JPS5870199A

JPS5870199A - Ｘ線検査装置

Info

Publication number: JPS5870199A
Application number: JP57170781A
Authority: JP
Inventors: ハインツ・ウオンス
Original assignee: Siemens Schuckertwerke AG; Siemens AG
Current assignee: Siemens Schuckertwerke AG; Siemens AG
Priority date: 1981-09-30
Filing date: 1982-09-29
Publication date: 1983-04-26
Also published as: DE3138939A1; EP0075831A1; US4490835A

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】本発明は、Ｘ線管と、焦点付近の一次ビーム絞りと、患
者支板と、ビーム方向に患者支板の後に配置されており
像層保持器゛とビーム方向に像層保持器の前に支えられ
たフィルム付近の絞り装置と散乱ビームラスタとを有す
るＸ線撮影装置とを有するＸ線検査装置に関する。

Ｘ＠撮影の細部認識可能性を定めるコントラスト多様性
および分解能が散乱ビーム部分の減少により高められ得
ることは一般に知られている。散乱ビームの割合を減少
させるためにビーム方向に像層平面の直前に散乱ビーム
ラスタを設けることは一般に行なわれている。それに代
わる対策として、ビームコーンをスリット状絞りによシ
狭幅のビーム７アンに絞り、ビームファンにより検査対
象およびその下側のＸ線フィルムカセットの撮影範囲を
掃過させ、また散乱ビームラスタのかわりに同じ狭幅の
ピームファ／を絞るスリット状絞りを同期してかつ正確
にビームファンと整列してＸ線フィルムカセット上を通
過させる方法も知られている。このいわゆる１スリット
絞り法２では、単位時間あたり検査対象のボリューム内
の散乱ビームの発生が、ビームにより通過されるボリュ
ームの減少の結果として、少なくなるだけではなく、こ
の散乱ビームのうちフィルム板に到達するのは、Ｘ線フ
ィルムカセット上を別のスリット状絞りが同期して動か
されるので、無視し得る程度のわずかな部分でしかない
。しかし、この利点とひきかえに１両スリット絞りを同
期させて制御するのに費用がかかり、また撮影に要する
時間が長くなり、さらにＸ線管の負荷が大きくなる。

スリット絞り法によるＸ線撮影用に構成されたＸ線検査
装置は既にドイツ連邦共和国実用新案第７７１０９４７
号明細書により知られている。このＸ線検査装置では、
ビームコーンが２つのスリット絞りを有する特別な絞り
装置によりファン状に絞られ、ファン平面に対して垂直
に検査範囲を動かされ得る。このＸ線検査装置ではビー
ム方向にフィルム平面の直前に、ファン状に絞られたビ
ームコーンと同期しかつこれと整列してフィルム平面上
を移動し得るもう１つのスリット絞りが配置されている
。そのために、絞り装置を動かすモー、夕とフィルム付
近のスリット絞りを動かすモータとは、絞り装置および
フィルム付近のスリット絞りが常に同一のファン状ビー
ムコーンヲ絞ルように制御される。この構造では、両ス
リット絞りの同期運動のだめの費用が、スリット幅が狭
くなるほど、すなわち制御精度への要求が高度になるほ
ど著しく増大するという性質がある。他方、細部ｇｓＩ
可能性はスリット状絞りの幅従ってまたビームファンの
幅が狭く保たれるほど向上する。さらに、この構造では
、医師はスリット絞り法による撮影を行なうために専用
の装置を購入しなければならず、それを設置する場プも
用意しなければならない。

本発明の目的は、スリット絞り法の導入に必要な医師の
費用をわずかですませ得るＸ線検査装置を提供すること
である。

この目的は、本発明によれば、冒頭に記載した種類のＸ
線検査装置において、焦点付近の一次ビーム絞りが特定
のスリット状絞りのための手段を含んでおり、またフィ
ルム付近の絞り装置が焦点付近の一次ビーム絞りのスリ
ット状絞りに合わされた最小スリット間隔まで相互に近
接再録な２つの絞り板を含んでおり、また焦点付近の一
次ビーム絞りならびにフィルム付近の絞り装置に、焦点
付近およびフィルム付近のスリット状絞り手段をスリッ
ト方向に対して横方向に同期して互いに整列して移動さ
せるための各１つの移動機構が対応づけられていること
を特長とするＸ線検査装置により達成される。それによ
り、同一のＸ線検査装置で通常のＸ線撮影もスリット絞
り法による撮影も行なうことができる。従って、顧客に
とって、別々の、Ｘ線検査装置の購入費用もその設置場
所も不要となる。

本発明の目的にかなった実施態様では、フィルム付近の
絞り装置の絞り板に、所与のスリット幅までしか相互近
接を許さない少なくとも１つのストッパが゛対応づけら
れている。それにより、フィルム付近のスリットの正確
な設定が簡単な仕方で保証される。それＫよって散乱ビ
ームの割合を最小化するための前提条件が満足されてい
る。

上記の設定を一層簡単にするため、本発明の目的にかな
った実施態様では、フィルム付近の絞り装置の絞り板に
それらを互いに引き寄せるばねが対応づけられている。

それにより、単に移動機構の連結を外すだけで正確なス
リット幅に絞り板を設定することができる。

本発明の有利な実施態様では、フィルム付近の絞り装置
の絞り板にそれらを互いに引き寄せたり引き離したりす
る移動機構が対応づけられている。

それにより、ごくわずかな費用で通常のフィルムフォー
マットの絞りが可能になる。

本発明の特に有利な実施態様では、フィルム付近の絞り
装置の絞り板にそれらを相互間隔不変のまま共通にビー
ムコーンを区画する縁に対して垂直に移動させ得る移動
機構が対応づけられている。

それにより、同一の移動機構でスリット絞り法による撮
影も分割されない通常の撮影も行なうだめの前提条件が
満足される。

構造を非常に簡単化するため、本発明の特に目的にかな
った実施態様では、フィルム付近の絞り板の一方に対応
づけられている移動機構に解除可能な継手が組込まれて
いる。この継手を解除するだけで、絞り板を互いに引き
寄せるばねの作用により通常の撮影からスリット絞り法
による撮影への切換を行なうことができる。

以下、図面に示されている実施例によシ本発明の詳細な
説明する。

第１図にはＸ１ｍ検査装置１の概要が示されており、そ
のテーブル架２は脚架３に水平軸線４のまわりに揺動可
能に支えられている。テーブル架２にはＸ線管６に対す
る支柱５が軸線４と平行なもう１つの水平軸＠７のまわ
りに揺動可能に支えられている。Ｘ＃管には一次ビーム
絞り８がフランジ結合されている。−次ビーム絞り８０
ケース９のなかには、ビーム範囲１６を絞るのに必要な
絞り板１０，１１，１２，１３，１４．１５とビーム範
囲から引出し可能な焦点付近のスリット絞り１７とが収
容されている。Ｘ＠管６には操作モータ１８が対応づけ
られており、それを介してＸ線管は一次ビーム絞り８と
一緒にＸ線管の焦点１９を通る軸線２０のまわりを揺動
可能である。テーブル７７８２の上には、ここには図示
されていない仕方で、患者支板２１が移動可能に支えら
れている。

テーブル架２にはＸ線ターゲット装置２２が組込まれて
いる。Ｘ豊ターゲット装置の下面にはイメージインテン
シファイア−テレビジョン装置２３が取付けられている
。Ｘ４Ｉターゲツト装置２２の第１図で見て左側には、
カセット差込口２４とＸ線フィルムカセット２６の移動
軌道２５とが示されている。Ｘ＃フィルムカセント２６
は移動軌道上で準備位置にある。移動軌道２５の上側に
は撮影位置すなわち絞り可能なビームコーン１６の範囲
にイオン化チャンバ２７が位置している。イオン化チャ
ンバ２７の上側にはもう１つの移動軌道２８にカセット
平面に対して平行に移動可能なフィルム付近のスリット
絞り２９が示されている。

ビーム方向にフィルム付近のスリット絞りの前に、必要
の際に準備位置から撮影位置へ移動可能な枠状の絞り板
３０が位置している。ビーム方向に枠状絞り板の上側に
、準備位置にある散乱ビームラスタ３１が示されている
。

第２＠には、フィルム付近のスリット絞り２９および枠
状絞り板３０に対する移動機構が平面図で示されている
。フィルム付近のスリット絞りおよび枠状絞り板はター
ゲット装置ケース３２のなかを２つの平行なレール３３
．３４に沿い準備位置から撮影位置へ、またその逆に移
動可能である。

そのために枠状絞り板はモータ３６により駆動されるエ
ンドレスの歯付ベルト３５に係合している。

フィルム付近のスリット絞り２９の両絞り板３７゜３８
はそれぞれもう１つのエンドレスのＩ付ベルト３９の各
１つの端に連結されている。この歯付ベルトはそれを駆
動するモータ４ｏと一緒に別の板４１の上に支えられて
いる。この板は下側レール３４に沿いターゲット装置ケ
ース３２のなかを移動可能である。この目的で板４１１
−１′モータ４２により駆動される第３のエンドレスの
歯付ベルト４３に係合している。これらの３つのモータ
３６゜４０．４２と、Ｘ線管６を揺動させるためのモー
タ１８は、軸上に各１つの孔あき円板４４．４５゜４６
．４７を取付けられており、その孔は各１つの光電式回
転速度センサ（図面を見やすくするため図示されていな
い）の光源と光検出器との間を通って回転可能である。

フィルム付近のスリット絞り２９の絞り板３７゜３８は
互いに向い合う縁の一端に各１つの突起状ストッパ４８
．４９を有し、それによりスリット幅を定める最小相互
間隔を制限されている。カセット差込口２４の前に、こ
れから差込まれるＸ＠フィルムカセット５ｏが示されて
いる。準備位置に散乱ビームラスタ３１が示されている
。

第３図には、Ｘ線フィルムカセット２６に入れられたフ
ィルム板の分割が行なわれる動作段階で第１図のＸ線タ
ーゲット装置２２が示されている。

分割の概袈は第３図とならんで示されている。この場合
、枠状絞り板３０がフィルム付近のスリット絞り２９の
絞わ板３７．３８に追加して撮影位置に入るように移動
される。枠状絞り板は、その孔５１の外側に位置するＸ
線フィルムカセット２６の範囲が露出されないようにす
る。フィルムフォーマットの分割の際、フィルム板また
はＸ線フィルムカセットのこの部分範囲が枠状絞り板の
孔５１の中心に合わされなければならない。そのために
は、第３図で見て紙面に対して垂直方向にもＸ線フィル
ムカセット２６を移動させる必要がある。Ｘ線管は、こ
の場合、焦点付近の一次ビーム絞り８の揺動位置と（ス
リット間隔まで互いに近接した）フィルム付近の絞り板
３７．３８の移動位置とがファン状ビームコーン１６を
して枠状絞り板３０の孔５１の掃過を開始せしめる位置
に達した時に初めてスイッチオンされる。Ｘ＠管は、フ
ァン状ビームコーンが枠状絞り板の孔の反対側の縁に達
すれば直ちにスイッチオフされる。

第４図には、Ｘ線管電流の調節に用いられるイオン化チ
ャンバ２７が平面図で示されている。このイオン化チャ
ンバは公知の３フィールド−イオン化チャンバに相当す
るが、中央の測定フィールド５３の両側に２つの゛狭幅
の測定フィールド５４゜５５が追加されている。スリッ
ト絞り法による撮影の際には、これらの両側測定フィー
ルドおよび中央測定フィールド５３がスイッチオンされ
る。

これらのフィールドの幅は均等であるため、線量は焦点
付近の一次ビーム絞り８およびフィルム付近のスリット
絞り２９のすべての移動過程の間に撮影対象の厚さに応
じて調節され得る。

第１図ないし第３図に示されているＸ線検査装置１によ
り通常のＸ線撮影を行なうときには、Ｘ線フィルムカセ
ット２６がカセット差込口２４から差込まれ、図示され
ていない仕方で移動軌道２５に沿い、第１図に準備位置
で示されている散乱ビームラスタ３１の下側の準備位置
に移動され、そこで停留される。撮影範囲の幅は、−次
ビー・ム絞り８の絞り板１０，１１，１２．１３，１４
゜１５を適当に移動し同時にビーム範囲外に焦点付近の
スリット絞り１７を引き出すことにより、またモータ４
０によりフィルム付近のスリット絞抄２９の絞り板３７
．３８を同期して反対方向に移動することによ一す、そ
れ自体は公知の仕方で設定され得る。必要の際には、枠
状絞り板３０を追加的に撮影位置に入れることにより撮
影フォーマットの追加的な分割または制限も行なわれ得
る。散乱ビームの割合は、この場合、撮影位置に入れら
れた散乱ビームラスタによってしか抑制されない。

それに対して、第１図ないし皓３図に示されている同一
のｘｓ検査装置１にょシスリット絞り法によるＸ４１！
撮影を行なうときには、散乱ビームラスタ３１は準備位
置にとどめられ得る。そのがゎりに、（！７ツト絞シ１
７が焦点付近の一次ビーム絞り８のビーム範囲内に移動
され、フィルム付近のスリット絞シ２９の絞り板３７．
３８がモータ４０によりストッパ４Ｂ　、ｑ９により制
限される最小相互間隔まで互いに近づけられ、また板４
１がモータ４０および絞り板３７．３８と一緒にモータ
４２によシ終端位置に移動される。また焦点付近の一次
ビーム絞り８がモータ１７によりＸ線管６と一緒に終端
位置に回転され、この終端位置で焦点付近のスリット絞
り１７により絞られたビームファンはフィルム付近の両
絞り＆３７．３８の間のスリットを通る。この出発位置
から板４１がモータ４０および（最小相互間隔まで互い
に近づけられた）絞り板３７．３８と一緒に撮影位置に
あるＸ＃フィルムカセットを通過するように移動され、
それと同期して焦点付近の−次ビーム絞リ８がＸ線管６
と一緒に、−次ビーム絞りのビームファンの中心が常に
フィルム付近の両絞り板３７．３８の間のスリットと合
うように揺動される。両モータの同期化は、ここには図
示されていない仕方で、これらのモータと連結されてお
りそれぞれ光電式回転速度センサの間を回転する孔あき
円板を介して行なわれる。これらのセンサの光検出器で
カウントされたパルスは、ここには図示されていない仕
方で、両モータ１８，４２の同期化のために利用される
。Ｘ１Ｍ管の出力はイオン化チャ／バ２７により制御さ
れ得る。その際、ビームファ／により照射される狭幅の
２つの測定フィールドならびに中央測定フィールドのみ
がスイッチオンされている。

このＸ線撮影の際に、ＸＩＩＪ！フィルムカセット２６
に入れられたフィルム板全体を照射すべきときには、Ｘ
線フィルムカセットは、第１図に破線で示されているよ
うに、Ｘ線イメージインテンシファイアの入力蛍光面５
２上の中心に置かれる。

しかしフィルムフォーマットの２分割を行なうべきとき
には、Ｘ線フィルムカセットは、第３図に破線で示され
ているように、照射すべき部分範囲が撮影範囲に対して
中心にまたは中心垂直線に対して中心に常に撮影範囲に
対して中心の合っているＸ＃Ｍイメージインテンシファ
イアの上に位置するまでしか撮影範囲に入れられない。

Ｘ線管は、この場合、絞られたビームファンがＸ線フィ
ルムカセットの照射すべき範囲を掃過する揺動範囲内で
しかスイッチオンされない。すなわち、フィルム付近の
スリット絞りおよび同期して動かされる焦点付近の一次
ビーム絞りの移動はこの範囲内でしか行なわれない。

第５図には、フィルム付近のスリット絞り５６に対する
第２図に示した移動機構の変形例が示されている。この
Ｘ線ターゲット装置５７では、フィルム付近のスリット
絞り５６、散乱ビーム絞り５９およびそれらのレール６
０．６１と枠状絞り板５８およびその移動機構６２とは
第２図の実施例と同様であるが、モータおよび歯付々ル
トを有する板は省略されている。そのかわりに、フィル
ム付近のスリット絞り５６の両絞り板６３．６４の相対
移動のため、同一のモータ６７により互いに同期して同
一方向に駆動される２つの工′ンドレスの歯付ベル）６
５．６６が設けられている。一方の絞９板６３に対する
伝動機構には解除可能な継手６８が組込まれている。さ
らに、フィルム付近のスリット絞り５６０両絞り板６３
．６４は引張ばね６９により互いに引き寄せられる。

モータ６７により、継手６８が連結状態にあるときＫは
、両絞り板６３．６４Ｆｉ反対方向に移動され得る。そ
れによ抄、通常のＸ線撮影の際の撮影範囲は随意にその
幅を変更され得る。スリット撮影法への移行の際には、
モータによる両絞り板の近接後に継手６８を解除するだ
けでよい。それにより両絞り板６３．６４は引張ばね６
９によりストッパ６３．６４が当接する位置に保たれる
。

こうして所定のスリット間隔まで互いに近づけられた絞
り板６３．６４は共通にモータ６７により、継手６８が
解除されている状態で、スリット方向に対して横方向に
移動され得る。この構造は、単一のモータにより、通常
の撮影の際に撮影範囲の幅を変更することも、スリット
絞り撮影の際に両絞り板をファン状に絞られたビームコ
ーンと共に撮影範囲を通過して移動させることもできる
という利点を有する。

Ｘ＠管にフランジ結合された一次ビーム絞りを制御して
その絞り板によりファン状のビームコーンを絞り、別の
焦点付近のスリット絞りを省略することも考えられる。

また、前記の歯付ベルトのかわりにチェーンを用いるこ
ともできる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるＸ＠検査装置を側面から見た概要
図、第２図は第１図に示されているＸ線ターゲット装置
の絞り板に対する移動機構の概要図、第３図はスリット
絞り法により分割されたＸ＠撮影を行なう際の男１図の
Ｘ線ターゲット装直向の絞り板の位置の概要図、第４図
に示されているイオン化チャンバ内の個々の測定チャン
バの配置図、第５図は変形された本発明によるＸ線ター
ゲット装置の絞り板に対する移動機構の概要図である。１・・・Ｘ線検査装置、２・・・テーブル架、３・・・
脚条、４・・・揺動軸線、訃・・支柱、６・・・Ｘ線管
、７・・・揺動軸線、８・・・−次ビーム絞り、９・・
・ケース、１０〜１５・・・絞り板、１６・・・ビーム
範囲、１７・・・スリット絞り、１８・・・モータ、１
９・・・焦点、２０・・・揺動軸線、２１・・・患者支
板、２２・・・Ｘ線ターゲット装置、２３・・・イメー
ジインテンシファイアのテレビジョン装置、２４・・・
カセット差込口、２５・・・移動軌道、２６・・・Ｘ巌
フィルムカセット、２７・・・イオン化チャンバ、２８
・・・移動軌道、２９・・・スリット絞り、３０・・・
絞り板、３１・・・散乱ビームラスタ、３２・・・ター
ゲット装置ケース、３３．３４・・・レール、３５・・
・歯付ベルト、３６・・・モータ、３７゜３８・・・絞
り板、３９・・・歯付ベルト、４０・・・モータ、４１
・・・板、４２・・・モーシ、４３・・・歯付ベルト、
４４〜４７・・・孔あき円板、４８．４９・・・ストッ
パ、５０・・・Ｘ＠フィルムカセット、５１・・・孔、
５３〜５５・・・測定フィールド、５６・・・スリット
絞り、５７・・・Ｘ線ターゲット装置、５８・・・絞り
板、５９・・・散乱ビーム絞り、６０．６１・・・レー
ル、６２・・・移動機構、６３．６４・・・絞り板、６
５．６６・・・歯付ベルト、６７・・・モータ、６８・
・・継手、６９・・・引張ばね、７０．７１・・・スト
ッパ。

Claims

【特許請求の範囲】］）Ｘ線管と、焦点付近の一次ビーム絞りと、患者支板
と、ビーム方向に患者支板の後に配置＾１されており像
層保持器とビーム方向に像層保持器の前に支えられたフ
ィルト付近の絞り装置と散乱ビームラスタとをイ４゛す
るＸ線撮影装置とを有するＸ線検査装贋°において、焦
点付近の一次ビーム絞り（８）が特定のスリット状絞り
のための手段（Ｉ＋、＋２．１４゜１５．１７）を含ん
でおり、またフィルム付近の絞り装置（２９，５６）が
焦点付近の一次ビーム絞りのスリット状絞りに合わされ
た最小スリット間隔捷で相互に近接可能な２つの絞り板
（３７，３８，６３，６４）を含んでおり、また焦点付
近の一次ビーム絞りならびにフィルム付近の絞り装置に
、焦点付近およヒフイルム付近のスリット状絞り手段を
スリット方向に対して横方向に同期して互いに整列して
移動させるだめの各１つの移動機構（１８，４７，３９
，４０，４５，６５，１ｉｊ６，６７．６ｇ、６ｃ＋）
が対応づけられていることを特徴とするＸ線検査装置。２）フィルム付近の絞り装置（２９，５９）の絞り板（
３７，３８，６３，６４）に、所与のスリット幅までし
か相互近接を許さない少なくとも１つのストッパ（４８
，４９，７０゜７１）が対応づけられていることを特徴
とする特許請求の範囲第１項記載のＸ線検査装置。３）フィルム付近の絞り装ｆｉｌｌ（５６）の絞り板（
６３，６４）にそれらを互いに引き寄せるばね（６９）
が対応づけられていることを特徴とする特許請求の範囲
第２項記載のＸ線検査装置。４）フィルム付近の絞り装置（２９，５６）の絞り板（
３７，３８，６３，６４）にそれらを互いに引き寄せた
り引き離したりする移動機構（３９，４０，４５，４６
，６５，６６゜６７．６８）が対応づけられていること
を特徴とする特許請求の範囲第１項記載のＸＩＱ査装置
。５）フィルム付近の絞り装置（２９，５６）の絞り板（
３７，３８，６３，６４）にそれらを相互間隔不変のま
ま共通にビームコーンを区画する縁に対して垂直に移動
させ得る移動機構（４２，４３，４６，６６，６７，６
９）が対応づけられていることを特徴とする特許請求の
範囲第１項記載のＸ線検査装置。６）フィルム付近の絞り板の、一方（６３）に対応づけ
られている移動機構（６５，６７）に解除Ｉｉｆ能な継
手（６８）が組込まれていることを特徴とする特許請求
の範囲第３項または第４項記載のＸ＃検査装置。７）焦点付近の一次ビーム絞り（８）がＸ線管（６）に
フラ／ジ結合されており、かつＸ線管と菩通にモータを
介してスリット状絞り装置（１７）により与えられるビ
ームファン−（１６）の平面に対して横方向にＸ＠管の
焦点（１９）を通る軸線（２０）のまわりに揺動可能に
支えられていることを特徴とする特許請求の範囲第１項
記載のＸ線検査装置。８）焦点付近の一次ビーム絞りに対する移動機構（１８
，４７）の移動速度と、相互間隔不変のままフィルム付
近の絞り装置（２９，５６）の絞り板（３７，３８，６
３，６４）を共通に動かすための移動機構（３９、４０
、４５゜６７．６６．６９）の移動速度とが所与の一定
の比に保たれていることを特徴とする特許請求の範囲第
１項または第５項記載のＸ線検査装置。９）両移動機構を駆動するモータ（１８、４２゜６７）
に各１つの孔あき円板（４７，４６゜７２）が連結され
ており、６孔あき円板は光電式回転速度センサの光源と
光検出器との間を通って回転可能であり、孔を通過した
光□により光検出器から発せられる信号がモータの回転
速度の同期化のために利用されていることを特徴とする
特許請求の範囲第８項記載の′　Ｘ線検査装置。１０）　　ビーム範囲（１６）をスリット方向に対して
横方向に区画する少軽くとももう１つの絞り板（３０，
５８）がビーム方向にフィルム付近の絞り板（３７、３
８、６３、，６４）の前に入れられ得ることを特徴とす
る特許請求の範囲第１項記載のＸ線検査装置。１１）　絞すのために種々のフォーマットに形成された
通常の焦点付近の一次ビーム絞り（８）が、ビーム路に
滑入可能なスリット絞り板（１’（）を追加されている
ことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載のＸ線検査
装置。１２）スリット絞り法による撮影の際の露出制御のため
のイオン化チャンバ（２７）がスリット方向に対して横
方向に並べられた２つの狭幅の測定チャンバ（５４，５
５）を追加されていることを特徴とする特許請求の範囲
第１項記載のＸ＠検査装置。