JPS586786B2 - 改良された電極の製造方法 - Google Patents

改良された電極の製造方法

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JPS586786B2
JPS586786B2 JP52026870A JP2687077A JPS586786B2 JP S586786 B2 JPS586786 B2 JP S586786B2 JP 52026870 A JP52026870 A JP 52026870A JP 2687077 A JP2687077 A JP 2687077A JP S586786 B2 JPS586786 B2 JP S586786B2
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    • C25BELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES FOR THE PRODUCTION OF COMPOUNDS OR NON-METALS; APPARATUS THEREFOR
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    • C25B11/04Electrodes; Manufacture thereof not otherwise provided for characterised by the material
    • C25B11/051Electrodes formed of electrocatalysts on a substrate or carrier
    • C25B11/073Electrodes formed of electrocatalysts on a substrate or carrier characterised by the electrocatalyst material
    • C25B11/091Electrodes formed of electrocatalysts on a substrate or carrier characterised by the electrocatalyst material consisting of at least one catalytic element and at least one catalytic compound; consisting of two or more catalytic elements or catalytic compounds
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、コーティング組成物混合物中に硫酸塩の形態
のすず化合物を使用することにより、一成分としてすす
を有する電極コーティング組成物を有する改良された電
極の製造方法に関する。
電気化学的製造法は、生態学的受容性がより大きく、エ
ネルギー保存が可能であり、そして製品コストを軽減で
きるため、化学工業において重要性が増大しつつある。
したがって、研究および開発の大きな努力が電気化学的
方法とそのハードウエアにはらわれてきている。
ハードウエアの1つの主要な要素は電極である。
その目的は次のような電極を提供することである:電解
槽内の腐食性ふん囲気に耐える電極;所望の電気化学的
反応に対して最小の過電圧を有する電極;そして商業的
に可能な範囲内のコストで高い品質の管理で製造できる
電極。
ほんのわずかの材料のみが電極、ことに陽極を有効に構
成できるにすぎない。
なぜなら、ほとんどの他の物質は電解槽の陽極室内に存
在する強い腐食性条件に感受性であるからである。
これらの材料には、グラファイト、ニッケル、鉛、鉛合
金、白金または白金化チタンがある。
この型の電極は、寸法安定性に欠け、コストが高く、摩
耗速度が高く、電解液を汚染し、陰極を析出汚染し、不
純物に対して感受性であり、または所望反応に対する過
電圧が高いため、応用が制限される。
過電圧とは、所望の反応が一定の電流密度で起こる理論
的電位より高い電位をいう。
電極の歴史は電解槽内の電極に関連する問題のいくつか
を克服するための試みおよび提案の繰り返しであり、そ
れらのいずれも電解槽に使用する電極の特性の最適化に
成功していない。
問題は前述の望ましくない性質の多くを克服し、さらに
より高い電流密度において低い過電圧をもってエネルギ
ーを保存できる電極を見出すことである。
たとえば、白金は電気ウイニング法(electro−
winning process)における陽極として
使用するのにきわめてすぐれた材料であり、前述の基準
の多くを満足することは知られている。
しかし、白金は高価であるため、現在まで工業的に適当
であるとまだわかっていない。
炭素と鉛合金は商業的に使用されてきているが、炭素陽
極は摩耗がはやく、電解液を大きく汚染し、電気抵抗を
増加させ、半電解槽電位を増加させる。
半電解槽電位が高いと、電解槽は電気エネルギーをより
多く消費するので、望ましくない。
鉛合金の陽極の欠点は、鉛が電解液中に溶けて陰極上に
鉛析出物を形成し、これは所望の得られる析出物を汚染
するということである。
また、PbO2は導電性に劣るPb304に変化する。
酸素はこの層の下に浸透でき、このフイルムをはがし、
その結果粒子が生成して陰極上の析出銅中に捕捉される
ようになる。
これにより銅めっきは劣化し、これは非常に望ましくな
いことである。
白金または他の貴金属をチタン支持体上に適用してそれ
らの魅力的な電気的特性を保持させ、さらに製造コスト
を低下させることが提案された。
しかし、白金のような貴金属を制限して使用しても、電
極表面積1平方フィート当り30,00ドル(323.
00ドル/m2)の経費を必要とし、そのため工業的使
用には望ましくない。
さらに、チタンの表面に白金を電気めっきし、これに二
酸化鉛または二酸化マンガンの他の電析物を適用するこ
とが提案された。
二酸化鉛のコーティングをもつ電極は酸素過電圧が比較
的高いという欠点をもち、両方の型のコーティングは電
解的に析出されるとい高い内部応力をもち、工業的使用
の間表面からはがれやすく、電解液と陰極表面上に析出
する生成物を汚染する。
したがって、このような陽極の電流密度は制限され、こ
のような陽極の取り扱いはきわめて注意してなされなけ
ればならない。
他の試みられた改良はチタン支持体表面上に二酸化マン
ガンの層を形成することであり、この層は比較的多孔性
であり、多数の二酸化マンガンの層からなっていて一体
的コーティングを形成している。
これは電流密度が0.5アンペア/平方インチ(77.
5ミリアンペア/cm2)以下にとどまるかぎり比較的
低い過電圧を生ずるが、電流密度が1アンペア/平方イ
ンチ(155ミリアンペア/cm2)付近に増加するに
つれて必要な過電圧はかなり急速に上昇し、より高い電
流密度において相当な不利益を生ずる。
最近、多数のコーティングにはチタン、ルテニウムおよ
びすずの二酸化物、またはすずおよびアンチモンの酸化
物が使用され、その上にマンガンまたは鉛の酸化物のト
ップコーティングがめつきされている。
これらのコーティングはその区域において過電圧を低下
させ、かつ電解槽内の腐食性条件における使用寿命を長
くすることにおいて実質的に有望であることを示した。
これらの材料の主要な欠点は、ことにすずの酸化物を適
用する方法においてコーティングをベーキングしてすず
酸化物とするとき実質量のすすが揮発するということで
ある。
その理由は、すず化合物、たとえば塩化第二すず五水和
物がベーキングの際水酸化第二すずに変わり、次いで一
定の電極コーティングに望まれる酸化第二すずに変わる
ことにある。
この方法の実施の際、すずそれ自体の多くは、コーティ
ング中に残留しないで、大気中に揮発する。
これが起こるのは少なくとも一部分は塩化第二すずが1
14℃付近において沸とうするためであり、そしてすず
化合物のそれぞれの酸化物への転移はこれより非常に高
い温度で起こるので、これらの物質のほとんどは大気中
に失なわれ、その結果すず材料の50%より少ない量が
実際のコーティングに利用されるにすぎない。
これは大きくかつ大量の電極の製造の際品質の管理にお
いてきびしい問題を生ずる。
コーティング組成物の再現性は、普通のコーティングを
支持体材料へ適用する方法によってはすずの揮発が起こ
るため、ほとんど不可能である。
したがって、理論的なすずの計算だけでは、一定の電極
の可能な使用寿命を計算することに関して問題を起こす
ことがある。
こんにちまでコーティング組成物にすずを使用すること
は商業的に成功しておらず、その理由はすずの揮発性が
再現性の問題を生じさせ、現在厳格な規準下にある汚染
を増大させ、そして一定の電極の製造コストをすずの損
失のため増加していることにある。
電解槽に使用するための改良された電極の製造方法は、
支持体を選び;該支持体の少なくとも一部分の表面に硫
酸すず化合物,白金族金属化合物およびアンチモン化合
物を、もしくはそれらとバルブ金属化合物を含有するコ
ーティング材料を施し;該コーティング材料を乾燥し;
酸化性ふん囲気中でベーキングし,それによって前記化
合物をそれぞれの酸化物の形態に転化することよりなる
本発明の電極コーティング組成物の改良された製造法は
、すずの揮発が現在問題となっている任意のすず化合物
を代替物として有する任意のコーティングの製造に用い
ることができる。
過去において、すずを使用する電極コーティング組成物
は、沸点が低くそのため揮発の問題を生ずる塩化物の形
態の熱分解性化合物を利用してきた。
本発明は、硫酸塩の形態のすずを使用するか、または硫
酸塩の形態のすずを生成するところの塩化物化合物と硫
酸とを使用する。
この硫酸塩の形態のすずは簡単な分解機構により最終の
電極コーティング組成物中で酸化物の形態となるので、
ベーキングの際のすずの揮発は猛烈に減少する。
このような電極コーティング組成物に対して使用する支
持体材料は、十分な機械的強さをもっていてコーティン
グの支持体として役立つ任意の導電性金属であることが
でき、典型的な金属の例は、アルミニウム、モリブデン
、ニオブ、タンタル、チタン、タングステン、ジルコニ
ウム、ニッケル、鋼、ステンレス鋼およびそれらの合金
である。
コスト、入手性、電気的および化学的性質に基づいて好
ましいバルブ金属はチタンである。
チタン支持体が電極の製造においてとることができる多
数の形態が存在し、その例は、丈夫なシート材料、高比
率の開口面積をもつエキスバンドした金属メッシュ材料
、およびチタン粉末の冷間圧縮により製造できる純粋チ
タンの30〜70%の密度をもつ多孔質チタンである。
過去において、コーティングは一般に支持体へ塗装また
は塗布すべき混合物の材料の1つとして塩化第二すず五
水和物を使用した。
本発明はすず硫酸塩物質または塩化第二すず五水和物と
硫酸とを使用してすずの硫酸塩形態を得る。
この硫酸塩形態は320℃付近の温度において簡単な分
解機構をもつので、これらの材料をベーキングしてそれ
ぞれの酸化物にする温度においてすずの大気中への揮発
は非常に少ない。
このため半導電性中間コーティングは塗布回数を非常に
少なくして形成できるが、これに対して過去の方法では
所望範囲の生じたすずの重量を得るために材料の塗布を
数層に分けて行った。
次の実施例によって、本発明をさらに説明する。
実施例 l 三塩化アンチモン、三塩化ルテニウムおよび種種のすず
含有化合物を、これらすべてが最終のすず/ルテニウム
の比の分析値に計算されかつこれに匹敵する初期のすず
/ルテニウムの比を与えるような量で、含有する溶液を
用いて支持体金属、この場合チタンをコーティングする
ことによって、一連の電極をつくった。
これは各場合において起こるすずの揮発の量を示す。
初期のすず/ルテニウムの比は、コーティング溶液中の
出発物質の重量から決定した。
ルテニウム化合物は水をある程度吸収して水和物を形成
するので、この比においてルテニウムの初期量の計算で
ほぼ5%の不正確さが多少存在する。
これらの種々の材料を支持体材料に塗布したのち、これ
を酸化性ふん囲気中で475〜625℃の混度において
5〜IO分間ベーキングして、各化合物をそれぞれの酸
化物に変えた。
この方法を数回繰り返して、所望重量増加の層を形成し
た。
コーティング材料の量は、生じたすず/ルテニウムの比
に対して、観測される影響を及ぼさなかった。
したがって、任意の都合のよい重量のコーティング材料
を使用できた。
これがいったん達成されたとき、溶融塩により触媒層を
チタン支持体からストリツピングし、次いでこれを水に
溶かして金属を沈殿させ、生じた溶液を原子吸収により
分析してコーティング材料中の最終のすず/ルテニウム
の比を確立することによって、最終のすず/ルテニウム
の比を決定した。
これらの比と使用したすず化合物を、下表Iに報告する
表 I 使用したSn化合物 初期の 最終の
Sn/Ru Sn/RuSnCt4・5}T
20 2 1. 8 3. 3〃
10.9 1.7〃 1
0.9 1.98〃 4. 3
0. 5〃 4.36
1.2〃 〃 4.36 1.8〃
4.36 1.7Sn(C4
HQ)4 4. 3 0. 6SnCl
4・ 5.7 6.45H20/H
2SO4 〃 7. 6 6.
7〃 7. 6 7.
5〃 7. 6 7.
7〃 7. 6 7.
8〃 7. 6 7.
7塩化第二すず五水和物を使用するとき10対1程度の
すずの揮発損失が存在するが、これに対して使用した化
合物が硫酸と反応した塩化第二すず五水和物であるとき
、すずの損失は無視できることがわかる。
いくつかの場合において、硫酸塩の形態を使用したとき
、最終比は初期比より高いことさえある。
この原因はルテニウム化合物が水を含有し、多分ストリ
ツピングの間多少失なわれることによって起きた実験誤
差であると考えられる。
実施例 2 実質的に増加量のすずがコーティング中に保持されるこ
とを示す第2の実験を行った。
この場合において、種々のすず含有化合物を用い、実施
例1に従う既知量の溶液混合物を、るつぼ中で焼成し、
原子吸収により残留物を分析した。
焼成温度とサイクルは実施例lと同様であった。
この実験の結果を、このような焼成後コーティング材料
中に残る一定元素の百分率として、下表■に報告する。
表 ■ 保持さ 保持さ 保持さ使用したS
n化合物 れた れた れた S
n(%) Ru(%) Sb(%)SnC44”
5H20/ 8 1 9 0 4 3H2S
04 SnSO49 4 9 5 6 1SnCt,
”5H20 9 9 7 2 3SnC
4(アルミア ルコール中で還流 19 94 15したもの
) 表■から、硫酸塩形態のすずを使用すると、従来使用さ
れた塩化物形態のすずの使用に比べて、すずの保持率は
有意に高いことがわかる。
比較例 1 硫酸塩形態の化合物のコーティング中のすず量に等しい
生成量を生ずるように大量の塩化物形態のすず化合物を
使用する電極と比較して、電極の半電解槽電位と使用寿
命を評価するため、一連の電極をつくった。
25.1gの塩化第二すず五水和物は、硫酸と反応した
5.48gの塩化第二すず五水和物を含有する混合物と
ほぼ同じ量のすずを生ずることがわかった。
この場合コーティングに硫酸塩形態を使用しないとほぼ
5倍量のすず化合物を必要とすることがわかる。
また、これらの2種の材料をルテニウムの量(g/平方
フィート)を同じにしてチタン上に塗布すると、得られ
た電極は下表■に報告されているようにほぼ同じ半電解
槽電位と使用寿命を与えることがわかった。
表 l Ru(g/平方 塩化物形態の 硫酸塩形態のフィート
) 使用寿命(時)使用寿命(時)0.1
17 140.2
50 680.3
79 108したがって、得られた電極か
ら等しい使用寿命を生成するためには、硫酸塩形態のす
ずの量に対してほぼ5倍量の塩化物形態のすずを必要と
することがわかる。
このことは、かなり少ない量の硫酸塩形態のすず化合物
を使用でき、したがって一定の電極の使用寿命に対して
正味の製造経費が節約されることを意味する。
表Iからわかるように、硫酸塩形態のすず化合物の再現
性は塩化物形態のすず化合物のそれよりかなり高いので
、電極の製造を大規模にするのは非常に容易となる。
また、硫酸塩形態を使用すると、すずの大気中への揮発
はかなり少なくなるので、先行技術に関連する汚染の問
題を排除できる。
参考例 1 三塩化アンチモンと硫酸すずとを含有する溶液でチタン
メッシュ基体材料を被覆して試験電極を調製した。
被覆溶液を該基体材料に施した后、該被覆物を酸化性ふ
ん囲気中で475゜〜600℃の混度範囲で5〜10分
間ベーキングして前記化合物をそれぞれの酸化物に転化
した。
所望の重量増加をもつ層をうるために、このプロセスを
数回繰り返した。
その後、下記表■に示す如く、抵抗のある場合とない場
合の両方における、酸素の単位電極電位を知るために、
50℃の温度で、リットル当り150gの硫酸電解液中
で前記電極サンプルを試験した。
表 ■ アンペア/cm2 抵抗あり 抵抗なし0.07
5 1.952 1.9330.15
0 2.026 1.9960.300
2.112 2.0480.450
2.186 2.0980.600
2.268 2.1400.750
2.358 2.190次いで、下記表■
に示す如く、塩素の単位電極電位を知るために、75℃
の温度で、添加した約4mlの塩酸と300g/lの塩
化ナトリウムとを含む電解液中で、前記の同一電極を試
験した。
表 ■ アンペア/cm2 抵抗あり 抵抗なし0.07
5 1.340 1.3200.15
0 1.406 1.3640.300
1.498 1.4180.450
1.582 1.4540.600
1.666 1.4880.750
1.754 1.522実施例 3 l5mlのn−ブタノールに、4.85gのSnC4・
5H20、 0.55gのSbCl3、3.0mlのH
2SO4、1.0mlのHCA,0.22gのRu(R
uCl3として)および0.15gのTi(OBu)4
を添加した。
得られた溶液をエッチングした(沸とう20%HClに
よる)Tiシ一ト上に施こした。
120℃で該被覆を乾燥後、600℃、10分間ベーキ
ングした。
追加被覆を所望のRu量を与えるまで同じ方法で加えた
得られた被覆Tiシ一トの単位電極電位は、300g/
lのNaCl、pH1.75℃、0.075A/cm2
において、標準カロメル電極に対し1.09Vであり、
また0.75A/cm2においては標準力ロメル電極(
SCE)に対し1.13Vであった。
150g/lのH2SO4、50℃、および0.75A
/cm2における寿命は40時間であった。
かくして、好ましい態様の前記説明から明らかなように
、ここに記載した電極は本発明の目的を達成し、そして
電気化学的製造用電解槽に使用する電極に付随する問題
を解決する。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 支持体を選び:該支持体の少なくとも一部分の表面
    に硫酸すず化合物,白金族金属化合物およびアンチモン
    化合物を含有するコーティング材料を施し;該コーティ
    ング材料を乾燥し;酸化性ふん囲気中でベーキングし、
    それによって該すず化合物,白金族金属化合物およびア
    ンチモン化合物をそれぞれの酸化物の形態に転化するこ
    とを特徴とする電極の製造方法。 2 支持体を選び;該支持体の少なくとも一部分の表面
    に硫酸すず化合物,白金族金属化合物,アンチモン化合
    物およびバルブ金属化合物を含有するコーティング材料
    を施し;該コーティング材料を乾燥し;酸化性ふん囲気
    中でベーキングし、それによって該すず化合物,白金族
    金属化合物,アンチモン化合物およびバルブ金属化合物
    をそれぞれの酸化物の形態に転化することを特徴とする
    電極の製造方法。 3 白金族金属化合物がルテニウム化合物である特許請
    求の範囲第1項又は第2項に記載の製造方法。 4 バルブ金属化合物がチタン化合物である特許請求の
    範囲第1項ないし第3項のいずれかに記載の製造方法。
JP52026870A 1976-03-15 1977-03-11 改良された電極の製造方法 Expired JPS586786B2 (ja)

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