JPS5866662A - メタルボンドダイヤモンド砥石の振れ修正装置 - Google Patents
メタルボンドダイヤモンド砥石の振れ修正装置Info
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- JPS5866662A JPS5866662A JP16099381A JP16099381A JPS5866662A JP S5866662 A JPS5866662 A JP S5866662A JP 16099381 A JP16099381 A JP 16099381A JP 16099381 A JP16099381 A JP 16099381A JP S5866662 A JPS5866662 A JP S5866662A
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
- B24B53/00—Devices or means for dressing or conditioning abrasive surfaces
- B24B53/001—Devices or means for dressing or conditioning abrasive surfaces involving the use of electric current
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)
- Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は放′シ加工法によりメタルボンドダイヤモンド
砥石の嵌れを疹正する方法およびその装置に関するもの
である。
砥石の嵌れを疹正する方法およびその装置に関するもの
である。
メタルボンドダイヤモンド砥石を用いて、フ１．］エラ
イト・シリコン・超硬合金など比較的硬度が高くかつも
ろい材質、いわゆるぜい性材料の切断・形状溝加工・研
摩加工を行うととけ、一般によく知られているところで
ある。第１図は、メタルボンドダイヤモンド砥石１によ
り、加工５品６に対して、加工深さＤ、幅Ｅの溝を加工
する場合を示したものである。このメタルボンドダイヤ
モンド砥石１は、第２図にその詳細を示。
イト・シリコン・超硬合金など比較的硬度が高くかつも
ろい材質、いわゆるぜい性材料の切断・形状溝加工・研
摩加工を行うととけ、一般によく知られているところで
ある。第１図は、メタルボンドダイヤモンド砥石１によ
り、加工５品６に対して、加工深さＤ、幅Ｅの溝を加工
する場合を示したものである。このメタルボンドダイヤ
モンド砥石１は、第２図にその詳細を示。
すように、ダイヤモンド砥粒７をメタルボンド（鉄、銅
、ニッケルなどによる結合材）８に混１０入し、結合さ
ねたもので、所望の円板状に成形されている。第１図に
示すように、メタルボンドダイヤモンド砥石１け、フラ
ンジ２，２′により両側から固定され、ナツト３により
回転Ｃを有する軸５のねじ部４に締め付けられ、図示し
て１゜いない駆動装置によって軸５が高速回転され、加
工深さＤをＸ軸方向に設定し、Ｘ軸駆動によ。
、ニッケルなどによる結合材）８に混１０入し、結合さ
ねたもので、所望の円板状に成形されている。第１図に
示すように、メタルボンドダイヤモンド砥石１け、フラ
ンジ２，２′により両側から固定され、ナツト３により
回転Ｃを有する軸５のねじ部４に締め付けられ、図示し
て１゜いない駆動装置によって軸５が高速回転され、加
工深さＤをＸ軸方向に設定し、Ｘ軸駆動によ。
り加工品を所定位置に設定し、Ｙ軸方向に所定速度で送
り加工するものである。ところが、通常、上記メタルボ
ンドダイヤモンド砥石１け点２゜線で示されるごとく振
れを生じているので、見かけの砥石幅けＡで示すごとく
大きくなり、このため、加工した溝幅も拡大されてしま
うばかりでなく、加工溝部にクラック（欠け）＠割れＢ
が発生して加工品を不良にするという問題が″・ある。
り加工するものである。ところが、通常、上記メタルボ
ンドダイヤモンド砥石１け点２゜線で示されるごとく振
れを生じているので、見かけの砥石幅けＡで示すごとく
大きくなり、このため、加工した溝幅も拡大されてしま
うばかりでなく、加工溝部にクラック（欠け）＠割れＢ
が発生して加工品を不良にするという問題が″・ある。
そこで、従来は、このような砥石の振れを１６正するた
めに、通瀘の語砥石を用いて修正を行っていたが、ダ・
ｒヤモンド砥粒は硬度が高く、このため、疹正に長時間
を要していた。 。
めに、通瀘の語砥石を用いて修正を行っていたが、ダ・
ｒヤモンド砥粒は硬度が高く、このため、疹正に長時間
を要していた。 。
不発明の目的は、上記し′ｆＣ，従来技術の欠点をＩｌ
ｌなくし、メタルボンドダイヤモンド砥石の振れ修正を
短時間にかつ高精度に行うことができる。
ｌなくし、メタルボンドダイヤモンド砥石の振れ修正を
短時間にかつ高精度に行うことができる。
方法およびその装置を提供するにある。本発明は、上記
目的を達成するため、修正には放電力計工法を採用し、
放電状態の検出信号を基にして、。
目的を達成するため、修正には放電力計工法を採用し、
放電状態の検出信号を基にして、。
見かけの砥石幅をディジタル測定し、これより。
砥石の振れ量を算定してこれをプリセットし、。
電極をＸ軸方間およびＹ軸方向に送って、Ｘ−ｆ軸方向
・Ｙ軸方向に所定の加工送りン与え、砥。
・Ｙ軸方向に所定の加工送りン与え、砥。
石の去れを自動的に修正するようにしたもので、。
ある。
以下、図面を用いて本発明の詳細な説明す゛る。第３図
に本発明に基づく装置の全体構成を示す。図において、
１はメタルボンドダイヤモンド砥石（以下、単に砥石と
いう）、ＳＶｉ軸、５９は電極、１０け絶縁板、１１け
テーブル、１２はバ・ルス電源、呈は放′ｆト状態を検
出してテーブル１１を移動制御する制御回路である。次
に、本装置・の動作を説明する。図示していない装置に
より。
に本発明に基づく装置の全体構成を示す。図において、
１はメタルボンドダイヤモンド砥石（以下、単に砥石と
いう）、ＳＶｉ軸、５９は電極、１０け絶縁板、１１け
テーブル、１２はバ・ルス電源、呈は放′ｆト状態を検
出してテーブル１１を移動制御する制御回路である。次
に、本装置・の動作を説明する。図示していない装置に
より。
軸５を低速回転させ、電極９の溝部１００間に砥１０石
１の先端部を対向させる。次に、砥石１と電。
１の先端部を対向させる。次に、砥石１と電。
極９との間にパルス電源１２からのパルス電力を。
印加して放電加工を行わせ、制御回路艮により。
電１極９をＸ、Ｙ軸方向に制御し、砥石１の振れ部。
Ｇ＋ 、Ｇｚを除去すると同時に、所望の砥石幅ＡＯを
１゜成形する。ここで、電極９としては、消耗の比。
１゜成形する。ここで、電極９としては、消耗の比。
較的少ない銅−タングステン合金または銀−タ。
ングステン合金がよい。電極の形状の他の例を９、第４
図の電極９′として示しである。この場合の砥石の修正
方法は、電極９′を砥石１の外側に配置。
図の電極９′として示しである。この場合の砥石の修正
方法は、電極９′を砥石１の外側に配置。
置した点で第３図の方法とは異なる。第５図は第６図の
側面図で、Ｙ軸方向に砥石１と電極９とが相対的に移動
する状態を表わしている。 次に、第６，７図により、
前記制御回路限の詳細について説明する。第６図におい
て、１は５砥石、９は電極、１２けパルス電源である。
側面図で、Ｙ軸方向に砥石１と電極９とが相対的に移動
する状態を表わしている。 次に、第６，７図により、
前記制御回路限の詳細について説明する。第６図におい
て、１は５砥石、９は電極、１２けパルス電源である。
５０゜６１は砥石１と′電極９との極間電圧を数Ｖの電
圧に分圧するための抵抗である。６２および３５け積゛
分回路を構成しており、６２はその抵抗、５３けコ゛ン
デンサである。６４はスイッチで、これを０側１１１に
接続すると前記分圧された極間電圧が、また・Ｐ側に接
続すると積分された信号が、それぞれており婿形Ｌｌ、
Ｌ２は放ｖｔ成流が流れた状態を。
圧に分圧するための抵抗である。６２および３５け積゛
分回路を構成しており、６２はその抵抗、５３けコ゛ン
デンサである。６４はスイッチで、これを０側１１１に
接続すると前記分圧された極間電圧が、また・Ｐ側に接
続すると積分された信号が、それぞれており婿形Ｌｌ、
Ｌ２は放ｖｔ成流が流れた状態を。
示している。波形Ｉ２はコンデンサ両端の積分さ。
れた波形を点線で示している。さて、第６図に、おいて
、前記した比較増幅器１５の他方の入力に２（１は、第
７図のような値に設定された基準値Ｅ１が゛与えられて
いる。比較増幅器１５の出力はフリッ。
、前記した比較増幅器１５の他方の入力に２（１は、第
７図のような値に設定された基準値Ｅ１が゛与えられて
いる。比較増幅器１５の出力はフリッ。
プフロップ１９のリセット（Ｒ）に入力され、また比。
較増幅器１５の出力はテーブルのＸ軸送り回路１７・に
与えられる。フリップフロップ１９のセット入５力（Ｓ
）にはスタートスイッチ２０が接続されている・。
与えられる。フリップフロップ１９のセット入５力（Ｓ
）にはスタートスイッチ２０が接続されている・。
フリップフロップ１９の出力（Ｑ）け、ＡＮＤゲート２
２・に入力されており、該ＡＮＤゲート２２のもう１つ
。
２・に入力されており、該ＡＮＤゲート２２のもう１つ
。
の入力には、クロックパルス発生器２１から発生される
クロックパルスが与えられている。ＡＮＤ、ｎゲート２
２の出力はカウンタＡ２５に入力され、該カウンタＡ２
５の内容は比較器２４に入力されている。比較器２４の
他方の入力にはカウンタＢ２５の内容が与えられ、カウ
ンタＢ２５の入力にはＸ軸移動距離を測定するためのリ
ニアエンコーダ２φ１の検出信号が与えられている。カ
ウンタＢ２５の内容は表示ｌｒＵ路５５によりＸ軸の位
置として表示される。比較器２４の出力はＸ軸送り回路
２７に与えられている。また、比較器２９の入力側には
／リセンタ２Ｂの信号が入力され、他方の入力にゆ・
７ ・ カウンタＢ２５の内容が与えられ、該比較器２９の・出
力はＡＮＤゲート３６の入力に与えられる。一方、Ｘ軸
送り回路１７にはスタートスイッチ１８が接続されてい
る。
クロックパルスが与えられている。ＡＮＤ、ｎゲート２
２の出力はカウンタＡ２５に入力され、該カウンタＡ２
５の内容は比較器２４に入力されている。比較器２４の
他方の入力にはカウンタＢ２５の内容が与えられ、カウ
ンタＢ２５の入力にはＸ軸移動距離を測定するためのリ
ニアエンコーダ２φ１の検出信号が与えられている。カ
ウンタＢ２５の内容は表示ｌｒＵ路５５によりＸ軸の位
置として表示される。比較器２４の出力はＸ軸送り回路
２７に与えられている。また、比較器２９の入力側には
／リセンタ２Ｂの信号が入力され、他方の入力にゆ・
７ ・ カウンタＢ２５の内容が与えられ、該比較器２９の・出
力はＡＮＤゲート３６の入力に与えられる。一方、Ｘ軸
送り回路１７にはスタートスイッチ１８が接続されてい
る。
次に、上記制御回路旦の動作を説明する。ま−１ず、第
１図に示したように、見かけの砥石幅Ａの値を測定する
必要がある。これは、次のようにして行われる。第６図
において、砥石１を電極９の溝の中央にセットし、該砥
石１を回転させ、パルス電源１２の電流を微少（数１０
扉Ａ程度のＩｌｌ放′鍜加工に寄与しない電流）に設定
し、図示しないＸ軸送り装置によって砥石１を＋Ｘ方向
に。
１図に示したように、見かけの砥石幅Ａの値を測定する
必要がある。これは、次のようにして行われる。第６図
において、砥石１を電極９の溝の中央にセットし、該砥
石１を回転させ、パルス電源１２の電流を微少（数１０
扉Ａ程度のＩｌｌ放′鍜加工に寄与しない電流）に設定
し、図示しないＸ軸送り装置によって砥石１を＋Ｘ方向
に。
移動させ、電極９に接触させ、表示回路３５の表示値を
リセットスイッチ（図示せず）により０゜にリセットさ
せる。次に、砥石１を−Ｘ方向ニ１．−１移動させ、同
様に電極９に接触さ亡て、Ｘ軸表示値を読み取る。上記
の虱接触した〃ことの検出は、極間電圧を測定していれ
ば、該電圧がＯボルトになったことで判断できる。上記
Ｘ軸表示値をＸＯとし、電極９の溝幅Ｆｏをあらかじめ
マ・ ８ ・ イクロメータなどに測定しておけば、見かけの砥石幅Ａ
の値は、ＦｏからＸｏを差し引くことにょ゛って求める
ことができる。なお、これらの動作は自動で行うことも
できるが、本発明の構成に・必須のものではないので、
その具体的な回路はへ示していない。さて、次に、砥石
１０回転を停・止し、静止状態での砥石幅をマイクロメ
ータな・どにより測定し、この値をＡ１とすれば、砥石
の・−ＡＩ 撮れはＡ −ＡＩとなり、片側では−７−となる。。
リセットスイッチ（図示せず）により０゜にリセットさ
せる。次に、砥石１を−Ｘ方向ニ１．−１移動させ、同
様に電極９に接触さ亡て、Ｘ軸表示値を読み取る。上記
の虱接触した〃ことの検出は、極間電圧を測定していれ
ば、該電圧がＯボルトになったことで判断できる。上記
Ｘ軸表示値をＸＯとし、電極９の溝幅Ｆｏをあらかじめ
マ・ ８ ・ イクロメータなどに測定しておけば、見かけの砥石幅Ａ
の値は、ＦｏからＸｏを差し引くことにょ゛って求める
ことができる。なお、これらの動作は自動で行うことも
できるが、本発明の構成に・必須のものではないので、
その具体的な回路はへ示していない。さて、次に、砥石
１０回転を停・止し、静止状態での砥石幅をマイクロメ
ータな・どにより測定し、この値をＡ１とすれば、砥石
の・−ＡＩ 撮れはＡ −ＡＩとなり、片側では−７−となる。。
すなわち、これで除去すべき量が求められるの１０で、
この値（第３図ではＧ１およびＧ２で示されて。
この値（第３図ではＧ１およびＧ２で示されて。
いる）を第６図のプリセッタ２８にセットしてお。
く。次に、砥石の位置を、第５図に砥石１とし。
て実線で示した位置にしておき、スタートスイッチ２０
をオンにすると同時に、パルス電源１２を１゜オンにし
、砥石１と電極９との間にパルス電圧。
をオンにすると同時に、パルス電源１２を１゜オンにし
、砥石１と電極９との間にパルス電圧。
を印加する。スタートスイッチ２０をオンにする。
と、フリップフロップ１９の出力Ｑは覧１〃レベルとな
り、該出力信号はＡＮＤゲート２２に与えられ。
り、該出力信号はＡＮＤゲート２２に与えられ。
るので、クロックパルス発生器２１から発生され＋ｌｉ
るクロックパルス信号は、・仏ｐゲート２２およびＯＲ
ゲート３７を通ってカウンタＡ２５に与えられる。
るクロックパルス信号は、・仏ｐゲート２２およびＯＲ
ゲート３７を通ってカウンタＡ２５に与えられる。
カウンタＡ２５のカウント内容は比較器２４によってカ
ウンタＢ２５の内容と比較され、もし、カウンタ、４２
３の内容がカウンタＢ２５の内容よりも大・であれば、
比較器２４の出力は１１１レベルとなり、Ｘ軸送り回路
２７に信号を送って、Ｘ軸モータを正回転させる。カウ
ンタＢ２５に入力される信号は、Ｘ軸送りを測定するた
め堆り付けられたりニヤエンコーダ２６から１パルス／
１μｍが得うレ１１するようになっている。すなわち、
１μｍ単位でパルスが指令され、リニヤエンコーダ２６
によりフ。
ウンタＢ２５の内容と比較され、もし、カウンタ、４２
３の内容がカウンタＢ２５の内容よりも大・であれば、
比較器２４の出力は１１１レベルとなり、Ｘ軸送り回路
２７に信号を送って、Ｘ軸モータを正回転させる。カウ
ンタＢ２５に入力される信号は、Ｘ軸送りを測定するた
め堆り付けられたりニヤエンコーダ２６から１パルス／
１μｍが得うレ１１するようになっている。すなわち、
１μｍ単位でパルスが指令され、リニヤエンコーダ２６
によりフ。
イードバックされ、Ｘ軸が十方向に定速度で移動される
。一方、スイッチ３４は０側に接続されており、砥石１
と電極９とが接近し、放電が開Ｉｎ始されると、放電波
形は第７図に示したごとくとなり、比較増幅器１５の設
定レベルＥｌより低下するので、比較増幅器１５の出力
は％０ルベルとなり、フリップフロップ１９の出力Ｑけ
％ＯＮレベルとなり、従ってクロックパルス発生器２１
から、。
。一方、スイッチ３４は０側に接続されており、砥石１
と電極９とが接近し、放電が開Ｉｎ始されると、放電波
形は第７図に示したごとくとなり、比較増幅器１５の設
定レベルＥｌより低下するので、比較増幅器１５の出力
は％０ルベルとなり、フリップフロップ１９の出力Ｑけ
％ＯＮレベルとなり、従ってクロックパルス発生器２１
から、。
発生されるクロックパルスはＡＮＤゲート２２の出力か
ら得られなくなり、指令パルスが停止する゛ので、Ｘ軸
送りは停止する。すなわち、第３図において、砥石１が
電極９に接した位置で、Ｘ軸方向の送りが停止する。次
に、砥石の位置を、・第５図に砥石１′として点線で示
した位置に設定。
ら得られなくなり、指令パルスが停止する゛ので、Ｘ軸
送りは停止する。すなわち、第３図において、砥石１が
電極９に接した位置で、Ｘ軸方向の送りが停止する。次
に、砥石の位置を、・第５図に砥石１′として点線で示
した位置に設定。
しておき、カウンタＡ２５、カウンタＢ２５をリセ。
ツトし、先に述べた、プリセッタ２８＋Ｃセツトした信
号を比較器２９に与えると、比較器２９けブリ。
号を比較器２９に与えると、比較器２９けブリ。
センタ２８の内容とカウンタＢ２５の内容を比較す１）
する。この時点では、プリセッタ２８ハ所定切込値であ
り、カウンタＢ２５ Ｌまカ０〃レベルであるため、該
比較器２９の出力は！１〃レベルとなり、この信。
する。この時点では、プリセッタ２８ハ所定切込値であ
り、カウンタＢ２５ Ｌまカ０〃レベルであるため、該
比較器２９の出力は！１〃レベルとなり、この信。
号は前記クロックパルス発生器２１かものクロックパル
スを、ｙｌＮＤゲート３６を通させ、先に述べ之ｌ。
スを、ｙｌＮＤゲート３６を通させ、先に述べ之ｌ。
と同じ動作によりＸ軸送りが働く。プリセッタ２８の内
容とカウンタＢ２５の内容が一致すると、。
容とカウンタＢ２５の内容が一致すると、。
比較器２９の出力はＪ１ノベルとなり、前記りｐツクパ
ルスはＡＮＩ）ゲート３６から得られなくなるため、Ｘ
軸送りは停止する。すなわち、先に述、。
ルスはＡＮＩ）ゲート３６から得られなくなるため、Ｘ
軸送りは停止する。すなわち、先に述、。
１
べ几砥石１の振れｆ（第３図の６１に相当）分だ。
けＸ軸方向に加工したことになる。しかし、こ。
れだけでは、電極９も放電によって数十％消耗するので
、砥石の振れ量は除去しきれない。従って、次に、第５
図に示したごとく、Ｘ軸方向５に送りを与えて放電加工
を行う。Ｙ軸方向の送゛りは、スタートスイッチ１８を
オンにすると、Ｙ。
、砥石の振れ量は除去しきれない。従って、次に、第５
図に示したごとく、Ｘ軸方向５に送りを与えて放電加工
を行う。Ｙ軸方向の送゛りは、スタートスイッチ１８を
オンにすると、Ｙ。
軸送り回路１７に送りスタート信号が与えられ、動作状
態となる。一方、スイッチ３４けＰ側に接続され、放電
波形は比較増幅器１５でＥｌと比較さ１１１れ、もし、
放電波形の平均値Ｉ２のレベルがＩｈよ。
態となる。一方、スイッチ３４けＰ側に接続され、放電
波形は比較増幅器１５でＥｌと比較さ１１１れ、もし、
放電波形の平均値Ｉ２のレベルがＩｈよ。
り低下すれば、比較増幅器１５の出力は１ＯＮレベルと
なり、該出力信号けＸ軸送り回１８１７にストップ信号
を与え、Ｘ軸送りを停止させる。また、放電波形の平均
値Ｉ２の電圧がＥルベル以上にな１−れば、比較増幅器
１５の出力は％１Ｎレベルとなる。
なり、該出力信号けＸ軸送り回１８１７にストップ信号
を与え、Ｘ軸送りを停止させる。また、放電波形の平均
値Ｉ２の電圧がＥルベル以上にな１−れば、比較増幅器
１５の出力は％１Ｎレベルとなる。
ので、Ｘ軸送りは再び動作状態になる。このように、Ｙ
軸方向に送りを与え、砥石１と電極９とが短絡しないよ
うに放電状態を検出しながら、放電加工を行うものであ
る。この場合、Ｙ軸の、１１２ 送りは、電極９として比較的消耗の少ない銀−タングス
テン合金あるいは銅−タングステン合金を用いれば、約
２０圏程度でよい。なお、砥石゛の振れ量は、実験九よ
れば１０〜２０μｍ程度であるので、前記プリセクタ２
８のプリセット量は上記５値程度（約１０〜２０μｍ）
である。また、砥石の回゛転数としては１００〜５００
ｒｐｍが適正であり、これ以゛下にすると異常放電状
態となり、またこれ以上にすると砥石に振動が発生し、
電極との短絡発生の原因となりやすい。
１０以上説明したように、本発明によれば、メタ
ルボンドダイヤモンド砥石の振れの除去を自動・的に高
能率かつ高精度で行うことができる。本発明の方法−装
置によって確認したー実験例を。
軸方向に送りを与え、砥石１と電極９とが短絡しないよ
うに放電状態を検出しながら、放電加工を行うものであ
る。この場合、Ｙ軸の、１１２ 送りは、電極９として比較的消耗の少ない銀−タングス
テン合金あるいは銅−タングステン合金を用いれば、約
２０圏程度でよい。なお、砥石゛の振れ量は、実験九よ
れば１０〜２０μｍ程度であるので、前記プリセクタ２
８のプリセット量は上記５値程度（約１０〜２０μｍ）
である。また、砥石の回゛転数としては１００〜５００
ｒｐｍが適正であり、これ以゛下にすると異常放電状
態となり、またこれ以上にすると砥石に振動が発生し、
電極との短絡発生の原因となりやすい。
１０以上説明したように、本発明によれば、メタ
ルボンドダイヤモンド砥石の振れの除去を自動・的に高
能率かつ高精度で行うことができる。本発明の方法−装
置によって確認したー実験例を。
示すと、 １゜砥石
： Ｎｉ ヘース（または銅ベース）メタルボンド 砥粒粒度＝５〜１０μｍ 砥石幅；０．１〜０．２簡 砥石径：４０鱈 、。
： Ｎｉ ヘース（または銅ベース）メタルボンド 砥粒粒度＝５〜１０μｍ 砥石幅；０．１〜０．２簡 砥石径：４０鱈 、。
パルス条件
ビーク成流： ０．２Ａ
パルス幅、１μｔ
コンデンサ： ０，６８ ｎＦ
砥石回転数二２ｏｏｒｐｍ
以上の要件で放電加工を行ったところ、加工所要時間３
０分、加工精度±１μ７ｎという好結果が得られた。
０分、加工精度±１μ７ｎという好結果が得られた。
第１図はメタルボンドダイヤモンド砥石によ１（；る加
工の説明図、第２図はメタルボンドダイヤモンド砥石の
構成の説明図、第３図は本発明による装置の全体構成を
示す説明図、第４図および第５図は該装置の部分的構成
を示す説明図、第６図は第３図の装置における制御回路
の一例１□。 を示す回路図、第７図は第６図の制御回路の動作を説明
するための波形図である。 符号の説明 １・・・メタルボンドダイヤモンド砥石、９．９′・・
・電極、 １２・・・パルス電源、 、（１５ １３、、、制御回路、１５・・・比較増幅器、１７・・
・Ｙ輸送り回路、 １９・・・フリップフロップ、 ２１・・・クロックパルス発生器、 ２３・・・カウンタＡ ２４・・・比較器、２５
・・・カウンタＢ ２６・・・リニヤエンコーダ、 ２７・・・Ｘ軸送り回路、 ２８・・・プリセッタ、
２９・・・比較器、 ３５・・・表示回路。 第１口 才２図 第５［！１ ／−＼ ／ −一＼ゝ 、／ Ｉ Ｘ７ ／ ゝ ＼ ） ｏ １ 。 ＼ ７／ ＼ ／−−−−一− ＼〜−、／ ／竹 オ 乙 〔コ オ７１１１ （Ｃ）−」［−ニー Ｌ Ｌｚ
工の説明図、第２図はメタルボンドダイヤモンド砥石の
構成の説明図、第３図は本発明による装置の全体構成を
示す説明図、第４図および第５図は該装置の部分的構成
を示す説明図、第６図は第３図の装置における制御回路
の一例１□。 を示す回路図、第７図は第６図の制御回路の動作を説明
するための波形図である。 符号の説明 １・・・メタルボンドダイヤモンド砥石、９．９′・・
・電極、 １２・・・パルス電源、 、（１５ １３、、、制御回路、１５・・・比較増幅器、１７・・
・Ｙ輸送り回路、 １９・・・フリップフロップ、 ２１・・・クロックパルス発生器、 ２３・・・カウンタＡ ２４・・・比較器、２５
・・・カウンタＢ ２６・・・リニヤエンコーダ、 ２７・・・Ｘ軸送り回路、 ２８・・・プリセッタ、
２９・・・比較器、 ３５・・・表示回路。 第１口 才２図 第５［！１ ／−＼ ／ −一＼ゝ 、／ Ｉ Ｘ７ ／ ゝ ＼ ） ｏ １ 。 ＼ ７／ ＼ ／−−−−一− ＼〜−、／ ／竹 オ 乙 〔コ オ７１１１ （Ｃ）−」［−ニー Ｌ Ｌｚ
Claims (2)
- （１） 放電加工法によりディスク状のメタルボンド
ダイヤモンド砥石の振れを修正するための、回転可能に
ほぼ水平に軸支された該砥石の中心軸に対し平行な方向
（Ｘ方向）および直角な方向（Ｙ方向）のそれぞれの送
りを可能に１１１なされた゛成極を配置し、該電極と前
記砥石と。 の間にパルス電圧を印加し、放電状態を検出。 するための検出回路と、該検出回路からの信号に基づき
リニヤエンコーダによって見かけの砥石幅をディジタル
測定し砥石の撮れ量を１、算定する装置と、該振れ量を
プリセットさせるプリセッタと、Ｘ軸方向の砥石振れ量
を自４動設定するためのクロックパルス発生器ト、該発
生器の発生パルス数をカウントする第１、のカウンタと
、前記リニヤエンコーダのパル、ｌｌｌスケカウントす
る第２のカウンタと、該第゛１および第２のカウンタそ
れぞれの内容を比較するための比較器とを設け、該比較
器の出。 力信号によりＸ軸方向送りを設定し、かつ放゛電重圧の
平均値と設定値とを比較するための５比較器幅器を設け
、該比較増幅器の出力信号に応じてＹ軸方向送りを設定
することを特徴とする放電加工法によるメタルボンドダ
イヤモンド砥石の振れ修正方法。 - （２）放電加工法によりディスク状のメタルボン１０ド
ダイヤモンド砥石の振れを修正するための、回転可能に
ほぼ水平に軸支された該砥石の中心軸に対し平行な方向
（Ｘ方向）および直角・な方向（Ｙ方向）のそれぞれの
送りを可能になされた電極と、該電極と前口己砥石との
間に１５パルス電圧を印加するためのパルス電源とを。 有し、放電状態を検出するための検出回路と、該検出回
路からの信号に基づきリニヤエンコーダによって見かけ
の砥石幅をディジタル測。 定し砥石の振れ普を算定する装置と、該振れ２，１量を
プリセットさせるプリセッタと、Ｘ軸方。 向の砥石系れ着を自動設定するためのクロックパルス発
生器と、該発生器の発生パルス数゛をカウントする第１
のカウンタと、前記リニヤエンコーダのパルス数をカウ
ントする第２−・のカウンタと、ｄ亥第１および第２の
カラン′りそれぞれの内容を比較するための比較器と、
該比較器の出力信号によりＸ軸方向送りを設定するため
のＸ軸送り回路とを設け、かつ放’ｔ Ｍ圧の平均値と
設定値とを比較するためのＩｌｌ比絞増幅器と、該比較
増幅器の出力は号に応じてＹ ＋１＄方向送りを設定す
るためのＸ軸送り回路とを設けて構成されたことを特畝
とする。 放電加工法によるメタルボンドダイヤモンド。 砥石の振れ修正装置。 ］、１
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16099381A JPS5866662A (ja) | 1981-10-12 | 1981-10-12 | メタルボンドダイヤモンド砥石の振れ修正装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16099381A JPS5866662A (ja) | 1981-10-12 | 1981-10-12 | メタルボンドダイヤモンド砥石の振れ修正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5866662A true JPS5866662A (ja) | 1983-04-20 |
| JPS6210780B2 JPS6210780B2 (ja) | 1987-03-09 |
Family
ID=15726529
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16099381A Granted JPS5866662A (ja) | 1981-10-12 | 1981-10-12 | メタルボンドダイヤモンド砥石の振れ修正装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5866662A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5976722A (ja) * | 1982-10-27 | 1984-05-01 | Oyo Jiki Kenkyusho:Kk | 薄板、細溝等の加工方法 |
| JPS61136767A (ja) * | 1984-12-07 | 1986-06-24 | Hitachi Ltd | 成形研削盤 |
| JPH04130828U (ja) * | 1991-05-28 | 1992-12-01 | 新神戸電機株式会社 | パツキング貼り付け金型装置 |
| CN108818310A (zh) * | 2018-06-22 | 2018-11-16 | 华南理工大学 | 一种微尺度磨粒修平参数的在线精准控制方法 |
-
1981
- 1981-10-12 JP JP16099381A patent/JPS5866662A/ja active Granted
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5976722A (ja) * | 1982-10-27 | 1984-05-01 | Oyo Jiki Kenkyusho:Kk | 薄板、細溝等の加工方法 |
| JPS61136767A (ja) * | 1984-12-07 | 1986-06-24 | Hitachi Ltd | 成形研削盤 |
| JPH0543461B2 (ja) * | 1984-12-07 | 1993-07-01 | Hitachi Ltd | |
| JPH04130828U (ja) * | 1991-05-28 | 1992-12-01 | 新神戸電機株式会社 | パツキング貼り付け金型装置 |
| CN108818310A (zh) * | 2018-06-22 | 2018-11-16 | 华南理工大学 | 一种微尺度磨粒修平参数的在线精准控制方法 |
| CN108818310B (zh) * | 2018-06-22 | 2020-05-22 | 华南理工大学 | 一种微尺度磨粒修平参数的在线精准控制方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6210780B2 (ja) | 1987-03-09 |
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