JPH0311445B2 - - Google Patents
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- JPH0311445B2 JPH0311445B2 JP20503482A JP20503482A JPH0311445B2 JP H0311445 B2 JPH0311445 B2 JP H0311445B2 JP 20503482 A JP20503482 A JP 20503482A JP 20503482 A JP20503482 A JP 20503482A JP H0311445 B2 JPH0311445 B2 JP H0311445B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 37
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
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- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/36—Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、カメラ、撮影機、顕微鏡等光学装置
の焦点状態を検出する合焦検出方法、特に横ずれ
像による合焦検出装置の検出範囲を拡大しうる合
焦検出方法に関するものである。
の焦点状態を検出する合焦検出方法、特に横ずれ
像による合焦検出装置の検出範囲を拡大しうる合
焦検出方法に関するものである。
周知のように横ずれ像による合焦検出装置は、
撮影レンズの合焦面またはそれと共役な面に受光
素子列を配置し、その光入射側に設けた光束分割
手段、たとえばレンチキユーラーレンズ、あるい
は本願人の出願にかかわる特願昭56−159218号ま
たは特願昭57−100759号各明細書に詳記されてい
るような微小臨界角プリズムアレイまたはストラ
イプマスク等によつて、前記撮影レンズの光軸を
含む面を境とする各領域からの光束を分離し、前
記受光素子列のたとえば１つおきの受光素子から
なる二つの受光素子グループ（以下「Ａグルー
プ」および「Ｂグループ」という。）にその分離
された光束が主に入射するように構成されてい
る。このように撮影レンズを射出瞳分割して得ら
れる二つの光像は、その撮影レンズが予定合焦面
もしくはそれと共役な面に合焦したときには横ず
れせず、デフオーカス時にそのデフオーカス方向
に応じて互に逆方向に横ずれし、その横ずれ量
は、デフオーカス量に対応することはよく知られ
ている。この像の横ずれ効果を利用して合焦状態
を検出する方式は一般に横ずれ方式と呼ばれてい
る。
撮影レンズの合焦面またはそれと共役な面に受光
素子列を配置し、その光入射側に設けた光束分割
手段、たとえばレンチキユーラーレンズ、あるい
は本願人の出願にかかわる特願昭56−159218号ま
たは特願昭57−100759号各明細書に詳記されてい
るような微小臨界角プリズムアレイまたはストラ
イプマスク等によつて、前記撮影レンズの光軸を
含む面を境とする各領域からの光束を分離し、前
記受光素子列のたとえば１つおきの受光素子から
なる二つの受光素子グループ（以下「Ａグルー
プ」および「Ｂグループ」という。）にその分離
された光束が主に入射するように構成されてい
る。このように撮影レンズを射出瞳分割して得ら
れる二つの光像は、その撮影レンズが予定合焦面
もしくはそれと共役な面に合焦したときには横ず
れせず、デフオーカス時にそのデフオーカス方向
に応じて互に逆方向に横ずれし、その横ずれ量
は、デフオーカス量に対応することはよく知られ
ている。この像の横ずれ効果を利用して合焦状態
を検出する方式は一般に横ずれ方式と呼ばれてい
る。
この像の横ずれを検出する方式においては、受
光素子列に投影される像のデフオーカスが大きく
なるに従い、像の横ずれが増大する反面、ぼけの
効果によつて、受光素子例の出力分布の振幅が小
さくなつていく。
光素子列に投影される像のデフオーカスが大きく
なるに従い、像の横ずれが増大する反面、ぼけの
効果によつて、受光素子例の出力分布の振幅が小
さくなつていく。
いま、Ａグループの受光素子群の出力をAoと
し、Ｂグループの受光素子群の出力をBoとし、
評価関数F1として、たとえば、 F1＝Σ｛｜Ao+1−Bo｜−｜Ao−Bo｜｝ ……(1) を用いると、その評価関数F1は、デフオーカス
方向について第１の如く変化し、Ｄで示したデフ
オーカス範囲では、評価値の符号によつてデフオ
ーカス方向が判り、正、負のピーク値間の零値の
位置が合焦点であることが判る。具体的には、そ
の合焦位置を検出するため、閾値ｌを設け、ｌ＞
F1＞−ｌとなつたとき合焦と判定しているが、
図示のように合焦範囲から遠く離れたデフオーカ
ス方向においては、評価値F1が減衰し、ｌ＞F1
＞−ｌとなる簡所d1，d2が存在するようになるの
で、誤合焦信号が出やすく、このためデフオーカ
ス方向について検出範囲が制約される難点があ
る。
し、Ｂグループの受光素子群の出力をBoとし、
評価関数F1として、たとえば、 F1＝Σ｛｜Ao+1−Bo｜−｜Ao−Bo｜｝ ……(1) を用いると、その評価関数F1は、デフオーカス
方向について第１の如く変化し、Ｄで示したデフ
オーカス範囲では、評価値の符号によつてデフオ
ーカス方向が判り、正、負のピーク値間の零値の
位置が合焦点であることが判る。具体的には、そ
の合焦位置を検出するため、閾値ｌを設け、ｌ＞
F1＞−ｌとなつたとき合焦と判定しているが、
図示のように合焦範囲から遠く離れたデフオーカ
ス方向においては、評価値F1が減衰し、ｌ＞F1
＞−ｌとなる簡所d1，d2が存在するようになるの
で、誤合焦信号が出やすく、このためデフオーカ
ス方向について検出範囲が制約される難点があ
る。
本発明の目的は、上述の如き像の横ずれ検出法
における前記難点を改善し、デフオーカス方向の
検出範囲を拡大し得る合焦検出方法を提供しよう
とするものである。
における前記難点を改善し、デフオーカス方向の
検出範囲を拡大し得る合焦検出方法を提供しよう
とするものである。
本発明の検出範囲を拡げた合焦検出方法は、撮
影レンズの異なつた領域を透過した光束を分離す
る手段と、その手段により分離された光束を各別
に主に受光する二つの受光素子グループからなる
受光手段とを備え、それら二つの受光素子グルー
プに投影される前記各領域からの光束像の横ずれ
状態から前記撮影レンズの合焦状態を検出するよ
うにした合焦検出装置において、それら二つの受
光素子群の出力を用いて横ずれ評価関数と、ぼけ
像評価関数とを求め、それらの評価関数がそれぞ
れに対して設けた所定の閾値以下になつたとき、
前記二つの受光素子群の各出力を振幅一定の方形
波に変換して横ずれ評価関数を求めることによ
り、デフオーカスが大きくなることにより横ずれ
評価関数値が減衰するのを抑制することを特徴と
するものである。
影レンズの異なつた領域を透過した光束を分離す
る手段と、その手段により分離された光束を各別
に主に受光する二つの受光素子グループからなる
受光手段とを備え、それら二つの受光素子グルー
プに投影される前記各領域からの光束像の横ずれ
状態から前記撮影レンズの合焦状態を検出するよ
うにした合焦検出装置において、それら二つの受
光素子群の出力を用いて横ずれ評価関数と、ぼけ
像評価関数とを求め、それらの評価関数がそれぞ
れに対して設けた所定の閾値以下になつたとき、
前記二つの受光素子群の各出力を振幅一定の方形
波に変換して横ずれ評価関数を求めることによ
り、デフオーカスが大きくなることにより横ずれ
評価関数値が減衰するのを抑制することを特徴と
するものである。
以下、図面を参照して本発明を詳細に説明す
る。
る。
第２図は、本発明方法における横ずれ評価関数
とぼけ像評価関数の関係を示す曲線図である。
とぼけ像評価関数の関係を示す曲線図である。
本発明方法においては、さきに説明した周知の
構成の像の横ずれ検出方式による焦点検出装置に
おいて、その受光素子列を構成するたとえば奇数
番目の受光素子からなるＡグループの受光素子群
の出力Aoと、偶数番目からなる受光素子群の出
力Boとを用いて、たとえば前記(1)式による横ず
れ評価関数F1と、ぼけ像評価関数F2としてたと
えば F2＝MAX｜（Ao＋Bo）−（Ao-1＋Bo-1）｜
……(2) からF2とをそれぞれ演算して求める。第２図は、
その横ずれ評価関数F1とぼけ像評価関数F2の関
係を示している。
構成の像の横ずれ検出方式による焦点検出装置に
おいて、その受光素子列を構成するたとえば奇数
番目の受光素子からなるＡグループの受光素子群
の出力Aoと、偶数番目からなる受光素子群の出
力Boとを用いて、たとえば前記(1)式による横ず
れ評価関数F1と、ぼけ像評価関数F2としてたと
えば F2＝MAX｜（Ao＋Bo）−（Ao-1＋Bo-1）｜
……(2) からF2とをそれぞれ演算して求める。第２図は、
その横ずれ評価関数F1とぼけ像評価関数F2の関
係を示している。
同図に示したように横ずれ評価関数F1に対し
ては、閾値l1を、またぼけ像評価関数F2に対して
は閾値l2をそれぞれ設け、 ｜F1｜＜l1，かつF2＜l2 の場合は、前記受光素子列のＡグループおよびＢ
グループの各出力Ao，Boを波形整形して方形波
に変換し、たとえば前記(1)式によりこれら両波形
を用いて横ずれ評価関数F1′を求める。
ては、閾値l1を、またぼけ像評価関数F2に対して
は閾値l2をそれぞれ設け、 ｜F1｜＜l1，かつF2＜l2 の場合は、前記受光素子列のＡグループおよびＢ
グループの各出力Ao，Boを波形整形して方形波
に変換し、たとえば前記(1)式によりこれら両波形
を用いて横ずれ評価関数F1′を求める。
第３図は、前記波形整形を行なう手順の一例を
説明するための波形図である。同図ａは、｜F1｜
＜l1かつF2＜l2の場合における受光素子列のＡグ
ループおよびＢグループの各受光素子群の出力
AoおよびBoを示している。すなわち、この状態
のときは、横ずれ評価関数F1によつては、デフ
オーカス方向の検出が困難な場合であり、しかも
図示のように各受光素子グループの出力Ao，Bo
の布分は、大きく横ずれしている。また、この出
力Ao，Boは、当然ぼけ像検出方式によつてもデ
フオーカス方向の検出が不可能な領域の出力であ
る。
説明するための波形図である。同図ａは、｜F1｜
＜l1かつF2＜l2の場合における受光素子列のＡグ
ループおよびＢグループの各受光素子群の出力
AoおよびBoを示している。すなわち、この状態
のときは、横ずれ評価関数F1によつては、デフ
オーカス方向の検出が困難な場合であり、しかも
図示のように各受光素子グループの出力Ao，Bo
の布分は、大きく横ずれしている。また、この出
力Ao，Boは、当然ぼけ像検出方式によつてもデ
フオーカス方向の検出が不可能な領域の出力であ
る。
このような受光素子列の各グループＡ，Ｂの受
光素子群の出力Ao，Boを、この実施例において
は、同図ｂに示したようにそれぞれ微分し、もし
くはAo′およびBo′、 Ao′＝Ao−Ao-1 ……(3) Bo′＝Bo−Bo-1 ……(4) を演算した後、Ao′，Bo′の傾斜に対応した幅の
振幅一定な矩形波Ao″，Bo″に変換する。この変
換された状態の波形を同図ｃに示す。
光素子群の出力Ao，Boを、この実施例において
は、同図ｂに示したようにそれぞれ微分し、もし
くはAo′およびBo′、 Ao′＝Ao−Ao-1 ……(3) Bo′＝Bo−Bo-1 ……(4) を演算した後、Ao′，Bo′の傾斜に対応した幅の
振幅一定な矩形波Ao″，Bo″に変換する。この変
換された状態の波形を同図ｃに示す。
このように方形波に変換した受光素子列の出力
Ao″およびBo″を用いて任意の横ずれ評価関数
F1′、たとえば前記(1)式により定義される横ずれ
評価関数F1を求めれば、ぼけの増大による受光
素子列の出力振幅の減少に原因した横ずれ評価関
数の減衰は、抑制されて真の横ずれのみを比較す
ることがでることとなるので、F1′はF1に比べて
極めて大きな値を示し、デフオーカス方向につい
ての検出範囲が一段と拡大する。
Ao″およびBo″を用いて任意の横ずれ評価関数
F1′、たとえば前記(1)式により定義される横ずれ
評価関数F1を求めれば、ぼけの増大による受光
素子列の出力振幅の減少に原因した横ずれ評価関
数の減衰は、抑制されて真の横ずれのみを比較す
ることがでることとなるので、F1′はF1に比べて
極めて大きな値を示し、デフオーカス方向につい
ての検出範囲が一段と拡大する。
第４図は、その検出範囲が拡大される様子を示
した横ずれ評価関数曲線図である。さきに説明し
たように横ずれ評価関数F1が、この評価関数に
対して設けた閾値l1以下のレベルとなり、かつぼ
け像評価関数F2がその評価関数F2に対して設け
た閾値l2以下となる位置P1，P2によりも以遠のデ
フオーカス方向については、受光素子列のＡグル
ープとＢグループの各受光素子群の出力を振幅一
定の方形波に変換して横ずれ評価関数F1を求め
ている。従つて、受光素子列の出力の振幅が従来
の横ずれ検出方式では検出が困難であつたような
小さい値であつても、その横ずれ評価関数F1は、
従来検出が不可能であつたデフオーカス領域にお
いて、図示のように著しく大きな値となることを
示している。
した横ずれ評価関数曲線図である。さきに説明し
たように横ずれ評価関数F1が、この評価関数に
対して設けた閾値l1以下のレベルとなり、かつぼ
け像評価関数F2がその評価関数F2に対して設け
た閾値l2以下となる位置P1，P2によりも以遠のデ
フオーカス方向については、受光素子列のＡグル
ープとＢグループの各受光素子群の出力を振幅一
定の方形波に変換して横ずれ評価関数F1を求め
ている。従つて、受光素子列の出力の振幅が従来
の横ずれ検出方式では検出が困難であつたような
小さい値であつても、その横ずれ評価関数F1は、
従来検出が不可能であつたデフオーカス領域にお
いて、図示のように著しく大きな値となることを
示している。
第５図は、本発明方法を実施するため、受光素
子列の出力を処理する信号処理回路の構成の一例
の概略を示すブロツク線図であり、この信号処理
回路の動作を第６図の流れ図により簡単に説明す
る。
子列の出力を処理する信号処理回路の構成の一例
の概略を示すブロツク線図であり、この信号処理
回路の動作を第６図の流れ図により簡単に説明す
る。
第５図において、１は、さきに説明したように
たとえば奇数番目の受光素子群からなるＡグルー
プと偶数番目の受光素子群からなるＢグループの
各受光素子が交互に配列された受光素子列であ
る。この受光素子列１の受光素子の個々の出力
は、サンプルホールド回路２によつて、同時にサ
ンプルホールドする。これを順次読み出して、
Ａ／Ｄ変換回路３に導き、デジタル信号に変換
し、演算回路４に取り込む。
たとえば奇数番目の受光素子群からなるＡグルー
プと偶数番目の受光素子群からなるＢグループの
各受光素子が交互に配列された受光素子列であ
る。この受光素子列１の受光素子の個々の出力
は、サンプルホールド回路２によつて、同時にサ
ンプルホールドする。これを順次読み出して、
Ａ／Ｄ変換回路３に導き、デジタル信号に変換
し、演算回路４に取り込む。
演算回路４においては、受光素子列における各
グループの出力Ao，Boを用いて、たとえば前記
(1)式および(2)式に示したそれぞれの算出式により
横ずれ評価関数F1およびぼけ像評価関数F2をそ
れぞれ演算し、第６図に示したようにそれら各評
価関数F1，F2をノイズ等から弁別して確実に検
出し得る最低レベルに設定した各閾値l1およびl2
とそれぞれ比較する。その結果、前述したように
｜F1｜＜l1かつF2＜l2であれば、たとえば、前記
(3)式および(4)式により前記受光素子列のＡグルー
プの出力AoおよびＢグループの出力Boを用いて
Ao′およびBo′を求め、その値に応じ、 Ao′＞０の場合はAo″＝＋Ｖ（一定値） Ao′０の場合はAo″＝０ Bo′＞０の場合はBo″＝＋Ｖ（一定値） Bo′０の場合はBo″＝０ に変換して矩形波に整形し、このAo″，Bo″を用
いて、たとえば前記(1)式によりF1と同じ横ずれ
評価関数F1′を演算する。F1′とF1は、同じ横ずれ
評価関数であるから、F1′をF1′で表わすものとす
ると、そのF1は、第４図にP1およびP2において
大きい評価値となり、すそがデフオーカス方向に
ついて大きく拡がつた特性を示す。
グループの出力Ao，Boを用いて、たとえば前記
(1)式および(2)式に示したそれぞれの算出式により
横ずれ評価関数F1およびぼけ像評価関数F2をそ
れぞれ演算し、第６図に示したようにそれら各評
価関数F1，F2をノイズ等から弁別して確実に検
出し得る最低レベルに設定した各閾値l1およびl2
とそれぞれ比較する。その結果、前述したように
｜F1｜＜l1かつF2＜l2であれば、たとえば、前記
(3)式および(4)式により前記受光素子列のＡグルー
プの出力AoおよびＢグループの出力Boを用いて
Ao′およびBo′を求め、その値に応じ、 Ao′＞０の場合はAo″＝＋Ｖ（一定値） Ao′０の場合はAo″＝０ Bo′＞０の場合はBo″＝＋Ｖ（一定値） Bo′０の場合はBo″＝０ に変換して矩形波に整形し、このAo″，Bo″を用
いて、たとえば前記(1)式によりF1と同じ横ずれ
評価関数F1′を演算する。F1′とF1は、同じ横ずれ
評価関数であるから、F1′をF1′で表わすものとす
ると、そのF1は、第４図にP1およびP2において
大きい評価値となり、すそがデフオーカス方向に
ついて大きく拡がつた特性を示す。
なお、この実施例においては、F1′とF1は、同
じ評価関数を用いているが、F1′＝F1である必要
はなく、F1′としては、大きなデフオーカス状態
を正確に判定できる評価関数であればよい。
じ評価関数を用いているが、F1′＝F1である必要
はなく、F1′としては、大きなデフオーカス状態
を正確に判定できる評価関数であればよい。
演算回路４により以上のようにして求めた
F1′すなわちF1を次の合焦判定表示回路５に導き、
第６図に図示したように合焦検出精度を高めるた
めに前記の各閾値l1，l2より小さな値に設定した
合焦検出レベルを閾値ｌ（第４図参照）にして、
このｌと比較し、F1ｌであれば前ピン、F1＜
ｌであればさらにF1ｌであることを確認して
後ピン、その確認ができない場合には検出不能
と、それぞれ判定してその旨を表示する。
F1′すなわちF1を次の合焦判定表示回路５に導き、
第６図に図示したように合焦検出精度を高めるた
めに前記の各閾値l1，l2より小さな値に設定した
合焦検出レベルを閾値ｌ（第４図参照）にして、
このｌと比較し、F1ｌであれば前ピン、F1＜
ｌであればさらにF1ｌであることを確認して
後ピン、その確認ができない場合には検出不能
と、それぞれ判定してその旨を表示する。
他方、さきに説明した検出開始直後の比較結
果、すなわち、｜F1｜＜ｌかつF2＜l2であるかど
うかの判定結果がNOの場合には、演算結果F1を
合焦判定表示回路５に導いて前記合焦検出レベル
の閾値ｌと比較し、F1ｌであれば、前ピン、
F1−ｌであれば後ピン、｜F1｜＜ｌであれば合
焦とそれぞれ判定してその旨を表示する。なお、
第５図の６は、受光素子列１、サンプルホールド
回路２、Ａ／Ｄ変換回路３、演算回路４および合
焦判定表示回路５をそれぞれ適当なタイミングで
制御するための制御回路である。
果、すなわち、｜F1｜＜ｌかつF2＜l2であるかど
うかの判定結果がNOの場合には、演算結果F1を
合焦判定表示回路５に導いて前記合焦検出レベル
の閾値ｌと比較し、F1ｌであれば、前ピン、
F1−ｌであれば後ピン、｜F1｜＜ｌであれば合
焦とそれぞれ判定してその旨を表示する。なお、
第５図の６は、受光素子列１、サンプルホールド
回路２、Ａ／Ｄ変換回路３、演算回路４および合
焦判定表示回路５をそれぞれ適当なタイミングで
制御するための制御回路である。
上述の本発明方法を各種の光学装置における結
像光学系の自動焦点調節装置に実施する場合に
は、従来と同様に前述のようにして得られた前ピ
ンおよび後ピン情報に基づいて、前記結像光学系
を光軸方向に駆動し、合焦の判定結果を得たとき
に、その駆動を停止するよう自動駆動制御するよ
うに構成すればよい。
像光学系の自動焦点調節装置に実施する場合に
は、従来と同様に前述のようにして得られた前ピ
ンおよび後ピン情報に基づいて、前記結像光学系
を光軸方向に駆動し、合焦の判定結果を得たとき
に、その駆動を停止するよう自動駆動制御するよ
うに構成すればよい。
以上詳細に説明したように本発明方法によれ
ば、像の横ずれ検出方式による焦点検出装置にお
いて、従来方法では横ずれ評価値がデフオーカス
量に応じて減少するために検出困難となるデフオ
ーカス方向の領域についても、十分大きな値の評
価値が得られ、しかも、横ずれ評価関数曲線のす
そが、デフオーカス方向について大きく拡がる。
従つて、合焦位置から遠く離れたデフオーカス方
向の焦点状態検出範囲が著しく拡大し、広いデフ
オーカス範囲にわたつて合焦判定が行ない得るの
みならず誤合焦信号を出さない等の効果がある。
ば、像の横ずれ検出方式による焦点検出装置にお
いて、従来方法では横ずれ評価値がデフオーカス
量に応じて減少するために検出困難となるデフオ
ーカス方向の領域についても、十分大きな値の評
価値が得られ、しかも、横ずれ評価関数曲線のす
そが、デフオーカス方向について大きく拡がる。
従つて、合焦位置から遠く離れたデフオーカス方
向の焦点状態検出範囲が著しく拡大し、広いデフ
オーカス範囲にわたつて合焦判定が行ない得るの
みならず誤合焦信号を出さない等の効果がある。
第１図は、従来の像の横ずれ検出方式による合
焦検出装置の問題点説明図、第２図は、本発明方
法における横ずれ評価関数F1とぼけ像評価関数
F2の関係説明図、第３図は、受光素子列の出力
を波形整形する手順の一例を説明するための波形
図、第４図は、本発明方法によつて、横ずれ評価
関数によるデフオーカス方向の検出範囲が拡大さ
れた様子を示す曲線図、第５図は、受光素子列の
出力を処理する信号処理回路の構成の一例の概略
を示すブロツク線図、第６図は、本発明方法の実
施例の一例を説明するための流れ図である。 １……受光素子例、２……サンプルホールド回
路、３……Ａ／Ｄ変換回路、４……演算回路、５
……合焦判定表示回路、６……制御回路。
焦検出装置の問題点説明図、第２図は、本発明方
法における横ずれ評価関数F1とぼけ像評価関数
F2の関係説明図、第３図は、受光素子列の出力
を波形整形する手順の一例を説明するための波形
図、第４図は、本発明方法によつて、横ずれ評価
関数によるデフオーカス方向の検出範囲が拡大さ
れた様子を示す曲線図、第５図は、受光素子列の
出力を処理する信号処理回路の構成の一例の概略
を示すブロツク線図、第６図は、本発明方法の実
施例の一例を説明するための流れ図である。 １……受光素子例、２……サンプルホールド回
路、３……Ａ／Ｄ変換回路、４……演算回路、５
……合焦判定表示回路、６……制御回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 撮影レンズの異なつた領域を透過した光束を
分離する手段と、その手段により分離された光束
を各別に主に受光する二つの受光素子群からなる
受光手段とを備え、それら二つの受光素子群に投
影される前記各領域からの光束像の横ずれ状態か
ら前記撮影レンズの合焦状態を検出するようにし
た合焦検出装置において、それら二つの受光素子
群の出力を用いて像の横ずれ評価関数と、ぼけ像
評価関数とを求め、それらの評価関数がそれぞれ
に対して設けた所定の閾値以下になつたとき、前
記二つの受光素子群の各出力を振幅一定の方形波
に変換して横ずれ評価関数を求めることにより、
デフオーカスが大きくなることにより横ずれ評価
関数値が減衰するのを抑制することを特徴とする
検出範囲を拡げた合焦検出方法。 ２ 前記受光素子群の各出力の方形波への変換
は、それら各出力を微分もしくは微分したのと等
価な処理を施した後に行なうことを特徴とする特
許請求の範囲第１項に記載の検出範囲を拡げた合
焦検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20503482A JPS5994721A (ja) | 1982-11-22 | 1982-11-22 | 検出範囲を拡げた合焦検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20503482A JPS5994721A (ja) | 1982-11-22 | 1982-11-22 | 検出範囲を拡げた合焦検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5994721A JPS5994721A (ja) | 1984-05-31 |
| JPH0311445B2 true JPH0311445B2 (ja) | 1991-02-18 |
Family
ID=16500341
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20503482A Granted JPS5994721A (ja) | 1982-11-22 | 1982-11-22 | 検出範囲を拡げた合焦検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5994721A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2015128908A1 (ja) * | 2014-02-26 | 2015-09-03 | パナソニックＩｐマネジメント株式会社 | 深さ位置検出装置、撮像素子、及び深さ位置検出方法 |
-
1982
- 1982-11-22 JP JP20503482A patent/JPS5994721A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5994721A (ja) | 1984-05-31 |
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