JPS5866575A - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置Info
- Publication number
- JPS5866575A JPS5866575A JP56163661A JP16366181A JPS5866575A JP S5866575 A JPS5866575 A JP S5866575A JP 56163661 A JP56163661 A JP 56163661A JP 16366181 A JP16366181 A JP 16366181A JP S5866575 A JPS5866575 A JP S5866575A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor
- snubber circuit
- resistor
- wiring
- semiconductor device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/08—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage
- H03K17/081—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage without feedback from the output circuit to the control circuit
- H03K17/0814—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the output circuit
- H03K17/08144—Modifications for protecting switching circuit against overcurrent or overvoltage without feedback from the output circuit to the control circuit by measures taken in the output circuit in thyristor switches
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/484—Connecting portions
- H01L2224/48463—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
- H01L2224/48465—Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
Landscapes
- Protection Of Static Devices (AREA)
- Power Conversion In General (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はサイリスタ、トランジスタ、GTOサイリス
タ等の半導体で構成される半導体装置、六 特に半導体と並列に接続されるスナバ−回路を改善した
半導体装置に関するものである。
タ等の半導体で構成される半導体装置、六 特に半導体と並列に接続されるスナバ−回路を改善した
半導体装置に関するものである。
回路電圧に対して半導体の最大定格電圧が同等もしくは
小さい場合は半導体を複数個直列に接続して用いること
は周知の如くである。半導体素子を複数個直列に接続す
る場合は、電圧分担を許容範囲内に平衡させるため半導
体に並列にスナバ−回路を接続する。
小さい場合は半導体を複数個直列に接続して用いること
は周知の如くである。半導体素子を複数個直列に接続す
る場合は、電圧分担を許容範囲内に平衡させるため半導
体に並列にスナバ−回路を接続する。
また、半導体が高速スイッチング動作を行うものでは電
流オフ時に半導体の両端に異常なサージ電圧が発生し半
導体の最大定格電圧を越えると半導体が破壊するので、
このサージ電圧を許容電圧以下に制御するためにも半導
体に並列にスナバ−回路が設けられる。
流オフ時に半導体の両端に異常なサージ電圧が発生し半
導体の最大定格電圧を越えると半導体が破壊するので、
このサージ電圧を許容電圧以下に制御するためにも半導
体に並列にスナバ−回路が設けられる。
第1図には従来の半導体装置が示されている。
図において、コ個の半導体すなわちダイオード/および
コが直列に接続されており、抵抗器、?、lI。
コが直列に接続されており、抵抗器、?、lI。
Sおよび乙とコンデンサ7およびにから成るスナバ−回
路がダイオードlおよびコに並列接続されて示されてい
る。抵抗器3およびグは定常時の電圧分担を目的として
また抵抗器夕および乙とコンデンサ7およびgとは過渡
時の電圧分担とサージ電圧抑制を目的として設けられる
。
路がダイオードlおよびコに並列接続されて示されてい
る。抵抗器3およびグは定常時の電圧分担を目的として
また抵抗器夕および乙とコンデンサ7およびgとは過渡
時の電圧分担とサージ電圧抑制を目的として設けられる
。
特にダイオード/(または2)のアノードおよびカソー
ドの両電極に接続するコンデンサ7(またはg)と抵抗
器り(または乙)の直列回路はサージ電圧を抑制する目
的からインダクタンスを極力小さくすることが必要とな
り、通常抵抗器やコンデンサの部品は無誘導構造のもの
を用いると共に半導体の近傍に前記抵抗器やコンデンサ
の部品を配設し配線を短かくすることによってインダク
タンスを小さくするよう考慮している。
ドの両電極に接続するコンデンサ7(またはg)と抵抗
器り(または乙)の直列回路はサージ電圧を抑制する目
的からインダクタンスを極力小さくすることが必要とな
り、通常抵抗器やコンデンサの部品は無誘導構造のもの
を用いると共に半導体の近傍に前記抵抗器やコンデンサ
の部品を配設し配線を短かくすることによってインダク
タンスを小さくするよう考慮している。
さらに配線インダクタンスを小さくするため第二図に示
すように各部品の両端に配線する電線をお互により合わ
せて配線インダクタンスを小さくすることも行なわれる
。
すように各部品の両端に配線する電線をお互により合わ
せて配線インダクタンスを小さくすることも行なわれる
。
しかしながら上述の抵抗器やコンデンサから成るスナバ
−回路部品を半導体の近傍に設置するにしても限度があ
り又第2図に示すように配線をお互により合わすにして
も全配線長さに対してより合わせている部品の割合が小
さく配線インダクタンスを所定の値以下にできない場合
が多々生じていた。
−回路部品を半導体の近傍に設置するにしても限度があ
り又第2図に示すように配線をお互により合わすにして
も全配線長さに対してより合わせている部品の割合が小
さく配線インダクタンスを所定の値以下にできない場合
が多々生じていた。
第3図および第9図は以上の欠点をより具体的に説明す
るためのもので、半導体とスナバ一部品とを7枚の絶縁
板10の上に組立てて構成1−た半導体ユニットが示さ
れている。絶縁板IOの片面には半導体/およびコと、
冷却フィン/2を積重ねて締付装置(図示せず)で組立
てたスタック//と、抵抗器3.A、3およびグとが数
句けられており、また絶縁板10の他の面にはコンデン
サ7およびgが取付けられて示されている。抵抗器Sお
よび乙の各々は並列接続された一本の抵抗器で構成され
ている。
るためのもので、半導体とスナバ一部品とを7枚の絶縁
板10の上に組立てて構成1−た半導体ユニットが示さ
れている。絶縁板IOの片面には半導体/およびコと、
冷却フィン/2を積重ねて締付装置(図示せず)で組立
てたスタック//と、抵抗器3.A、3およびグとが数
句けられており、また絶縁板10の他の面にはコンデン
サ7およびgが取付けられて示されている。抵抗器Sお
よび乙の各々は並列接続された一本の抵抗器で構成され
ている。
スナバ−回路の配線は、半導体/のアノード側フィンに
設けた端子/2aから絶縁板10を貫通(3) してコンデンサ7の一方の端子に配線される導線/、?
a、コンデンサ7の他方の端子から絶縁板10を貫通し
て抵抗器5の一方の端子に配線される導線/3b、2本
の抵抗器Sを並列接続するための導線/3cおよび/3
d1抵抗器Sの他方の端子と半導体/のカソード側フィ
ンに設けた端子/2bとを接続する導線/3eによって
構成される。半導体コのスナバ−回路も同様に接続され
ている。
設けた端子/2aから絶縁板10を貫通(3) してコンデンサ7の一方の端子に配線される導線/、?
a、コンデンサ7の他方の端子から絶縁板10を貫通し
て抵抗器5の一方の端子に配線される導線/3b、2本
の抵抗器Sを並列接続するための導線/3cおよび/3
d1抵抗器Sの他方の端子と半導体/のカソード側フィ
ンに設けた端子/2bとを接続する導線/3eによって
構成される。半導体コのスナバ−回路も同様に接続され
ている。
抵抗器3およびダの配線は図示を省略している。
第3図および第7図から解るようにこのような半導体ユ
ニットの構成では、半導体lまたはコと、スナバ−回路
用の抵抗器Sまたはtと、コンデンサ7またはgとの配
線を第2図に示すようにツイストもしくはより合わすこ
とが難しい。第3図および第9図では配線/3eと/、
?aとをツイストしているが全配線長に比べてツイスト
している範囲が少なく配線インダクタンスの低減効果は
極めて小さい。電気車のチョッパ装置に用いるフリーホ
イリングダイオードのスナバ−回路ではコンデンサ7お
よびgの容量を/μFとした時抵抗器Sま(グ ) たは乙は定格電力3θOWの抵抗器を一本並列に用いて
いる。この抵抗器1本の大きさは直径ダθIIN長さq
so冨奮となり抵抗器の両端子に接続する導体をツイス
トしようとすればかえって配線が長くなり配線インダク
タンスを増大せしめる結果となる。
ニットの構成では、半導体lまたはコと、スナバ−回路
用の抵抗器Sまたはtと、コンデンサ7またはgとの配
線を第2図に示すようにツイストもしくはより合わすこ
とが難しい。第3図および第9図では配線/3eと/、
?aとをツイストしているが全配線長に比べてツイスト
している範囲が少なく配線インダクタンスの低減効果は
極めて小さい。電気車のチョッパ装置に用いるフリーホ
イリングダイオードのスナバ−回路ではコンデンサ7お
よびgの容量を/μFとした時抵抗器Sま(グ ) たは乙は定格電力3θOWの抵抗器を一本並列に用いて
いる。この抵抗器1本の大きさは直径ダθIIN長さq
so冨奮となり抵抗器の両端子に接続する導体をツイス
トしようとすればかえって配線が長くなり配線インダク
タンスを増大せしめる結果となる。
第3図および第1図の半導体ユニットでは半導体とスナ
バ−用抵抗器とコンデンサを極力近接して設置した場合
を示しているが、半導体装置の構成や冷却方式によって
種々の形態があり、特に半導体を沸騰冷却方式で冷却す
る場合で、冷却タンク内に半導体を収納し抵抗器やコン
デンサは冷却タンクの外部に設置するものでは、半導体
と抵抗器やコンデンサを近接して配設することができな
いためスナバ−回路が長くなり配線インダクタンスが増
大しサージ吸収効果が低減する。このためにコンデンサ
の静電容量を増大しサージ吸収効果を改善しているがコ
ンデンサの静電容量を増大すると抵抗器の発熱量も静電
容量に比例して大きくなり半導体装置の効率低下と共に
半導体装置が大形化する傾向にあった。
バ−用抵抗器とコンデンサを極力近接して設置した場合
を示しているが、半導体装置の構成や冷却方式によって
種々の形態があり、特に半導体を沸騰冷却方式で冷却す
る場合で、冷却タンク内に半導体を収納し抵抗器やコン
デンサは冷却タンクの外部に設置するものでは、半導体
と抵抗器やコンデンサを近接して配設することができな
いためスナバ−回路が長くなり配線インダクタンスが増
大しサージ吸収効果が低減する。このためにコンデンサ
の静電容量を増大しサージ吸収効果を改善しているがコ
ンデンサの静電容量を増大すると抵抗器の発熱量も静電
容量に比例して大きくなり半導体装置の効率低下と共に
半導体装置が大形化する傾向にあった。
この発明は上記従来装置の欠点を改善するためになされ
たものでスナバ−回路の配線インダクタンスを効果的に
抑制しサージ吸収効果を増大せしめるようにした半導体
装置を提供するものである。
たものでスナバ−回路の配線インダクタンスを効果的に
抑制しサージ吸収効果を増大せしめるようにした半導体
装置を提供するものである。
第S図はこの発明のスナバ−回路の配線方法を示す一実
施例である。第S図において、抵抗器3およびグで構成
される定常時用のスナバ−回路は(または乙)とも直列
接続した過渡時用のスナバ−回路に関して配線インダク
タンスを低減するのに効果的な新規な接続が示されてい
る。
施例である。第S図において、抵抗器3およびグで構成
される定常時用のスナバ−回路は(または乙)とも直列
接続した過渡時用のスナバ−回路に関して配線インダク
タンスを低減するのに効果的な新規な接続が示されてい
る。
半導体/のスナバ−回路を構成するコンデンサ7と半導
体コのスナバ−回路を構成するコンデンサgとが近接し
て並べて配設されており、同様に抵抗器左と抵抗器6も
並べて近接して配置されて示されている。コンデンサ7
およびコンデンサgの一方の同じ側の端子と、抵抗器左
および抵抗器乙の一方の同じ側の端子とがそれぞれ導線
/4’aおよび/Qbで配線される。コンデンサ7およ
びざの他方の端子も、半導体/のアノード端子および半
導体コのカソード端子にそれぞれ導線/llcおよび/
’ldで配線する。抵抗器左および乙の他端は半導体l
と半導体コの接続点へそれぞれ導線/+eおよび/If
で配線される。コンデンサ7とgおよび抵抗器Sと6と
は各々近接して配設されているから、上記導線//%a
と/41b、/’Icと/ Q d、および/4(eと
/+fは各々近接して配線することが可能で第3図に示
すようにツイストすなわちより合わすことも容易にでき
る。従って全配線長に対してツイスト範囲の割合を高く
することができる。
体コのスナバ−回路を構成するコンデンサgとが近接し
て並べて配設されており、同様に抵抗器左と抵抗器6も
並べて近接して配置されて示されている。コンデンサ7
およびコンデンサgの一方の同じ側の端子と、抵抗器左
および抵抗器乙の一方の同じ側の端子とがそれぞれ導線
/4’aおよび/Qbで配線される。コンデンサ7およ
びざの他方の端子も、半導体/のアノード端子および半
導体コのカソード端子にそれぞれ導線/llcおよび/
’ldで配線する。抵抗器左および乙の他端は半導体l
と半導体コの接続点へそれぞれ導線/+eおよび/If
で配線される。コンデンサ7とgおよび抵抗器Sと6と
は各々近接して配設されているから、上記導線//%a
と/41b、/’Icと/ Q d、および/4(eと
/+fは各々近接して配線することが可能で第3図に示
すようにツイストすなわちより合わすことも容易にでき
る。従って全配線長に対してツイスト範囲の割合を高く
することができる。
今、サージ電圧が発生した半導体−のカソード側電位が
半導体/のアノード側電位に比べて高(なった場合半導
体/のスナバ−回路の電流は半導体lのカソード−抵抗
器S−コンデンサクー半導体lのアノードの方向に流れ
る。一方半導体コの・スナバ−回路の電流は半導体コの
カソード−コンデンサg−抵抗器乙−半導体コのアノー
ドの方向(7) に流れる。このようにして配置/Qdと/’Ic、/&
aと/ 4’ b、およびlダeと/4’fにお互に逆
方向の電流が流れるのでこれらの電線をツイストするこ
とによって通電電流による導線のまわりに生ずる磁束を
打ち消し、配線の自己インダクタンスを減少させること
ができる。
半導体/のアノード側電位に比べて高(なった場合半導
体/のスナバ−回路の電流は半導体lのカソード−抵抗
器S−コンデンサクー半導体lのアノードの方向に流れ
る。一方半導体コの・スナバ−回路の電流は半導体コの
カソード−コンデンサg−抵抗器乙−半導体コのアノー
ドの方向(7) に流れる。このようにして配置/Qdと/’Ic、/&
aと/ 4’ b、およびlダeと/4’fにお互に逆
方向の電流が流れるのでこれらの電線をツイストするこ
とによって通電電流による導線のまわりに生ずる磁束を
打ち消し、配線の自己インダクタンスを減少させること
ができる。
半導体lと半導体−の直列回路に異常電圧が発生した場
合半導体/と半導体−の特性によって必ずしも半導体/
と半導体コとが異常電圧を等しく分担するものではなく
各スナバ−回路に流れる電流も同電流値でまたある程度
のアンバランスを生ずる。しかしこのスナバ−回路の電
流アンバランスは約10%程度であるから異ったスナバ
−回路θ)配線をツイストするだけでインダクタンスの
低減効果が充分得られる。
合半導体/と半導体−の特性によって必ずしも半導体/
と半導体コとが異常電圧を等しく分担するものではなく
各スナバ−回路に流れる電流も同電流値でまたある程度
のアンバランスを生ずる。しかしこのスナバ−回路の電
流アンバランスは約10%程度であるから異ったスナバ
−回路θ)配線をツイストするだけでインダクタンスの
低減効果が充分得られる。
第6図は抵抗器Sおよび乙と半導体lと半導体コとの接
続線との配線を7本にした場合で第S図と同様の効果が
得られしかも配線が少なくなることから製作費の低減も
図れる。
続線との配線を7本にした場合で第S図と同様の効果が
得られしかも配線が少なくなることから製作費の低減も
図れる。
第7図は第S図および第6図に示すこの発明の(g)
配線方法を回路図で表わしたもので、第7図に示す従来
の回路と比べ抵抗器6とコンデンサgが入れ替わってい
るだけで性能的には全く同じ回路を示している。
の回路と比べ抵抗器6とコンデンサgが入れ替わってい
るだけで性能的には全く同じ回路を示している。
第S図はこの発明による他の実施例を示す図で半導体を
コ個並列に接続して用いる場合を示す。
コ個並列に接続して用いる場合を示す。
この図に示すように半導体コOと半導体2/とは電流分
担をできるだけ等しくするためにリアクトル22および
23を介して並列に接続されている。
担をできるだけ等しくするためにリアクトル22および
23を介して並列に接続されている。
半導体、20用のスナバ−回路はコンデンサコグと抵抗
器コロとから構成され、半導体2/のスナバ−回路はコ
ンデンサユSと抵抗器a7とから構成されている。コン
デンサ、2fとSSおよび抵抗器2乙と27は近接して
配置し各々スナバ−回路の配線も近接もしくはツイスト
して配線しである。
器コロとから構成され、半導体2/のスナバ−回路はコ
ンデンサユSと抵抗器a7とから構成されている。コン
デンサ、2fとSSおよび抵抗器2乙と27は近接して
配置し各々スナバ−回路の配線も近接もしくはツイスト
して配線しである。
第S図に示すように半導体jl17のスナバ−回路の配
線と半導体21のスナバ−回路の配線はお互に電流方向
が逆になるように半導体20および21に接続されてい
る。従って半導体が並列に接続される場合も第S図およ
び第6図に示す直列接続の場合と同様の効果を得ること
ができる。
線と半導体21のスナバ−回路の配線はお互に電流方向
が逆になるように半導体20および21に接続されてい
る。従って半導体が並列に接続される場合も第S図およ
び第6図に示す直列接続の場合と同様の効果を得ること
ができる。
以上のようにこの発明によれば、半導体が並列もしくは
直列に接続され、その各々のスナバ−回路の配線をお互
にツイストまたは近接させると共に各々のスナバ−回路
の配線に流れる電流方向がお互に逆方向になるようにす
ることにより、スナバ−回路の配線インダクタンスを減
少すると共に半導体にかかるサージ電圧の抑制を効果的
にしている。従ってサージ電圧が同程度の場合には、ス
ナバ−回路の部品定格を低減することが可能となり小形
かつ軽量で効率の高い半導体装置が得られる。
直列に接続され、その各々のスナバ−回路の配線をお互
にツイストまたは近接させると共に各々のスナバ−回路
の配線に流れる電流方向がお互に逆方向になるようにす
ることにより、スナバ−回路の配線インダクタンスを減
少すると共に半導体にかかるサージ電圧の抑制を効果的
にしている。従ってサージ電圧が同程度の場合には、ス
ナバ−回路の部品定格を低減することが可能となり小形
かつ軽量で効率の高い半導体装置が得られる。
特に、この発明は簡単な構成でもって多大の効果を得極
めて実用性の高いものである。
めて実用性の高いものである。
第1図は従来の半導体とスナバ−回路との構成を示す接
続図、第一図は従来のスナバ−回路の配線インダクタン
スを抑制するだめの配線方法を示す図、第3図は従来の
半導体装置を示す図、第9図は第3図の左側面図、第s
図、第6図、および第7図はこの発明の一実施例による
スナバ−回路配線を示す接続図、第g図はこの発明の他
の実施例によるスナバ−回路配線を示す接続図である。 図において/およびコはダイオード(半導体)、左およ
び乙は抵抗器、7およびgはコンデンサ、/4’il〜
/%fは配線1.20および、2/は半導体1.22お
よびλ3はリアクトル、2ケおよび、2左はコンデンサ
、λ乙および27は抵抗器である。 代理人 葛 野 信 − 手続補正書(自発) 特許庁長官殿 1、事件の表示 特願昭j&−/A3&A/号2
、発明の名称 半導体装置 3、補正をする者 5、補正の対象 (1) 明細書の発明の詳細な説明の欄(2)
図 面 6、補正の内容 (1) 明細書筒9頁ii行の1同電流値で才た」を
「同電流値でなく」と補正する。 (2) 図面の第3図を添付の図面写しの通シ符号を
補正する。 (コ) 弛4図 焔3図
続図、第一図は従来のスナバ−回路の配線インダクタン
スを抑制するだめの配線方法を示す図、第3図は従来の
半導体装置を示す図、第9図は第3図の左側面図、第s
図、第6図、および第7図はこの発明の一実施例による
スナバ−回路配線を示す接続図、第g図はこの発明の他
の実施例によるスナバ−回路配線を示す接続図である。 図において/およびコはダイオード(半導体)、左およ
び乙は抵抗器、7およびgはコンデンサ、/4’il〜
/%fは配線1.20および、2/は半導体1.22お
よびλ3はリアクトル、2ケおよび、2左はコンデンサ
、λ乙および27は抵抗器である。 代理人 葛 野 信 − 手続補正書(自発) 特許庁長官殿 1、事件の表示 特願昭j&−/A3&A/号2
、発明の名称 半導体装置 3、補正をする者 5、補正の対象 (1) 明細書の発明の詳細な説明の欄(2)
図 面 6、補正の内容 (1) 明細書筒9頁ii行の1同電流値で才た」を
「同電流値でなく」と補正する。 (2) 図面の第3図を添付の図面写しの通シ符号を
補正する。 (コ) 弛4図 焔3図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)並列または直列に接続される複数個の半導体の各
々にスナバ−回路を並列接続して構成される半導体装置
において、前記スナバ−回路の各々を互いに近接配置し
、各スナバ−回路の通電電流によって生ずる磁束を互い
に打消すように、前記半導体への配線接続を行ったこと
を特徴とする半導体装置。 (コ)前記スナバ−回路の各々はコンデンサおよび抵抗
器の直列接続体で構成される特許請求の範囲第1項記載
の半導体装置。 (3)前記スナバ−回路の配線を近接もしくはより合わ
すようにした特許請求の範囲第1項または第2項記載の
半導体装置。 (l/−)前記半導体が2個である場合に、前記スナバ
−回路に流れる電流方向を互いに逆向きになるよう配線
接続した特許請求の範囲第1項乃至第3項いずれか記載
の半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56163661A JPS5866575A (ja) | 1981-10-13 | 1981-10-13 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56163661A JPS5866575A (ja) | 1981-10-13 | 1981-10-13 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5866575A true JPS5866575A (ja) | 1983-04-20 |
JPS6336205B2 JPS6336205B2 (ja) | 1988-07-19 |
Family
ID=15778175
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56163661A Granted JPS5866575A (ja) | 1981-10-13 | 1981-10-13 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5866575A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6377478U (ja) * | 1986-11-11 | 1988-05-23 | ||
EP1081833A1 (en) * | 1999-09-06 | 2001-03-07 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Power converter apparatus |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102099121B1 (ko) * | 2019-02-08 | 2020-04-09 | (주)제이월드텍 | 식품 분쇄 조리 장치 |
-
1981
- 1981-10-13 JP JP56163661A patent/JPS5866575A/ja active Granted
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6377478U (ja) * | 1986-11-11 | 1988-05-23 | ||
EP1081833A1 (en) * | 1999-09-06 | 2001-03-07 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Power converter apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6336205B2 (ja) | 1988-07-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN1108657C (zh) | 功率逆变器装置 | |
JPS5866575A (ja) | 半導体装置 | |
JP7240073B2 (ja) | 電力変換装置 | |
JPH05292756A (ja) | 電力変換装置 | |
JPH1094256A (ja) | 電力変換素子モジュール | |
JP2735497B2 (ja) | スナバ回路 | |
JP7074175B2 (ja) | 電力変換装置 | |
JP3512457B2 (ja) | 電力変換装置 | |
JPS5866574A (ja) | 半導体装置 | |
JP2002044960A (ja) | 電力変換装置 | |
JP3213671B2 (ja) | 電力変換装置 | |
JP3315303B2 (ja) | 電動機制御装置 | |
JPH01209951A (ja) | 電力変換装置 | |
JPH088394A (ja) | 高速スイッチングデバイスの主回路構成方法 | |
US6335851B1 (en) | Current-limiting device | |
US6067242A (en) | Current balanced arms of AC/DC bridge rectifiers | |
JP2000295864A (ja) | 電力変換装置 | |
JPH0832187B2 (ja) | インバータ装置 | |
JPH0515055A (ja) | 限流器 | |
JP3160492B2 (ja) | スナバ回路 | |
JPH0583954A (ja) | 半導体スイツチ及びコンデンサの並列接続方法、並びにスイツチ回路及びインバータ装置 | |
JP2007312467A (ja) | スナバ回路 | |
WO2015019480A1 (ja) | 電力変換装置 | |
JP3391348B2 (ja) | 電力変換装置 | |
JPH06335249A (ja) | 沸騰冷却型電力変換装置 |