JPS5888675A - 磁気デイスク媒体のテスト方法 - Google Patents
磁気デイスク媒体のテスト方法Info
- Publication number
- JPS5888675A JPS5888675A JP18702381A JP18702381A JPS5888675A JP S5888675 A JPS5888675 A JP S5888675A JP 18702381 A JP18702381 A JP 18702381A JP 18702381 A JP18702381 A JP 18702381A JP S5888675 A JPS5888675 A JP S5888675A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- disk
- head
- track
- rotation
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/12—Measuring magnetic properties of articles or specimens of solids or fluids
- G01R33/1207—Testing individual magnetic storage devices, e.g. records carriers or digital storage elements
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は磁気ティスフ１ｓ：俸（以下円８１）の製造
方法に係り、特に円板の電気％性テスト工程の改良に関
するものでめる。
方法に係り、特に円板の電気％性テスト工程の改良に関
するものでめる。
円板は磁気ヘッド等とともに鋏瓢馨構成する寸えにあら
かじめ単体製品として磁性表面の篭気静％性および欠陥
％性馨検査し、品質馨保証する必要がある。そこで最終
製造工程において円板は１又は複数枚単位でテスト用の
磁気ヘッド（以下ヘッド）により電気特性テストされる
。
かじめ単体製品として磁性表面の篭気静％性および欠陥
％性馨検査し、品質馨保証する必要がある。そこで最終
製造工程において円板は１又は複数枚単位でテスト用の
磁気ヘッド（以下ヘッド）により電気特性テストされる
。
テストはヘッドのＲＥＡＤ／ＷＲＩＴＥコア幅よジも若
干小ざいピッチで円周状のトランクを単位として円板の
磁気記録領域の全域について行なわ扛る。１トランクの
テストは、該トランクー周ン対象としヘッドの磁気配録
（Ｗ Ｒ１ｉＥ）、磁気再生（ＲＥ Ａ ｌ） ）消去
（Ｅ ＲＡ ＳＥ）の３種の動作と、＋Ｊｌ生信号の処
理の組合せ・繰返しである。こむらな１本のへンドによ
るシーケンス切替１で行ＩＪうと１トランクのテストに
は円板の多数回の回転が必要となる。
干小ざいピッチで円周状のトランクを単位として円板の
磁気記録領域の全域について行なわ扛る。１トランクの
テストは、該トランクー周ン対象としヘッドの磁気配録
（Ｗ Ｒ１ｉＥ）、磁気再生（ＲＥ Ａ ｌ） ）消去
（Ｅ ＲＡ ＳＥ）の３種の動作と、＋Ｊｌ生信号の処
理の組合せ・繰返しである。こむらな１本のへンドによ
るシーケンス切替１で行ＩＪうと１トランクのテストに
は円板の多数回の回転が必要となる。
この回転に要する時間は、再生信号の処理系にとっては
待時間となり、ヘッドの次テストトランクへのシーク時
間、その他のシーケンス時間な含んだ総テスト時間の大
半を占める。
待時間となり、ヘッドの次テストトランクへのシーク時
間、その他のシーケンス時間な含んだ総テスト時間の大
半を占める。
上町θシような従来の方法では、円板の記録トランク密
度が高くなり、円桧−曲当りのテストトラック本数が増
加し１こ場合、比例して（ロ）１待時間も増えるので、
総テスト時間も増大でし１つ。例えは現状の円板の２倍
のトランク密度の円板のテストには、従来の約１５倍の
１時間馨要することになり、他の製造工程との処理舵力
のバランスの点で問題と７’Ｊる。１Ｔこ総テスト時間
が長いと多数の台数が必要とｆＪ９、テスト導入のコス
トふ・よびテスタ間の互換性の確保も難しくなる。
度が高くなり、円桧−曲当りのテストトラック本数が増
加し１こ場合、比例して（ロ）１待時間も増えるので、
総テスト時間も増大でし１つ。例えは現状の円板の２倍
のトランク密度の円板のテストには、従来の約１５倍の
１時間馨要することになり、他の製造工程との処理舵力
のバランスの点で問題と７’Ｊる。１Ｔこ総テスト時間
が長いと多数の台数が必要とｆＪ９、テスト導入のコス
トふ・よびテスタ間の互換性の確保も難しくなる。
この発明の目的とするところは止ｄピの如き従来の問題
点な除去するものでおり、１トラツクのテストに必要な
円板の回転回数ケｍ減し、能率よく短時間で処理できる
円板の電気特性テスト方法ケ提供することである。
点な除去するものでおり、１トラツクのテストに必要な
円板の回転回数ケｍ減し、能率よく短時間で処理できる
円板の電気特性テスト方法ケ提供することである。
この発明の％徴とするところは、円板の電気特性テスト
ヘッドのヘッドを同一トラック上に配置し、該ヘッドな
ＩＩＲＩＩ’Ｅ、ＲＥＡＩ）、ＥＲＡＳＥ等の諸機能に
専用化しそれらを同時処理することで余る。
ヘッドのヘッドを同一トラック上に配置し、該ヘッドな
ＩＩＲＩＩ’Ｅ、ＲＥＡＩ）、ＥＲＡＳＥ等の諸機能に
専用化しそれらを同時処理することで余る。
次に本発明の実施例１につき図面を用いて詳細に説明す
る。
る。
第１図は本発明の一実施例である円板の電気特性テスト
工程の４％瓜図である。図において１は磁気ティヌク媒
体Ｃ円板）、２は＃′ｋｌｌ’Ｅヘット、６はノ（ＥＡ
Ｉ）ヘッド、４ ＨＥＲＡＳＥ ヘラ）”、５はボイス
コイルモータ、６はヘッド位を微調整ネジ馨そ赴それ示
す。
工程の４％瓜図である。図において１は磁気ティヌク媒
体Ｃ円板）、２は＃′ｋｌｌ’Ｅヘット、６はノ（ＥＡ
Ｉ）ヘッド、４ ＨＥＲＡＳＥ ヘラ）”、５はボイス
コイルモータ、６はヘッド位を微調整ネジ馨そ赴それ示
す。
ヘッド位置微調整ネジ６ｔ−円板１の同一トランク上に
配置され１こヘッド２〜４は、円板１σフ薗転とともに
浮上し１こθノちボイスコイルモータ５によりシークす
る。円８！１の１トランクのテストはヘッド２〜４がテ
ストトラック めされた後、円板１の泊１転に同１υ」して１転力向の
１査牛前のＷＲ１１’Ｅヘッド２ ＶＣより書込み、続
いて中央のＲ ｂ ＡＤヘッド６により断出し、ざらに
必要に応じてＥ ＲΔＳＥヘッド４により消去して行な
う。上舵のシーケンス処理、続出信号処理Ｖま円板１の
回転時間馨分割し、同時にｈ ７Ｊわれる。
配置され１こヘッド２〜４は、円板１σフ薗転とともに
浮上し１こθノちボイスコイルモータ５によりシークす
る。円８！１の１トランクのテストはヘッド２〜４がテ
ストトラック めされた後、円板１の泊１転に同１υ」して１転力向の
１査牛前のＷＲ１１’Ｅヘッド２ ＶＣより書込み、続
いて中央のＲ ｂ ＡＤヘッド６により断出し、ざらに
必要に応じてＥ ＲΔＳＥヘッド４により消去して行な
う。上舵のシーケンス処理、続出信号処理Ｖま円板１の
回転時間馨分割し、同時にｈ ７Ｊわれる。
第２図（１）は従来のテスト方法、セして（２）は本発
明によるテスト方法のブロック図でおる。
明によるテスト方法のブロック図でおる。
第２図（１）に示す１トラツクのテスト方法は以下のよ
うである。
うである。
（■１ テスト１（分解能；高周肢胱出信号出力と低
ｌｉ＆１波胱出信号出力の比）■商周波書込（２ｐ゛Ｗ
ｌイノｉ’Ｅ）ｔ＠Ｊ）尚周波読出（２）− Ｒｂ；
Ａｎ）Ｏ消去（ＥＲＡＳＥ）ｆ；Ｂ）低周波書込（ｉＦ
ＷＲＩＴＥ）θ９低周波胱出（１７ ＲＥＡＩ））叫
テスト２（オーバーライド；’ｉ７２俊さしたときの
残餉分と書込分の続出信号出力の比）υ２＃ ＃／Ｒ
ノ１゛Ｅ，Φ）１Ｆおよび２．１ＲＥΔＤ、のＥＲＡＳ
Ｅ 叫） テスト３（エラー；断出侶号出力の欠陥部分）
Ｑｌ）２１１ＷＲＩ ＴＥ、（Ｊ ２／’ Ｒｈ．Ａ
Ｄ ［定だし■＠で代行可能〕■洛込ビットおよびうね
り波形テスト（ＭＩＳＳｌＮＧ ＢＩＴ／ＭＵＬ）Ｌ
／Ｌ−ＡＴＩＵｆｉ／ Ｂ ノ１° ノ七ＲＲ（
）ｔＣ ） 、 ６３） ＥＲ ＡＳｈ 。
ｌｉ＆１波胱出信号出力の比）■商周波書込（２ｐ゛Ｗ
ｌイノｉ’Ｅ）ｔ＠Ｊ）尚周波読出（２）− Ｒｂ；
Ａｎ）Ｏ消去（ＥＲＡＳＥ）ｆ；Ｂ）低周波書込（ｉＦ
ＷＲＩＴＥ）θ９低周波胱出（１７ ＲＥＡＩ））叫
テスト２（オーバーライド；’ｉ７２俊さしたときの
残餉分と書込分の続出信号出力の比）υ２＃ ＃／Ｒ
ノ１゛Ｅ，Φ）１Ｆおよび２．１ＲＥΔＤ、のＥＲＡＳ
Ｅ 叫） テスト３（エラー；断出侶号出力の欠陥部分）
Ｑｌ）２１１ＷＲＩ ＴＥ、（Ｊ ２／’ Ｒｈ．Ａ
Ｄ ［定だし■＠で代行可能〕■洛込ビットおよびうね
り波形テスト（ＭＩＳＳｌＮＧ ＢＩＴ／ＭＵＬ）Ｌ
／Ｌ−ＡＴＩＵｆｉ／ Ｂ ノ１° ノ七ＲＲ（
）ｔＣ ） 、 ６３） ＥＲ ＡＳｈ 。
■湧き出しピントテスト＜−ＥＸＴＲＡ ＨｔＴＥＲ
ＲＯＲ） （１）ｍ−のテスト終了後テスト磁気ヘッド（ヘッド〕
は次のトランクＵシークし以上上記動作馨繰り返す。け
）〜■０ノも動作はトラック−局を対象とするので、１
本のヘラトチＨ′Ｒ ｌ ｉ’ Ｅ。
ＲＯＲ） （１）ｍ−のテスト終了後テスト磁気ヘッド（ヘッド〕
は次のトランクＵシークし以上上記動作馨繰り返す。け
）〜■０ノも動作はトラック−局を対象とするので、１
本のヘラトチＨ′Ｒ ｌ ｉ’ Ｅ。
ＲｂＡＤ，に、ノイＡｓｈを行なう図２（１）の方法で
は、１トラツクのテストに、テスト１で５回転、テスト
２で３回転、テストロで５回転と曾ｔｒ １ ３ １ｐ
＋ ４ 転の円板の回転ケ必要とする。これに対し本発明のよう
に６本のヘッドなＪ−ｆＪいそれぞれｌｌ／Ｒ Ｉ Ｔ
Ｅ待．用、ｉｔｐΔＤ専用、Ｅ Ｒ Ａ 、５ ｈ”専
用にすれは第２図（１）と同様の内容のテストが第２図
（２＋に示すように、テスト１で２回転、テスト２で１
回転、テストロで３回転と合計６回転となり、従来方法
の半分以下の円板回転回数すなわちテスト時間ですむこ
とになる。
は、１トラツクのテストに、テスト１で５回転、テスト
２で３回転、テストロで５回転と曾ｔｒ １ ３ １ｐ
＋ ４ 転の円板の回転ケ必要とする。これに対し本発明のよう
に６本のヘッドなＪ−ｆＪいそれぞれｌｌ／Ｒ Ｉ Ｔ
Ｅ待．用、ｉｔｐΔＤ専用、Ｅ Ｒ Ａ 、５ ｈ”専
用にすれは第２図（１）と同様の内容のテストが第２図
（２＋に示すように、テスト１で２回転、テスト２で１
回転、テストロで３回転と合計６回転となり、従来方法
の半分以下の円板回転回数すなわちテスト時間ですむこ
とになる。
本発明の他の実施例としては、へ７ドの本数馨ざらに増
やし、機能おまひ役目をより細分化１することが考えら
′ｎる。例えばヘッドを５本にしに場合Ｉ￥Ｊ２におい
てテスト１、テスト２およびテスト３の一部、テスト５
の残りの部分馨それぞれ円板の１回転の合ｈ［３回転で
すむことにμる。しかしこのような発展はテストヘッド
の管理の難しさ、および電気処理・制御系（ソフト・ハ
ート・メモリ） ０Ｊコスト高を伴うので性ｎヒとの兼
ね合い馨考える必要がある。
やし、機能おまひ役目をより細分化１することが考えら
′ｎる。例えばヘッドを５本にしに場合Ｉ￥Ｊ２におい
てテスト１、テスト２およびテスト３の一部、テスト５
の残りの部分馨それぞれ円板の１回転の合ｈ［３回転で
すむことにμる。しかしこのような発展はテストヘッド
の管理の難しさ、および電気処理・制御系（ソフト・ハ
ート・メモリ） ０Ｊコスト高を伴うので性ｎヒとの兼
ね合い馨考える必要がある。
１１こヘッドを隣接トラックに連続もしくは、数トラン
ク間隔に配置し、そハぞれのヘッドで区域を分担して同
時にテストすることも可能であるが上記と同様な問題か
ある。
ク間隔に配置し、そハぞれのヘッドで区域を分担して同
時にテストすることも可能であるが上記と同様な問題か
ある。
以上述べ１こ如き構成で必るから本発明により、置物の
単体電気特性テストを短時間で行なうことができ、同じ
テスト枚数な少数のテスト機械により処理することかで
＠る。
単体電気特性テストを短時間で行なうことができ、同じ
テスト枚数な少数のテスト機械により処理することかで
＠る。
４ 図面の簡単ｙ、ｃ説明
第１１￥、ｌは本発明の一実施例の内機の電気％性テス
ト工程の構成図、第２図の（ＩＩは従来のテスト方法、
（２）は本発明のテスト方法を十ねそれ説明する図であ
る。
ト工程の構成図、第２図の（ＩＩは従来のテスト方法、
（２）は本発明のテスト方法を十ねそれ説明する図であ
る。
１・・・磁気ティスフ媒体
２ 、、、 ｒノ（ｌＴｈヘッド
６・・ＲＥＡＤヘッド
４・・ＥＲＡＳＥヘンド
５・・・ボイスコイルモーり
６・・ヘッド位置微調整ネジ
代理人弁理士 薄 １）オリ 辛
才 １２
オ ２ 図
（１）
（２）
Claims (1)
- １ 複数の磁気ヘッドヶ、磁気ティスフ媒体の同一トラ
ンク又は隣接トランク或は同一シリンダに配置し、該磁
気ヘッドを同時に書込、読出、消去して行なう凪気ティ
スク媒体のテスト方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18702381A JPS5888675A (ja) | 1981-11-24 | 1981-11-24 | 磁気デイスク媒体のテスト方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18702381A JPS5888675A (ja) | 1981-11-24 | 1981-11-24 | 磁気デイスク媒体のテスト方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5888675A true JPS5888675A (ja) | 1983-05-26 |
Family
ID=16198837
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18702381A Pending JPS5888675A (ja) | 1981-11-24 | 1981-11-24 | 磁気デイスク媒体のテスト方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5888675A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60102576A (ja) * | 1983-11-09 | 1985-06-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気記録媒体の品質検査装置 |
| JPS60251521A (ja) * | 1984-05-28 | 1985-12-12 | Nec Corp | 磁気デイスク板検査装置 |
| US4978916A (en) * | 1988-06-29 | 1990-12-18 | Bull S.A. | Method for magnetically characterizing the recording layer of a magnetic information carrier, and apparatus for performing the method |
| US5532586A (en) * | 1992-02-18 | 1996-07-02 | Fujitsu Limited | Method and apparatus for detecting magnetic disk defects using a complete disk erasure magnet |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5154404A (en) * | 1974-09-28 | 1976-05-13 | Basf Ag | Jikikirokutantaitokunijikienbanno zanryujisokumitsudonohihakaisokuteisochi |
-
1981
- 1981-11-24 JP JP18702381A patent/JPS5888675A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5154404A (en) * | 1974-09-28 | 1976-05-13 | Basf Ag | Jikikirokutantaitokunijikienbanno zanryujisokumitsudonohihakaisokuteisochi |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60102576A (ja) * | 1983-11-09 | 1985-06-06 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 磁気記録媒体の品質検査装置 |
| JPS60251521A (ja) * | 1984-05-28 | 1985-12-12 | Nec Corp | 磁気デイスク板検査装置 |
| US4978916A (en) * | 1988-06-29 | 1990-12-18 | Bull S.A. | Method for magnetically characterizing the recording layer of a magnetic information carrier, and apparatus for performing the method |
| US5532586A (en) * | 1992-02-18 | 1996-07-02 | Fujitsu Limited | Method and apparatus for detecting magnetic disk defects using a complete disk erasure magnet |
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