JPS5878400A - Ｘ線システムテスタ− - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は一般的には、Ｘ線システムテスターに関し、よ
り詳細には、Ｘ線システムの神々の動作パラメーターを
測定するのに過月１され、旧つＸ線（６） 装置技士に情報を力えて５技士がＸ線装置を試験できる
ようにし、またＸ線装置が適正に七つ一定の安全規格に
従って作動していることを確認できるように適用された
Ｘ線システムテスターに関する。

従来技術によると、Ｘ線管から発射するＸ線ビームを患
者の選択された部位に透過して患者の内部構造の陰影像
を整合されたＸ線フィルムに写すことができることは周
知である。Ｘ線像の質はＸ線フラックスの強度に依存す
る。Ｘｉミツラックス強度は、Ｘ線管陽極電流（ｍＡ）
及びＸ線暴尭の期間に比例する。

平均陽極電流とＸ線暴開期間との積は、（ＭＡＳ）と呼
ばれる暴亦量（ミリアンペア秒）パラメーターになる。

このパラメーターＭＡＳは望ましいＸ線像ヲフイルムに
写すことができる程、十分に大きくなり−れはならない
が、同時に、患者な過膿にＸ線放射に暴廊させない程、
又、Ｘ線照射の対象物か過大な熱で損傷しな（・程に十
分に小さくなけれはならない。

（７） さらに、Ｘ線陰影像の質は、Ｘ線ビームの透ＩＩ４能に
も依存する。動作原理によると、陰極から発射された電
子が、十分なエネルギーをもって対象陽極の焦点Ｖこ静
電的に当てられ、ＸＭ！がビームとなって対象陽極から
発射される。ビーム状のＸ線の最大エネルギーは、陰極
から発射されるビーム状市子によって得られる最大運動
エネルギーに比例する。最大運動エネルギーはＸ線管の
作動中に陰極と陽極との間にかけられる電圧の関数であ
る。

従って、患者の選択された部位が肉質組織から成る場合
は、Ｘ線ビームの陰極と陽極との間にかけられる電圧は
それに応じて低いエネルギーのＸｉすなわち柔かいＸ、
％ｉを発生するために相当に低くすべきである。何とな
れば、柔かいＸ線でも選択された部位の肉質組織を透過
するだけのエネルギーは十分にあり、且つ整合されたフ
ィルムに所望の分解能と構造の細かい部分まで区別する
コントラストを有するＸ線を写すことができるからであ
る。これとは反対に、患者の選択された１＄位が骨質組
織から成る場合は、陰極と陽極との間にかけ（８） られる電圧は、密度の高い骨質構造な透過できる十分に
エネルギーの高い、すなわち硬いＸ線を発生するために
相当に高くなければならない。

さらに、ｘ１＃像の雀は、Ｘ、％！管のフィラメント電
流にも関連している。イロ１となれは、陽極電流は。

斯かるフィラメント霜：流の関数であり、陽極電流はＸ
線管のＸ糾フラックス強度を確立しているからである。

またさらに　Ｘ　ｇ像の質は暴謝休止期間中にＸ線発生
器に供給される電柳電圧又はライン電圧の制御に依存す
る。すなわち、Ｘ線管の動作の休止期間中、Ｘ線管はＸ
＆！管に負荷を与える。この負荷によって、ライン電圧
の降下が起り得る。このライン電圧降下によって陽極電
流と陽極と陰極間のピーク電圧の減少かもたらされる。

かくして。

装置が実際に作動している時に装置が所望の陽極陰極間
富圧及び陽極電流を廟しているか否かを決定するために
、装置の電源に対する負荷効果を考慮に入れることか必
要となる。

本発明によると、＞４システムの１例えは陽極（９） 電圧、陰極電圧、陽極電圧＋Ｎ極電圧、陽極電流。

フィラメント電流、又はライン電圧といった複数の動作
パラメーターを測定するためのＸ？ｆＭシステムテスタ
ーが提供される。断がるＸ線システムテスターは、セレ
クターを含んでおり、このセレクターには、Ｘ＆’シス
テムから与えられる複数のｔｌｊｌ何気とこの複数の電
気信号の選択された１つをデジタル化部に結合するため
の制御信号が供給されろ。このデジタル化部は、上記の
複数の電気信号の選択的に結合された１つを、それを表
わす周波数な鳴する一連のパルスに変換する。このパル
　　゛ス列は、パルス列の周波数に従って動作パラメー
ターの値を決定する演算部によって処理される。

、Ｆ記の構造（（より、演算部は１通常の形式の入力デ
ータ、すなわちパルス列の周波数からｘｋ↓ト１システ
ムの全ての動作パラメーターを決定ずろため、Ｘ線シス
テムテスターの経費と複信１性な軽減することかできる
。

本発明の別の特徴によると、制御パネルにエンターされ
た信号によってセレクターにさらに人力（１０） が与えられる。これらの制御パネル信号は一般的にシス
テム遅延信号、ピーク電圧（ＫＶ　）遅延信号及びトリ
ガーレベル信号を含む。セレクターは、制御パネル信号
の選択された１つを、前述のように制御パ坏ル情号の結
合された１つを表わす周波数を崩するパルス列に変換す
るためのデジタル化部に結合するのに用いられる。次に
演算部が制御パネル信号の結合された１つの周波数を決
定する。

すなわち制御パネル信号の結合された１つを表わす値を
決定する。この制御パネル信号の結合された１つを表わ
す値は、演算部のメモリーに記憶され、Ｘ線発生システ
ムの動作休止期間中に用いられる。上記の構造により、
演算部は同じ形式の入力データ、すなわち一連のパルス
の周波数から制御パネル信号とＸ＃システムのパラメー
ターを求め、従ってＸ１ｇシステムテスターの経費と複
雑性な軽減することかできる。５１．。

本発明の別の特徴によると、演算部は、開側１パネルか
ら導入されたシステム遅延信号を用いて。

Ｘｉシステム動作パラメーターの処理乞、システ（１１
） ム遅延信号の値に相当する期間が経過するまで遅延させ
る。斯かる時間が経過すると、び算部は選択されたＸ線
システム動作パラメーターの演算を開始する相性な発す
る。動作パラメーターが求められるのは、所定の休止時
間、又は遅延体重の約１時に開始する窓のみである。上
記の構造により。

システム遅延の特徴を用いて、異なる赫蔀休止１０１間
の異なる時、壱における陽＠Ｌ市流又はフィラメント電
流の値を求めることができる。これらの飴によって、フ
イラメンｌ流／陽極電流レギュレーターを用いたＸａ！
システムの動作可能性を確認することができる。

本発明の別の特徴によると、フロノドパネルから導入さ
れたトリガーレベル信号がωｔ′ｊＡｇ部のメモリーに
記憶されて、トリガーしきい植信シラ火発生するのに用
いられる。記憶されたトリガーレベル信号は必要な時に
、；、メモリーから読出されて、演算部からデジタル−
アナログ（Ｄ／Ａ）変換器に供給される。Ｄ／Ａ変挾器
の入力は５比較器の一方の入力に接続されている。比較
器の第２人力はＸ（１２） 線システム動作信号の選択された１つに接続されている
。動作パラメーターの選択された１つがトリガーレベル
信号を超えた時、トリガパルスが比較器の出力に発生す
る。以上の構造により、トリガーレベル信号がデジタル
語に変換され、ＩｖＴかるデジタル語はメモリーに記憶
される。これにより、コンデンサや他の非デジタル型記
憶素子によって記憶されたトリガーレベル信号に一般的
にみられるドリフトのないトリガーレベル信号が与えら
れる。

本発明のさらに別の特徴によると、プロセンサーが適用
されて、メモリーに、Ｘ線システムの対応する動作休止
シーケンス期間中に発生したＸ＆！システムの複数の動
作信号に対応する複数組の′冷気信号を記憶し、１つ動
作休止のシーケンスにわたる動作パラメーターの選択さ
れたパラメーターの多少の偏差欠決定する。上記の構造
により、Ｘ線システムはＸ勝技士かＸ線システムを試験
する時にさらにデータを与えるものである。

本発明のさらに別の特徴によると、プロセッサ（］３） −を適用して、オペレーター要求信号に選択的に従って
、記憶装置から、連続作動中に発生した冷気信号の各々
をリコールする。上記の構造により、Ｘ線システムテス
ターはＸ線システムの試験中に。

技士にさらに助けを提供するものである。

第１図について説明する。ｘ＋ｖ１１システムテスタ１
０７’ｌ’、図示の如＜　、Ｘ線システム７スター１１
に結合している。Ｘ線システムテスター１０は、Ｘｈ７
ステム１１の１組の動作パラメーター、例えはこの場合
、陽極市１流、暴重量（ＭＡＳ）、陰極管ピーク電圧、
陽極管ピーク電圧、フィラメント電流及びライン電圧等
を測定するのに用いられる。

Ｘ＃ｉ！装置の技士は、これらのパラメーターの（＋［
’＋’、に知ることによって、システム遅延正に且つ規
定の安全規格に従って操作することができる。Ｘ線シス
テム１０は以下の装置を含んでいる。すなわち、Ｘ＆ｌ
システム１１の動作パラメーターの絹に比例する１組の
アナログ信号を電気的に検知するように配置されたアナ
ログプリプロセッシング部４０゜上記アナログ信号の組
をＸ＆！システム動作パラメ（１４） −ターを表わす１絹のデジタル信号に変換するように一
ヒ記アナログプリプロセッシング部４０の出力に電気的
に接続されたデジタル化部６０、上記デジタル化部６０
から出されるデジタル化情報を処理するように上記デジ
タル化部６０に市１気的に接続された演算部７０．上記
演算部７０に電気的に接続されたフロントパネル制御ス
イッチ部８２及び表示部８４を崩するフロントパネル部
８０である。なお、フロントパネル部８０はＸ線装置技
士によって選択された制御パラメーター情報を与え、且
つ測定されたＸ線システムパラメーターを表示するため
の装置である。

ｘｉｌＩｌＢ！装置１１は以下の装置を含む。すなわち
、Ｘ線ビーム（図示せず）を発生するのに用いられる従
来型式のＸ線管１２．電力変１モ器６０、上記Ｘ腺管１
２に印加される陽極電圧及び陰極市゛圧ケ生成し且つ検
知するように上記電力変圧器６０から電力を供給される
為電圧ユニット２０、及びフィラメント電源１Ｂである
。ｘｌｔＭ管１２は実質的に排気されたエンベロープ１
５ン含む。この工／（１５） ベローズ１５の中には、陰極１６が電子を肉１（れた陽
極ターゲット１４に熱電子的に照射してＸ線ビーム（図
示せず）を発生させるように配置されている。このＸ線
ビームはＸ線管１２から従来の方法で発射される。どの
図ではフィラメント型である陰極１６は、フィラメント
電源１８及び高電圧ユニット２０の負端子６１に電気的
に接続された端子導線１９を含む。フィラメント市；源
１Ｂは陰極を電子放出温度まで加熱するのに必要な電流
を供給する。また高電圧ユニット２０の型０式は米国特
許第４，０３４，２８３号に記載された１１１１」式で
ある。

陽極１４は導線２６によって高電圧ユニット２０の正端
子６２に電気的に接続されている。高ｌ１１−圧ユニツ
ト２０は、高１■圧ケーブル２５に接続された第１筒電
圧入力端子ろ６を鳴【〜ている。高Ｔｏ：　ＥＥケーブ
ル２５は高市圧発生器ろ０に接続されている。筒軍圧ユ
ニット２０は、陽極電圧と及びχ脚暴露休止期間中に生
じる陰極電圧に応じて低電出出力信号を供給する。ライ
ン５０．５１・５２・５６及び５４を含む低電圧マルチ
コンダクタ−ケープ（］Ｃ６ ル２４は高電圧ユニット２０に接続され、且つアナログ
プリプロセッシングユニット４０に対して入力信号を供
給するのに用いられる。陽極電圧（Ａ）を表わす信号は
ライン５０に生じ、また陰極電圧（Ｃ１を表わす信号は
ライン５１に生じる。陽極電流（ｍａ）を表わす信号は
う・イン５２に生じ、フィラメント電流（ＩＦ）を表わ
す信号はライン５ろに生じ、ライン電圧（ＶＬ）を表わ
す信号はライン５４に生じる。

アナログプリプロセッシングユニット４０（駆２Ａ図及
び第２Ｂ図に詳細に説明）は陽極陰極電圧（Ａ）／（Ｑ
検知記憶部４１、陽極電流（ｍａ）部４２゜Ｉ（ＭＳ電
圧電流検知記す部４ろ、トリガ一部４４゜及びセレクタ
一部４５を含む。プロセッシングユニツ）４０はマルチ
コンダクタ−ケーブル２４によってＸＨシステム１１に
結合している。ケーブル２４の低電圧ケーブル５０及び
５１はＡ／Ｃ電圧検知記憶部４１に接続されている。（
Ａ）／（Ｃ）電圧検知記憶部は、以下に述べられる方法
によりライン７２ａ〜７２Ｃを経由して赳算部７０から
供給（１７） される制御信号に選択的に応じてピーク陽極■１；用（
Ａ）、もしくはピーク陰極電圧（Ｃ）、あるいはピーク
陽極電圧士陰極電圧（Ａ＋Ｃ）のどれかを検知するのに
用いられる。ケーブル２４の低電圧ケーブル５２は、陽
極電流部４２に接続されている。ル［かる陽極電流部４
２は、この場合、商電圧ユニット２０によってセレクタ
一部４９から生じるＸ＆！管陽極電流（ｍａ）に比例し
た入力電圧信号を分離するのに用いられる。陽極電流（
ｍａ）に比例した入力電圧信号は、高油圧ユ、−シト２
０内にある、米国特許第６，９６３，９３１号（Ｘ線管
電流モニター）に開示した型式の陽極電流センサー（図
示せず）から発生する。ケーブル２４の低電比ケーブル
５ろはＥ（ＭＳ霜′圧／電流検知記憶部４６をフィラメ
ント電流の８ＭＳ値を表わす信号を供給するフィラメン
ト電流センザーに接続するのに用いられる。

高宙１圧ユニツ）２０内のフィラメント７に流センサー
（図示せず）の型式は米国特許出願第１６７．９９７号
（Ｘ線管？ｂ圧インジケーター）に開示された型式であ
る。ケーブル２４０ケーブル５４は、Ｆ（ＭＳ（１８） 電圧／電流検知記憶部４３をライン電圧のＲＭＳ値を表
わす信号を供給するライン電圧センサーに接続するのに
用いられる。この場合のライン電圧センサーの型式は上
記の米国特許出願第１６７．９９７号に開示された型式
である。Ｆ（ＭＳＳ電圧／泥流検知記憶部４は、以下に
説明する方法に３Ｌリライ／７２ｄ〜７２ｅ及び７２「
を経由して演算部７０かも供給される制御信号に選択的
に応じてＲＭＳ値、Ｘ＃！管）・イラメノト電流（ＩＦ
）もしくはＸ線発生器ライン電圧（ＶＬ）を直流もしく
は平均値信号に変換するのに用いられる。

セレクタ一部４５は、第１人カライノ４６を経由（−て
（Ａｌ／（Ｃ）電圧検知記憶部４１の出力に、第２人カ
ライン４７を経由して陽極電流部４２の出力に、第６人
カライン４８ケ経由してＲｔｔ　ｓ　ｇ、圧／電流検知
記憶部４６の出力に電気的に接続されている。セレクタ
一部４５はまた、入カラ・ｆ７５７．５８及び５９を経
由して開側ｊパネル８２に接続されている。入カラ・イ
ン５７．５８及び５９はセレクタ一部４５に第２Ａ図に
おいて詳細に烏じられ（１９） る制御パネル８２パラメーターを表わすアナログ電圧レ
ベルを結合する。しかし、セレクターｔ″＜Ｉｓ　４５
は、入カラ・ｆン４６，４７，４．８，５７．５８も１
〜くは５９０１つを、以下論じられる方法で母線７２「
〜７２１１を経由して演算部７０からセレクタ一部４５
に供給される制御信月に選択的に応じてセレクタ一部４
５の出力に結合するのに月１いられることは言うまでも
ない。

トリガ一部４４は、暴露体Ｊ１−期間中に、複数のトリ
ガー信号源の選択された１つの信弓涼からトリガーパル
ス信号を出すのに用いられる。Ｗｉ時アノード電流、瞬
時アノード・プラス・カソード電圧（Ａ−１）、アノー
ド市川（Ａ）又は力２ノード柘；１］で（Ｃ）を含むこ
のようなトリガ信号源はｒｔｉ（算部７０によつ−Ｃ発
生された制？Ｉｉｄ信号に従って選択され、述べられた
方法でライ／７２凰〜７２　ｋ　’Ｙｌ’ｆｆｌてトリ
ガ一部４４へ供給される。この１リガー・；ルス信号は
演算部７０か暴崩休止の開始と１０１間を決定するのに
用いられる。

デジタル化部６０は、第６図において、ｉＩ−純に説（
２０） 明される電圧周波数変換器（Ｖ／ＦＣ）６１、デジタル
計数部６２及びゲーティング部６３を含む。デジタル化
部６０は、図示の如く、プリプロセラフフッ部４０に結
合されている。市４圧周波数変換器部６１は、パンメー
ターセレクタ一部４５の出力を、セレクタ一部４５の出
力に選択的に結合されたパラメーターのし・ベルに比例
し、た周波数を廟する一連のパルスに変換するのに用い
られる。電圧周波数変換器部６１の出力は、デジタル計
数部６２に接続されている。斯がろデジタル計数部６２
は、暴肯休止期間中のパルスチリ中のパルス数を計数す
るのに用いられる。この割数は、第４図の説明の所で説
明される方法で結合パラメーターの値を決定するのに用
いられる。トリガ一部４４の出力は。

ゲート部６３に接続されている。ゲート部６６は、演算
部７０に対して、演算部７０に暴露休止の始めと終りを
示す信号を発生する。

演算部７０（第４図の説明の所で詳細に説明）は、図示
の如く、デジタル化部６０及びプリプロセッシング部４
０に接続されている。ｆＡＩＪ部７゜（２１） は、Ｘ線キャリブレータ−制御母線７２を経由してアナ
ログプリプロセッシング部４０に制御信号を供給する。

制御部［７２はライン７２ａ〜７２ｍを含ム。フロント
パネル母線７４は、フロントパネル部８０に電気的に接
続され、旧つ信号を表示部８４に送り、またフロントパ
ネル制御部８２からの入力信号を演舞部７０に送るのに
用いられる。

第２Ａ図について説明する。卯、２図にアナログプリプ
ロセッシング部４０を、上記の如く、ケーブル５０及び
５１によってそれぞれ送ら］ｌる陽極電圧（Ａｌ又は陰
極筒′圧（Ｃ１のピーク電１Ｆ信号を検知し記憶する（
Ａ）／（ｃｌ電圧検知記憶部４１を含んだ状態で詳しく
示す。さらに詳しく述べると、（Ａ）／（Ｃ）検知記憶
部４１は陽極電圧（Ａ）検知ケーブル５０に接続された
逆転入力（＠を廟する従来型増幅器２０４を含む。増幅
器２０４は暴露休止ｊυ１間中にＸ線管陽極電圧（Ａｌ
に比例した霜１１Ｆ信号な緩価１ろのに用いられる。ア
ナログ電圧（Ａｌ信号は、Ｘ線管陽極電圧に比例してい
る。この場合は、増幅器２０４の出力における１■は２
０ＫＶの陽極箱１［４を表わす。

（２２） 増幅器２０４の出力は、図示の如く、アナログスイッチ
２１０の第１人力にかけられろ。（Ａ）　／　（Ｇ）検
知記憶部はまた、陰極電圧（Ｃ１検知ケーブル５１に接
続された第２増幅器２１６を含む。ＪＩＪ「かる増幅器
２１６は、ｘ課暴罪休止期間中にＸ線陰極電圧（Ｃ）に
比例した電圧信号を緩衝するのに用いられろ。

アナログ電圧信号はＸ線管陰極箱、圧（Ｃ）に比例して
（・ろ。この場合は、１■につき２０ＫＶの陰極電圧と
なる。増幅器２１６の出力はアナログスイッチ２１０の
卯２人力にかけられる。

アナログス・ｆフチ２１０には、演算部７０（第１図）
から制御ライン７２８．７２１）を続出し２て制御信号
を供給される。ライン７２ａに送られる副側１信号は、
ライン５０に生じる陽極電圧（Ａ）を電圧分割器２１７
の一方の入力２１７′に選択的に結合したり断続したり
するのに用（・られる。制御ライン７２ｂに送られる開
側ｊ信号は、ライン５１に生じる隘極霜、圧（ｑを出力
電圧分割器２１７の第２人力２１７“に選択的に結合し
たり断続したりするのに用いられる。電圧分割器２１７
は、論理相増（２３） 幅器２２２の非逆転入力（ト）に接続されている。従っ
て、論理和増幅器２２２の出力は、う・ｆン７２．Ｉに
送られる副側１信号が増幅器２０４を入力２１７に結合
する場合は陽極室、圧（Ａｌを表わし、またう・ｆタフ
２ｂに送られる制御信号が増幅器２１６を入力２１７に
結合する場合は陰極電圧（Ｃ）を表わす。

増幅器２２２の出力は、ピーク電し１：、検知２：÷部
２２６にかけられる。ルｒかろピーク電圧検知器部２２
６は、かけられた電圧信号、この場合は、陽椿電用（Ａ
ｌもしくは陰極電圧（Ｃ）のピーク値を検知するのに用
いられる。ピーク゛ホ１圧検知器部２２６の出力は、図
示の如く接続された増幅器２２５、バッファー２２８、
コンデンサ２６０及びリセットう・イン２２４を含む。

コンデンサ２６０は、増幅器２２５の出力に生じるピー
ク１圧に比例した’ｉｔｉ’荷を充′市する。バッファ
ー２２８は、／ｉＩｔ算部７０（む！５１図）によるサ
ンプリングの前にコンデンサ２ろ０が放電するのを防止
する。゛リセットライン２２４は、演算部７０（第１図
）から制卸ライン７２Ｃに供給されろ副側１信号に応答
（２て、コンデンサ２２６（２４） の電荷ケミ弁効果トランジスタ（ＦＥＴ）スイッチ２２
６を通して大地に放電するのに用いられる。

ここで注目すべきことは、コンデンサ２３０は暴発休止
前にリセットされるということである。かくして、コン
デンサ２３０は、ピーク陽＠！、箱゛圧（Ａ）もし７く
はピーク陰極電圧（Ｃ）を表わす信号を記憶する。電圧
分割器坏ットワーク２１７の出力は、増幅器２２２に供
給されるが、これに加えて、抵抗器２１９に供給されて
、陽＠Ｉ電圧（Ａ）と陰極電圧（Ｃ）との相を表わす信
号なう・ｆン２６２に送り出す。

すなわち、ライン７２ａ及び７２ｂに送られる開胸ｊ信
号が増幅器２０４を入力２１７′に、また増幅器２１６
を入力２１７”に結合する時の論理相信号（ＡｌＣ）で
ある。注目すべきことは、増幅器２０４と２１６の両方
か１゛圧分割器２１７に結合される時に、陽極電圧信号
と隘極箪圧信号の論理和か得られることである。（Ｉ’
ｌとなれば、似して。

どの信号も大地宵位に関係していな（・ためである。

１”？　Ｍ　Ｓ電圧／電流検知記憶部４６は、それぞれ
ケーブル５６及び５４によって送られるフイシン（２５
） ント電流（ＩＦ）とライン電圧（ＶＬ）を対応するＲ　
ｋ、Ａ　Ｓ電圧信号に変換するのに用いられろ。検知記
憶部４ろは、フィラメント電流（ＩＦ）Ｆｍ知ケーブル
５３に接続された非逆転入力（−Ｆｌをイ１する従来１
７）バッファー増幅器２４４を含む。バッファ一部２４
４の出力は、アナログスイッチ２４６０入力２４５に接
続されている。アナログスイッチング部２４６の使方の
入力２４７は、ライノ′市１］−：検知ケーブル５４に
接続されている。アナログセレクタースイッチ２４６は
、コンピューター制１Ｉｉｌ＋母線の制置ｅライン７２
ｄ及び７２Ｐから信号？供給される。ライン７２ｄ及び
７２Ｐに送られろ信けは。

フィラメント電流（ＩＦ）もしくはライン■１川（ＶＬ
）のＲ１，ＩＬＳ仙ケアナログスイッチ２４６の出力に
選択的に結合するのに用いられろ。アナログスイッチ２
４６の出力は５従来のＨＭＳ−ＤＣ変戻器２４８に接続
されている。）ｉｔｓ−ＤＣ変便器２４Ｂの出力は、従
来のサンプル保持部２５０に接続されている。サンプル
保持部２５０に対ｊろサンプリング信号は、演請部７０
（第１図）す・ら（２６） 制御ライ／７２１を通して供給される。フィラメント電
流（ＩＦ）もしくはライン電圧（ＶＬ）のどちらかのＤ
Ｃ値がコンデンサ２５２に記憶される。

陰極電流部４２は、図示の如（、ケーブル５２によ−）
′Ｃ送られる陰極電流（ＩＧ）に比例した入力端子信号
を緩衝するのに用いられろ従来の増幅器である。

第２Ｂ図について説明する。第２Ｂ図のセレクタ一部４
５は、複数の入力ラインであって、この場合はライン４
６．４７．４８を有するスイッチ２４５、及び複数の入
力ラインであって、この場合はう・ｆン５７，５８．５
９−＆有する第２スイツチ２４６を含む。ライン４６，
４７．４８は、（Ａ）／（Ｃ）電圧検知記１′、は部４
１．隈極霜、流部４２及びｔ（ｌａｓ電圧／電流検知記
憶部４６（第１図及び第２Ａ図）の出力における信号ケ
スイッチ２４５に結合するのに用いられろ。また、ライ
フ５７＋５８．５９はフロントパネル８４かもの信号を
スイッチ２４５に結合するのに用いられる。セレクタ一
部４５はさらに、デコーダー２６４を含む。デコーダー
（２７）　　”・ ２６４は、演算部７０によって母線７２の開側１ライン
７２ｆ〜７２ｈに生じた信号を解読してスイッチ２４５
，２４６に制御信号を送るのに用いられる。これらの制
御信号は、ライン４６・４７゜５７．５８．５９を経由
してセレクター２４５゜２４６に供給される複数の入力
の１つヲノクラメーターセレクタ一部４５の出力ライン
６２０に選択的に結合するのに用いられろ。」−述の様
に、ライン４６，４７．４８に生じろ信号は、それそ」
′【、ピーク陽極電圧（Ａ＞、ピーク陰極箱重圧（Ｃ）
又（、エピーク陽極電圧士ピーク陰極電圧（Ａ十Ｇ）、
フィラメント電流（ＩＦ）又はライン電圧（Ｖｔ、）、
及び陽捺宙流（ｍ；ｉ）７表わす。ライン５７に生じろ
信号はトリガーレベル信号、ライン５Ｂに生じろ信号は
システム遅延信号、さらに、ライン５９に生じる信号は
、キロボルト（ＫＶ）信号な衣わず。う・ｆノろ２０は
Ｖ／ＦＣ部６１（第１図）に接続されて（・る。ル１か
る配線によって、制御ツクネル信号に比例するライン５
７，５８．５９のアナログ信号レベルとライン４６，４
７．４８のＸ線動作）（ラメータ（２８） 一信号は、共通のデジタル変換回路、すなわち電圧−周
波数変換器６１（この場合は重圧制御発振器）に送られ
る。斯かる共通のチャンネル処理機構によって、各信号
に対し７て高価なＡ／Ｄ変換器を与える必要がなくなる
。

トリガ一部４４は１図示の如く、ライン２６１゜２６２
を経由して（Ａ）、／　（Ｃ）＠、比圧検知記憶４１に
、また、ライ／４７を経由［２て陽極電流部４２に結合
された入力を有する。トリガ一部４４は、ライン２６２
を経由し７て電圧分割器２１７（第２Ａ図）に接続され
た第１人力２ろ２を不するトリガー信号セレクター２８
２を含む。なお、分割器２１７によって生じた信号は、
陽極電圧と陰極電圧の論理和（Ａ−１）に比例した第１
トリガーソース信号を与える。トリガーセレクター２８
２はまた。

う・１ン４７を経由して差動増幅器４２（第２Ａ図）の
出力に接続されている。この入力は、陽極電流（＋ｎａ
）に比例した第２トリガーソース信号を与える。さらに
、トリガーセレクター音ト２８２は、ライン２６１に経
由して論理和増幅器２２２（第２（２９） Ａ図）の出力に接続された第６入力を含む。この入力は
陽極Ｘ線管電圧（Ａ）又は陰′＄ｊ１．Ｘ線管電圧（Ｃ
）に比例した第ろトリガー信号を力える。トリガー信号
セレクター２８２は、ライン２８５の制御信号に選択的
に応じて、これらの入力の１つをセレクター２８２の出
力に結合する。セレクター２８２の出力は、内部トリガ
ーソースである。ライン２８５に送られる制御信号は、
従来のデコーダー２８０によって生じる。斯かるデコー
ダー２８０は、演算部７０からライン７２　ｉ　、７２
」に送られる制御信号を解読する。セレクター２８２の
出力は、第２トリガーセレクター２７６の入力２８乙に
接続される。第２トリガー信号セレクター２７６の別の
入力は、ライン２８８を経由して、Ｘ線テストシステム
のシャーシ（図示せず）に取付はうれたコネクターから
入る外部トリガー信号スに接続される。第２トリガーセ
レクター２７６は、開側１人カフ２ｋ及び７２ｋに従っ
て、内部トリガーソースか外部トリガーソースかケ選択
するのに用いられる。インバーター２９１から得られる
制御（３０） 信号７２には７２にの補数である。制御う・イン・　　
　７２にの活発高レベルによって、内部トリガーソース
が選択される。これに対して、ライン７２にの低レベル
によって、う・イン７２に’ａミニ−御するように接続
されたインバーター２９１の出力が高く　　　□なり、
これにより外部トリガーソースが選択される。各トリガ
ー信号の選択については、第５図の所でより詳細に説明
される。どれらの信号は、第２トリガーセレクター２７
６の入力の１つを比較器２７４の非逆転入力（利に結合
するのに用いられる。比較器２７４の逆転入力は、バッ
ファー２７６の出力に接続されている。バッファー２７
６は。

以下に論じられる方法によって、演算部７０から母線７
９を経由してＤ／Ａ変換器に供給される基準信号に対応
する８ビットデジタル−アナログ（Ｄ／Ａ）変換器２７
２かもの信号ケ結合する。

しかし、セレクター２７６の出力に結合された選択トリ
ガーソース信号のレベルがバッファー２７ろによって与
えられる基準信号のレベルを超えると、トリガーパルス
が比較器２７４からライン２７５（３］） に送られることは言うまでもない。ライン２７５のトリ
ガーパルスはゲート部６６（第１図）に供給される。以
下に説明されるように、トリガーパルスは、ゲート部６
３が演算部７０に信号を送るのに用いられる。その理由
は以下に論じられる。

第６図について説明する。デジタル化部６０は５図示の
如く、ライン６２０を経由して、セレクタ一部４５の出
力に接続された電圧−周波数（Ｖ／Ｆ　ｃ　）変換器部
６１を含む。電圧−周波数変換器部６１は、この場合、
電圧制御発振器であり、またライン３２０にかげられた
入力信号電圧のレベルに比例した周波数な廟する一連の
出力パルスを発生するのに用いられる。電圧−周波数変
換器部６１の出力は、デジタルカラ／タ一部６２の光電
；カップラー３０４（この場合は、従来の発光ダイオー
ド及び光検出器）に接続される。光電カップラー６０４
は、アナログ信号とア犬ロググランドをデジタル信号と
デジタルグランドから分Ｈして対ノイズ性を改善するの
に用いられろ。光電カップラ一部６０４の出力は　Ｖ　
／　ｐ’変換器部６１の（３２） 出力の自製である。

デジタル計数部６２はまた、従来の四分割プレスケラ一
部６０６を含む。このプレスケラ一部ろ０６は、入力パ
ルス列を低パルス反復レベルに縮尺するのに用いられる
。この結果、暴露休止期間中に起るタイマ一部６２によ
る中断妨害は少くなる。中断妨害を扱う技術は、＃７図
〜第１６図の所で述べる。妨害の回数が減ると、演算部
７０にかかる演算負荷か少くなるととは言うまでもない
。

プレスケラ一部３０６の出力はプログラム可能タイマー
６１６の第１非同期クロック人力ＣＬＫｉに接続されて
いる。この場合、アリシナ州フェニックスのＭｏｆｏｒ
ｏｌａ　Ｓｅｍ１ｃｏｎｄｕｃｔｏｒ　Ｐｒｏｄｕｃｔ
ｓＩｎｃ、　製Ｍ　０６８４０であるプログラム１■能
タイマー６１６は、一対のプログラム可能カウンター３
１８　＝１”　３１８　））を含んで（・る。谷カウノ
ターはそれぞれ０ＬＣＫＩ　、０ＬＧＫ２　において、
供給される非同期入力を崩している。入力０ＬＣＫ１に
接続されるパルス列は、カウンター６１８ａにかけ（３
３） られる。既知周波数を有する一連のパルスは、この場合
、演算部７０から供給される内部システムクロックであ
る既知周波数ソース４０１によって発生し、第２非同期
クロック入カＣＬＫ２に供給され、さらにカウンター３
１８１）にかけられる。

演算部７０のマスタークロック０ＬＧＫ（ｉｔｌ１図）
はライン４０１ｙ通し７て端子ＣＬＫにおけるプログラ
ム可能タイマー６１６にクロックパルスを供給Ｌ７て端
子ＣＬＫ１．ＣＬＫ２においてパルス状りロック馨発生
する。さらに、プログラム１■能夕・イマ−６１６は、
妨害要求ライフ　７８　（＋を含む。妨害要求う・イン
７８ｄは、入カカ稍↑１記の１え１のプログラム可能力
つ／ターろ１８ａ〜３１８１）からのオーバーフロー信
号である「ＯＲゲート」ノ）出力である。妨害要求ラー
ｆン７８ｄは、−え」のプログラム可能カウンター３１
８ａ、３１８１）の一方が予めプ１コグラムされた計数
に達する４１ユに表明される。

予めプログラムされた計数は、プログラムによって選択
され、且つ記憶されたプログラムによって与えられる。

ライン７８ｄに妨害が起きると、げ（３４） 鼻部７０によってタイマーろ１ｉ３ａ、ろ１８１）のう
ちどのタイマーが妨害を開始したかが求められることは
言うまでもない。この様にして、演算部７０は、入力Ｃ
ＬＫ２を経由してタイマー６１８１）に供給されるパル
ス数によって決定される休止時間中に入力ＣＬＫ１に供
給されるパルス数をカウンター６１８ａから求めること
かできる。従って、カウンター３１８ａに対するパルス
周波数を求めることができる。演算部７０は、新しい計
数シーケンスに対してカウンターを再プログラムし、且
つ新しい割込みに対してタイマ一部６１６を再イネーブ
ルする。

デジタル化部６θはさらに、ゲート部６６を含む。ゲー
ト部６ろは、入力がライン２７５を経由してトリガ一部
４４の出力に接続されている光電カップラー３０８を含
む。光電カップラー６０８から発生する信号は本質的に
は、ライン２７５に送られるトリガーパルスの複製であ
る。光電カップラー６０８の出力は、フリップフロップ
６１０のクロック入力に接続されている。光電カップラ
（３５） −６０８の出力において、正遷移が起きろと、フリップ
フロラ７’３１０の出力はフリップフロップ６１０のＤ
入力で現在起きている状態に変化する。

フリップフロップ６１０１７′）Ｄ入力はそのＱ出力に
接続され、か（してフリップフロップ３１０はトグルフ
リップフロップとして接続される。フリップフロップ６
１０のＱ出力は、この場合ライン７８ａを経由してカリ
ブレーター状態割込母線７８に接続されている。フリッ
プフロップ６１０のＱ出力はまた、カリブレーター状態
割込母線、この場合はライン７８ｂを経由して劇鼻部７
Ｄに接続されている。ライン７８ａおよび７８ｂは、ぴ
鼻部７０（第１図）によつ゛〔モニターされてジイン２
７５のトリガー信号パルスの開始と終ｒをそれぞれ決定
する。ライン７８　ａ　、　７８１）に信号が発生する
と、第１１図の所で論じられる割ｉ−ぎみか起きる。割
込みが起きろと、タイマー３１８；、１゜６１８ｂの内
容は、母線４４２を経由【２て、演算部７０かもプログ
ラムｉ」能なタイマー６１６に供給される信号に応答し
て演算部７０のメモリーに（３６） 記憶され、チップセレク）（Ｏ８）ライフ３１９ａ及び
レジスターセレクト（Ｒ８）ラインろ１９ｂに供給され
る信号をイネーブルする。う・イン７８ａ。

７８ｂに割込みが起きると、演算部７０は置物４４２を
経由して、タイマー６１８ａ及びろ１８ｂの内容を続出
す。各夕・イマーろ１８ａ、３１８ｂの内容は、演算部
７０のメモリーに記憶される。

光′敵カップラー６０８の出力はまた、インバーター６
１２の入力に接続されている。インバーター６１２の入
力は汗２フリップフロップ６１４のクロック入力に接続
されている。アイソレータ３０８の出力において正遷移
が起きると、フリップフロップ３１４のクロック入力が
論理ゼロ信号をクロックインする。フリップフロップ３
１４のＤ入力は常に接地している。［暴露開始インジケ
ーター信号と呼はれているフリップフロップろ１４のＱ
出力は、ライン７８Ｃを経由してカリブレーク−状態割
込母線７８に接続されている。ライン７８ａ及び７８ｂ
においてそれぞれ、「トリが一開始」及び「トリガー終
ｒ」となるこの信号は、演算部（３７） ７０によってモニターされる。暴露開始インジケーター
信号は、演算部７０に対して暴発休止の開始を示すのに
用いられる。フリップフロップろ１０及び６１４及びス
ケーラ一部ろ０６中のフリップフロップは、演算部７０
からラインに送られる制御信号７２ａによって全て、イ
ニシャラ・Ｃズされる。

第４図について説明する。演算部７０は１図示の如く接
続されたプロセッサ一部７１、フロントパネルインター
フェース部４１０．入力／出力選択論理部４０８及び周
辺イノターフエース部４２０を含む。プロセッサ一部７
１は、プロセッサーインターフェースＢ１５４０２．プ
ログラムメモリー４０４１データメモリー４０６、アド
レス母線４４４、データ母ｆｆＭ４４６、及びタイミン
グ内部制御置物４５０’＆有するマイクロプロセッサ−
４００、例えはＭｏｔｏｒｏｌａ　６８　［］　２　ｒ
＜含む。ブ１コセツサ一部はさらに、システムクロック
（図示せず）を含み、且つライン４０１を経由し２て夕
・イ・マー３１６（ｆＪ４６図）にクロック信号を供給
する。こ（３８） れらの母緋は、プロセッサーインターフェ・−ス部４０
２の入力に接続されている。ブローにツナ−インターフ
ェース部４０２は、システムの残りの部分からアドレス
母線４４４及びデータ母線４４６を緩衝するのに用いら
れる。プロセッサー・１ンタ一フエース部４０２はまた
。演算部７ｏが要求する全ての内部タイミング制伺１信
号を緩衝する。プロセッサー、インターフェース部４ｏ
２の出力は、緩衝データ母＆１４４０．緩衝アドレス母
線４４２及び緩衝タイミング制御パｌ：ｉ腺４４８を含
む。こ１ｔらの母線に送られる信号は、プロセッサー４
００とプログラムメモリー４０４．データメモリー４０
６．１／○選択論理部４１］８、フロントパネルインタ
ーフェース部４１０及び周辺インターフェース部’４２
　ｕとのインターフニー　スを従来の方法に」、′）（
取るのに用いられる。

この嚇合は、従来のプログラム可能軟み出し専用メモリ
ー（ＰＦ（ＯＭ）であるプログラムメモリーは、周辺イ
ンターフェース１７Ｆ４？Ｑを通シテ、制御信号をプリ
グロセッシング部４０及びデジタ（３９） ル化部６０（第１図）に与えるための一連の命令を記憶
する。この一連の命やは、（、Ａ／Ｃ）検知記憶部４１
（第１図）、Ｆ（ＭＳ電圧／電流検知記憶部４ろ（第１
図）、セレクター４５（第１図）及びゲート部６ろ（第
１図）を制御する。

データーメモリ一部４０６は、この場合、従来のランダ
ムアクセスメモリー（ＲＡＭ）であり、スクラッチパッ
ドメモリーとして、セレクタ一部４５を通りデジタル化
部６０によってデジタル信号に変換される選択された動
作パラメーターを計算するのに用いられる中間データを
記憶するように動作し、且つまた。複数の暴露に応答し
て発生し。

以下に述べられる方法によって複数の暴露に対する選択
された動作パラメーターの変動係数を求めるのに用いら
れる斯かる動作パラメーターの絹を記憶する。

１１０選択論理部４０８は、従来のデコーダーであり、
出力ライン４２１及び４２３に制御信号ヲ与工てフロン
トパネルインターフェース部４１０及び周辺インターフ
ェース部４２０をそれぞれ４１１１（４０） 御するのに用いられる。プロセッサー４００がアドレス
母線４４０に１７０アドレスを置くと、斯かるアドレス
は、Ｉ１０選択論理４０８によって解読される。１１０
アドレスは、演Ｎ部７ｏｖｃよって用いられるフロント
パネルデータを選択し、表示部データを与える。

フロ／ドパネルインターフェース部４１ｏは。

フロントハネルスイッチ８２から導入されるデータを記
憶するのに用いられる複数のレジスター４１０ａ、４１
０ｂ、４１０ｃを含む。制御パネル８２については、第
６図の所で詳細に説明する。

周辺インターフェース部４２０は、この場合は、アリシ
ナ州フェニックスのＭｏ１ｏｒｏｌａ　Ｉｎｃ、　　ｆ
ＪＪノロつのＭ　０６８２１型周辺インターフェースア
ダプター（ＰＩＡ）４２０ａ　〜４２０ｃを含む。周辺
インターフェースアダプター、例えばＰＩＡ４２Ｑａは
、入力もしくは出力チャンネルとして動的に構成される
２一つのプログラム可能８ビツト平行チャンネル（図示
せず）を含む。演算部７０は、Ｘ線システムテスターの
動作休止期間中に演算部７０によ（４１） つて決定される制御及び状態情報に従って、データ母線
４４２を経由してＰｉＡの選択された１つのプログラム
可能チャンネルの選択された１つにデータを供給するこ
とは言うまでもない。周辺インターフェース部４２０は
母線７２．凹線７８及び母線７９に信号を辱えたりまた
はこれらの母線から信号を受ける。

ＸｆＭシステムテスター１０は、Ｘ線システムの動力作
パラメーターもしくは制御パラメーターの値を次のよう
に決定する。すなわち、決定されるべき選択されたパラ
メーター、例えば陽極電流　　　゛（ｍａ）はライフ　
７２　ｆ　〜７２　ｈ　（第２Ｂ図）り経由して供給さ
れる制御信号に従って、セレクター４５（第１図）の出
力に結合される。結合された信号は、Ｖ／Ｆコンバータ
ー６１によって、陽４１夕策流ｔｍａ）’＆表わす電圧
レベルに比例した周波数を有する一連のパルスに変換さ
れろ。この一連のパルスは、入力ＣＬＫ１におけるデジ
タルタイマー３１６　（オ、６図）に供給される。タイ
マー６１８ａはパルス列中のパルス数を計数する。暴廂
体止（４２） の開始に関係する時点において、タイマー６１８１）は
、入力ＣＬＫ２に結合されたう・イン４［１１を経由し
て供給される既知周波数のパルス数の計数を開始する。

両方のパルス列（すなわち、デジタル化陰ｂ’を流パラ
メーターと既知周波数ソース）におけるパルス数は、上
述のオーバーフロー割込みが発生するまでタイマー３１
８３．ろ１８ｂによって計数される。オーバーフロー割
込みが発生する場合は、タイマー３１８８．３１８ｂの
内容が演算データメモＩＪ　・−４０６に記憶される。

演算部７０によって決定される暴露休止の終Ｔ時点にお
いて、選択されたパラメーターの値が、最初に暴露休止
時間Ｔ（この場合、タイマー３１８６による計数値を既
知周波数ソース３１５の周波数で割ったもの）？求める
ことによって得られる。タイマー３１８ａによる計数値
はＭＡＳを表わす。ｍａの値は、タイマー６１８ａかヤ
得られる全計数値（陽極電流＋ｎａを表わす）をＤ露体
止時間Ｔで割ることによって求められる。すなわち、上
述の暴露休止時間にわたって測定された平均陽極電流（
４３） （ｍａ）となる。かくして、Ｖ／Ｆ変換器６１（第１図
）に対する電圧／周波数比率及びプリグロセツシング部
４０とＸ線システム電流センサー（図示せず）に対する
電圧比率が分ると、陽極電流（ｍａ）の値がＭＡＳ／Ｔ
＝ｎ１ａの式を用い演算部７０Ｖこ、よって計算される
。同様にｌ〜て、ピーク陽極電圧（Ａ）、ピーク陰極電
圧（Ｃ）、ピーク陽極型１ｆ、＋ビーク陰極雷圧（Ａ＋
Ｃ）、フ・ｆラメント電ｌノ１ｔ（ＩＦ）、ライン電１
ｇＦ（ＶＬ）、ライン５７のトリガーレベル信号、ライ
ン５８のシステム遅延信号、又はう・イン５９のＫＶ遅
延信号（第２図、第６図）が上記の様に、上述のパラメ
ーターの１つケセレ、クター４５を経由し７てＶ／Ｆ’
コンバータ一部６１に結合することによって求められる
。イ４ｔられたパルス列のパルス数は上述の様に同様の
方法でル１数される。

しかし、上記の様な陽極電流（ｍａ）及びＭ　、Ａ　Ｓ
の決定と違い、タイ；ｙ−３１８ｂは測定休止期間中、
上記の様な既知周波数ソース６１５のパルス数を決定す
る。この測定休止期間は暴り休止期間に関係しまた休止
時間よりもむしろ予め選択された体重。

（４４） 時間に従って演算部７０によって制御される。

第５Ａ図〜第５Ｅ図について説明する。これらの図は、
種々のトリガーモードの実施例を説明している。選択さ
れたトリガーソース信号を用いてトリガーパルスをライ
ン２７５（Ｋ２Ｂ図）に発生する。このｔ−ＩＪガパル
スを用いて、暴撚休止の開始を演算部７０に指示する。

陽極電流（ｍａ）、陰極電圧（Ｑ、陽極電圧（Ａ）５外
部トリガー信号は比較器２７４（第２図）に供給される
トリガ・−ソース信号として用いられろ。陽極電流（ｍ
ａ）、陽極電圧（Ａ）、又は陰極電圧（Ｃ）は２つのモ
ードの１つにおけるトリガーソース信号として用いられ
る。第１モードにおいて、選択されたソース信号の予め
選択されたしきい値レベルがＸｗ装置技士によって、第
６図の所で説明する開側１パネル８２を経由してＸ線テ
スター１０に与えられる。第２モードにおいて、しきい
値レベルがＸ線装置技士によって、直前の暴廃期間中の
斯かる信号のレベルの実際値の予め選択されたパーセン
テージとして選択される。換言すると、例えば、選択さ
れたトリガ（４５） −信号ソースが陽極電流（ｍａ）の場合は、卯、２モー
ドにおいて、Ｘ線装置技士はトリガーレベルとＥ〜て、
直前の暴崩期間中、Ｘ線システムによ−って実際に発生
した陽極霜、流のレベルのパーセンテージを選択する。

陽極電流をトリガーすることは、長いケーブルがその長
さのために暴蹴終丁時において電荷を保持するようなシ
ステムにおいてイ１１１１となる。例えば、卯、５Ａ図
で１時間関数としての陽極市川波形もしくは陰極電圧波
形が長いケーブルを有するシステムの場合に発生するも
のとして示されている。

ここで注目すべきことは以下の如くである。すなわち、
暴＾終ｒ時において、陽極？ｌ’、　Ｈ−又は陰極ηイ
圧はすぐに（・エゼロに戻らない。伺となれは、ケーブ
ルに容量があるからである。従って暴ｉ永体重の計数に
おいて誤差か導入される故、陽極型ＩＦ又は陰極電圧を
斯かるシステムにおけるトリガー信号ソースとして用い
ろことは望ましいことではない。

しかしＸ線管陽極電流’＆　トＩＪガーすることに、Ｌ
つて、基部時間が正確に求められる。（ｉｌＩとなれば
、（４６） ｉＶ＋かる電流ばＸ　＃ｉ＋照射が停止するとゼロにな
るからである。

第５Ｂ図及び第５Ｃ図は動作パラメーター５例えばセレ
クター４５からの陽極電流、及び増幅器２７６からの１
０チドリガーレベルと５０ｑｌ）トリガレベルに対する
暴露の実際時間と測定時間を示す。１０係トリガーソー
スレベルの場１合ｓ予想ＦＡ差領域は曲線のゼロトリガ
ーレベル点から１０％トリガーレベル点までの間の下の
部分であり、暴露の測定時間はこの２つの１０　％　ト
リガーレベル点の間と１．て示される。第５Ｃ図に示す
様に、５０係トリガーレベルでは、誤差領域はそれに応
じて大きくなり、また測定暴露時間もそれだけ短か（な
る。１０係トリガーレベルではこの誤差は０．５ろｎｌ
ｓの誤差の４倍に近くなる。時間と陰極電流は密接に関
係１−でいる故（前述の様に、陰極電流は時間から計算
された値である）、適正なトリガーレベルを選択するこ
とは、正確な陽極電流の測定を行なう上で、しはしば不
１丁欠なことである。一般的に単相システムでは、トリ
ガーレベルは、正（４７） 確な測定値を得るために、出来るだけ低（（電気ノイズ
に対抗できる程ｊｒｌＩに）設定すべきである。

大抵の単相装置では、適正なトリガーレベルは、トリガ
ーソースの１０係である。６相システムに対しては、ト
リガーレベルは、電圧パルスとピーク電圧信号の７５係
との交点に設定すべきである。

しかし、装置製造業者が別のトリガーレベルを推しよう
する時は別である。

第５Ｄ図に示す様なシステム遅延の特徴が、前述の様に
Ｘ線システムテスターに含まれている。

このシステム遅延の特徴によって、例えば、１秒までの
変動システム遅延りが経過した後、この場合、２３ｍ５
となるような固定休止期間にわたって測定を行なうこと
ができる。システム遅延の特徴が有用となり得るいくつ
かの応用例η１テ」ン−ＦにＭＲ。

明する。負荷か＋ｉｌ：下する発生Ｘ？ｆの場合、し・
くつかの電流値及び休止時間を上記の値の間に置くと。

窓は各ステップにおいて、ＫＶピークと照射ケ設定する
ように望まれろ。負荷降下陽極電流（ｍＸ１）波形を第
５Ｄ図に示す。システム遅延モードを利（４８） 用するために、第６図の所でさらに詳しく説明するシス
テＪ・遅延制御装置６Ｅ〕４の遅延は、５Ｑｍｓという
ような最小活性化遅延期間よりも長い遅延になる。この
場合、２Ｑｍｓである所定のサンプリング期間は、シス
テム遅延モードが選択された時に、演算部７０によって
用いられる。測定パラメーターの値は全暴露にわたる値
ではなり、２０ｍ５休止期間にわたる値である。かくし
て、陽極電流は２Ｑｍｓ休止期間で平均化され、ｍａ（
平均）＝ＭＡＳ、１０．０２の式で求められる。システ
ム遅延の特徴を用いるもう１つの応用例は、自動フィラ
メント／陽極電流制御装置を用いたシステムに対する試
験である。

第５Ｅ図について説明する。第５Ｅ図に、暴露期間（時
間）の関数である陽極電流波形を示す。

この図では、システム遅延が暴励体正期間の選択可能部
分において、波形、この場合は陽極電流な（ｍａ）をサ
ンプリングした状態になっている。システム遅延は最初
の暴露に対してゼロに設定され、暴露が行なわれ、そし
てデータが記録される。次（４９） いで、システム遅延位置が１例えば、ＩＱ［］ｍｓに設
定され、第２暴露が行なわれる。この時点では、陽極電
流（ｍａ　）のレギュレーター作動が開始されている。

陽極電流の測定値を比較することによって、レギュレー
ターの動作が分析できる。

第６図について説明する。図示の如く１、第１図に示す
ように演算部７０に接続しているフロントパネル部８０
は１表示部８４及び制（１１１１部８２を含む。表示部
８４はさらに、）・１ラメンＩ・電流（ＩＦ”ＦＩＬ　
　ＡＭＰＳ’”）、ライン電圧（ＶＬ“Ｌ　Ｉ　Ｎ　Ｅ
　”　）、又は負荷降下発生器のライン電圧（ＶＬ″Ｌ
ＩＮＥＮ／Ｌ”）を表示するのに用いられる表示装置６
０４を含む。所望の測定項目は、制御ノブ６１４を位置
決めすることにより、暴露前に、指示通りに、選択され
る。表示装置６０８は、測定された暴露時間なミリ秒（
ＭＳＥＣ）の単位で表示する。表示装置６１０は、測定
された陽極重用（Ａ“ＡＮＯＤＥ”）、陰極電圧（Ｃ″
ＣＡＴＨＯＤＥ”）又は陽極霜；圧−ト陰極電ＩＥ（“
Ａ−１−Ｃ”）を表示する。暴ｍ　Ｍｔ」に、所望の測
定項目を制御装置６１１によって選択する。

（５０） ［Ｐｅｒｃｅｎｔ、／Ｐｒｅｓｅｎｔ　ｊ表示装置６１
８は、Ｘ線装置技士がトリガーレベル制御装置６４４を
通して与えたトリガーレベルを表示するのに用いられる
。斯かるトリガーレベルは、上述のように、トリ万一部
４，４の増幅器２７３（第２Ｂ図）の出力に電圧を発生
するのに用いられる。「暴露数」表示装置６１９は、制
御パネル８２の所で説明する方法で、１組の暴露の選択
された１つの暴露数を表示するのに用いられる。斯かる
表示装置は、Ｘ線装置技士に、現在性なわれている一連
の暴露に取入れられている暴露の数を呈示することは言
うまでもない。

制御パネル８２は、第５Ｄ図及び第５Ｅ図の所で説明し
たように、ゼロから１０１００Ｏの範囲にわたる変動遅
延に対応する電圧を発生するのに用いブレるポテンショ
メーターであるシステム遅延制御装置６２２を含む。「
ＶＳ■遅延」ポテンショメーター６２４は、ピーク検知
器コンデンサ２３０（第２Ａ図）をリセットする前に、
２０ｍ５　までの遅延を発生するのに用いられる。コン
ピュータ（５１） 一部７０に用いられる時のＫＶ遅延によって、陽極電圧
（Ａ）パルス又は陰極電圧（Ｃｌパルスの従属部のみが
ピーク陽極電圧又は陰極電圧の測定に影響する。ここで
、２０ｍ５の最大遅延が与えられる。

トリガーソースセレクタースイッチ６２６４７−１Ｘ線
システムカリプレーターに利用できる（１１々のトリガ
ーソースを選択するのに用いられる。すなわち、外部［
ＥＸＴＪ、自動［ＡＵＴＯＪ　、陽極電流（［ＭＡＪ　
）、ピーク陽極電圧（Ａ）、陰極電圧（Ｃ１、又は陽極
電圧士陰極電圧（Ａ十Ｇ）　［ＫＶＰＪを選択する。「
外部」にスイッチを合せると、システムトリガーは、外
部ソース２８８　（ａＩ；　２　Ｂ　ｌ’、Ｋｌ　）　
カら引出される。［ＭＡＪにス・イツチを合ぜろと、シ
ステムは陽極電流（ｍａ）信号からトリガーする。

（’ＫＶＰＪに合せると、システムは、測定前に［’Ａ
ＮＯＤＥ　　Ａ十〇、ＣＡＴＨＯＤＥＪ制御装置６１１
によって選択されたＸ線管電極電圧信号からトリガーす
る。［ＡＵＴＯＪに合せると、システムはこの場合、約
０．５秒の固定速度も以って、演算部７００制御下にお
いて、自動的にトリガーする。自動（５２） トリガーの位置は、Ｘ線装置技士に陽極型、圧、陰極電
圧、ライン電圧及びフィラメント電流等のＸ線システム
のある動作パラメーターの待機値を確認させるのに有用
である。

「手順」スイッチ６２８は、Ｘ線システムカリプレータ
ーの動作モードを選択するのに用いられる。Ｘ線システ
ムカリブレーターは、６つの動作モードを有する。第１
モードにおいて１手順位置［ｏｆｆＪは、Ｘ線カリブレ
ーターの通常のデータ収集動作に用いられる。すなわち
、パラメーターは、技士によって開始される暴露に応答
して測定される。第２モードにおいて、カリプレーター
は、それ自身のアナログ回路及びデジタル回路の試験、
すなわち、自己診断プログラムを行なう。

第６モード、すなわち、変動係数モード（「Ｃ０ＥＦＦ
ｖＡＲ」）において、演算部７０（第１図）は、１０個
の対応する暴露休止にわたって測定された１０組までの
記憶動作パラメーターに対する選択された動作パラメー
ターの変動係数を計算して、対応する表示装置にその結
果を出力する。変動係数は。

（５３） 陽極電流（ｍａ）、ピーク電圧（ＫＶ）及び暴露量（Ｍ
ＡＳ）等の選択されたパラメーターに対（−て計算され
る。変動係数は以下の式で与えられる。

ＣＶ＝（１／Ｘ）［（Ｘｉ−Ｘ）／（ｎ−１））１／ま
ただｌ、　ＣＶ　＝変動係数 Ｘ　＝表示パラメーターの平均値 Ｘｉ＝ミニ表示パラメータ一番目の値 ｎ　＝連続暴露中の暴露の数（ここではｎ　＝　１〜１
０） 変動係数モード期間中、システム遅延ポテンショメータ
ー制御ノブ６４４は、１０個の完全な暴簡体正期間にわ
たりＣｖを得るために、完全に反時計方向にｏｆｆの位
置まで回さなければならない。

「トリガーモード」スイッチ６６０は、比較器２７４（
第２図）に供給されたトリガー基準又はしきい値レベル
の種類を選択するのに用いら第１る２つの位置スイッチ
である。トリガーモードスイッチがパーセンテージモー
ドな選択するのに用いられる時は、トリガー基準レベル
は、直前の暴臓体正期間中に発生した選択トリガーソー
ス信号の（５４） 測定値のパーセンテージとして、演算部７０によって計
算さ肛ろ。トリガーモードスイッチがプレセットモード
を選択するのに用いられろ時は、トリガー基準レベルは
、上記の様に１選択された陽極電流トリガー信号、陽極
電圧トリガー信号、陽極電圧トリが一信号、又は外部ト
リガー信号の絶対値として、トリガー基準レベル制御装
置６４４から求められる。

ポテンショメーターであろトリガー基準レベルノブ６４
４によって、使用者は、暴篇前に、可変プレセットパー
セントレベル又は、フレセットトリガー基準レベルを選
択できる。トリガー基準レベル信号は、トリガーモード
スイッチ６６０の状態に応じて、プレセットトリガー基
準１ノベル制御もしくはパーセンテージ基準１ノベル制
御として解釈される。トリガー基準レベル６４４は（Ａ
）トリガーソース、　（（Ｅｌ　トリガーソース、（Ａ
−１））リガーソース、（ＭＡ））リガーソース又は外
部トリガーソースが選択された時にのみ用いられる。ト
リガー基準レベルは、セレクタ一部４５（第２Ｂ（５５
） 図）のスイッチ２４６を通してトリガー基準レベルライ
ン５７′７ａ１′結合することにより、デジタル化部６
０に結合される。次に、演算部７０は、結合されたトリ
ガー基準レベル信号の値を表わすデジタル語を演算する
。デジタル語が読出される時、デジタル語は演算部７０
から読出され、次に。

Ｄ／Ａコンバーター２７２に供給されトリガ一部４４に
よって用いられる。

「手動トリガー」ノブ６３２は、この場合、ブツシュボ
タンで゛あり、押゛すことに」ニリ、ツノリフ゛レータ
−が待機フィラメント電流（Ｉｆ）、ライン電圧（Ｖｔ
、）、Ｘ線管電圧陰極電流−秒（ＭＡＳ）及び１暴廃に
対する経過時間を計算する。

ｒＥ確測測定ノブ６ろ４は、この場合、ブツシュボタン
スイッチであり、押すことにより、演算部７０が現在の
暴露数に対応したメモＩＪ−４０６（第４図）に記憶さ
れた暴露データを明らかにし、この暴露数の計数値が前
の暴露の記数値にリセットする。このスイッチは、環境
ノイズによって起きた１組の誤差データケ置換するため
に一連の暴（５６） 島ヲ行なう時に有用である。これにより、別の正当なデ
ータの組が保持され、七つ、誤差測定値を置換するため
に別の測定値が得られる。

「暴露リコール」ノブ６ろ６は、この場合はブツシュボ
タンスイッチであり、押すことにより、演算部７０が前
の９又はそれ以下の暴露の各々に対する動作パラメータ
ーをリコールする。このスイッチを押すとさらに、プロ
セッサー７０が、暴露数を減少させ、表示装置６０４．
６０８及び６１０に前の暴露動作パラメーターを表示す
る。例えば、これによって、Ｘ線技士は、Ｘｉシステム
の１つ又はそれ以上の動作パラメーターに大きな変動か
現われると、前の９またはそれ以下の暴露を分析するこ
とができる。また、この表示により、Ｘ線技士は、管を
含むＸ、ｉシステムのどの成分が適正に動作していない
かを求めることができ、従って動作パラメーターの変動
の原因な良求できる。さらに、このスイッチを押しても
、　１９ｒかる動作パラメーターの前の表示に対応する
メモリーの位置の内容は変らない。

（５７） 「リセットボタン」６６８を押すと、演算部６３８が、
演算部６３８をクリアーし、システムを再イニシヤライ
ズし次の暴露シーケンスを開始する。

パワースイッチ６４２は、ｏｎ位置になるとし、電力が
供給され、以ってＸ線をシステムテスターに供給する。

ｏｎ位置になると、ＬＥＤＥンプ６４０が、白灯【、て
、電力がシステムに供給されていることを示す。

第７図乃至第１６図のフローチャー１・について説明す
る。これらのフローチャートは、プログラム記憶メモＩ
Ｊ−４０４に記憶された一連の破壊を要約したものであ
る。先ず、第７図に−）いて説明する。Ｘ線システムテ
スター１０に対するＥ主ルーチン」は、第１ステツプと
して、デジタル語数部６２によってラーイン７８１１に
発生ずる割込と終了トリガーパルス信号、開始トリガー
・くルス信号及びゲート部６ろによって発生する開始基
部インジケーター信号によってライン７８ａ、７８ｂ。

７８Ｃに発生する割込みのイネープルメントを含（５８
） む。別の割込みは、（手動トリガー）ボタン６３２゜（
正確測定）ボタン６６４及び（基部リコール）ボタン６
６６によって発生し得る。「主ルーチン」の第２ステツ
プにおいて、プログラム可能タイマー６１６及び周辺イ
ンターフェース部６２０は、前述の如くタイマ一部３１
６及び６２０を構成するコンピュータ一部７０がら制御
及び状態情報が供給されている状態でイニシャライズさ
れる。

「ルーチン」が完成すると、第８Ａ図及び第８Ｂ図に示
すアイドラールーチンに制御が移動する。

第８Ａ図及び第８Ｂ図について説明する。第１ステツプ
としてのアイドラールーチンは、スイッチ６１１、スイ
ッチ６１２、スィッチ６１４１スインチロ２８及びスイ
ッチ６３０’Ｙ含む全てのフロントパネルスイッチを走
査する。スイッチの位置に従って、制御情報が演算部７
０（第１図）によって入力され、さらにＸ線システムテ
スターに：ｌｌ よって処理される。スイッチ６１１　、６．１２．６１
４゜６２８．６３０から走査される開側ｊ情報は処理さ
れて１周辺・インターフェース部６２０に出力されて（
５９） カリブレーター制御母線７２に必要な制御情報を与え、
以ってアナログプリプロセッシング＝ｔ＋　４０（第１
図）、デジタル化部６０（第２図）及び演算部７０の動
作を制御する。例えは、スイッチ６１１が、「陽極」位
置に置かれると、制御ライン７２ａ（第２Ａ図）から供
給される制御信号は、増Ｉｌ＠器２０４の出力をセレク
ター２１０の出力に結合される。かく１〜て、Ｘ線シス
テム１１からの陽極電圧が処理される。スイッチ６１１
の「Ａ十Ｃ」位置が選択される場合は、制御信号が、制
御ライン７２ａ及び７２ｂから供給され、増幅器部２０
４からの陽極電圧（Ａ）ど増幅器２１６からの陰＠１市
、圧（Ｃ）をセレクター２１０の出力に結合する。この
様にして、陽極電圧＋陰極電圧（Ａ−１−Ｃ）の論理和
か演算部７０によって処理、される。スイッチ６１１の
１陰極」位置が選択される場合は、ライン／２Ｉ）から
供給される制御信号が、増幅器２１６の出力をセレクタ
ー２１０の出力に結合′ずろ。かくして、陰極電圧が演
算部７０によって処理されろ。スイッチ６１２が（’Ｍ
ＡＪ位置にある時、ｒｉｉｔ算、都７０（６０） は、陽極電流及び表示装置６０８に対応する値を出力す
る。同様に１７で、スイッチ６１２の位置がＩ−ＭＡＳ
Ｊ位置に来ると、演算部７０は１表示装置６０８に、量
ＭＡＳに対応する値を出力する。

同様に１〜で、スイッチ６１４が［ＦＩＬＡＭＰｓＪの
位置に来ると、ライン７２ｄから供給される制御信号は
、増幅器２４４の出力をスイッチ２４６の出力に結合す
る。か（して、フィラメント電流（ＩＦ）は演算部７０
によって処理され、得られたフィラメント電流（ＩＦ）
の値は表示装置６０４に表示される。同様にして、スイ
ッチ６１４が［ラインＮ／Ｌｊ　′ｒ）位置に来ると、
ライン７２ｅの制御信号が、入力ライン２４７をスイッ
チ２４６の出力に結合する。同様にして、ライン電圧Ｖ
Ｌが処理される。さらに、演算部は、スイッチ６１４の
位置を［う・インＮ／ＬＪの位置に選択することによっ
て、負荷降下条件下でライン電圧を処理するルーチンを
行なう。同様にして、スイッチ６１４が「ライン」の位
置に置かれると、ライン電圧は、演算部７０によ−って
処理され１表示装置６０４に（６１） 表示される。スイッチ６２６が［ＥＸＴＪの位置に置か
れると、制御ライン７２■（によって送られろ制御信号
は、入力ライン２８８をセレクター２７６（第２Ｂ図）
の出力に結合し、これにより、外部トリガーソース入力
は、比較器２７４の出力にトリガーパルスを発生するこ
とができる。「トリガーソース」スイッチ６２６が「自
動」の位置に置かれると、演算部７０からトリガー信号
が発生して、上述の様にＸ線システムの動作パラメータ
ーに対する待機値を周期的に最新する。「トリガーソー
ス」スイッチ６２６がＭＡの位置に置かれると、制御ラ
イン７２１及び７２」から供給される制御信号が解読さ
れ、セレクター２８２は、陽極電流ライン４７（第２Ａ
図）に対応する入力をその出力に結合する。ライン７２
Ｋから供給される制御信号によって、セレクター２７６
かセレクター２８２の出力に結合され、トリガーソース
信号を比較器２７４の入力に与える。同様にして。

「トリガーソース」スイッチ６２６が［ＫＶＰｊの位置
に置かれると、制御信号７２ｉ、７２ｊ及び（６２） ７２Ｋによって出力ライン２３１（第２Ａ図）がセレク
ター２７６の出力（（結合され、比較器２７４の出力か
らトリガーパルスが与えられる。「手順」スイッチ６２
８と「トリガーモード」スイッチ６３［＋：よって与え
られる制御信号１１、Ｘ線システムテスター１０の動作
中、演算部７０がＸｌシステムテスター１０の動作モー
ドとトリガー基準信号を前述の様に与える方法を求める
のに使われる。

「アイドラールーチン」のステップ２０間、フロントパ
ネル８４のトリガー基準レベルポテンショメーター６４
４からのトリガー基準レベル電圧が演算部７０に入力さ
れる。これにより、演算部７０は、制御信号をライン７
２ｆ〜７２ｈに送る。

斯かる制御信号に応冴して、セレクター４５は。

入力ライン５７のトリガーレベル信号をセレクタ一部４
５の出力に結合−する。この出力Ｖ／ＦＣ６１電圧は、
Ｖ／Ｆ’Ｃ部６１にかけられ、このかけられたトリガー
レベル電圧に比例した周波数を有する一連の出力パルス
を発生する。パルス列の周波数（６３） は、上述の様にカウンタ一部６２及び演算部７゜によっ
て決定される。デジタル化され、演算部７゜によって計
算されたトリガーレベル電圧は、演算部７０のメモＩＪ
　−４０６に記憶され、表示装置６１８によって表示さ
れる。

ステップ６では、システムは、トリガーレベル信号に対
するアイドラールーチンのステップ２で行われたのと同
様にして、フロントパネル８０のダイアル６２２．６２
４からＶ／ＦＣ部６１を経由（〜てＫＶ遅延パラメータ
ー及びンステム遅（ｔＬパラメーターを得る。

ステップ４において、シーケンスは、どσ）トリガーソ
ースがスイッチ６２６がら選択されたか。

且つ実行されているかを決定するのに用いられる。

Ｘ線パルス電圧トリガーソース［ＫＶＰＪが選択される
場合は１周辺インターフェース装置４２０は、制御ライ
ン７２ｉ〜７２１１の信号をイネーブルしてＸＮＭ管電
圧信号（すなわち、陽極電圧、陰極電圧、又は陽極電圧
士陰極電圧）を比較器２７４に結合する。一方、陽極電
流トリガーソース［’ＭＡＪ（６４） がフロントパネルから選択された場合は、周辺インター
フェース制御う・ｆン７２ｉ〜７２１１の信号なイネー
ブルして、陽極電流を比較器２７４に結合する。テスト
スイッチが選択された場合は、演算部７０は、Ｘ線テス
ターシステムのアナログ部及びデジタル部を自己試験す
るのに用いられるテストルーチンに制′Ｉ＠Ｉ　Ｙｘ移
す。

ステップ５では、Ｘ線発生器ライン電圧（Ｖｔ、）が上
述の方法で得られる。従って、」二記の様に入力ライン
５ろ（第２Ａ図）をＶ／ＦＣ６１（第６図）に結合し、
Ｖ／ＦＣ６１からのパルス列中のパルスの数を計数する
ことによりトリガーレベル電圧が得られる。

アイドラールーチンのステップ６は、Ｘ線管電圧（Ａｔ
、　（Ｃ１又は（Ａ十Ｃ）又は陽極電流（ｍａ）に対応
するトリガーソースが選択されたか否かを決定するため
のものである。（ｍａ　）　、（Ａ）　、（Ｑ又は（Ａ
モＣ）のどれも選択されない場合は、外部トリガールー
チン（ＸＴＲＩＧ）が呼ばれる。このルーチンについて
は、第９図の所で説明する。

（６５） アイドラールーチンのステップ７は、どのトリガーモー
ドがトリガーモードスイッチ６ろ０（第６図）から選択
されたかを決定するものである。

プレセット位置が選択される場合は、Ｖ／Ｆコンバータ
一部６１を通したトリガー基亭レベルの読みがＤ／Ａコ
ンバーター２７２にかけられる実際のトリガーレベルに
なり、且つ比較器２７４（第２Ｂ図）がトリガーパルス
を発生する際のしきい値レベル信号を与える。トリガー
モードスイッチ１２０（第６図）のプレセット位置が選
択されない場合は、演算部７６は、しきい値レベル信号
な　　゛計算し、こうして計算された信号は演舞部７０
がらＤ／Ａコンバーターに供給される。ここで、しきい
値レベルは、次の計算によって求められる。

すなわち、直前の暴露中に得られた選択トリガーソース
信号の絶対値にフロントパネルポテンショメーター６４
４から得られたトリガーレベル電圧信号から演算部７０
によって引出されたバ・−センテージをかける計算を用
いる。これかアイドラールーチンの終ｒであり、制御は
、アイドラールー（６６） チンの開始に戻され、全てのプロセスが繰返される。第
１０図〜第１６図で論じられる割込みに関する２つの事
象のうちいずれかが起きた場合、又はシステムの電力が
切れた場合にのみ、制御がアイドラルーチンが除かれる
。

第９図について説明する。この図には、外部トリガール
ーチンのフローチャートを示す。外部トリガールーチン
のステップ１は、トリガ・−ソーススイッチ６２６の外
部トリガー位置が選択されたか否かを決定するものであ
る。外部トリガーが選択された場合は、次に、トリガー
モードスィッチ６６００パーセント位置が選択されたか
否かが決定される。パーセントスイッチ６６０が選択さ
れた場合は、誤差ライト６１８が点灯する。どちらの事
象においても、周辺インターフェース装置４２０が外部
トリガーに対して設定される。イロ」となｈＡｆ　　）
リガーモードスイッチ６３０のパーセント位置は外部ト
リガー信号に適用できないからである。周辺インターフ
ェースが外部トリガーに対して設定された後、う・ｆン
電圧（ＶＬ）が仇出さく６７） れ、且つ制御がアイドラールーチンに移る。何となれば
、自動トリガーモードと外部トリガーモードが互いに排
他的であるために「自動トリガー」は選択されないから
である。

ステップ２において、自動トリガーモードが選択された
場合、待機フィラメント電流（ＩＰ）、、暴露時間、ピ
ーク陽極電圧（８））、、ピーク陰極電圧（Ｃ）又はピ
ーク陽極電圧士ピーク陰極電圧（Ａ＋Ｃ）、ライン電圧
Ｖｔ、及びミリアンペア電流（ＭＡＳ’）の値かＸ線発
生装置１１から得られ、これらの値が演算部７０によっ
て演算され表示される。６１（鼻部７０は、制御なアイ
ドラールーチンに戻す前に、約０．５秒待機する。かく
して、自動モードにおいて、上記のパラメーターが約０
．５秒休止において最新される。

この時点までに、演算部７０は、アナログプリプロセッ
シング部４０、デジタル化部６０．及び演算部７０（第
１図）の内部バッファーをイニシャライズして、以って
Ｘ線技士によって行なわれる各Ｘ線暴露に応答して、技
士によるＸ線システ（６８） ムカリプレーター１０の動作シーケンスの開始をイネー
ブルしている。活性化信号（図示せず）が技士によって
暴露を行なうためにＸ線システム１１に送られると％Ｘ
線管が作動し、Ｘ線が照射される。この照射期間、上記
のように動作パラメーターと呼ばれたＸ線管電圧及Ｘ線
管電流が高電圧ユニツ）２０（第１図）ｌ￥紅続出てＸ
Ｍ１テスター１０に供給される。Ｘ線動作パラメーター
には交流の性質があるため、一連のトリガーパルスがト
リガ一部４４によって発生する。これらの信号は、比較
器２７４にかけられて、これによりアナログプリプロセ
ッシング部４０によってＸ１１Ｍシステム１１（第１図
）から発生し比較器２７４（第２Ｂ図）にかけられる対
応するトリガーパルスをライン２７５に発生する。トリ
ガー信号の状態を用いて、以下の方法によって５演算部
７０の動作シーケンス乞決定する。ライン２７５〔第２
Ｂ図）に発生したトリガーパルスは、上記の様にライン
７８ａ〜７８Ｃにそれぞれ終了トリガーパルス、開始ト
リガーパルス及び開始暴露インジケーター信号を（６９
） 送る。ライン７８ａ〜７８Ｃに送られたこれらの信号は
演算部７０に対して割込みを発生する。ライン７８ａ〜
７８ｂにそれぞれ送られた終了トリガーパルスと開始ト
リガーパルス信号はＩＲＱＩＮＴ割込みを発生する。開
始暴露インジケーター信号は、ＮＭＩ割込みを発生する
。

第１０図は割込みハンドラー（ＩＩ−ＩＱ　［４ＡＮＤ
ＬＥｌ’（）ルーチンのフローチャートを示す。割込み
が第１１図〜第１６Ｂ図の所で説明する条件で起きると
、割込みに対応するルーチンが演算部７０によって呼ば
れ演算部が割込みを起すのを助ける。

第１１図は、ＩＲＱＩＮＴ割込みルーチンの動作シーケ
ンスのフローチャートである。ＩＲＱＩＮＴルーチンの
ステップ１において、信号が発生１２、周辺インターフ
ェース部４２０に送られる。次いでこの信号は、ライン
７２ｉ、７２１１’＆経由して。

サンプル及び保持部２５０に供給さワ、」ソ一つてこの
サンプル及び保持部２５０をサンプルモードに置く。

このルーチンのステップ２は、タイマ一部３１６（７０
） の夕・イマ−６１８ａ及び３１８１）の内容をデータメ
モリー４０６に仇込むのに用いられる。タイマー６１８
ａ９ろ１８ｂの初期内容はゼロである。これは、後に説
明するＴＭＥＩＮＴ割込みの間に、これらのタイマーに
行われた計数の残りの数を欣出すことに相当する。

ステップ６は、ライン７８ａ　、７８ｂの「終了トリガ
ーペルス」信号及び［開始トリガーパルス］信号の状態
を調査することによりトリガーパルス信号の状態を決定
するのに用いられる。トリガーパルス信号が存在する場
合（すなわち、［開始トリガーパルス４が割込みを生じ
た場合）、ライン７２１の制御信号は表明によって、サ
ンプル及び保持部２５０がコンデンサー２５２に前述の
ように（ＩＦ）又は（ＶＬ）Ｙ表わす選択された電圧信
号の値？保持できるようにする。トリガー信号が存在し
ない場合は、ライン７２ｊの制御信号は表明されない。

上記のどの場合でも、ルーチンのステップ４は、プロセ
ッサー４００に含まれる遅延レジスター（すなわち、前
述の様にシステム遅延と（７１） ＫＶ遅延の特徴を設定するのに用いられろレジスター）
をイニシャライズし、且つ演算部７０ケ再イネーブルし
て新しい「終了トリガーパルス」割込みと「開始１−　
ＩＪガーパルス」割込みを起こすのに用いられる。演算
部７０による割込み指やからの帰還を実施することによ
り制御がアイドラールーチンに戻る。

第１２図について説明する。第１２図はＴＭＥＩＮＴ割
込みルーチンのフローチャートである。ＴＭ　Ｅ　Ｉ　
ＮＴ割込みは、タイマ一部ライン６１６にオーバーフロ
ーがある時に起きる。割込ハンドラールーチンＴＭＥＩ
ＮＴは、ライン１８ｄに起きたＴＭＥｉＮＴ割込みの数
、すなわち割込みを起したターイマー６１８３〜６１８
ｂの特定の１つを追跡し、前述のように、得られたＴＭ
Ｉ！：ＩＮＴ割込の数を、割込みを起したタイマー３１
８〜３１８１）の１つに対応する演算部７０のメモリ・
−位置に記憶する。次にプログラム可能タイマー６１６
か・イネーブルされてやｆしい割込みが起きる。制御は
、帰醸割込み指鎗な実施することによりアイドラールー
チンに（７２） 戻る。

第１６図について説明する。第１６図はＣＬＥＡＦ（割
込みルーチンの：フローチャートである。ＣＬＥＡＲ割
込みは、クリアースイッチ６６４をフロントパネルから
押すと生じる。割込みハンドラールーチｙ　［ＣＬＥＡ
ＲＪ　は、現在の暴露数を減少させ、且つ全てのアドレ
スポインター２変え、以”って減少した暴露数データに
対応する演算部７ｏ中のメモリー位置を指示する。かく
して１次の暴露は、変化したアドレスポインターによっ
て指示された位置において減少した暴露数に対応したメ
モリー中のデータを置換える。次に、制御は、割込み指
やからの帰還を通して、アイドラールーチンに戻る。

第１４図は、ＲＥ　ＣＡ　Ｌ　Ｌ割込みルーチンのフロ
ーチャートである。ＲＥＣＡＬＬ割込みは、フロントパ
ネルのリコールスイッチ６５６を押すと生じる。ＲＥＣ
ＡＬＬ、＋ルーチンは、現在の暴露数を減少させ、且つ
前のデータセットの内容を表示する。

現在の暴露数と前の暴露数に対応する動作パラメーター
の組の値はこのルーチンによって変えられ（７３） る。かくして、前述のように、このルーチンは、Ｘ線シ
ステムから得られるデータを分析する際の柔軟性を許容
している。次に周辺インターフェース割込みがイネーブ
ルされ１割込み指令からの帰還を実施することにより制
御がアイドラールーチンに戻る。

第１５図はＭＡＮＵＡＬ割込みルーチンのフローチャー
トを示す。ＭＡＮＵＡＬ割込みは、フロントパネルのＭ
ＡＮＶＡＬ）リガースイッチ６６２を押すことにより生
じる。「手動ルーチン」Ｄステップ１において、演算部
７０は、前ｅこ選択したＭＡＳ　。

陽極電圧１又は陰極電圧（Ｃｌパラメーターに対する測
定値を得て、次にピーク検知器（第２Ａ図）をリセット
し、待機フィラメント電流又はライン電圧の測定値を得
る。

「手動ルーチン」のステップ２（トで得られたＸ線管動
作パラメーター）は、浮動小数点ｒＫ算パッケージを用
いるための値を計算するのに用いられる。表示装置８４
は、新しい計算された動作パラメーター値を用いて、演
算部７０により最新さく７４） れる。次に、制御は、割込み相合からの帰還によりアイ
ドラールーチンに戻る。「手動ルーチン」は本質的には
、手動トリガールーチンであり、トリガーが開始されろ
特産において存在する値（すなわち待機値）はＸ線シス
テムテスターによって読出されろ。

第１６図は、マスク不可能割込みルーチンＪＮＭＩＪを
示す。この割込みルーチンは、開始暴露インジケーター
信号か、前述のように、ゲート部６ろ（第６図）によっ
て生じた時に起きる。ステップ１（（おいて、演算部７
０が作動して陽極電流（ｍａ）の測定を行ない、次に、
トリガー信号のレベルを決定する前に、Ｑ、　ｌ　ｍｓ
の休止期間だけ遅延する。

次に、演算部７０は、終了トリガー割込ス及び停止トリ
ガーパルスの最後の値を調査することにより、トリガー
信号のレベルを決定する。トリガー信号が、終Ｔ　）　
ＩＪガーパルス年号を調査して求められた値と等しい場
合は、グリッチが起きたことを示す。プログラム可能周
辺インターフェース部４２０は再イネーブルされ、制御
は、割込み指や（７５） からの帰還を実施することによりアイドラールーチンに
戻る。このステップは［グリッチフィルター」に相当す
る。トリガーがゼロに等しいと決定された場合は、制御
は、ＮＭＩルーチンの第２ステツプに送られる。

ステップ２では、アイドラールーチンで決定された対応
するシステム遅延に等しい期間だけ、遅延ループがエン
ターする。この遅延期間が経過した後、セレクター４５
（第１図）が構成され、以って、陽極電流（１ηａ）（
すなわちライン４７）をデジタル化部６０＜第１図）に
結合する。デジタル化部６０は、陽極電流（ｎ１ａ　）
に比例した結合信号をデジタル化計数値に変換し、前述
のように基部休止期間の長さを追跡する。この情報は、
−に記のように、ライ７７８ａ　Ｉ　７８ｂ　ｌ　７３
（１（第６図）での割込みを経由して演算部７０に供給
される。この期間中、４ＭＡｓはタイマー３１８　ａに
おいて測定され、暴露期間はタイマー３１８　Ｌ）にて
測定される。

ステップ乙において、演算部７０ば、ピーク検（７６） 知器コンデンサ２６０をリセットする前に、２０ｍ５ま
での休止期間だけ遅延する。前に示したＫＶ遅延特性に
相当するこの可変遅延は、ピーク陽極電圧（Ａ）、ピー
ク陰極室、圧（Ｃ）、又は、ピーク陽極電圧士ピーク陰
極電圧（Ａ十Ｇ）の測定から全ての前縁過度状態をフィ
ルターするのに用いられる。

ステップ４では、暴露数が増加され且つ記憶さ−れ、全
ての内部バッファーがイニシャライズされ。

全てのマスク可能な割込みがイネーブルされ、且つ周辺
インターフェースがイネーブルされ新しいマスク可能割
込みが生じる。

ステップ５では、演算部７０シまトリガー信号を試験す
る前にｉＱｍｓだけ遅延する。このループの期間中に割
込みが起きる場合は、制御は、割込みハンドラー（第１
０図）に移る。割込みが起らない場合は、トリガーパル
ス信号の状態か、上記のように、１Ｑｒｎｓ毎に決定さ
れる。任意の１０ｉｎｓ休止の終ｒ後のトリガーパルス
信号が１に等しい場合は、暴島休止が終り、且つ制御が
ループ（７７） から除かれて、測定されたシステム遅延メ・〜ターを計
算するルーチンに移ることを示す。このステップは、Ｘ
線テスター１０を、単相又は移相（すなわち三相）シス
テムの動作パラメーターの測定に自動的に適用するのに
特に有用である。単相システムは８．６３ｍ５の倍数で
ある信号を発生する故、このステップによって、Ｘ１１
Ｍテスター１０は次のトリガー信号と単相システムに対
する新しい暴露の開始を区別することがそぎる。ステッ
プ乙において、演算部７０は周辺インターフェース部４
２０（第４図）をディスエーブルして新しい終了トリガ
ー割込み及び開始トリガーパルス割込みを起こす。ステ
ップ７では、演算部７０は、ピーク陽極電圧、ピーク隘
極電圧、ピーク陽極電［Ｅ−１−ピーク陰極電圧、フィ
ラメント電流又はライン市′圧等のパラメーターに対応
する信号ケイネーブルして、セレクター４５を選択的に
電圧−周波数変換器部６１に結合する。ステップ８では
、上記のパラメーターの値か浮動小数点演算パッケージ
を用いて計算される。パラメーターｍＡ、ＭａＳ＋（７
８） ｊＡ）、（Ｃ１，（Ａ＋Ｃ）　、ライン電圧（ＶＬ）又
はフィラメント電流（１ｆ）の値が演算部７０によって
表示装置８４に出力される。次に制御は、割込み指やか
らの帰還を実施することによりアイドラールーチンに戻
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は、Ｘ線システムへの典型的なインターフェース
を示すＸ線システムテスターの好ましい実施例の全ブロ
ック図、第２図は、第２Ａ図と第２Ｂ図との相関関係を
示す紳図。第２Ａ図は、陽極電流、管電圧、及びライン
電圧／フィラメント電流を検知するのに用いられ且つ第
１図のＸ線システムテスターに用いられる入力バラメー
ター検知部のブロック図、第２Ｂ図は、第１図のＸ線シ
ステムテスターに用いられろセレクタ一部及びトリガ一
部のブロック図、第６図は％第１図のＸ線システムテス
ターに用いられるデジタル化部のブロック図、第４図は
第１図のＸ線システムテスターに用いられる演算部のブ
ロック図、第５Ａ図は、第１図のＸＩＪンステムテスタ
ーによって用いられ（７９） る管電圧トリガー信号の経時変化の図及び陽極電流トリ
ガーが管電圧トリガー信号によって導入されたケーブル
容量誤差を補償する作用を図示的に表した図、第５Ｂ図
及び第５Ｃ図は、トリガーレベルの測定暴露時間に対す
る効果を示すために図示した陽極電流等のトリガーソー
ス信号の経時変化、第５Ｄ図は、負荷降下条件下でライ
ン電１−ｔ　’ｒ測測定ている第１図のＸ線システムテ
スターのシステム遅延の概念を理解する上で有用なライ
ン電圧の経時変化火示す図、第５Ｅ図は、第１図のＸ線
カリプレーターシステムのシステム遅延の概念であって
選択された休止時間中の陽極電流レギュレーターの作用
ケ調べるのに用いられる概余な理解する上で有用な陽極
電流の経時変化ケボず図、第６図は、第１図のＸ線シス
テムテスターのフロントパネルを示す図、第７図乃至房
、１６図は、第１図のＸ線システ、ムチスターの動作を
理解する上テ壱用なプロセスフロー図。 １０・・・Ｘ線システムテスター、　　　１１・・・Ｘ
ＭＭシステム、　　１２・・・Ｘｉ管、　　１４・・・
陽極、１６・・・（８０） 陰極、　ろ９・・・セレクタ一部、　　４０・・・アナ
ログ処理部、　４１　・（Ａ）（Ｃ；ｌＷ、ｌＥ検知記
瞳部、　４２・・・陽極電流部、　４６・・・Ｆ（ＭＳ
電圧／電流検知記憶部、４４・・・トリガ一部、　６１
・・・Ｖ／Ｆ’Ｃ部、６２・・・デジタル計数部、　６
６・・・ゲート部、７０・・・演算部、　８０・・・フ
ロントパネル、８４・・・表示部。 特許出願人　　ザ・マツクレット・ラボラトリーズ・イ
ンコーホレーテッド （８１） −５５シ 丞７０図 第１１回 特開昭５８−７８４００（２７）

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 ｉｌｌ　　Ｘｉシステムの動作パラメーターを測定する
   ための装置において、 上記動作パラメーターをデジタル信号に変換する上記動
   作パラメーターの１つを選択するというメモリーに記憶
   された１組の相合を実施し、且つ上記デジタル信号から
   １選択された−１−記パラメーターの値を計算するため
   の手段、及び 上記の選択されたパラメーターの計算値を表示するため
   の表示手段 を含むことを特徴とする装置。 （２）Ｘ線システムの動作パラメーター電圧及び電流を
   測定するための装置において、 制御信号に応答する手段であって、上記開側１＠号に従
   って選択的に上記動作パラメーター電圧及び電流の１つ
   を出力に選択的に結合するための手段。 （］） 上記セレクタ一手段の出力に電気的に接続された手段で
   あって、上記の選択的に結合された動作パラメーターを
   対応するデジタル信号に変換するための手段、及び 上記コンバータ一手段の出力に電気的に接続された演算
   手段であって、上記セレクタ一手段に制御信号を与える
   ための手段 を含むことを特徴とする装置。 （３１Ｘ線システムの動作パラメーターを測定するため
   の装置において、 複数のアナログ処理制御信号を発生するための手段、 制御信号に応答する手段であって、」−記の複数のアナ
   ログ処理信号か供給される複数の入力の１つを、」−記
   の制御信号に従って選択的に出力に結合するための手段
   。 上記セレクタ一手段の出力に結合された手段であって、
   上記入力アナログ信号の選択された１つを対応するデジ
   タル信号に変換するための手段、及び （２） プログラムメモリーに記憶された１絹の指令な実施する
   ための手段であって、上記結合手段に」二記信号を辱え
   るための手段 を含むことを特徴とする装置。 （４）Ｘ線システムの動作電、圧及び電流を測定する装
   置において。 上記Ｘ線システムの動作電圧及び電流信号を検知するた
   めの手段、 複数のアナログ処理制御信号を発生するための手段、 １対の制御信号に応答する手段であって、上記の制御信
   号のν１１信に応答して、上記動作電圧及び電流の１つ
   を上記結合手段の出力に結合し、且つ上記の制電信号の
   第２信号に応答」−て、上記アナログ処理制御信号の１
   つを上記結合手段の１つに結合するための手段、 上記結合手段の出力に結合された手段であって、上記結
   合手段の出力に発生した信号を対応するデジタル信号に
   変換するための手段、及びイニシャライゼーションモー
   ド期間中、上記の（３） １対の信号の第１信号を上記結合手段に与えるためにメ
   モリーに記憶された１組の指令を実行し、月つ動作モー
   ド期間中、上記の１対の制御信号の第２信号を発生する
   ための手段 を含むことを特徴とする装置。 （５ｒ　　Ｘ線システムテスターにおいて、（ａ）複数
   の組のデータであって、各データ絹が、」−読Ｘ　線シ
   ステムの動作に応じてＸ　１？ｒＭシステムによって発
   生した動作パラメーターを表わしているデータを記憶す
   るための手段、及び（ｂｌ　　、１記の記憶された複数
   組のデータの選υ（された１つをリコールするための手
   段。 を含むことを特徴とするＸ線システムテスター。 １６１　　Ｘ線システムの動作パラメーターな測定する
   ための方法において。 （ａｌ　　ｆＳ、数の組のデータであって、／？′ｒデ
   ータ紹が、上記Ｘ勝システムの動作に応じてＸ線システ
   ムによって発生した動作パラメーターを表わしているデ
   ータを記憶する段階、及び （ｂ）　　−Ｊ−、記の記憶された複数組のデータの選
   υく（４） された１つをリコールする段階 を含むことを特徴とする方法。 ｆ７＋　　Ｘ線システムの動作パラメーターを測定する
   ための方法において、 上記の複数の動作パラメーターの１つを選択スる段階。 上記の複数の動作パラメーターの選択された１つを選択
   されたパラメーターの値に関連した周波数を崩するパル
   ス１りに変換する段階、所定の休止時間中に上記パルス
   列中のパルスの数を計数する段階、及び 上記パルス列中のパルス数を上記所定の休止時間で割っ
   て上記の選択されたパラメーターの値を割算する段階 馨含むことを特徴とする方法。 （８）Ｘ線発生システムのｘ勝パラメーターを測定する
   方法において、 前記パルス列に発生しているパルスの数を計数する前に
   所定の時間量だけ遅延する段階をさらに含むことを特徴
   とする特許詩求の範囲第（７）項記載（５） の方法。 （９１Ｘ線システムを分析する方法であって。 複数回、上記Ｘ線システムを作動する段階、上記Ｘ線シ
   ステムの複数の絹の動作パラメーターであって、各相が
   Ｘ１Ｉ１１システムの上記作動回数の１つに相当するパ
   ラメーターを獲得する段階、上記の動作パラメーターの
   各相に対する値を計算する段階。 上記の動作パラメーターの各相に対【２て、上記Ｘ　ｈ
   システムの上記の計算された動作パラメーターの値を記
   憶する段階、 上記の記憶された動作パラメーターの選択された≠絹を
   リコールする段階、及び 上記のリコールされた動作パラメーターを表示する段階 を含むことを特徴とする方法。