ｔｏ）が得られ、かつ次の関係 に従ってＡＳＶ　Ｉｋ得ることがでとるようにするため
   のＧＲＥＦ電位要素と、 （Ｃ）　　少（とも曲記較正期間中は前記プローブの検
   出範囲の少くとも一部の中に配置され、時刻ｃｔ０にお
   ける所定の電位ＣＴＶ０と時刻ｃｔ□における所定の電
   位ＣＴＶ１　との間で切り換えることができる較正ター
   ゲットと、 （ｄｌ　　較正器と、 を備え、Ｋ、（ｔ）を較正ターゲットに関連する感度係
   数として１次の関係 に従って較正ターゲット上の電位から差プローブ電位ｐ
   ｖ（ｃｔ□）　−ｐｖ（ｃｔｏ）が得られるようＫｉ！
   ｉｆｆ記プローブ記載ローブ中に前記較正ターゲット上
   の電位のみに応答し、ｌＩＪ記感度係数に２（りは環境
   条件と電気的条件の変化によりプローブ感度に１（ｔ）
   まで対応する態様で時間的に変化し、前記較正器は各較
   正期間中に得られた差プローブ電圧ｐｖ（ｃｔｌ）　−
   Ｐｖ（ｃｔｏ）に応答して較正ター〜、ゲットの感度係
   数に２（１）の変化を指示し、それに対応してプローブ
   感度に１＜ｔ）を較正して環境条件と電気的条件の変化
   を補償し、それによりＡＳＭ（ＩＩＪ定を正確に行うこ
   とな特徴とする静電／電子写真画儂発生媒体上の較正さ
   れた見かけの表面電圧を測定する装置。 ２、（ａｔ前記較正ターゲットは検出範囲の一部の中に
   配置されている前記プローブの検出ヘッドにとりつけら
   れて検出範囲の残りの部分が画像発生媒体な囲むように
   し、 （ｂ）　　ＡＳＭの測定が前記較正ターゲットの存在に
   より影響を受けないように、前記較正ターゲットは測定
   期間中は了−スミ位に保たれる、ことＩｋＩＪＰ！ｉ徴
   とする特許請求の範囲第１項記載の較正きれたＡＳＶ測
   定装置。 ３、前記較正ターゲットは前記プローブの全検出範囲を
   占める位置に定期的に移動でき、前記較正ターゲットは
   測定期間中に１準とされる電位ＧＲＥＦを与え、かつ較
   正期間中に所定の電位ＣＴｖｏとＣＴＶｌ　　を与える
   ことを特徴とする特許請求の範囲第２項記載の較正され
   たＡ８Ｖａ定装置。 ４、前記較正器は。 （ａ）　Ｘ準値に対する感度係数に８の変化の指不を与
   える要素と、 （ｂ）　　感度変化の指示に：゛応答て、後の測定期間
   中にＡＳＭの決定に用いるために、較正されたプローブ
   感度に工（１）を与えることな％徴とする特許請求の範
   囲第２項記載の較正されたＡＳＶ貧ｊ定装置。 ５、感度係数に２の変化の指示は次のような関係形を有
   し、 Ｋ２（ｔ）　／に２（ＲＥＦ） ここに、　Ｋ２（ＲＥＦ’）　　は前記較正ターゲ、ッ
   トに関連する基準プローブ感度値であり、　Ｋ４（ｔ）
   はＣｔｏ〜ｃ１１の間の較正期間中におけるプローブ感
   度であることを特徴とする特！ｆｆ−請求の範囲第１項
   記載の較正されたＡＳＶ測定装置。 ６、（ａ）各測定期間中の少くとも時刻１０．１１と。 各較正期間中の少くとも時刻ｃ１０．　ｃｔ、に前記プ
   ローブ電圧出力Ｐｖを標本化するための標本化器と、 （ｂ）　　この標本化器からのプローブ電圧標本をデジ
   タル表現に変換するためのＡ／Ｄ変換器と、（Ｃ）　　
   各測定期間中にプローブ電圧ＰＶ（ｔｏ）　。 ＰＶ（ｔ□）のデジタル表現に作用してＡＳＶ１５１Ｊ
   定値を与え、かつ各較正期間中にプローブ電圧ＰＶ（Ｃ
   １０）　トＰＶ（Ｃ１□）　Ｋ作用して較正されたプロ
   ーブ感度に１（ｔ）ｉｋ与える処理器と、を史に含むこ
   とを特徴とする特ＩＦＦＭ求の範囲第４項記載の較正さ
   れたＡＳＶ＃Ｊ定装置。 子装置定数の標本の対応する平均を１にしてプローブ電
   圧ｐｖ（ｔ０〕とＰＶｔｔｌ）　＊　ｐｖ（ｃｔｏ）と
   ＰＶ　（ｃ　ｔ□）のデジタル表現を与える平均化要素
   を更に含むことを特徴とする特ｌＩｆ請求の範囲第６項
   記載の較正されたＡＳＶ６１Ｊ定装置。 ８、画像発生媒体は円筒形ドラムの表面上に配置され、
   前記ＧＲＥＦ電位要素は、 （ａ）　　接地された細い金ＷＩ４ｔｌＥぎ目を更に含
   み、ドラムの各回転ごとに前記プローブが継ぎ目のアー
   ス基準電位を検出し、 （ｂ）　　かつ各測定期間中に、プローブが接地されて
   いる継ぎ目に露出されている間にプローブ電圧ｐｖ（ｔ
   、）　　が得られるように、前記継ぎ目はドラムの表面
   上に長手方向に配置されることを特徴とする％Ｗ＋請求
   の範囲第１項または第７項記載の較正されたＡＳＭ６［
   ＩＪ定装置。 ９、比較的低価格の見かけの一表面電圧（ムＳＶ）プロ
   ーブを用い、温度、相対湿度、および電気圓路の性能の
   ような環境条件および電気的条件の変化を補償するため
   にプローブの感度を定期的に再較正することにより、（
   電子写真ドラムの光導電面のような）靜ｔ／１１子写真
   画像発生媒体上の見かけの表面電圧を測定する方法にお
   いて、 （ａｌ　　定められた検出範囲を有する検出ヘッドを含
   み、画像発生媒体上のＡＳＷに応答して（与えられたゾ
   ロ−ブー媒体間隔に対して）次の関係。 ＰＶ＝に１（ｔ）　−ＡＳＶ＋Ｆ（ｔ）に従ってプロー
   ブ出力電圧Ｐｖな発生するプローブを用意する過程と、 （ｂ）　　８１定期間中に、ｌ！ｔｌ記プローブを時刻
   ｔ０　の時に基準電位ＧＲＥＦに定期的にさらして、ｖ
   Ｊ記プローブがある遅れた時刻ｔ０　の時に映像発生媒
   体・上のＡＳＷにさらさｉた時に差プローブ電圧ｐｖ（
   ｔ、）−ｐｖ（ｔｏ）が得られ２、かつ次の関係 に従ってＡＳＷを得ることができるようにする過程と。 （Ｃ）　　過程（ｂ）に従って正確なＡＳＷ測足（ｉ［
   な得ることかできるように、較正期間中にプローブ感度
   に１（ｔ）の変化の、指示を定期的に発生し、それに対
   応してプローブ感度を再較正して環境条件と電気的条件
   の変化を補償する過程と、を備えることを！徴とする静
   電／電子写真−像発生媒体上の較正された見か２けの表
   面電圧を測定する方法。 １０、　Ｋ１（１）を定期的に較正する過程は。 （ａ）　　少（とも的記較正期間中は前記デーローブの
   検出範囲の少くとも一部の中に配置され、所定の電位Ｃ
   ＴＶ０とＣＴＶ、との間で切り換えることができる較正
   タ＝′ゲットＶ用意する過程と、（ｂ）　　前記プロー
   ブが前記較正ターゲット上の電位のみに応答するように
   、較正期間中に、前記プローブを前記較正ターゲットに
   定期的にさらし、得られた差プローブ電圧ＰＶ（ｃｔ□
   ）−ＰＶ（Ｃ１０）が次の式 に従って前記較正ターゲット上の電位に関連づけられる
   ように前記較正ターゲットを時刻ｃｔｏＫおけるＣＴＶ
   ｏと時刻ｃｔ１におけるＣＴＶｌの間で定期的に切り換
   える過程と、 （Ｃ）　　差の値−ＰＶ　（ｃ　ｉｌ）　−ＰＶ　（”
   ｇ）　’ｋ　’Ｉｊａ　”ｉ　Ｌ　テｊｉ　準備に対す
   る感度係数に２（りの指示を得る過程と、（ｄ）　　そ
   れに対応してプローブ感度に１（ｔ）な再較正し、環境
   条件と電気的条件の変化な補償する過程と、 な備え、前記に、（ｔ）は較正ターゲットに関連する感
   度係数であって、プローブ感度に１（ｔ）の変化に対応
   するやり方で、環境条件と電気的条件の変化により時間
   的に変化することを特徴とする特軒趙求の範囲第９項記
   載の較正されたＡＳＶ測定方法。 １１、感度係数に２の変化の指示は次のような関数形を
   有し、 Ｋ２（ｔ）　／に２（ＲＩＦ） ここに、　Ｋ、（ＲＥＦ）　　は前記較正ターゲットに
   関連する蔦準ゾローブ感度値であり、Ｋ、（ｔ）は較正
   期間ｃｔ０〜ｃｔ工の間のプローブ感度であることを特
   徴とする％ＦＦ−諸求の範囲第１θ項記載の較正された
   ＡＳＶ測定方法。 −１２，（ａ）　　プローブ電圧ｐｖ（ｔ、−）−トｐ
   ｖ（ｔ、）　、　Ｐｌｃｔｏ）とＰＶ（ｃｔ□）のデジ
   タル表現を発生する過程と、（ｂ）　　デジタル化され
   ゛た差電圧ｐｖ（ｔ□）　−ｐｖ＜ｔｏ）とＰＶ　（ｃ
   　ｉｓ　）　−ＰＶ　（ｃ　ｔｏ）を、それぞれプロー
   ブｍｕＫ１（ｔ）および較正ターゲット感度係数に２（
   ｔ）とともにデジタル的に処理して、絢定期間中にＡＳ
   Ｖ測定値を得、かつ較正期間中にプローブ感度に、　（
   ｔ）に対する再較正された値を得ることｆ：Ｗ徴とする
   特ＩＩｆ論求の範囲第１１項記載の較正されたＡＳＶ測
   定方法。 １３、デジタル表現を発生する過程は。 （ａ）　　少くとも、時刻ｔ１とｔ□およびｃｔｏとｃ
   ｔｌに対応する期間中に帥記ゾロ＝ブから電圧ｐｖ（ｔ
   ）を標本化する過程と。 （ｂ）　　プローブ電圧の標本をデジタル表現に変換す
   る過程と、 （Ｃ）　　時刻ｔ０とｔｌおよびＣｔｏとｃｔｌに対応
   するプローブ電圧標本の平均をとってそれぞれのデジタ
   ル化されたプローブ電圧ｐｖ（ｔｏ）とＰＶ（ｔ□）お
   よびＰＶ（Ｃｔｏ）　トＰｖ（ｃｔｘ）を得る過程と、
   を備えることを特徴とする特ＦＦ請求の範凹第枝項記載
   の較正されたＡＳＶ８４）Ｉ定方性。 １４、前記プローブ’に基準電圧ＧＲＥＦに定期的にさ
   らす過程は、前記プローブが基準電圧ＧＲＥＦたけに応
   答するように、Ｍ卑電位ＧＲＥＦを有するターゲットな
   プローブの検出範囲内に定期的に入れる過程を備えるこ
   とを４１Ｈｉ＋にとするｗＩＦＦ請求の範囲第１０項ま
   たは第り項記載の較正されたＡＳＶ測定方法。 １５、プローブを１準電圧ＧＲＫＦに定期的にさらす′
   虫　」 過程は。 （！Ｉ）　　ドラムの各回転ごとに前記プローブがアー
   ス１準電位な検出するように、ドラムの円筒面上に長手
   方向に接地された金＠継ぎＨを配置する過程と（円筒面
   の残りは映像発生媒体を構成する）を備え、 （ｂ）　　プローブ電圧ＰＶ（ｔｏ）は前記プローブが
   接地されている継ぎ目にさらされている間に得られるこ
   とを特徴とする特ｉＦｆ請求の範囲第１４項記載の較正
   されたＡ８Ｖ測定方法。