JPS5887512A - 焦点検出装置 - Google Patents
焦点検出装置Info
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- JPS5887512A JPS5887512A JP56185724A JP18572481A JPS5887512A JP S5887512 A JPS5887512 A JP S5887512A JP 56185724 A JP56185724 A JP 56185724A JP 18572481 A JP18572481 A JP 18572481A JP S5887512 A JPS5887512 A JP S5887512A
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- Japan
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- focus detection
- array
- photographic
- distance
- film
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/34—Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane
- G02B7/346—Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane using horizontal and vertical areas in the pupil plane, i.e. wide area autofocusing
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はカメラ等Kおける焦点慣出#e直に関する。
従来、互いに異る2つの元路を通る2つの光束がつくる
2つの僅写体I1を、α数の受光素子7レイにうけて電
気的被写体傷信号に父換し、前記2つの被写体偉信号の
相対的則位量から、被本体までの距離あるいは偉影レン
ズの合焦状態を検出する焦点検出装電が知られている. 従えば、第1図は、特開昭54−159259K開示さ
921眼レフカメラにおけるこの檜の従来装置の一例を
示している,この装置の焦点検出IIIL埋vWR単に
以下K睨明する。
2つの僅写体I1を、α数の受光素子7レイにうけて電
気的被写体傷信号に父換し、前記2つの被写体偉信号の
相対的則位量から、被本体までの距離あるいは偉影レン
ズの合焦状態を検出する焦点検出装電が知られている. 従えば、第1図は、特開昭54−159259K開示さ
921眼レフカメラにおけるこの檜の従来装置の一例を
示している,この装置の焦点検出IIIL埋vWR単に
以下K睨明する。
この装置は撮影レンズ(対物レンズ)の射出lIll1
Kおける光軸κ対して対称な2懺域IA,IBの光を、
フイルム面と共役なthi2K配直されたレンズレット
アレイ3を通して、CCD型イメージセンサーあるいは
MOS型イメージ甘ンサーのような一対の自己走會型元
竃素子アレイ4K入射させ、これら光竃業子アレイから
の出力信号の泣相走によって会焦状紗を検昶するもので
ある.元一業子アレイA−(Ao・・・Ai・・・An
)には射出H瀘の幀域1Aからの元が入射し、元竃累子
アレイB群(Bo・・・Bl・・・Bn)Kは射出一の
領域1Bからの元が入射するので、各々の充電素子7レ
イ群の出力信号は、七扛に対応した射出一の鴇域がらく
る光によって作られる被写体像ヲ表わす信号となる。従
って第2図のようκ合焦状藏Kある場合には射出遁の2
つの領域を通過してフイルム面と共役な位置2にできる
2つの級写体傷は、光軸と垂直な面上で一致する.vE
つて光1IL素子7レイ▲群アレイの出力信号と元竃素
子7レイB#の出力信号も、第3図に示すように、す扛
がなく一致する。
Kおける光軸κ対して対称な2懺域IA,IBの光を、
フイルム面と共役なthi2K配直されたレンズレット
アレイ3を通して、CCD型イメージセンサーあるいは
MOS型イメージ甘ンサーのような一対の自己走會型元
竃素子アレイ4K入射させ、これら光竃業子アレイから
の出力信号の泣相走によって会焦状紗を検昶するもので
ある.元一業子アレイA−(Ao・・・Ai・・・An
)には射出H瀘の幀域1Aからの元が入射し、元竃累子
アレイB群(Bo・・・Bl・・・Bn)Kは射出一の
領域1Bからの元が入射するので、各々の充電素子7レ
イ群の出力信号は、七扛に対応した射出一の鴇域がらく
る光によって作られる被写体像ヲ表わす信号となる。従
って第2図のようκ合焦状藏Kある場合には射出遁の2
つの領域を通過してフイルム面と共役な位置2にできる
2つの級写体傷は、光軸と垂直な面上で一致する.vE
つて光1IL素子7レイ▲群アレイの出力信号と元竃素
子7レイB#の出力信号も、第3図に示すように、す扛
がなく一致する。
次K弟4図のようκ後ビン状態にある場合には、射出鴫
の2つの顎域を通過してできる2つの伝写体偉はボケる
とllffJ時にその位置は、フイルム面と共役なil
il2上で、ずfを生する。
の2つの顎域を通過してできる2つの伝写体偉はボケる
とllffJ時にその位置は、フイルム面と共役なil
il2上で、ずfを生する。
従って渠5図に示すように、元酸索子アレイAIの出力
信号と光竃累子7レイBNの出力信号は位相差が生する
。
信号と光竃累子7レイBNの出力信号は位相差が生する
。
久K購6図のように前ピン状題にある場合には、射出一
の2つの領域を通過してできる2つの被写体+11はボ
ケると同時Kその位膚は、フィルム面と共役な而2上で
、後ビンの場合とは反対方向κずれを生ずる。従って第
7図κ示すように、光竃素子アレイA群の出力信号と光
電素子アレイB群の出力信号は後ビンの場合とは逆の位
相差が生じる。
の2つの領域を通過してできる2つの被写体+11はボ
ケると同時Kその位膚は、フィルム面と共役な而2上で
、後ビンの場合とは反対方向κずれを生ずる。従って第
7図κ示すように、光竃素子アレイA群の出力信号と光
電素子アレイB群の出力信号は後ビンの場合とは逆の位
相差が生じる。
以上述べてきたような焦点検出装直では、光電素子アレ
イA群、B群の出力信号の位相差が00時t合焦状寒と
して検出し、又位相差の符号κよって前ビン、後ビン状
0+検出できる.又位相差の1を横出することにより、
合焦状廊κ至るまでの撮影レンズ5の光軸方向への移動
tV予測することも可『ヒである。
イA群、B群の出力信号の位相差が00時t合焦状寒と
して検出し、又位相差の符号κよって前ビン、後ビン状
0+検出できる.又位相差の1を横出することにより、
合焦状廊κ至るまでの撮影レンズ5の光軸方向への移動
tV予測することも可『ヒである。
従米装置は上述の如くである。
しかしながらこの楕の従米の焦点検出長置罠おいての欠
点としては、傭写体律か^い望関周波数成分を多〈苫ん
でいる場合には、焦点検出が不敏となつ皮9哄つ几焦点
検出をしてしまうといつ九現象がしばしば生じる。
点としては、傭写体律か^い望関周波数成分を多〈苫ん
でいる場合には、焦点検出が不敏となつ皮9哄つ几焦点
検出をしてしまうといつ九現象がしばしば生じる。
即ち、今第8図のf(xl’k’411写体儂の空間分
布とし、これに相当する複写体像の空関周波数分布を第
9図のF(一とすると、受光累子アレイκよって空間的
κノXの關隔でサンプリングされた、離散的な禎写体儂
の空関分布glx)は第10図の棒グラフの集りように
なる。
布とし、これに相当する複写体像の空関周波数分布を第
9図のF(一とすると、受光累子アレイκよって空間的
κノXの關隔でサンプリングされた、離散的な禎写体儂
の空関分布glx)は第10図の棒グラフの集りように
なる。
そしてその空関筒波数分布Gfwlは、第11図(al
[示すようKもとの被写体ilF(X)YΔXづつの間
嶋でサンプリングしたのであるからF(xiK対応する
破縁で示され、空間周波数分l 布Flwlk、間隔Δym−づつW軸方向KすらΔX せて加え合わせたものになる。
[示すようKもとの被写体ilF(X)YΔXづつの間
嶋でサンプリングしたのであるからF(xiK対応する
破縁で示され、空間周波数分l 布Flwlk、間隔Δym−づつW軸方向KすらΔX せて加え合わせたものになる。
これが第11図1mlの実縁のカーブであり第9囚のF
(一のカーブとは可成り異った入力となるので被写体に
ついての誤り次情報を発生せしめるおそれがあることが
わかる。なお第11図(a)Kおける斜#Iv施した部
分は上記のΔWだけ膚接して描かn九F(一カーブの臣
に重なる部分を示している。
(一のカーブとは可成り異った入力となるので被写体に
ついての誤り次情報を発生せしめるおそれがあることが
わかる。なお第11図(a)Kおける斜#Iv施した部
分は上記のΔWだけ膚接して描かn九F(一カーブの臣
に重なる部分を示している。
儂写体111F(Xiの空間周波数分布F(一は原点に
対して左右対称であるから、もし被写体儂の空関周波数
分布Fblが前記関隔ΔWの半分のΔW/2の空関鵬波
数よv4高い空間周波数成分を含まなければ、第11図
(b)のa口〈、盲なり合い部分が生じないので、空間
w4波数がΔW IW4≦−なる軸囲ではもとの破写体IJljの空2 関崗波数分布Fiwlとサンプリングされ友襟写体儂の
空間周波数分布G(一は一致し、焦点検出K悪影響を及
ぼさない。
対して左右対称であるから、もし被写体儂の空関周波数
分布Fblが前記関隔ΔWの半分のΔW/2の空関鵬波
数よv4高い空間周波数成分を含まなければ、第11図
(b)のa口〈、盲なり合い部分が生じないので、空間
w4波数がΔW IW4≦−なる軸囲ではもとの破写体IJljの空2 関崗波数分布Fiwlとサンプリングされ友襟写体儂の
空間周波数分布G(一は一致し、焦点検出K悪影響を及
ぼさない。
しかし屯しもとの被写体儂の!2間周波数分布F(一が
前記ΔW/2の空間周波数よりも高い空関鳩波数成分を
多く含んでいる場合には、第l1図(e)の如く貞なり
部分が大さくなり、結果的κサンプリングされ几破写庫
檀の空闇周波数分布G(一はもとの被写体儂の空間周波
数分布Fly)からかけ離れ友ものになり、膿点検出に
悪い影曽を与え焦点慣出のNI貫が低下しまう. 本発明は、こnらの欠点t解決し、破与俸傷が縞い空間
周阪数成分を多く含んでいても高釉度で焦点横出iJ能
な焦点検出装!i1を提供すること?目的とするう 次に本発明の原理t醗明する。第12図は、撮彰レンズ
5が儂写体偉をフィルム面と共役な面2K結儂している
状態、即ち合焦状態を示している。
前記ΔW/2の空間周波数よりも高い空関鳩波数成分を
多く含んでいる場合には、第l1図(e)の如く貞なり
部分が大さくなり、結果的κサンプリングされ几破写庫
檀の空闇周波数分布G(一はもとの被写体儂の空間周波
数分布Fly)からかけ離れ友ものになり、膿点検出に
悪い影曽を与え焦点慣出のNI貫が低下しまう. 本発明は、こnらの欠点t解決し、破与俸傷が縞い空間
周阪数成分を多く含んでいても高釉度で焦点横出iJ能
な焦点検出装!i1を提供すること?目的とするう 次に本発明の原理t醗明する。第12図は、撮彰レンズ
5が儂写体偉をフィルム面と共役な面2K結儂している
状態、即ち合焦状態を示している。
この状廁Kおいて、フィルム面と共役な而2から光軸方
向κ距離tだけへだたった而10での結儂状M4を考え
ると、4Ii与体が点Pであるとすると而1oでは破4
体像は近似的に半経Rの円盤状にボヶた償となる。
向κ距離tだけへだたった而10での結儂状M4を考え
ると、4Ii与体が点Pであるとすると而1oでは破4
体像は近似的に半経Rの円盤状にボヶた償となる。
今、面10でこのようなボケが生じ几場合の、この糸の
空間周波数伝達関数(以下OTFという)を計算すると
、第13図κ示すように、苓周波数に王ピーク11を持
ち、高脚波κい〈に従って伽動的に減衰するものになる
。
空間周波数伝達関数(以下OTFという)を計算すると
、第13図κ示すように、苓周波数に王ピーク11を持
ち、高脚波κい〈に従って伽動的に減衰するものになる
。
今こatをH{一で表わす。
高周i憤城の細ビーク12は王ビーク11に比較してか
なり小さいので央實的KこのOTFの最初の岑点WCを
このOTFのカデトオフ周波数Weと考えることができ
る。
なり小さいので央實的KこのOTFの最初の岑点WCを
このOTFのカデトオフ周波数Weと考えることができ
る。
このカットオフ周波数Weは点11I!に対する円盤状
ボケ像の半径YRとすると、大略次式で与えられる. W@=3.83/(2πXR)・・・(11今第9図に
示すようKボケがない時の僅写体像の空間周波数分布4
Flvd、第13図に示すようにボケの生じた時のOT
FをH(一、ボケのある状態での破写体儂の空1…崗波
数分布tD(一とするとこれは次の(2)式で表わさ扛
、このD(一は@14図に示す形となる。
ボケ像の半径YRとすると、大略次式で与えられる. W@=3.83/(2πXR)・・・(11今第9図に
示すようKボケがない時の僅写体像の空間周波数分布4
Flvd、第13図に示すようにボケの生じた時のOT
FをH(一、ボケのある状態での破写体儂の空1…崗波
数分布tD(一とするとこれは次の(2)式で表わさ扛
、このD(一は@14図に示す形となる。
D(vl=FfwlXHtwl・・・(均即ち、第9図
K示すように被写体像の仝[一周波数分布Ffwlがた
とえ島い空間胤波数成分を多く含んでいても、第13図
KボすH(wlカ一乗ぜられるので、その結果力ットオ
フ周波数We以上の為周波成分は(2)式の米J4.に
よジカットオフさね,このように合成さfLfc破写捧
像の空間周波数分布D一は弟14図に示すようにWe以
上の高周波成分を含まない形となることがわかる。ボケ
のある状塾で被写体像を光竃変換索子アレイにより空間
的にΔ!の間隔でサンプリングし、離散的な被写捧像信
号に変換した場合には、第l5図で爽一で示さ扛るよう
にこのサンプリングさnた離散的な被写体f象の空間周
波数分布B{一は、第15図の破巌で示さn.f′I:
.ボケのある破与俸像の窒闇絢波数分布D一を、図に示
すように間隔1 ΔW”−八ごとにすらして加え合わせたものとなる. 第15図中ではボケによるカットオフ周波数Weを闇隔
ΔWの1/2即ちΔv/2K等しくしているため、空関
鳩波数分布D(wlを間隔ΔWごとにすらして加え合わ
せても、第11図1al中でハツチングで示し友ような
空闇周波数分布F(v)同志の1なり合いか生じていな
い。
K示すように被写体像の仝[一周波数分布Ffwlがた
とえ島い空間胤波数成分を多く含んでいても、第13図
KボすH(wlカ一乗ぜられるので、その結果力ットオ
フ周波数We以上の為周波成分は(2)式の米J4.に
よジカットオフさね,このように合成さfLfc破写捧
像の空間周波数分布D一は弟14図に示すようにWe以
上の高周波成分を含まない形となることがわかる。ボケ
のある状塾で被写体像を光竃変換索子アレイにより空間
的にΔ!の間隔でサンプリングし、離散的な被写捧像信
号に変換した場合には、第l5図で爽一で示さ扛るよう
にこのサンプリングさnた離散的な被写体f象の空間周
波数分布B{一は、第15図の破巌で示さn.f′I:
.ボケのある破与俸像の窒闇絢波数分布D一を、図に示
すように間隔1 ΔW”−八ごとにすらして加え合わせたものとなる. 第15図中ではボケによるカットオフ周波数Weを闇隔
ΔWの1/2即ちΔv/2K等しくしているため、空関
鳩波数分布D(wlを間隔ΔWごとにすらして加え合わ
せても、第11図1al中でハツチングで示し友ような
空闇周波数分布F(v)同志の1なり合いか生じていな
い。
ΔW
従って空関周波数がIWI≦一「の領域ではボケのある
場合の被写体像の空間廟諌数分布D《一とΔXの関隔で
サンプリングさn几a零体儂の空間周波数分布B{一は
ほy一致し、簾点検出K4恣影響を及ぼさない。
場合の被写体像の空間廟諌数分布D《一とΔXの関隔で
サンプリングさn几a零体儂の空間周波数分布B{一は
ほy一致し、簾点検出K4恣影響を及ぼさない。
一般kは第13図,l@14図で示したポヶκよるカッ
トオフ周波数Weを、(l)式からもわかるようKLを
適宜選ぶことにょりRがきまるので適当なftiKする
ことができ、カットt7Jiltl#aW@kli”l
KINRftLtf、#g11a!J(一でハツチング
で示し虎部分K相当する空間周波数分布の事な9合い部
分を削減あるいは除去することが可能である. 実際には上記力ットオフ周波数Wc7弟l5図κ示した
ようkほソ W,=Δw/2=1/(2jx)−(Jloようκ選択
しておけば、重ね合わせの影曽も論去できるとともκ低
周i1!IICも殆ど影譬t与えないことがわかる。
トオフ周波数Weを、(l)式からもわかるようKLを
適宜選ぶことにょりRがきまるので適当なftiKする
ことができ、カットt7Jiltl#aW@kli”l
KINRftLtf、#g11a!J(一でハツチング
で示し虎部分K相当する空間周波数分布の事な9合い部
分を削減あるいは除去することが可能である. 実際には上記力ットオフ周波数Wc7弟l5図κ示した
ようkほソ W,=Δw/2=1/(2jx)−(Jloようκ選択
しておけば、重ね合わせの影曽も論去できるとともκ低
周i1!IICも殆ど影譬t与えないことがわかる。
今、ΔWはサンプリング閾隔ΔXκよって決まる闇隔と
して第16図に示すようKカットオフms数WeYJw
/2<We<AyK遇ん1′e場合には、闇隔ΔWです
らしてW軸上K並べられた空関崗波数分布D(一はまだ
八ツチングで示す如く卓なり合いを生じていることがわ
かる。
して第16図に示すようKカットオフms数WeYJw
/2<We<AyK遇ん1′e場合には、闇隔ΔWです
らしてW軸上K並べられた空関崗波数分布D(一はまだ
八ツチングで示す如く卓なり合いを生じていることがわ
かる。
第17図ではカットオフ網波数Weが
WC#ΔW/2の場合Kは、上記のような竃な9食いが
な(なっていることを示している●更κ第18図ではカ
ットオフ周波数Weが0<We(ΔV/2の場合kは、
上紀のような重なり合いをほ譬除去しているが第17図
の場合に比叙して低周波側のDiwlが減少しており低
周波愉κ好ましくない影響を与えていることかわかる。
な(なっていることを示している●更κ第18図ではカ
ットオフ周波数Weが0<We(ΔV/2の場合kは、
上紀のような重なり合いをほ譬除去しているが第17図
の場合に比叙して低周波側のDiwlが減少しており低
周波愉κ好ましくない影響を与えていることかわかる。
次K以上に述べ九原坤を遍用した本発明の焦点検出装置
の具体的な例について祝明する。
の具体的な例について祝明する。
第19、21、23因は第1図でIi52明した従米の
焦点検出装置Kおいて、レンズレットアレイ31k:フ
ィルム面と共役な11[I2がら元軸方向κ距#tだけ
隔たった[illilOK配置し友本発明κよる焦点検
出装置の構成のーf1を示している。
焦点検出装置Kおいて、レンズレットアレイ31k:フ
ィルム面と共役な11[I2がら元軸方向κ距#tだけ
隔たった[illilOK配置し友本発明κよる焦点検
出装置の構成のーf1を示している。
撮影レンズがフイルム面と共役なrkJ2K対して合焦
状態κある場合には、第19図K示すようK射出1の2
つの領域v通過してレンズレットアレイ位置10上Kで
きる2つの破与体イ象はボケると同時Kそのずれを生ず
る。
状態κある場合には、第19図K示すようK射出1の2
つの領域v通過してレンズレットアレイ位置10上Kで
きる2つの破与体イ象はボケると同時Kそのずれを生ず
る。
従って第20図κ示すように、光電嵩子アレイA群の出
力信号と光電素子アレイByの出力信号は位相差が生ず
る。[19図において、レンズレットアレイ位置10は
フイルム面と共役な位置2の後方κあるので、元竃累子
アレイA群の出力信号を基準にと9、位相差の符号を決
めると、この時の位相差φ会の符号はマイナスKなる。
力信号と光電素子アレイByの出力信号は位相差が生ず
る。[19図において、レンズレットアレイ位置10は
フイルム面と共役な位置2の後方κあるので、元竃累子
アレイA群の出力信号を基準にと9、位相差の符号を決
めると、この時の位相差φ会の符号はマイナスKなる。
久K第2l図のようKtlkピン状塾になった場合、上
述の2つの儂写体漕はボケると同時にその位置はずれを
生ずる.vEって#122図κ示すようKI1元竃素子
アレイANの出力1ぎ号と光電素子アレイB群の出力信
号しは位相差φlY生ずるが、後ビンtKより位相差の
符号は変化する。
述の2つの儂写体漕はボケると同時にその位置はずれを
生ずる.vEって#122図κ示すようKI1元竃素子
アレイANの出力1ぎ号と光電素子アレイB群の出力信
号しは位相差φlY生ずるが、後ビンtKより位相差の
符号は変化する。
次K第23図のようK削ビン状態κなつ几場合上述の2
つの被写体傷はボケると同時にその位置は、合焦状WI
AKおける2つの被写体傷のずれ友位重から、後ビンの
状緒のずれ方向とは逆方向に、さらK大きなずれを生す
る。
つの被写体傷はボケると同時にその位置は、合焦状WI
AKおける2つの被写体傷のずれ友位重から、後ビンの
状緒のずれ方向とは逆方向に、さらK大きなずれを生す
る。
従って第24図に示すように,光電累子7レイA群の出
力信号と光竃素子アレイB群の出力信号には、合焦状1
aKおける位相差と同符号でさらに大きな位相差φ■が
生ずる。
力信号と光竃素子アレイB群の出力信号には、合焦状1
aKおける位相差と同符号でさらに大きな位相差φ■が
生ずる。
従って合焦状DKおける初期位相φ●をあらかじめ記憶
しておいて、各焦点状DKおいて検出された位相差φか
ら初期位相差φ●を減じ、新しい位相差φ′=φ一φ●
を求めれば、第l図〜wJ7図で述べた従米の焦点検出
装置における無点検出原埋と同様な方法で新しい位相差
φ′の符号ValeべることKよ9削ビン、後ビン、合
S等の焦点状態の判別ができる。
しておいて、各焦点状DKおいて検出された位相差φか
ら初期位相差φ●を減じ、新しい位相差φ′=φ一φ●
を求めれば、第l図〜wJ7図で述べた従米の焦点検出
装置における無点検出原埋と同様な方法で新しい位相差
φ′の符号ValeべることKよ9削ビン、後ビン、合
S等の焦点状態の判別ができる。
若しφ′の絶対蓄によって合焦状廊からの絶対的なずれ
量を知ることができれば、2つの遼写体儂のずれt′%
:別途補正する焦点慣出fj−置κついての本出願人K
よる特JIIl昭55−183695,[ilm示した
技術によって正しい窯点位置を知ることができる。
量を知ることができれば、2つの遼写体儂のずれt′%
:別途補正する焦点慣出fj−置κついての本出願人K
よる特JIIl昭55−183695,[ilm示した
技術によって正しい窯点位置を知ることができる。
第19図κおいてレンズレットアレイ3をフイルム面と
共役な面2から元軸方向くすらす距離:lは次のようK
決めるのが望ましい。
共役な面2から元軸方向くすらす距離:lは次のようK
決めるのが望ましい。
撮影レンズの射出lIl面1と、フイルム面又はこれと
共役な面2との距#1をdとし、又も受光累子アレイA
群、B群の各素子Ai、B1は射出li1面10点IA
,1.Bを中心とし次牛径R1の領域を通過する光束Y
:受光しているとする.この時、点儂の僚写体が正しく
フイルム面と共役な而2&CIf1儂されている状St
卸ち合焦状塾においてフイルム面と共役な面2から元軸
方向κ距mtたけ#れた而では、各受光素子アレイAI
tF−、B群上では点11IIか半径R.の円盤状κボ
ケ7tII&検出していることになる。
共役な面2との距#1をdとし、又も受光累子アレイA
群、B群の各素子Ai、B1は射出li1面10点IA
,1.Bを中心とし次牛径R1の領域を通過する光束Y
:受光しているとする.この時、点儂の僚写体が正しく
フイルム面と共役な而2&CIf1儂されている状St
卸ち合焦状塾においてフイルム面と共役な面2から元軸
方向κ距mtたけ#れた而では、各受光素子アレイAI
tF−、B群上では点11IIか半径R.の円盤状κボ
ケ7tII&検出していることになる。
半径R3は次式で与えられる。
Rl=AXR1/d−(41
従って(11,(3)式よりサンプリング間隔ΔXk第
19図において構造上から見て大略レンズレソトのピッ
チ間隔とすれば、フィルム面と共役な面2からの光軸万
向の偏位距離tは、のように決めることκより、サンプ
リングによる被写体像の空間周波数分布の1なり合いの
影Ill1を緩和することができる。
19図において構造上から見て大略レンズレソトのピッ
チ間隔とすれば、フィルム面と共役な面2からの光軸万
向の偏位距離tは、のように決めることκより、サンプ
リングによる被写体像の空間周波数分布の1なり合いの
影Ill1を緩和することができる。
第1図〜M7図κ述べた従来の焦点検出装置κ比較して
第l9図κ述べ友本発明による焦点検出装置が優れてい
る点は矢の点である。
第l9図κ述べ友本発明による焦点検出装置が優れてい
る点は矢の点である。
従来の焦点検出装置は、合焦状態近f!#にーおいて比
較的鮮明な2つの複写体儂K対して光竃変換累子による
サンプリングを行ない、2つの偵写体僧信号の相対的偏
位V検出しているため、もし儂写体偉が高い窒関周鼓数
成分を多く含んでいる場合Kは、前述し友ようK空蘭周
波数分布の1な9合いの影譬κより、合鳩点近傍で偽合
焦点を検出し7tO合無検出梢膚が悪化するといった欠
点が生じるのに比べ、本発明による焦点検出装置は、た
とえ慴与体儂が高い空間周波数成分を多く含んでいる場
合にも、効果的κ高周波成分がカットオフされて空関胸
波数分布の1なり合いの影餐が除去され、合焦点近傍で
安定かつ畠楕度に焦点検出ができる。
較的鮮明な2つの複写体儂K対して光竃変換累子による
サンプリングを行ない、2つの偵写体僧信号の相対的偏
位V検出しているため、もし儂写体偉が高い窒関周鼓数
成分を多く含んでいる場合Kは、前述し友ようK空蘭周
波数分布の1な9合いの影譬κより、合鳩点近傍で偽合
焦点を検出し7tO合無検出梢膚が悪化するといった欠
点が生じるのに比べ、本発明による焦点検出装置は、た
とえ慴与体儂が高い空間周波数成分を多く含んでいる場
合にも、効果的κ高周波成分がカットオフされて空関胸
波数分布の1なり合いの影餐が除去され、合焦点近傍で
安定かつ畠楕度に焦点検出ができる。
かつ、そのためKは何ら轡別の高鳩波空閣綱波数フィル
ターの如き部品を準備してこ1tY光路中に入れる等、
コストのかかることは一切必要としない特色を有してい
る。kK本発明ハiK本出願人がam陥55−1836
5に述べたように、カメラのミラーボックスの底部の十
分深い所K撮影元束をけることなく焦点検出用の元亀変
僕業子アレイを設置したいというdiiiに対しても、
上述の距6tを通官選べば十分応えることができるとい
う効東をも期待しうる。
ターの如き部品を準備してこ1tY光路中に入れる等、
コストのかかることは一切必要としない特色を有してい
る。kK本発明ハiK本出願人がam陥55−1836
5に述べたように、カメラのミラーボックスの底部の十
分深い所K撮影元束をけることなく焦点検出用の元亀変
僕業子アレイを設置したいというdiiiに対しても、
上述の距6tを通官選べば十分応えることができるとい
う効東をも期待しうる。
第1図は従米の焦点検出光学系の概略的構成を示す図、
第2図〜第7図は第1図の光学系の壕点検出状態を祝明
する図、 第8図〜第11図は従来の無点検出装置Kおける複写体
1象の空間的サンプリングの欠点′%:説明する図、 第12図は本発明の原理Y説明する図、第13図〜第1
5図は本発明による焦点検出装置における被写体儂の空
間的サンプリングを空I15wIU波数領域で説明する
図、第16図〜第24図は本発明の央怖例の焦点検出状
態Y:a明する園である。 〔王I#部分の符号の説明〕 撮影レンズ系・・・5、アレイ・・・Ai,Bi燕点検
出光学糸・・・3 104 105
する図、 第8図〜第11図は従来の無点検出装置Kおける複写体
1象の空間的サンプリングの欠点′%:説明する図、 第12図は本発明の原理Y説明する図、第13図〜第1
5図は本発明による焦点検出装置における被写体儂の空
間的サンプリングを空I15wIU波数領域で説明する
図、第16図〜第24図は本発明の央怖例の焦点検出状
態Y:a明する園である。 〔王I#部分の符号の説明〕 撮影レンズ系・・・5、アレイ・・・Ai,Bi燕点検
出光学糸・・・3 104 105
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 !.撮影レンズ系と、所定の間隔で配置された徴数個の
光電変*累子tもつアレイと、前記撮影レンズ系を透過
した僚写体からの光束を前記光電変ls素子アレイ上K
導く焦点検出光学糸と、前記焦点検出光学糸と前記光市
変換嵩子アレイKよ9g!闇的&CFfl定のサクプリ
ング関隔4xでサシブリングされた豪写体儂の信号出力
K基づいて前記撮影レンズ系のフイルム向における僚与
淳1鎗の結儂状廊を判別する判別手段を有し 前記撮影レンズ糸κよるフイルム圓における襟写体憚の
鮎f蒙状−と、lIrII紀光゛鴫叢遺虞子アレイによ
って空関的にサンプリングされる債写体儂の鮎儂状−が
典なっているように#ltlitさ扛た焦点検出装置に
おいて、上記二つのiPit状感の差異y!1′前紀焦
点慎出光学糸と前記元鑞変換嵩子アレイをフィルム面又
はその共軛面から光一万向に所定距離tだけmn度面で
の傍写体1蒙を空闇的にサンプリングすることによって
達底するようにすると共に、上記所定距離tの選択によ
りその性能か足まる空関周波数フィルタとして上記焦点
検出光学系を含む光束内に形成せしめ次ことを%像とす
る焦点検出装置。 2.M与体儂の空閾周波数分布が、フィルム面上に形成
される豪写体儂の空間周波数分布から、前配所定のサシ
プリング関隔ΔXで決まる所定周波数参=124ΔX)
以上の烏い空関周波数成分をカットオフし次ものになる
ようK荊記所定距崎lを決足することを→徴とする特許
請求の範囲第l項配叡の焦点検出装膚。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56185724A JPS5887512A (ja) | 1981-11-19 | 1981-11-19 | 焦点検出装置 |
DE19823242636 DE3242636A1 (de) | 1981-11-19 | 1982-11-18 | Einrichtung zur feststellung der scharfeinstellung |
US06/858,538 US4644148A (en) | 1981-11-19 | 1986-04-29 | Focus detecting apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56185724A JPS5887512A (ja) | 1981-11-19 | 1981-11-19 | 焦点検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5887512A true JPS5887512A (ja) | 1983-05-25 |
JPH0551883B2 JPH0551883B2 (ja) | 1993-08-03 |
Family
ID=16175744
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56185724A Granted JPS5887512A (ja) | 1981-11-19 | 1981-11-19 | 焦点検出装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4644148A (ja) |
JP (1) | JPS5887512A (ja) |
DE (1) | DE3242636A1 (ja) |
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JP2007316521A (ja) * | 2006-05-29 | 2007-12-06 | Nikon Corp | 光電検出装置、光学特性検出装置、および撮像装置 |
US7805067B2 (en) | 2007-02-27 | 2010-09-28 | Nikon Corporation | Focus detection device for image forming optical system, imaging apparatus, and focus detection method for image forming optical system |
US9167148B2 (en) | 2012-03-06 | 2015-10-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Image capture apparatus that performs focus detection with a phase difference detection method |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH0672973B2 (ja) * | 1983-06-30 | 1994-09-14 | 株式会社リコー | オ−トフオ−カス方法 |
US4733263A (en) * | 1985-11-20 | 1988-03-22 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Photographic camera |
US5134431A (en) * | 1986-10-14 | 1992-07-28 | Minolta Camera Kabushiki Kaisha | Photographic camera including a memory for storing adjustment data and a means for adjusting functions of the camera based on the stored adjustment data |
JPS63131111A (ja) * | 1986-11-20 | 1988-06-03 | Minolta Camera Co Ltd | カメラの焦点検出装置 |
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US4994664A (en) * | 1989-03-27 | 1991-02-19 | Massachusetts Institute Of Technology | Optically coupled focal plane arrays using lenslets and multiplexers |
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JP3103587B2 (ja) * | 1990-04-25 | 2000-10-30 | オリンパス光学工業株式会社 | 自動合焦装置 |
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JPH0887600A (ja) * | 1994-09-19 | 1996-04-02 | Topcon Corp | 特徴抽出装置 |
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JPS57108810A (en) * | 1980-12-26 | 1982-07-07 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | Focus detector |
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1981
- 1981-11-19 JP JP56185724A patent/JPS5887512A/ja active Granted
-
1982
- 1982-11-18 DE DE19823242636 patent/DE3242636A1/de not_active Withdrawn
-
1986
- 1986-04-29 US US06/858,538 patent/US4644148A/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0551883B2 (ja) | 1993-08-03 |
US4644148A (en) | 1987-02-17 |
DE3242636A1 (de) | 1983-05-26 |
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