JPS587557A - 電磁超音波探傷装置 - Google Patents
電磁超音波探傷装置Info
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- JPS587557A JPS587557A JP56105907A JP10590781A JPS587557A JP S587557 A JPS587557 A JP S587557A JP 56105907 A JP56105907 A JP 56105907A JP 10590781 A JP10590781 A JP 10590781A JP S587557 A JPS587557 A JP S587557A
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- JP
- Japan
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- fault
- memory
- electromagnetic ultrasonic
- current
- waveform
- Prior art date
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/22—Details, e.g. general constructional or apparatus details
- G01N29/24—Probes
- G01N29/2412—Probes using the magnetostrictive properties of the material to be examined, e.g. electromagnetic acoustic transducers [EMAT]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/042—Wave modes
- G01N2291/0423—Surface waves, e.g. Rayleigh waves, Love waves
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、送信電流波形を検出することにより、被検
材の内部および表面の欠陥評価をおこなう電磁超音波探
傷装置に関する。
材の内部および表面の欠陥評価をおこなう電磁超音波探
傷装置に関する。
従来この種の装置として、第１図に示すものが知られて
いる。この第１図において、１は高圧直流電源、２は充
電抵抗器、３は放電用のコンデンサ、４は高電圧用のス
イッチ、５は制動抵抗器、６は反射形の電磁超音波探触
子でおる。
いる。この第１図において、１は高圧直流電源、２は充
電抵抗器、３は放電用のコンデンサ、４は高電圧用のス
イッチ、５は制動抵抗器、６は反射形の電磁超音波探触
子でおる。
電磁超音波探触子６は鉄心に巻装された送信コイル７％
受信コイル８を有しており、被検材９と電磁超音波探触
子６と距離を表わすり７トオフ１０を支持ローラ１１で
支持している。
受信コイル８を有しており、被検材９と電磁超音波探触
子６と距離を表わすり７トオフ１０を支持ローラ１１で
支持している。
１２は受信信号の増幅器、１３は受信信号の検波器、１
４は被検材９の内部欠陥評価器である。
４は被検材９の内部欠陥評価器である。
一方、第２図は電磁超音波による被検材９の受信信号波
形を示したものである。
形を示したものである。
次に、第１図の電磁超音波探傷装置の動作について説明
する。矢印Ａ方向に一定速度で移動している被検材９に
電磁超音波探触子６（以下、探触子と太う）を後板する
。このとき探触子６と被検材９は、支持ローラ１１にょ
シ一定のり７トオフ１Ｏ−ｆｉ保たれてｉる。
する。矢印Ａ方向に一定速度で移動している被検材９に
電磁超音波探触子６（以下、探触子と太う）を後板する
。このとき探触子６と被検材９は、支持ローラ１１にょ
シ一定のり７トオフ１Ｏ−ｆｉ保たれてｉる。
しかる後、電磁超音波の送信を開始する。この超音波の
送信に社、まず充電抵抗器２を通じて高圧直流電源１か
らコンデンサ３に充電されてｉる電荷を、スイッチ４−
を閉じることにょシ、制動抵抗ＳＳおよび送信コイル７
を通じて放電する。
送信に社、まず充電抵抗器２を通じて高圧直流電源１か
らコンデンサ３に充電されてｉる電荷を、スイッチ４−
を閉じることにょシ、制動抵抗ＳＳおよび送信コイル７
を通じて放電する。
このとき、上記放電回路はＲＬＣ直列共振回路と等価と
なシ、送信コイル７に紘第（１）式に示す周波数ｆｏの
送信電流ｔｏが流れ被検材９に超音波が発生する。
なシ、送信コイル７に紘第（１）式に示す周波数ｆｏの
送信電流ｔｏが流れ被検材９に超音波が発生する。
上記発生した超音波は被検材９を伝播し、欠陥または底
面で反射され、受信コイル８で受信され、増幅１１１２
で増幅されると、第２図に示す信号波形、すなわち不感
帯ｔｏをもつ信号波形１５と被検材９の欠陥または底面
エコーの信号波形１６が出力される。この信号波形社検
波器１３で検波され、従来の超音波探傷装置と同じ欠陥
評価機能を持つ内部欠陥評価器１４に入力され、被検材
の欠陥の評価がなされる。
面で反射され、受信コイル８で受信され、増幅１１１２
で増幅されると、第２図に示す信号波形、すなわち不感
帯ｔｏをもつ信号波形１５と被検材９の欠陥または底面
エコーの信号波形１６が出力される。この信号波形社検
波器１３で検波され、従来の超音波探傷装置と同じ欠陥
評価機能を持つ内部欠陥評価器１４に入力され、被検材
の欠陥の評価がなされる。
ｆｏ中 ・・・・・・・−（１）２む４で
Ｌ：送信コイルのインダクタンス
Ｃ：充放電用コンデンｔ３の容量
従来の電磁超音波装置は以上のような構成であシ、第２
ＥＫ示すように受信信号に不感帯ｔｏが存在するため、
被検材９０表面付近の内部欠陥検出ができな−。さらに
被検材の表面の欠陥検出ができない欠点があった。
ＥＫ示すように受信信号に不感帯ｔｏが存在するため、
被検材９０表面付近の内部欠陥検出ができな−。さらに
被検材の表面の欠陥検出ができない欠点があった。
この発明紘、上記の従来の欠点を除去する九めになされ
たものて、送信時の送信電流波形を検出し、仁の電流波
形の大きさ・周波数・減衰振動時間などから、被検材の
表面欠陥および表面付近の内部欠陥検出を行い、従来の
電磁超音波探傷装置と組み合わせることによって、従来
装置で紘検出できなかった被検材の内部のみならず表面
欠陥評価もできる電磁超音＃ＩＬ探傷装置を提供するこ
とを目的とする。
たものて、送信時の送信電流波形を検出し、仁の電流波
形の大きさ・周波数・減衰振動時間などから、被検材の
表面欠陥および表面付近の内部欠陥検出を行い、従来の
電磁超音波探傷装置と組み合わせることによって、従来
装置で紘検出できなかった被検材の内部のみならず表面
欠陥評価もできる電磁超音＃ＩＬ探傷装置を提供するこ
とを目的とする。
以下、この発明の電磁超音波探傷装置の実施例をａａｉ
について説明する。ｌＮ３１１はその一実施例の構成を
示すブロック図であシ、この第３図にお−て１〜１４の
符号社第１図と同一部分を示し、その説明を省略する。
について説明する。ｌＮ３１１はその一実施例の構成を
示すブロック図であシ、この第３図にお−て１〜１４の
符号社第１図と同一部分を示し、その説明を省略する。
１７は従来の電磁超音波探傷装置、１８は送信コイルを
流れる送信電流波形を検出する電流波形検出装置であ夛
、その出力信号を第１メモリ１９で記憶するようになっ
ている。
流れる送信電流波形を検出する電流波形検出装置であ夛
、その出力信号を第１メモリ１９で記憶するようになっ
ている。
萬１メモＵ１９０出力は第２メモリ２０、表面欠陥判定
器２１に出力するようになって−る。第２メモリ２０Ｆ
ｉ標準電波波彫を記憶しておくための４０であシまた、
表面欠陥判定器２１は第１メモリ１９と第２メモリ２０
の信号波形を比較し、被検材９の表面欠陥を評価するも
のである。
器２１に出力するようになって−る。第２メモリ２０Ｆ
ｉ標準電波波彫を記憶しておくための４０であシまた、
表面欠陥判定器２１は第１メモリ１９と第２メモリ２０
の信号波形を比較し、被検材９の表面欠陥を評価するも
のである。
表面欠陥判定器２１および内部欠陥評価器１４の出力は
内ｌｌｌ１ｌ！−欠陥評価！２３に送るようになってお
シ、その出力は欠陥評価を行う信号処理装置２４に送出
するようになって−る。
内ｌｌｌ１ｌ！−欠陥評価！２３に送るようになってお
シ、その出力は欠陥評価を行う信号処理装置２４に送出
するようになって−る。
１１４図は、探触子６と被検材９の距離を表わす１）
ｔｙ ）オフと送信電ａｌｅの周波数の関係を示したグ
ラフてあシ、第５図は矢印Ａ方向に一定速度で移動しで
いる被検材９の表面に欠陥Ｆが存在し、超音波を送受信
したとき得られる送信電流波形ｉａ。
ｔｙ ）オフと送信電ａｌｅの周波数の関係を示したグ
ラフてあシ、第５図は矢印Ａ方向に一定速度で移動しで
いる被検材９の表面に欠陥Ｆが存在し、超音波を送受信
したとき得られる送信電流波形ｉａ。
ｉｂと受信信号波形Ｅｘ 、 Ｂｂ を示したもので
ある。
ある。
次に箋以上のように構成されたこの発明の電磁超音波探
傷装置の動作について説明する。表面欠陥評価に関して
、第４図に示すように探触子６と被検材９間のリフトオ
フ１０の変化に伴ない、送信電流の周波数が変化するこ
とはよく知られている。
傷装置の動作について説明する。表面欠陥評価に関して
、第４図に示すように探触子６と被検材９間のリフトオ
フ１０の変化に伴ない、送信電流の周波数が変化するこ
とはよく知られている。
これは送信コイル７と被検材９の電磁結合の度合の変化
によるもので、送信コイル７のインダクタンスＬが変わ
シ、第（１）式よシ算出される共振周波数ｆ・に影響さ
れるためである。
によるもので、送信コイル７のインダクタンスＬが変わ
シ、第（１）式よシ算出される共振周波数ｆ・に影響さ
れるためである。
ここで述べているリフトオフ１０とは、被検材９０表面
に探触子６を対向して置かれ喪とき、上記探触子６の送
受信に有効なａａｉが被検討９０表面と相対する相対面
内における平均距離、すなわち、上記相対面内の体積で
表わせる１、したがって、被検材９の＊ａｉｏ探触子６
に相対する面内にＩＩ！５図に示すような欠陥Ｆｏが存
在した場合のり７トオフＬｂは、欠陥が存在しない場合
のリフトオフＬａに比べて大きくなシ、第４＠に示すよ
うに、送ａｉｍの周波数が欠陥の存在しない場合に比べ
て低くなる。
に探触子６を対向して置かれ喪とき、上記探触子６の送
受信に有効なａａｉが被検討９０表面と相対する相対面
内における平均距離、すなわち、上記相対面内の体積で
表わせる１、したがって、被検材９の＊ａｉｏ探触子６
に相対する面内にＩＩ！５図に示すような欠陥Ｆｏが存
在した場合のり７トオフＬｂは、欠陥が存在しない場合
のリフトオフＬａに比べて大きくなシ、第４＠に示すよ
うに、送ａｉｍの周波数が欠陥の存在しない場合に比べ
て低くなる。
これを関係式で示すと（ＬＬ ＜ Ｌｂ 、１／ｌ＠
）し’ｔｂ）となる。以上の現象を応用したのが第３図
に示すこの発明の実施例である。以下に上記ｊｌ！３図
の動作を述べる。
）し’ｔｂ）となる。以上の現象を応用したのが第３図
に示すこの発明の実施例である。以下に上記ｊｌ！３図
の動作を述べる。
電磁超音波の送受信に関しては、第１図に示す従来例と
同じである。すなわち、＄ｌｌ５１ｇの２５に示すよう
に、探触子６を矢印Ａ方向に移動する被検＃９にり７ト
オ７ Ｌｍで後板した後、コンデンサ３の電荷を放電す
ると送信コイル７には周波数Ｔａ−１の送信電ｆｌｌｉ
畠が流れる。
同じである。すなわち、＄ｌｌ５１ｇの２５に示すよう
に、探触子６を矢印Ａ方向に移動する被検＃９にり７ト
オ７ Ｌｍで後板した後、コンデンサ３の電荷を放電す
ると送信コイル７には周波数Ｔａ−１の送信電ｆｌｌｉ
畠が流れる。
このとき、伝播経路Ｆｏて伝播された超音波は、受信コ
イル８で受信され、増幅器１２で増幅されるとＩＩ５図
２５０１ｍＫ示すような受信信号となる。
イル８で受信され、増幅器１２で増幅されるとＩＩ５図
２５０１ｍＫ示すような受信信号となる。
上記受信信号Ｈａで示す時間ｔｏ絋鉱感帯であシ、した
ｔのである。
ｔのである。
この受信信号紘検波ｉｉ＋１３で検波され良後、内部欠
陥評価器１４に入力され、被検材９の内部欠陥の有無、
大きさなどを判定し、内部表面欠陥評価器２３に入力さ
れる。
陥評価器１４に入力され、被検材９の内部欠陥の有無、
大きさなどを判定し、内部表面欠陥評価器２３に入力さ
れる。
一方、超音波送信時には送信コイル６を流れる送信電Ｒ
（第５図２５の五＆）が電流波形検出装置１８で検出さ
れその検出電流波形１ａが第１メモリ１９に記憶される
と表面欠陥判定器２１は第２メモリ２０に記憶されてい
る検出電流波形ｉａＯ周波数ｆｏと比較する。
（第５図２５の五＆）が電流波形検出装置１８で検出さ
れその検出電流波形１ａが第１メモリ１９に記憶される
と表面欠陥判定器２１は第２メモリ２０に記憶されてい
る検出電流波形ｉａＯ周波数ｆｏと比較する。
上記比較で差がなければ、内部表面欠陥評価器２３０制
御信号によ）、第２メモ９２０の内容ハ、ＩＩＩメモリ
１９の内容に変更される。すなわち検出電Ｒ１１ｌｌ形
１＝を記憶しておく。
御信号によ）、第２メモ９２０の内容ハ、ＩＩＩメモリ
１９の内容に変更される。すなわち検出電Ｒ１１ｌｌ形
１＝を記憶しておく。
次に第５図の２６に示したように、探触子６と対向する
被検材９に欠陥Ｆｏが存在すると、羨述したように、す
７トオフＬｂが大きくなる（Ｌｂ）Ｌａ）。
被検材９に欠陥Ｆｏが存在すると、羨述したように、す
７トオフＬｂが大きくなる（Ｌｂ）Ｌａ）。
それに伴ｔｈ送信コイル７のインダクタンスが大きくな
シ、電流波形検出装置１８で検出される送信電流波形１
ｂの発振調波数１／ｌｂも第５＠２５の場合に比べて低
くなる。（Ｖｔｂくしｉ）。
シ、電流波形検出装置１８で検出される送信電流波形１
ｂの発振調波数１／ｌｂも第５＠２５の場合に比べて低
くなる。（Ｖｔｂくしｉ）。
上記電流波形ｉｂが第１メモリ１９に記憶される。
次に表面欠陥判定＠２１ｄ上記メモリ１９の内容ｉｂと
ＩＩ２メモリ２００内容１ｍの周波数の差を比較すれば
、差が認められるので、内部表面欠陥評価器２３に上記
周波数の変化情報信号を入力するとともに、内部欠陥評
価器１４の評餉結果にも上記周波数変化の情報を与え、
補正を加え欠陥の有無、大きさなどの情報を警報表示器
２８に入力する。
ＩＩ２メモリ２００内容１ｍの周波数の差を比較すれば
、差が認められるので、内部表面欠陥評価器２３に上記
周波数の変化情報信号を入力するとともに、内部欠陥評
価器１４の評餉結果にも上記周波数変化の情報を与え、
補正を加え欠陥の有無、大きさなどの情報を警報表示器
２８に入力する。
また、表面欠陥評価装置２２を構成する第１メモリ１９
、第２メモリ２０、およぎ表面欠陥判定’１ｉ２１で送
信ごとの遂次周波数を比較する仁とによ〕緩慢なり７ト
オフ変化による第６図のＣ１・に示すような欠陥とは認
められな１周波数変化の影響を除去している。
、第２メモリ２０、およぎ表面欠陥判定’１ｉ２１で送
信ごとの遂次周波数を比較する仁とによ〕緩慢なり７ト
オフ変化による第６図のＣ１・に示すような欠陥とは認
められな１周波数変化の影響を除去している。
なお、上記実施例では、欠陥評価の送信電流の周波数の
変化でおこなって−たが送信電流回路はＲＬＣの直列共
振回路と等価できるのでインダクタンス（送信コイルＯ
インダクタンス）０変化を検出する手段としては、流れ
る電流の大きさおよび減衰振動時間でも可能である。
変化でおこなって−たが送信電流回路はＲＬＣの直列共
振回路と等価できるのでインダクタンス（送信コイルＯ
インダクタンス）０変化を検出する手段としては、流れ
る電流の大きさおよび減衰振動時間でも可能である。
また、上記王者（大きさ９周波数、減衰振動時間）、王
者の組み合わせあるφは、単独でも可能であることは明
らかである。
者の組み合わせあるφは、単独でも可能であることは明
らかである。
さらに、電流検出位置拡、送信電流回路内であれば−か
なる位置でも検出可能である。
なる位置でも検出可能である。
表面欠陥評価装置にしても、送信的遂次比較でなくとも
、あらかじめしきい値を決め絶対値比較で評価してもよ
い。
、あらかじめしきい値を決め絶対値比較で評価してもよ
い。
また、上記実施例では表面欠陥検出を内部欠陥検出と同
時におこなっていたが、超音波送信時以外に別の交流電
源を用−送信コイルおるいは受信コイルで間欠あるいは
、連続の表面欠陥検出も可能である。
時におこなっていたが、超音波送信時以外に別の交流電
源を用−送信コイルおるいは受信コイルで間欠あるいは
、連続の表面欠陥検出も可能である。
以上のようにこの発明の電磁超音波探傷装置によれば、
従来ｏｍａ＊音波探傷装置では不可能であった表面欠陥
検出を、送信電流波形を購欄するられる効果がある。
従来ｏｍａ＊音波探傷装置では不可能であった表面欠陥
検出を、送信電流波形を購欄するられる効果がある。
第１図は、従来の電磁超音波探傷装置の構成図、１１１
２図は、電磁超音波受信信号波形図、第３図はこの発明
の電磁超音波探傷装置の一実施例の構成を示すブロック
図、ｊ１！４図はこの発明の電磁超音波探傷装置におけ
るり７トオフと送信電流周波数の関係を示す図、第５図
は、この発明の電磁超音波探傷装置における探触子、被
検材、表面欠陥ＦＯおよびす７トオ７ Ｌａ 、 Ｌｂ
の関係と、そのときの送信電流波形および受信信号波
形を示す図、ｊｌＫ６図状第５図の２５．２６において
送信したときａ〜・のす７トオフレ１Ｌｂと送信電流周
波数ｔａ 。 ｔｂ−１，ｔｃ−” ｔ・−１の関係をグラフにした図
である。 １・・・直流高圧電源、２・・・充電抵抗器、３・・・
コンデンサ、４・・・スイッチ、５・・・制動抵抗、６
・・・探触子、７・・・送信コイル、８・・・受信コイ
ル、９・−被検材、ｌＯ−・す７トオフ、１１・・・支
持ロー２．１２・・・増幅器、１３・・・ｉ／！ＩＩｔ
Ｉｌ器、１４・・・内部欠陥評価置市装置、１９・・・
第１メモリ、２０・・・第２メモリ、２１・・・ｌｌ！
面欠陥判定器、２２・・・表面欠陥評価装置、２３・・
・内部表面欠陥評価装置、２４・・・信号処理装置、２
８・・・警報表示器。 なお、図中同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 葛 野 信 − 第１図 第２図 第３図 ２４″′
２図は、電磁超音波受信信号波形図、第３図はこの発明
の電磁超音波探傷装置の一実施例の構成を示すブロック
図、ｊ１！４図はこの発明の電磁超音波探傷装置におけ
るり７トオフと送信電流周波数の関係を示す図、第５図
は、この発明の電磁超音波探傷装置における探触子、被
検材、表面欠陥ＦＯおよびす７トオ７ Ｌａ 、 Ｌｂ
の関係と、そのときの送信電流波形および受信信号波
形を示す図、ｊｌＫ６図状第５図の２５．２６において
送信したときａ〜・のす７トオフレ１Ｌｂと送信電流周
波数ｔａ 。 ｔｂ−１，ｔｃ−” ｔ・−１の関係をグラフにした図
である。 １・・・直流高圧電源、２・・・充電抵抗器、３・・・
コンデンサ、４・・・スイッチ、５・・・制動抵抗、６
・・・探触子、７・・・送信コイル、８・・・受信コイ
ル、９・−被検材、ｌＯ−・す７トオフ、１１・・・支
持ロー２．１２・・・増幅器、１３・・・ｉ／！ＩＩｔ
Ｉｌ器、１４・・・内部欠陥評価置市装置、１９・・・
第１メモリ、２０・・・第２メモリ、２１・・・ｌｌ！
面欠陥判定器、２２・・・表面欠陥評価装置、２３・・
・内部表面欠陥評価装置、２４・・・信号処理装置、２
８・・・警報表示器。 なお、図中同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 葛 野 信 − 第１図 第２図 第３図 ２４″′
Claims (2)
- （１）送信コイルに送信電流を流して被検材に発生した
超音波を受波する電磁超音波探触子、この電磁超音波探
触子で受波した信号から被検材の内部欠陥評価を行う内
部欠陥評価器、上記送信電波の波形を検出する電流検出
装置、この電流検出装置で検出された電流波形と標準電
流波形とを比較して上記被検材の表面欠陥評価を行う表
面欠陥評価装置、この表面欠陥評価装置による評価と上
記内部欠陥評価器の評価とから上記被検材の欠陥の評価
を行う信号処理装置を備えてなる電磁超音波探傷装置。 - （２）表面欠陥評価装置は、上記電流検出装置よシ検出
される１回あるいは複数回の電流の波形の大きさ１周波
数あるいは減衰振動時間の一つないし三つを比較・判定
することにより、表面欠陥を評価することを特徴とする
特許請求の範囲第１項記載の電磁超音波探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56105907A JPS587557A (ja) | 1981-07-07 | 1981-07-07 | 電磁超音波探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56105907A JPS587557A (ja) | 1981-07-07 | 1981-07-07 | 電磁超音波探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS587557A true JPS587557A (ja) | 1983-01-17 |
| JPS6326347B2 JPS6326347B2 (ja) | 1988-05-30 |
Family
ID=14419935
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56105907A Granted JPS587557A (ja) | 1981-07-07 | 1981-07-07 | 電磁超音波探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS587557A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61228345A (ja) * | 1985-04-02 | 1986-10-11 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 超音波による固体の表面開口欠陥の深さ測定方法 |
| JPH0558166U (ja) * | 1992-01-16 | 1993-08-03 | 株式会社モリテックス | ゴルフクラブ |
-
1981
- 1981-07-07 JP JP56105907A patent/JPS587557A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61228345A (ja) * | 1985-04-02 | 1986-10-11 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | 超音波による固体の表面開口欠陥の深さ測定方法 |
| JPH0513263B2 (ja) * | 1985-04-02 | 1993-02-22 | Hitachi Construction Machinery | |
| JPH0558166U (ja) * | 1992-01-16 | 1993-08-03 | 株式会社モリテックス | ゴルフクラブ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6326347B2 (ja) | 1988-05-30 |
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