JPS587530A - 光学的温度計測装置 - Google Patents
光学的温度計測装置Info
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- JPS587530A JPS587530A JP56106007A JP10600781A JPS587530A JP S587530 A JPS587530 A JP S587530A JP 56106007 A JP56106007 A JP 56106007A JP 10600781 A JP10600781 A JP 10600781A JP S587530 A JPS587530 A JP S587530A
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- JP
- Japan
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- light
- fluorescent
- optical system
- temperature
- infrared
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K11/00—Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00
- G01K11/32—Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00 using changes in transmittance, scattering or luminescence in optical fibres
- G01K11/3206—Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00 using changes in transmittance, scattering or luminescence in optical fibres at discrete locations in the fibre, e.g. using Bragg scattering
- G01K11/3213—Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00 using changes in transmittance, scattering or luminescence in optical fibres at discrete locations in the fibre, e.g. using Bragg scattering using changes in luminescence, e.g. at the distal end of the fibres
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
仁の発明はホトル２ネツセンスＯ発光特性に温度依存性
があることを利用して、被側温体の温度計測を行なう光
学的温度計測装置Ｋ１１ｌする。
があることを利用して、被側温体の温度計測を行なう光
学的温度計測装置Ｋ１１ｌする。
従来の光学的温度計測装置は、被側温体に近接して配置
され、その発光特性が温度依存性を有するシん螢光体と
、このシん螢光体に紫外線を照射して励起する励起光照
射手段と ＃記励起によって前記〕ん螢光体から生じる
螢光を受光検出する螢光検出手段とを備え、ζＯ螢光検
出手段の出力に基づいて前記被側温体の温度を計測する
ようにしている。
され、その発光特性が温度依存性を有するシん螢光体と
、このシん螢光体に紫外線を照射して励起する励起光照
射手段と ＃記励起によって前記〕ん螢光体から生じる
螢光を受光検出する螢光検出手段とを備え、ζＯ螢光検
出手段の出力に基づいて前記被側温体の温度を計測する
ようにしている。
このような従来の光学的温度計−装置においては、＊外
線およびホトルミネッセンスとしての螢光を一導する光
学系はレンズ系のみによって構成される場合と、光ファ
イバによって一定の光伝送路が形成される場合とがある
。いずれの場合においても、当該光学系には予め定量化
できる光伝達損失が存在するが、レンズ系のみの場合に
は光軸のずれやレンズ面の汚れなどが生じ、ｔ＆光ファ
イバの場合には光ファイバに極度の曲りが発生する可能
性がある。
線およびホトルミネッセンスとしての螢光を一導する光
学系はレンズ系のみによって構成される場合と、光ファ
イバによって一定の光伝送路が形成される場合とがある
。いずれの場合においても、当該光学系には予め定量化
できる光伝達損失が存在するが、レンズ系のみの場合に
は光軸のずれやレンズ面の汚れなどが生じ、ｔ＆光ファ
イバの場合には光ファイバに極度の曲りが発生する可能
性がある。
れて、あるいは突発的に発生することは避けられない。
特に、ホトルミネッセンスの発光強度の温度変化から温
度計測をする場合には、このような不確定な光伝達損失
は測定誤差の原因となる。
度計測をする場合には、このような不確定な光伝達損失
は測定誤差の原因となる。
この発明はこのような従来の問題点に着目してなされた
ものであシ、その目的とするところは、不確定な光伝達
損失を検出し、その結果に基づいて、計測した温度を補
正することのできる光学的温度計測装置を提供すること
Ｋある。
ものであシ、その目的とするところは、不確定な光伝達
損失を検出し、その結果に基づいて、計測した温度を補
正することのできる光学的温度計測装置を提供すること
Ｋある。
この発明は鵠記目的を達成するため、シん螢光体への励
起および螢光の光学系に、参照光とじての赤外線を導入
する参照光照射手段と、繭記光学系を通過した赤外線を
受光検出する参照光検出手段と、この参照光検出手段の
出力に基づいて前記光学系の特性変動による前記螢光の
検出出力の変動分を補正する演算手段とを設けたことを
特徴とする。
起および螢光の光学系に、参照光とじての赤外線を導入
する参照光照射手段と、繭記光学系を通過した赤外線を
受光検出する参照光検出手段と、この参照光検出手段の
出力に基づいて前記光学系の特性変動による前記螢光の
検出出力の変動分を補正する演算手段とを設けたことを
特徴とする。
以下、この発明の実施例を添付図面に基づいて詳細に説
明する。
明する。
第１図はこの発明の第１の実施例を示す光学的温度計測
装置の概略構成図であシ、第２図は要部のタイムチャー
トを示している。第１図および第２図Ｋかいて、紫外線
発光器１は後述する演算機能を有した演算手段としての
制御回路２からの間欠的な電気信号に駆動されて、一定
間隔をおいて間欠的に生起する紫外ｍＡ（波長をλｌと
する）を発生する。また、赤外線発光器３は紫外線発光
器１を駆動する間欠的な電気信号の繰シ返し周期よシも
長いレベル信号が制御回路２から加えられ、一定の発光
強度を一定期間持続する赤外ａｌｌ（波長をλ宏とする
）を発生する。これら紫外線Ａと赤外線Ｂとはカップラ
４で一合成され、光学系である光ファイバ５を介してり
ん螢光体６に照射されるようになっている。そして、り
ん螢光体６は紫外ｍＡに励起されて螢光Ｃ（波長を２３
とする）を発生し、この螢光Ｃけりん螢光体６に反射さ
れた赤外！ＩＤとともに光学系としての光ファイバ７を
介して検出部８に伝達される。その結果、紫外線発光器
１、カップラ４、および光ファイバ５は全体として励起
光照射子役を構成している。
装置の概略構成図であシ、第２図は要部のタイムチャー
トを示している。第１図および第２図Ｋかいて、紫外線
発光器１は後述する演算機能を有した演算手段としての
制御回路２からの間欠的な電気信号に駆動されて、一定
間隔をおいて間欠的に生起する紫外ｍＡ（波長をλｌと
する）を発生する。また、赤外線発光器３は紫外線発光
器１を駆動する間欠的な電気信号の繰シ返し周期よシも
長いレベル信号が制御回路２から加えられ、一定の発光
強度を一定期間持続する赤外ａｌｌ（波長をλ宏とする
）を発生する。これら紫外線Ａと赤外線Ｂとはカップラ
４で一合成され、光学系である光ファイバ５を介してり
ん螢光体６に照射されるようになっている。そして、り
ん螢光体６は紫外ｍＡに励起されて螢光Ｃ（波長を２３
とする）を発生し、この螢光Ｃけりん螢光体６に反射さ
れた赤外！ＩＤとともに光学系としての光ファイバ７を
介して検出部８に伝達される。その結果、紫外線発光器
１、カップラ４、および光ファイバ５は全体として励起
光照射子役を構成している。
なお、りん螢光体６け被測温体（図示せず）に近接した
温度雰囲気９内に配置され、りん螢光体６が紫外１１Ａ
の励起（よって発生する螢光Ｃは温室雰囲気９０Ｉｌ変
に依存した発光特性を有している。ｉ１度計測（利用さ
れる発光特性の温度依存性には発光強度の温度変化と残
光時間の温度変化とがあるが５この実施例では発光強度
の温度変化を利用する温度計測の場合に限定して説明し
ている。
温度雰囲気９内に配置され、りん螢光体６が紫外１１Ａ
の励起（よって発生する螢光Ｃは温室雰囲気９０Ｉｌ変
に依存した発光特性を有している。ｉ１度計測（利用さ
れる発光特性の温度依存性には発光強度の温度変化と残
光時間の温度変化とがあるが５この実施例では発光強度
の温度変化を利用する温度計測の場合に限定して説明し
ている。
第２図に示す螢光Ｃと赤外線りとは検出部８での検出信
号をそれぞれ示しているが、図中実線で示す波形は光学
系が正常な場合を、図中破線表示の波形は光学系に前述
のような不確定な伝達損失がある場合をそれぞれ示して
いる。従って、螢光Ｃの場合には、光ファイバ７の影響
を受妙、その強度は例えば■（λ３）およびＩ’（λ３
）で示すよう（変化する。螢光Ｃの発光強度は紫外線Ａ
による照射強度に依存し、紫外線Ａは光ファイバ５の伝
達特性の影響を受けるが、螢光Ｃの発光強度と紫外線Ａ
の照射強度との関係は定量的に定まるものである。その
結果、螢光Ｃの強度Ｉ （２ｍ） を九はＩ’（２３）
には、光ファイバ５の伝達特性も含まれていることにな
り、これら光ファイバ５，７の伝達特性は総じて赤外線
りの強ｔＩ（λ鵞）またはＩ’（λｌ）となって現われ
ることになる。その結果。
号をそれぞれ示しているが、図中実線で示す波形は光学
系が正常な場合を、図中破線表示の波形は光学系に前述
のような不確定な伝達損失がある場合をそれぞれ示して
いる。従って、螢光Ｃの場合には、光ファイバ７の影響
を受妙、その強度は例えば■（λ３）およびＩ’（λ３
）で示すよう（変化する。螢光Ｃの発光強度は紫外線Ａ
による照射強度に依存し、紫外線Ａは光ファイバ５の伝
達特性の影響を受けるが、螢光Ｃの発光強度と紫外線Ａ
の照射強度との関係は定量的に定まるものである。その
結果、螢光Ｃの強度Ｉ （２ｍ） を九はＩ’（２３）
には、光ファイバ５の伝達特性も含まれていることにな
り、これら光ファイバ５，７の伝達特性は総じて赤外線
りの強ｔＩ（λ鵞）またはＩ’（λｌ）となって現われ
ることになる。その結果。
制御回路２、赤外線発光器３およびカップラ４呟全体と
して赤外線Ｂを参照光として光学系５，７に導入させる
参照光検出手段を構成している。
して赤外線Ｂを参照光として光学系５，７に導入させる
参照光検出手段を構成している。
検出部８では、螢光Ｃと赤外線りとをビームスプリッタ
１０で分離し、螢光Ｃは螢光受光器１１Ｋ、赤外線りは
赤外線受光器１２にそれヤれバンドフィルタ１３．１４
を介して分光検出され、これら受光器１１．１２の検出
信号Ｃ，Ｄは制御回路２にそれぞれ入力される。その結
果、光ファイバ７、ビームスプリッタ１０、バンドフィ
ルタ１３および受光器１１Ｖｉ全体として螢光検出手段
を構成し、ま九ビームスプリッタ１０．バンドフィルタ
１４および赤外線受光器１２け全体として参照光検出手
段を構成している。
１０で分離し、螢光Ｃは螢光受光器１１Ｋ、赤外線りは
赤外線受光器１２にそれヤれバンドフィルタ１３．１４
を介して分光検出され、これら受光器１１．１２の検出
信号Ｃ，Ｄは制御回路２にそれぞれ入力される。その結
果、光ファイバ７、ビームスプリッタ１０、バンドフィ
ルタ１３および受光器１１Ｖｉ全体として螢光検出手段
を構成し、ま九ビームスプリッタ１０．バンドフィルタ
１４および赤外線受光器１２け全体として参照光検出手
段を構成している。
制御回路２においては、検出信号Ｃ、ＤＫ基づいて次の
ような演算がなされる。
ような演算がなされる。
前述のよう（、検出信号Ｃ，Ｄけ光学系の伝達特性によ
って、それぞれの強度がＩ（２ｍ）、Ｉ’（λＳ）およ
び■（λ意）ｂＩ’（λりとなっている。しかし。
って、それぞれの強度がＩ（２ｍ）、Ｉ’（λＳ）およ
び■（λ意）ｂＩ’（λりとなっている。しかし。
光学系は同一であるから、螢光Ｃと赤外ＩＩＤとに対す
る伝達特性の影響は同一と考えられる。従って、光学系
の伝達損失をαとすると。
る伝達特性の影響は同一と考えられる。従って、光学系
の伝達損失をαとすると。
が成立するつこのことから。
ができる。
つｔｂ、制御回路２においては、値）式よりなる関係が
あることを利用して、入力された検出信号Ｃ，Ｄの振幅
比をそれぞれ求め、（２）式に相当する演算を行ない、
光学系の伝達損失を補正しているのである。以後は通常
行なわれている手段によって、螢光Ｃの振幅に対応する
被測温体の温度を求めること（なる。
あることを利用して、入力された検出信号Ｃ，Ｄの振幅
比をそれぞれ求め、（２）式に相当する演算を行ない、
光学系の伝達損失を補正しているのである。以後は通常
行なわれている手段によって、螢光Ｃの振幅に対応する
被測温体の温度を求めること（なる。
このように、光学系としての光ファイバ５．７に対する
伝達損失が小さい赤外線を参照光として利用したので、
光学系の不確定な伝達特性が容易に検出でき、これを補
正して正確な温暖計測が可能となる。
伝達損失が小さい赤外線を参照光として利用したので、
光学系の不確定な伝達特性が容易に検出でき、これを補
正して正確な温暖計測が可能となる。
以上の説明でも明らかなよう（、光学系は１本の光ファ
イバで構成することもでき、これを実現し友のが第３図
に示す第２の実施例である。この実施例（おける作用は
第１の実施例と同様であるので、その説明は省略し、構
成について簡単に説明する。なお、第１の実施例と同一
部分Ｋｄ同一符号が付しである。カップラ４で合成され
た紫外線番と赤外線Ｂとはバンドフィルタ２０． ビ
ームスフリツタ１０を介して１本の光ファイバ２１に導
入される。そＬ７て、りん螢光体６が発生する螢光Ｃと
りん螢光体６で反射された赤外線りとは同じ光ファイバ
２１を介してビームスプリッタ１０で螢光Ｃと赤外線り
とが分離され、螢光Ｃけバンドフィルタ１３を介して螢
光受光器１１に５赤外線りけバンドフィルタ２０．１４
を介して赤外線受光器にそれぞれ分光検出される。
イバで構成することもでき、これを実現し友のが第３図
に示す第２の実施例である。この実施例（おける作用は
第１の実施例と同様であるので、その説明は省略し、構
成について簡単に説明する。なお、第１の実施例と同一
部分Ｋｄ同一符号が付しである。カップラ４で合成され
た紫外線番と赤外線Ｂとはバンドフィルタ２０． ビ
ームスフリツタ１０を介して１本の光ファイバ２１に導
入される。そＬ７て、りん螢光体６が発生する螢光Ｃと
りん螢光体６で反射された赤外線りとは同じ光ファイバ
２１を介してビームスプリッタ１０で螢光Ｃと赤外線り
とが分離され、螢光Ｃけバンドフィルタ１３を介して螢
光受光器１１に５赤外線りけバンドフィルタ２０．１４
を介して赤外線受光器にそれぞれ分光検出される。
次に、第４図はこの発明の＄３の実施例を示す図である
。この実施例は第２の実施例で示した装置をさらに簡略
化して、第１．第２の実施例で示した螢光受光器１１と
赤外線受光器１２とを１つの受光器３０で構成したもの
である。従って、第１、第２の実施＠における螢光検出
手段と参照光検出手段とは共通の受光器３ｏでもって構
成される。
。この実施例は第２の実施例で示した装置をさらに簡略
化して、第１．第２の実施例で示した螢光受光器１１と
赤外線受光器１２とを１つの受光器３０で構成したもの
である。従って、第１、第２の実施＠における螢光検出
手段と参照光検出手段とは共通の受光器３ｏでもって構
成される。
このような構成としたので、当該装置の作用には２つの
態様が考えられ、その第１の態様は第１゜第２の実施例
と同一の紫外線発光器１と赤外線発光器３とを用いる場
合である。これが第５図に示されている。すなわち、ビ
ームスプリッタ１ｏ、バンドフィルタ１３を介して受光
器３０で検出された波形け、同図ＥＫ示すように、螢光
Ｃと赤外線りとが相加され九波形となる。そこで、制御
回路２では、 （４） であるから、これより（３）式を求め、（２）式に相等
する演算を行なう。
態様が考えられ、その第１の態様は第１゜第２の実施例
と同一の紫外線発光器１と赤外線発光器３とを用いる場
合である。これが第５図に示されている。すなわち、ビ
ームスプリッタ１ｏ、バンドフィルタ１３を介して受光
器３０で検出された波形け、同図ＥＫ示すように、螢光
Ｃと赤外線りとが相加され九波形となる。そこで、制御
回路２では、 （４） であるから、これより（３）式を求め、（２）式に相等
する演算を行なう。
次いで、第６図に第２の態様が示されている、この場合
には、紫外線発光器３１け第１．第２の実施例の紫外線
発光器１と略同−の紫外線Ｆを発生し、赤外線発光器３
２は制御回路２から間欠的な電気信号を受けて、一定間
隔をおいて間欠的（生起する赤外線Ｇを発生する。そし
て、紫外線Ｆと赤外線Ｇとは時系列的に交互（生起する
関係（あり、また、カップラ４で合成され九とき互いく
重ならないようになっている。その結果、紫外線と赤外
１１ＩＨとは交互に光ファイバ２１に導入され、ビーム
スプリッタ１０．バンドフィルタ１３を介して受光器Ｓ
ＯＫ検出される信号Ｈ唸螢光郁３３と赤外線１１３４と
が交互に生匍する４１４！歓形となる。従って、螢光検
ｖ６出力と参照光検出出力と祉螢光郁３３と赤外線部３
４として時間的に分離して検出される。以後呟第１の実
施例と同様に。
には、紫外線発光器３１け第１．第２の実施例の紫外線
発光器１と略同−の紫外線Ｆを発生し、赤外線発光器３
２は制御回路２から間欠的な電気信号を受けて、一定間
隔をおいて間欠的（生起する赤外線Ｇを発生する。そし
て、紫外線Ｆと赤外線Ｇとは時系列的に交互（生起する
関係（あり、また、カップラ４で合成され九とき互いく
重ならないようになっている。その結果、紫外線と赤外
１１ＩＨとは交互に光ファイバ２１に導入され、ビーム
スプリッタ１０．バンドフィルタ１３を介して受光器Ｓ
ＯＫ検出される信号Ｈ唸螢光郁３３と赤外線１１３４と
が交互に生匍する４１４！歓形となる。従って、螢光検
ｖ６出力と参照光検出出力と祉螢光郁３３と赤外線部３
４として時間的に分離して検出される。以後呟第１の実
施例と同様に。
螢光部３３と赤外線部３４との振幅比を求めれば良いこ
とＫなる。
とＫなる。
以上詳細に説明しえように、この発ｌｌ！によれば。
光学系に参照光としての赤外線を通過させ、峡党学系の
伝達損失を求めることのできる光学釣温寂計測装置とし
たので、光学系Ｋｉｔ時釣賓化、あるい唸央発的変化に
基づく不確定損失が発生して％。
伝達損失を求めることのできる光学釣温寂計測装置とし
たので、光学系Ｋｉｔ時釣賓化、あるい唸央発的変化に
基づく不確定損失が発生して％。
これら損失を検出して正確なｉｌｔ計橢がで詣る光学的
１ｌＩｌｌ！計−装置を提供できる。
１ｌＩｌｌ！計−装置を提供できる。
第１図および嬉２１Ｉ呟この発Ｗ１４に係る光学的温寂
計測装置の第１の実施例を示す概略構成ｇシよび要部の
タイミングを示すタイムチャート％ｇｓ図蝋この発明の
第２の実施例を示す概略構成図、第４１１乃至第６８１
１１第３の実施例を示す概略構成図およびタイムチャー
トである。 １．３１・・・・・・紫外線発光器 ２・・・−・−・・・・・・・制御回路（演算手段）３
．３２−・・・・・赤外線発光器 ４・・・−カップラ １＄、？、２１・・・・・・光７アイパ６−・・・ り
ん螢光体 １０−・・−ビームスプリッタ １１・・・・・・螢光発光器 １２・・・・・・赤外線発光器 ｉｓ 、 １４ 、２ｏ−−−−−−バンドフィルタ３
０・・・・・・受光器、 ム、ト・・・・・紫外線Ｂ、
ｉ）、Ｇ・・・・−赤外線、Ｃ・・・・・・螢光第３１
１ ６ 第４図 第５− 第６■
計測装置の第１の実施例を示す概略構成ｇシよび要部の
タイミングを示すタイムチャート％ｇｓ図蝋この発明の
第２の実施例を示す概略構成図、第４１１乃至第６８１
１１第３の実施例を示す概略構成図およびタイムチャー
トである。 １．３１・・・・・・紫外線発光器 ２・・・−・−・・・・・・・制御回路（演算手段）３
．３２−・・・・・赤外線発光器 ４・・・−カップラ １＄、？、２１・・・・・・光７アイパ６−・・・ り
ん螢光体 １０−・・−ビームスプリッタ １１・・・・・・螢光発光器 １２・・・・・・赤外線発光器 ｉｓ 、 １４ 、２ｏ−−−−−−バンドフィルタ３
０・・・・・・受光器、 ム、ト・・・・・紫外線Ｂ、
ｉ）、Ｇ・・・・−赤外線、Ｃ・・・・・・螢光第３１
１ ６ 第４図 第５− 第６■
Claims (2)
- （１） 被測温体に近接して配置され、その発光特性
が温度依存性を有するりん螢光体と、こＯシん螢光体に
紫外線を照射して励起する励起光照射手段と、前記励起
によって前記抄ん螢光体から生じる螢光を受光検出する
螢光検出手段とを備え、この螢光検出手段の出力に基づ
−て前記被１ｌＩＪＩ１体の温度を計測するようにし大
光学的温度計測装置において、前記シん螢光体への励起
および螢光の測定光学系に参照光としての赤外−を導入
する参照光照射手段と、前記光学系を通過し大赤外−を
受光検出する参照光検出手段と、この参照光検出手段の
出力に基づいて前記光学系の特性変動による前記螢光の
検出出力の変動分を補正する演算手段とを設けたことを
特徴とする光学的温度計測装置。 - （２）前記励起光照射手段と前記参照光照射手段性交互
に動作してパルス光を照射するように構成され％ま大前
記螢光検出手段と前記参照光検出手段は共通Ｏ受光器で
もって構成され、螢光検出出力と参照光検出出力は時間
的に分離されることを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載の光学的温度計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56106007A JPS587530A (ja) | 1981-07-07 | 1981-07-07 | 光学的温度計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56106007A JPS587530A (ja) | 1981-07-07 | 1981-07-07 | 光学的温度計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS587530A true JPS587530A (ja) | 1983-01-17 |
Family
ID=14422616
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56106007A Pending JPS587530A (ja) | 1981-07-07 | 1981-07-07 | 光学的温度計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS587530A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5730528A (en) * | 1996-08-28 | 1998-03-24 | Lockheed Martin Energy Systems, Inc. | High temperature thermometric phosphors for use in a temperature sensor |
| JP2011122940A (ja) * | 2009-12-10 | 2011-06-23 | Yamatake Corp | 蛍光式温度センサ及び温度の測定方法 |
| US9623993B2 (en) | 2013-03-01 | 2017-04-18 | The Procter & Gamble Company | Method and apparatus for taping containers |
| CN108692829A (zh) * | 2018-06-27 | 2018-10-23 | 上海达琪智能科技有限公司 | 基于荧光光纤的温度解调方法、装置及系统 |
| WO2022114157A1 (ja) | 2020-11-30 | 2022-06-02 | 三菱ケミカル株式会社 | 樹脂組成物、成形体及びマクロモノマー共重合体 |
-
1981
- 1981-07-07 JP JP56106007A patent/JPS587530A/ja active Pending
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