JPS5878363A - 改良赤外反射装置を有する高圧ナトリウム - Google Patents

改良赤外反射装置を有する高圧ナトリウム

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JPS5878363A
JPS5878363A JP57152867A JP15286782A JPS5878363A JP S5878363 A JPS5878363 A JP S5878363A JP 57152867 A JP57152867 A JP 57152867A JP 15286782 A JP15286782 A JP 15286782A JP S5878363 A JPS5878363 A JP S5878363A
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film
nanometers
thickness
arc tube
lamp
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JP57152867A
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English (en)
Inventor
セス・デヴイツド・シルヴアスタイン
ジエロ−ム・シンデイ・プレナ−
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General Electric Co
Original Assignee
General Electric Co
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J61/00Gas-discharge or vapour-discharge lamps
    • H01J61/82Lamps with high-pressure unconstricted discharge having a cold pressure > 400 Torr
    • H01J61/825High-pressure sodium lamps
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J61/00Gas-discharge or vapour-discharge lamps
    • H01J61/02Details
    • H01J61/30Vessels; Containers
    • H01J61/35Vessels; Containers provided with coatings on the walls thereof; Selection of materials for the coatings

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、高圧すトリウムランプに関する。詳しくは、
本発明はアーク管の壁温を最適範囲に維持するためにア
ーク管径の増大および改良された赤外反射フィルムの使
用の相乗効果による高圧ナトリウムランプの改良に関す
る。
一般に、高圧ナトリウムランプは保護用外筒内に配置さ
れ、始動を保進するためにナトリウム、水銀および不活
性ガスの慣用の電離媒体を内蔵する内部アーク管からな
る。アーク管の両端に位置する電極に電流を流すと、不
活性ガスは電離して電極間にアークが形成される。ナI
・リウトはアークの熱によって蒸発する。このようなラ
ンプのアーク管の最適作動壁温は14000に〜150
0°にの範囲である。従来の400ワツトの高圧すトリ
ウムランプのアーク管の直径はほぼ71Ijである。
高圧すトリウムランプの設計にあたって考慮すべき重要
な問題点の一つは、壁負荷(wall 1oad )パ
ラメーターであって、学位面積当りのワット数として示
される。実際的な用語としては、1壁負荷」はランプの
入力ワットをアーク放電管の内部表面の面積で割って測
定する。壁負荷の重要性はアーク管壁温度へのその影響
によるもので、換言すれば、それはランプ効率(ルーメ
ン/ワットで測定する)に密接に関連する。従って、高
圧ナトリウムランプにおいて、所定の最適アーク管壁温
度を維持することの望ましいことは明白である。
IESの年次総会(昭和55年8月)において発表され
た論文に記載されているように、ウェイマウス(J、 
F、Waymouth )およびワイナー(B、F、 
wy −ner)は、高圧すトリウムランプの効率が一
定のアーク管壁温度においては管の直径の増大によって
改良される旨を発表している。従来の高圧ナトリウムラ
ンプにおいては、ランプへの入力エネルギーの相当部分
が加熱アルミナ(A1203)アーク管の白熱から長波
長赤外放射として浪費されている。
しかしながら、熱放射の熱伝達はアーク管の面積に比例
するので、直径のより大きいアーク管(従つて、面積の
より大きいアーク管)はより多くの熱を放射する。放射
熱の回収工程がない場合は、アーク管壁温度は最適温度
範囲よりも低下して、アーク管壁温度を上げるためにラ
ンプにより多くのエネルギーを供給しなければならない
。更に、ナトリウム濃度はアーク管壁温度に逆比例する
ので、壁温かより低下すると、主たるナトリウム放出線
(NaD)の再吸収がより大きくなり、結果的にランプ
効率は低下する。ウェイマウスおよびワイナーによって
提案された大きい直径のアーク管のアーク管壁温度を最
適温度に維持するための方法は、アーク管材質としてア
ルミナに代えとイツトリア(Y2O3)を使用する方法
である(イツトリアは、特にスペクトルの赤外領域にお
いて、アルミナよりも放出が弱い)。
本発明によれば、従来のアーク管よりも大きい直径を有
する高圧すl−IJウムランブの効率は、ランプの外筒
の内面に、スズを塗布した酸化インジウム(In2O3
: Sn)またはフッ素を塗布した酸化スズ(5n02
 : F )を酸化チタン(Tie□)および/または
酸化ケイ素(Sigh)の誘電フィルムと共に展開する
ことによって増加される。赤外線反射フィルムは実質的
には可視光線放射に対しては透過性であるが、赤外線放
射はアーク管方向に反射するように作用する。これは、
そうでない場合はロスになるものである。アークからの
赤外線放出の主要部分は、アーク管内に含まれるプラズ
マ中に逆反射されて、そこで再吸収され、その結果必要
な入力を減少させる。T io2およびS i02をI
n2’03 : SnまたはSnO2:Fフィルムと組
合わせると、可視波長における赤外線反射フィルムの反
射性を減少させ、近可視赤外線波長における反射性を増
大させることができる。誘電フィルムはまた、高温度に
おける赤外線反射フィルムの化学安定性を高めることも
できる。このようにして、アーク管の壁温は最適範囲に
有効に維持される。
過去においては、赤外線反射フィルムは効率を向上させ
る手段として低圧すトリウムランプに使用されてきた。
グロス(Groth)の米国特許第3.400,288
号にはこのようなランプが示されている。しかしながら
、低圧すI−リウムランプの操作原理は、高圧ナトリウ
ムランプとは異なる。従って、低圧すトリウムランプの
効率を向上させる機構もまた、高圧ナトリウムランプの
それとは異なる。低圧すl−IJウムランプにおいては
、効率の向上は、より高温の壁温によって一定の入力に
おいてすトリウム蒸気圧が上昇の結果である。これに反
して、本発明の高圧すl−IJウムランプの効率の向上
は、管径の増加、最適の壁負荷を維持し、プラズマから
の非可視放出部分を逆にプラズマに反射させるための複
合赤外線反射フィルムの使用ζこよるものである。更に
、低圧すトリウムランプのアーク管径の増加は、高圧す
トリウノ・ランプにおいて見られるような効率の変化は
伴なわない。
フォール等(、Fohl et al )およびクール
等(Kuhl、et al )  の米国特許第3,9
31,536号および3,662,203号には、赤外
線、反射フィルムを含む11 高圧すトリウムランプがそれぞ゛れ開示されている。
フォール等の特許には、酸化チタン(TiO2)および
酸化ケイ素(S10□)の交互の層で作られる反射フィ
ルムが開示されている。このような反射器の一つは、8
分の1波長のSiO□の層の間に、4分の1波長のTi
O2および5i02の13枚の層を交互にサンドイッチ
した反射器からなる。このような反射器は、明らかに本
発明に使用される複合赤外線反射フィルムよりも非常に
複雑である。クール等は、外筒をアーク管に非常に接近
して位置させることによって加熱を増加することを提案
している。高屈折率の石英からなる外筒はアーク熱を石
英のアーク管に放射し返えす。クール等によって開示さ
れた方法は、このように比較的高価な石英外筒を使用す
るのみならず、外筒の表面積の減少が外筒上に展開され
た反射フィルムを過熱するので好ましくない。更に、フ
ォール等およびクール等はいずれも、アーク管径の増大
および赤外線反射In2O3:Snまたは5n02 :
 Fフィルムが高圧すトリウムランプの効率に望ましい
効果を与えるという認識を示していない。
高圧すl−IJウムランプの効力はアーク管の直径を増
すと同時に、外側のランプ外被の内面上に、In2O3
: Sn  もしくは8nO2: F のような半導体
酸化物並びにTiO□および5i02のような誘電体か
らなる赤外線複合フィルムを展開することにより改良さ
れる。半導体酸化物および誘電体フィルムは、外側の外
被により通常は吸収または伝達される赤外エネチギーを
プラズマまたはアーク管に反射する。誘電材料はまた高
温における半導体酸化物の化学的安定性を増強するのを
助ける。例えば、半導体酸化物In2O3: Snもし
くは5n02 : FフィルムをT i02で覆うこと
により半導体材料の安定性は増すが、牟−半導体酸化物
材料により得られた、高圧すl−IJウムランプの効力
を越えて正味の効力の増加は伴わない。しかしながら、
高圧すl−IJウムランプの効力は学−の半導体酸化物
フィルムをもって得られた効力を越えて増大し、また半
導体酸化物の化学的安定性は、例えば、150nmの厚
みのIn2O3: Snフィルムを120nmの厚みの
S r 02フイルムをもって覆うことによって増され
る。
TiO□基体と5IO2オーバーコートとの間に配設さ
れたIn2O3: 8nからなる3層の複合フィルノ、
は学−半導体フィルムまたは8i02  の学−コート
をもって覆われたそのようなフィルムで得られた効力の
増大よりもより大きな効力の増大をもたらす0Tt02
  In2O3: Sn  5i02の三層複合フィル
ムの好ましい実施態様において、フィルムの厚みは、そ
れぞれ130−150−120ナノメーターである。一
般的に、TiO2および5i02 誘電体フィルムの最
適厚みは、それぞれ±10ナノメーター変ってもよい。
このように、アーク管壁温度は、従来のものより大きな
直径をもつアーク管中で14000に〜1500°にの
最適範囲に保たれる。半導体酸化物フィルムの厚みは8
0−350ナノメーターの間であってよいが、好ましく
は、In2O3: snについては130〜200ナノ
メーター、5n02 :Fについては1.30〜250
ナノメーターである。
アーク管の直径は、好ましくは10〜1411J%最も
好ましくは12〜14mであるが、25mmの程度の大
きさであってもよい。
In2O3: 8nフイルムは、大気中での化学スプレ
ー−撓きもどし技術を用いてガラス上に沈着される。誘
電体フィルムは種々の方法で沈着される。
無定形5i02は、シリコンハライド、有機珪酸エステ
ルのような珪素化合物の慣用の低温加水分解を用いて沈
着される。TiO2はTiC4の低温における加水分解
により沈着される。
本発明の目的は高圧すl−IJ 1クムランプの効力を
増し、かつ薄い赤外線反射半導体酸化物フィルムの化学
的安定性を増大することにある。
本発明のいま一つの目的は、アーク管壁の温度を最適範
囲に保つために、アーク管の直径を増し、かつ薄い半導
体フィルムおよび誘電体フィルムからなる改良された赤
外線反射複合フィルムを外側の外被の内面上に展開する
ことにより高圧すトリウムランプの効力を増すことにあ
る。
さらに本発明の目的は、慣用のものよりも大きい直径の
アーク管を有し、アーク管壁温度を最適温度範囲に保持
するためにT i(12およびS+0□によって覆われ
るか、または両者間に挾持されるIn2O3:Sn  
またはSnO2: F半導体酸化物の薄いフィルムがラ
ンプ外被内面上に展開された高い効率の高圧ナトリウム
ランプを提供することにある。
本発明の構成並びに操作方法を本発明の上記以外の目的
および利点とともに、添付図面を参照して説明する。
第1図は本発明の高圧すトリウムランプ10の一実施例
を説明するものである。このランプは外側のガラス外被
1を包含し、この外被は好ましくはその内面に展開され
た赤外反射複合フィルム2(後に詳述する)を有する。
ナトリウムを含む慣用のイオン化放電媒体は、導電性の
アーク管エンドキャップ7および8に電気的に接続され
ている電極5および6によって外側の外被1内に据付け
られたアーク放電管4内に包含される。電極6が部分的
に包まれる外側の外皮1中のくぼみ11により電極6が
機械的に支持される。可撓性部材12は電極6をエンド
キャップ8に機械的および電気的に接続し、熱膨張を補
償する。アーク管4の内径は10〜25IuIでおいて
もよく、好ましくは10〜14藺、最も好ましくは12
〜14mである。
アーク管2の直径は、またランプの出力の定格にもよる
。慣用の400ワソ1−高圧すトリウムランプでは、ア
ーク管直径は約6−7藷である。ランプ10は慣用のエ
ンジン型のネジ込みベース3を備えてもよい。
アーク管4と外側の外被1との間の空間9はアルゴンの
ような不活性ガスで満たされてもよい。
しかし、好ましくはこの空間は真空とされる。
複合反射フィルム2はスズをドープした半導体酸化物I
n2O3、或いはフッ素をドープしたSnO□を含む。
これらは厚みが80〜350smである。複合反射フィ
ルムは厚みが120smのTiO2もしくは8i0□の
誘導フィルムをもって覆われている。他の実施例では、
反射フィルム2はi’io□フィルム基体上に配設され
、かつ5102のフィルムで覆われた半導体酸化物フィ
ルムから造られる。
この実施例では、TiO□−半導体酸化物−8102複
合体の個々のフィルムの厚みは、それぞれ130.15
0.120smである。最適の結束を得るには、TiO
2およびSiO2の厚みの範囲は、それぞれ130およ
び120sm、±l Onmであるo Tn、、03:
 Snおよび5n02 : Fフィルムの厚みの好まし
い範囲は、それぞれ130〜200および130〜25
0smである。
In2O3: Sn及び5n02 : Fフィルムはラ
ンプの外おおいの内表面又は外表面に通常の大気中の化
学的スプレィ技術によって形成することができる。
半導体物質は400℃又はそれ以上に加熱されたガラス
基材の上にスプレィされる。8i02フイルムはハロゲ
ン化けい素及び有機けい酸エステルの如さけい素化合物
の低温加水分解によって沈積することが出来る。TiO
□フィルムたとえばT i C10の低温での加水分解
によって沈積することが出来る。
第2図は遊離キャリヤー濃度1.3Xloc1nの厚さ
1501sの牟−■n203:Snフィルムの透過率(
T)及び反射率(R)のスペクトルを表わす。高圧す)
 IJウムアークからの線放射が横軸に沿って示されて
いる(線の高さは相対的強度を表わす)。
たて軸に透過又は反射放射の割合が示されている。
第2図からIn2O3: Snフィルムは1000乃至
3000ナノメーター領域に於いて高反射性であり60
0ナノメーター領域の主なすトリウム放射線(NaD)
を含む可視スペクトル領域に於いては低吸収性であるこ
とがわかる。In2O3: Snフィルム−ガラス複合
体の平均可視吸収率は約0.03である。第2図に示さ
れたスペク1−ルの可視部は約700ナノメーター迄拡
がっており、一方近赤外領域は700ナノメーターから
約1000ナノメーター迄拡がっていることに注意すべ
きである。励起原子状態から発生ずる分離す1−リウム
IR放射は1100ナノメーター、1850ナノメータ
ー及び2100ナノメーターに現われる。これらの放射
の一部分はアーク管及びプラズマ中に逆反射されて、そ
こで部分的に再吸収されることにより入力低減を生じる
こととなる。主としてイオン化されたNa2分子の再結
合により発生する連続的IR放射を、そして成程度はナ
トリウム−水銀分子錯体からの輻射を反射性フィルムは
又アーク管の方に逆反射し、それにより更にランプ効率
を改善する。
厚さ150ナノメーターの学−の1.n203 * S
n反射性フィルムの使用と、増加されたアーク管直径を
持つアーク管の採用との結合により高圧すI・リウムラ
ンプの効率は大層向上する。効率向上の一部はアーク管
直径の増加に起因する。附加的な向上はIn2O3: 
SnのIR反射効果に起因するプラズマIR,放射の部
分的反射及び吸収に由来する。IR反射性フィルムの使
用はランプ効率の向上に顕著に寄与している。特にラン
プをこ入力されるエネルギーの約35%が加熱されたア
ルミナアーク管の白熱光から長波長のIR輻射として逸
散してしまうと、普通の高圧ナトリウムランプでは考え
られているのである。
第3図には学−の厚さ150ナノメーターのIn2O3
: Snフィルムを厚さ120ナノメーターの5i02
で更に被覆した場合の反射率スペクトルが示されており
、比較の便宜のために学−の厚さ150ナノメーターの
In2O3: Snフィルムの反射率スペクトルが併せ
て示しである。再被覆されたI n203フイルムの場
合は、圧力により幅が広がったNaD線に関連した可視
領域に於いて反射率はや\減少し、819ナノメーター
(近赤外)のナトリウム放射線の近傍に於いて増加して
いる。これら両方の効果によりこの複合フィルムの効率
はIn2O3:8nフイルム学独の場合の効率より高め
られるのである。第4図は第3図に示されたのと類似の
In2O3:Snフィルムの反射率スペクトルを示すも
のであるが、厚さ120ナノメーターのTiO2フィル
ムで再被覆された場合のものを示している。この実施態
様の場合は学−のIn2O3: 8nフイルムの場合に
得られる効率に比べて効率は実質上向上しない。
可故ならば、819ナノメーター放射線からの反射によ
る向上分はNaD放射線に於ける透過率の減少によって
失なわれると思われる。然しなからTiO□による再被
覆はIn2O3; Snフィルムの高温時の化学安定度
を強化するはたらきがある。
厚さ130ナノメーターのTiO2フィルム上に150
ナノメーターのIn2O3: Snフィルムを沈積し、
更に厚さ120ナノメーターのTiO2フィルムで再被
覆して得た三層複合フィルムの好ましい実施態様の場合
の反射率を第5図に示す。第5図に表わされた学−の厚
さ150ナノメーターのIn2O3:Snフィルムの場
合の反射率と比較すると近赤外819ナノメーターのナ
トリウム線の位置に於ける反射率の増加と可視部NaD
線の位置に於ける反射率の減少がみとめられる。三層複
合フィルムは争In2O3: Snフィルムの場合に得
られる効率に比べて約4%の効率向上をもたらすと評価
されている。ナトリウム放射線の819ナノメーター領
域に於ける反射率の増加のために、三層複合フィルムは
第に8i02で再被覆した場合のものに比べてもより大
きい効率をもたらす。
上述したIR,反射フィルムのどの場合についても過熱
によるフィルムへの損傷を避けるために外おおいは充分
に大きく作る必要がある。
上述して来た如(本発明は高圧ナトリウムランプの効率
を顕著に向上しIR反射半導体酸化物の薄膜の高温化学
安定性を増強する事が理解されるであろう。半導体酸化
物フィルムはTiO□及び8i02゜の誘電体フィルム
との結合によりIll、輻射の経済的かつ効果的な回収
を可能にし、この事は増加した直径のアーク管に都合よ
く好影響を及ぼし、その際アーク管の壁温度を最適温度
範囲に保つ。増大したアーク管直径を採用し、この明細
書中に記載した改良反射フィルムを用いることにより学
−のIn2O3: Sn又は5n02 : Fフィルム
を用イタ類似のランプの効率よりも高圧ナトリウムラン
プの効率は増大する。
実例を示すことにより本発明の好ましい実施態様のいく
つかを例示してきたが、当業者ならば更に多くの変更と
変形を行なうことが可能であろう。
従って本発明の特許請求の範囲はかNる変更と変形のす
べてが本発明の真の精神範囲にはいる事を意図している
ことを理解すべきである。
【図面の簡単な説明】
第1図は外側の外被の内表面上に展開された赤外線反射
フィルムを包含する高圧すトリウムランプの一実施例を
示す部分断面図、 第2図は高圧ナトリウムランプのエネルギー放射線の波
長と、ガラス上に展開された150nmのの厚みのIn
2O3: Snフィルムのスペクトル反射率および透過
率との関係を示すグラフ、 第3図はガラス基体上の15QnmのIn2O3: S
nの学一層のスペクトル反射率および5i02  の1
20nm  の厚みのフィルムで覆われた同じフィルム
の反射率を示すグラフ、 第4図は第3図と同様であるがTiO2の120nmの
厚みのフィルムで覆われたIn2O3: Snフィルム
のスペクトル反射率を示すグラフ、 第5図はTiO2−In2O3: Sn −5i02 
 三層複合系であって、そのフィルムの厚みが、それぞ
れ130/ 150 / 120 nm  である系の
スペクトル反射率を示すグラフである。 1ニガラス外被 2:赤外線反射複合フィルム 3:ネジ込みベース 4:アーク放電管 5.6:電極 7.8:エンドキャップ 9:空間 11:くぼみ 12:可撓性部材 −茶榊 手続補正書(自発) ■、小事件表示 昭和57年 ’n膏M   第11−
λli’(7号2、発明の名称 z’<Lt、9L象育ti蓄を眉11丘十ド1輛3、補
正をする者 事件との関係   出願人 包゛キラIL/  1しり[++ 、、り −:r>+
t’s−4、代理人

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)  高圧ナトリウムランプにおいて、対向端部に
    電極があってアーク管の内径が10〜201u1の細長
    くて可視光を透過する耐圧性アーク管があり、該アーク
    管内には原子状金属ナトリウム片が入れてあり、該金属
    ナトリウム片は励起すると電磁スペクトルの可視および
    赤外波長のエネルギーを放出し、該アーク管の周りには
    真空番こなし得る外被があり、該外被の上にはTiO2
    および5i02  からなる群から選ばれた誘電体を被
    覆したIn2O2: Snフィルムを含む複合赤外線反
    射フィルムが設けられており、該複合フィルムは上記可
    視波長エネルギーの殆んどの部分を透過し、且つ上記赤
    外波長エネルギーの殆んどの部分を上記アーク管に向け
    て反射し、反射した赤外エネルギーの中の充分な量が上
    記アーク管に吸収されて上記アーク管の壁面温度を適当
    な温度範囲に維持することを特徴とするランプ。 (2)  上記fn203 : 8n 74 ルムの厚
    みは8〇二350ナノメーターであることを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載のランプ。 (3)上記In2O3: Snフィルムの厚みは130
    〜200ナノメーターであることを特徴とする特許請求
    の範囲第1項記載のランプ。 (4)上記複合フィルムは上記外被の内面に配置されて
    いることを特徴とする特許請求の範囲第3項記載のラン
    プ。 (5)  上記複合フィルムは電磁スペクトルの600
    ナノメーター領域の波長を有する電磁エネルギーに対し
    て実質的に透明であるが1000ナノメーターを超へる
    波長のエネルギーは実質的に反射することを特徴とする
    特許請求の範囲第4項記載のランプ。 (6)上記の適当な温度範囲は1400°Kから150
    00K の間にあることを特徴とする特許請求の範囲第
    4項記載のランプ。 (7)上記誘電体は110〜130ナノメーターの厚み
    を有するTiO2フィルムからなることを特徴とする特
    許請求の範囲第2項または第3項記載のランプ。 (8)  上記誘電体は110〜130ナノメーターの
    厚みを有するSiO□フィルムからなることを特徴とす
    る特許請求の範囲第2項または第3項記載のランプ〇 (9)上記複合赤外反射フィルムは、上記ガラス製外被
    上にTt02 、 In2O3: SnおよびSin、
    、の順に配置したフィルムからなることを特徴とする特
    許請求の範囲第1項記載のランプ。 0ω 上記TiO2および8i02 フィルムの厚みは
    それぞれ110〜130ナノメーターの間にあり、同時
    に上記In2O3: Snフィルムの厚みは130〜2
    00ナノメーターの間にあることを特徴とする特許請求
    の範囲第9項・、記載の複合赤外反射フィルム。 (lυ 上記TiO2フィルムの厚みは130ナノメー
    ターであり、上記In2O3: Snフィルムの厚みは
    150ナノメーターであると共に上記5i02フイルム
    の厚みが120ナノメーターであることを特徴とする特
    許請求の範囲第9項記載のランプ。 02)高圧すl−IJウムランプにおいて、対向端部に
    電極を有する細長くて可視光線を透過する耐圧性アーク
    管があり、該アーク管の内径は10〜25朋であり、該
    アーク管内には原子状金属ナトリウム片が入れてあり、
    該金属すトリウム片は励起すると電磁スペクトルの可視
    および赤外波長のエネルギーを放出し、上記アーク管の
    周りには真空になし得る外被があり、該外被上にはTi
    O2および5i02からなる群から選ばれた誘電体で被
    覆したSnO□:Fフィルムを含む複合赤外反射フィル
    ムが配置されており、該複合フィルムは上記可視波長エ
    ネルギーの殆んどの部分を透過し且つ上記赤外波長エネ
    ルギーの殆んどの部分を上記アーク管に向けて反射し、
    その反射した赤外エネルギーの充分な量が上記アーク管
    に吸収されて上記アーク管の壁面温度を適当な温度範囲
    に維持することを特徴とするランプ。 (131上記5n02 : Fフィルムの厚みは80−
    350ナノメーターの間にあることを特徴とする特許請
    求の範囲第12項記載のランプ。 θ荀 上記8nO2: Fフィルムの厚みは130〜2
    50ナノメーターの間にあることを特徴とする特許請求
    の範囲第13項記載のランプ。 (15)上記5n02 : Fフィルムは上記外被の内
    面に配置されていることを特徴とする特許請求の範囲第
    13項記載のランプ。 (16)上記複合フィルムは電磁スペクトルの600ナ
    ノメーター領域の波長の電磁エネルギーに対しては実質
    的に透明であるが、1000ナノメーターを超へる波長
    の電磁エネルギーは実質的に反射することを特徴とする
    特許請求の範囲第15項記載のランプ。 0η 上記適当な温度範囲は14000に〜15000
    にの間にあることを特徴とする特許請求の範囲第15項
    記載のランプ。 α印 上記誘電体は厚みが110〜130ナノメーター
    のTiO2フィルムからなることを特徴とする特許請求
    の範囲第13項または第14項記載のランプ。 0 上記誘電体は厚みが110〜130ナノメーターの
    5i02フイルムからなることを特徴とする特許請求の
    範囲第13項または第14項記載のランプ。 (イ)上記複合赤外反射フィルムは上記外被上にTt0
    215n02 : Fおよび5i02の順に配置したフ
    ィルムからなることを特徴とする特許請求の範囲第12
    項記載のランプ。 (2υ 上記TiO2およびSiO2フィルムの厚みは
    それぞれ110〜130ナノメーターの間にあり、且つ
    上記5n02 : Fフィルムの厚みは130〜250
    ナノメーターの間にあることを特徴とする特許請求の範
    囲第20項記載の複合赤外反射フィルム。 (221上記T i02フィルムの厚みは130ナノメ
    ーターであり、上記5n02 : Fフィルムの厚みは
    150−ナノメーターであり、且つ上記SiO□フィル
    ムの厚みは120ナノメーターであることを特徴とする
    特許請求の範囲第20項記載の複合赤外反射フィルム。
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