JPS6255641B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、結像光学系におけるピント検出を行
なう測距方式に関する。

従来、焦点合せの必要があるカメラなどの結像
光学系におけるピント検出を行なわせる測距方式
としては、焦点外れによる像の照度変化を利用し
たコントラスト法あるいはその空間周波数の変化
を利用した周波数分析法を用いて、第１図に示す
ように、レンズＬの光軸上における結像面Ｐ位置
の前、後にそれぞれ受光素子アレイＳ_A，Ｓ_Bを等
距離に配設し、それら各受光素子アレイＳ_A，Ｓ_B
の出力ｖ_A，ｖ_Bを比較して、ｖ_A＝ｖ_Bであればレ
ンズＬの焦点が結像面Ｐ位置にあるいわゆる合焦
状態を、またｖ_A＞ｖ_BであればレンズＬの焦点が
結像面Ｐよりも前位置にあるいわゆる前ピント状
態を、またｖ_A＜ｖ_BであればレンズＬの焦点が結
像面Ｐよりも後位置にあるいわゆる後ピント状態
をそれぞれ検知するようにしている。

しかし、このような従来の測距方式にあつて
は、結像面Ｐ位置の前、後に配設する各受光素子
アレイＳ_A，Ｓ_Bの間隔調整がむずかしいものにな
つてしまつている。すなわち、両者の間隔が狭す
ぎると、第２図ａに示すように、結像面Ｐ位置に
対応する出力レベルｖ_Pが大きくなつて合焦の判
定をしやすくなるが、逆に両出力レベルｖ_A，ｖ_B
の差Δｖが小さくなつて前ピント、後ピントの判
定が困難になつてしまう。また、両者の間隔が広
すぎると、同図ｂに示すように、両出力レベルｖ
_A，ｖ_Bの差Δｖが大きくなつて前ピント、後ピン
トの判定が容易になるが、逆に結像面Ｐ位置に対
応する出力レベルｖ_Pが小さくなつて合焦の判定
が困難になつてしまう。何れにしても、従来の測
距方式では、各受光素子アレイＳ_A，Ｓ_Bの出力ピ
ークをピント検出に利用することができずにその
検出効率が悪いものになつている。

本発明は以上の点を考慮してなされたもので、
前記コントラスト法あるいは周波数分析法を利用
して、一対の受光素子アレイの出力を比較して結
像光学系におけるピント検出を行なわせる際、各
受光素子アレイの配置関係を格別配慮することな
く、しかも出力のピークを利用して合焦、前ピン
ト、後ピントの各状態を効率良く高精度に検出す
ることができる測距方式を提供するものである。

以下、添付図面を参照して本発明の一実施例に
ついて詳述する。

本発明による測距方式にあつては、第３図ａ、
第４図ａおよび第５図ａにそれぞれ示すように、
レンズＬの結像面（カメラの場合はフイルム面と
なる）Ｐ位置に光軸に対して直角に第１の受光素
子アレイＳ_Aを、また同じくそのＰ位置に光軸に
対して斜めに第２の受光素子アレイＳ_Bをそれぞ
れ設け、それら各受光素子アレイＳ_A，Ｓ_Bからそ
れぞれ求められる像のコントラスト分布を比較す
ることによつて合焦、前ピント、後ピントの各ピ
ント検出を行なわせるようにしたものである。

いま、例えば第６図に示すような縞築模様のパ
ターンを結像面Ｐに結像させる場合について考え
てみると、その像を第１の受光素子アレイＳ_Aお
よび第２の受光素子アレイＳ_Bによつてそれぞれ
読取らせると、合焦時には第３図ｂに示すような
画像信号ｖ_A（Ｓ_Aの出力）およびｖ_B（Ｓ_Bの出
力）が、後ピント時には第４図ｂに示すような画
像信号ｖ_A，ｖ_Bが、また前ピント時には第５図ｂ
に示すような画像信号ｖ_A，ｖ_Bがそれぞれ得られ
ることになる。

すなわち、第１の受光素子アレイＳ_Aによつて
読取られる画像信号ｖ_Aは、非合焦（後ピント、
前ピント）時にはその入射光照度が低下するため
に合焦時よりもその出力が弱いものになる。ま
た、第２の受光素子アレイＳ_Bによつて読取られ
る画像信号ｖ_Bは、合焦時にはその出力のピーク
が結像面Ｐ位置に応じた中央にあり、後ピント時
には結像面Ｐ位置を境としてその前方に入射光の
照度が次第に弱くなり、その後方に入射光の照度
が次第に強くなるために、出力ピークが後方部に
生じ、また前ピント時にはその出力ピークが前方
部に生ずることになる。

したがつて、本発明による測距方式では、第１
および第２の各受光素子アレイ，Ｓ_Bの出力をそ
れぞれ平均化処理して、第３図ｃ、第４図ｃ、第
５図ｃに示すようなコントラスト分布を求めたう
えで各平均出力v′_A，v′_Bの比較を行なわせること
により、以下のようにしてピント検出ができるよ
うになる。

１ 素子位置の如何にかかわらずv′_A≧v′_Bであれ
ば、合焦状態にあるものと判定する。第１およ
び第２の各受光素子アレイＳ_A，Ｓ_Bの出力誤差
を考えなければ、結像面Ｐ位置に対応する素子
位置ｍでv′_A＝ｖ_Bとなる。

２ ｍを境としてその後方における右側の素子領
域でv′_A＜v′_Bが成立すれば後ピント状態にある
ものと判定する。

３ ｍを境としてその前方における左側の素子領
域でv′_A＜v′_Bが成立すれば前ピント状態にある
ものと判定する。

この関係は、被写体が第６図のパターンの場合
に限られず、その他一般の被写体の場合であつて
も常に成り立つものとなる。

なお、第２の受光素子アレイＳ_Bは光軸に対し
て斜めに置かれるために、垂直に置かれた第１の
受光素子アレイＳ_Aに比べて出力レベルが低下し
てしまうことが考えられるので、増幅等の手段を
介して両出力レベルをそろえる必要がある。

以上はコントラスト法によつてピント検出を行
なわせる場合について説明したが、その他周波数
分析法によつても同様にピント検出を行なわせる
ことができるようになることはいうまでもない。

また、第７図は第１および第２の各受光素子ア
レイＳ_A，Ｓ_Bの他の配置例を示すもので、この場
合は結像面Ｐ位置に第１の受光素子アレイＳ_Aを
光軸に対して垂直に設けるとともに、ハーフミラ
ーHMによつて分光された光路上の等位置に第２
の受光素子アレイＳ_Bを光軸に対して斜めに設け
るようにしている。

さらに、第８図および第９図はそれぞれピント
検出のための専用の２つのレンズＬ_A，Ｌ_Bを使用
して、主レンズＬと結像面Ｐ位置との間の距離に
応じた縮尺位置P′にそれぞれ第１および第２の各
受光素子アレイＳ_A，Ｓ_Bを設けるようにした光学
系の構成例を示している。

以上、本発明による測距方式にあつては、結像
レンズの結像面に相当する位置に光軸に対して第
１の受光素子アレイを垂直に、同じく第２の受光
素子アレイを斜めにそれぞれ配設し、それら各受
光素子アレイによつてそれぞれ電気的に読取られ
た像のコントラスト分布を比較させ、第２の受光
素子アレイの出力にもとづくコントラスト分布Ｂ
のピークが第１の受光素子アレイの出力にもとづ
くコントラスト分布Ａ以下にあれば合焦、同じく
そのコントラスト分布Ｂのピークがコントラスト
分布Ａを越えていれば非合焦として判定し、さら
に非合焦の場合にはコントラスト分布Ｂのピーク
点がレンズに対して結像面よりも前方にあるか後
方にあるかによつて前ピント、後ピントの各状態
を検知するようにしたもので、第１および第２の
各受光素子アレイの相対的な位置関係を余り問題
とすることなく、しかもピーク点を利用している
ためにピント状態の検出を容易かつ高精度に行な
わせることができる。その他、光学系を静止状態
においたままピント検出を行なわせることがで
き、被写体を何ら選択せず、またその検出手段が
簡単でカメラなど組込みやすいなどの種々の優れ
た利点を有している。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の測距方式における光学構成を示
す図、第２図ａ，ｂはその第１および第２の受光
素子アレイの間隔を変化させたときの各出力状態
をそれぞれ示す図、第３図ａ，ｂ，ｃは本発明に
よる測距方式における合焦時の光学構成、第１お
よび第２の受光素子アレイの各出力およびそれら
のコントラスト分布をそれぞれ示す図、第４図
ａ，ｂ，ｃは後ピント時における第３図に準ずる
図、第５図ａ，ｂ，ｃは前ピント時における第３
図に準ずる図、第６図は結像パターンの一例を示
す図、第７図ないし第９図は他の光学構成例をそ
れぞれ示す図である。 Ｓ_A，Ｓ_B……受光素子アレイ、Ｌ……結像レン
ズ、Ｐ……結像面位置。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 結像レンズの結像面に相当する位置に、光軸
   に対して第１の受光素子アレイを垂直に、同じく
   第２の受光素子アレイを斜めにそれぞれ配設し、
   第２の受光素子出力に応じたコントラスト分布の
   ピークが第１の受光素子出力に応じたコントラス
   ト分布以下にあれば合焦、そうでなければ非合焦
   として判定し、非合焦の場合には前記ピーク点が
   レンズに対して結像面位置よりも前方にあるとき
   には前ピント状態に、またそれが後方にあるとき
   には後ピント状態にあることをそれぞれ検出する
   ようにした測距方式。