JPS5892734U - 過負荷検出機構 - Google Patents
過負荷検出機構Info
- Publication number
- JPS5892734U JPS5892734U JP18689481U JP18689481U JPS5892734U JP S5892734 U JPS5892734 U JP S5892734U JP 18689481 U JP18689481 U JP 18689481U JP 18689481 U JP18689481 U JP 18689481U JP S5892734 U JPS5892734 U JP S5892734U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor integrated
- integrated circuit
- test terminal
- detection mechanism
- integrated circuits
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第１図は従来の自動ハンドリング装置の平面構成図、第
２図は従来のの自動ハンドリング装置におけるＩＣの移
送機構部の斜視図、第３図は本考案に係る過負荷防止機
構の側面図、イ図は閉成時を示し、０図は開放時を示す
。第４図は本考案に係る接点の結線図である。 図において１はＩＣ，２はマガジン、３は搬送チェーン
、４は試験端子部、５は搬出チェーン、６は押し出し装
置、８．９はガイドレール、１７は送り爪、１９．２０
は接点、２２は引張ばねである。
２図は従来のの自動ハンドリング装置におけるＩＣの移
送機構部の斜視図、第３図は本考案に係る過負荷防止機
構の側面図、イ図は閉成時を示し、０図は開放時を示す
。第４図は本考案に係る接点の結線図である。 図において１はＩＣ，２はマガジン、３は搬送チェーン
、４は試験端子部、５は搬出チェーン、６は押し出し装
置、８．９はガイドレール、１７は送り爪、１９．２０
は接点、２２は引張ばねである。
Claims (1)
- 半導体集積回路の試験装置の試験端子部に複数の半導体
集積回路を移送する装置において、該半導体集積回路を
搬送部から試験端子部に押し出し、更に試験端子部から
搬送部に押し出す送り爪にばねを設け、該半導体集積回
路に対する機械的過負荷により該送り爪を後退させると
同時に開放する接点を設け、該接点を該半導体集積回路
に相当する複数個を直列に結線し、該半導体集積回路の
移送時の機械的過負荷に対して該接点を開放させること
により一部の該半導体集積回路にかかる機械的過負荷を
検出する過負荷検出機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18689481U JPS5892734U (ja) | 1981-12-15 | 1981-12-15 | 過負荷検出機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18689481U JPS5892734U (ja) | 1981-12-15 | 1981-12-15 | 過負荷検出機構 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5892734U true JPS5892734U (ja) | 1983-06-23 |
| JPS6120762Y2 JPS6120762Y2 (ja) | 1986-06-21 |
Family
ID=29989236
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18689481U Granted JPS5892734U (ja) | 1981-12-15 | 1981-12-15 | 過負荷検出機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5892734U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013224876A (ja) * | 2012-04-23 | 2013-10-31 | Fujitsu Semiconductor Ltd | 半導体試験装置、プローブカード及び半導体試験方法 |
-
1981
- 1981-12-15 JP JP18689481U patent/JPS5892734U/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013224876A (ja) * | 2012-04-23 | 2013-10-31 | Fujitsu Semiconductor Ltd | 半導体試験装置、プローブカード及び半導体試験方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6120762Y2 (ja) | 1986-06-21 |
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