JPS5864172A - 穀粒の選別方法 - Google Patents
穀粒の選別方法Info
- Publication number
- JPS5864172A JPS5864172A JP16372481A JP16372481A JPS5864172A JP S5864172 A JPS5864172 A JP S5864172A JP 16372481 A JP16372481 A JP 16372481A JP 16372481 A JP16372481 A JP 16372481A JP S5864172 A JPS5864172 A JP S5864172A
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- JP
- Japan
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- sorting
- axis
- grains
- coordinate
- grain
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はピーナツ、小豆、或いは米等の穀粒の色差選別
方法に関する。
方法に関する。
従来より穀粒に光を投射しその反射光の光量により、所
望の穀粒のみを選別する種々な方法が知られている。そ
れらのうちひとつの方法としていわゆる色差選別方法が
ある。この色差選別方法は、穀粒からの反射光を赤系の
色相および明度を検出するセンサーと前糸の色相および
明度を検出するセンサーの二種類のセンサーによって選
択的に検出しこれらのセンサーから検出さする赤系およ
び前糸の検出信号レベルと、各々赤系および前糸に対し
て予め設定された選別基準レベルとを比較し検出信号レ
ベルが基準レベルよシも大きい場合にその穀粒を選別排
除するというものであった。
望の穀粒のみを選別する種々な方法が知られている。そ
れらのうちひとつの方法としていわゆる色差選別方法が
ある。この色差選別方法は、穀粒からの反射光を赤系の
色相および明度を検出するセンサーと前糸の色相および
明度を検出するセンサーの二種類のセンサーによって選
択的に検出しこれらのセンサーから検出さする赤系およ
び前糸の検出信号レベルと、各々赤系および前糸に対し
て予め設定された選別基準レベルとを比較し検出信号レ
ベルが基準レベルよシも大きい場合にその穀粒を選別排
除するというものであった。
上記従来の色差選別方法の原理１ｒ第１図を参照してよ
り具体的に説明する。即ち、第１図は赤系センサーより
検出される赤系検出信号レベルをたとえばＸ軸上にと９
、−男前系センサーより検出される青系検出信号レベル
をＸ軸上にとり、個々の穀粒に対して検出される検出信
号をＸＹ座標軸上に表わしたものである。第１図におい
て各々（ａ）（ｂ） （Ｃ）で示される直線は、対応す
る３個の穀粒の反射光から得られる赤および青系検出信
号レベルを各々ＸＹ座標軸上に合成信号として表示した
ものである。そしてこの場合赤系基準レベルｔｙ□と設
定し、青系基準レベルをＸ□としてそれぞれ設定してお
くと、合成信号（ａ）および（Ｃ）に対応する穀粒が選
別排除される。即ち検出信号が第１図において斜線内に
入った場合はすべて選別排除される。
り具体的に説明する。即ち、第１図は赤系センサーより
検出される赤系検出信号レベルをたとえばＸ軸上にと９
、−男前系センサーより検出される青系検出信号レベル
をＸ軸上にとり、個々の穀粒に対して検出される検出信
号をＸＹ座標軸上に表わしたものである。第１図におい
て各々（ａ）（ｂ） （Ｃ）で示される直線は、対応す
る３個の穀粒の反射光から得られる赤および青系検出信
号レベルを各々ＸＹ座標軸上に合成信号として表示した
ものである。そしてこの場合赤系基準レベルｔｙ□と設
定し、青系基準レベルをＸ□としてそれぞれ設定してお
くと、合成信号（ａ）および（Ｃ）に対応する穀粒が選
別排除される。即ち検出信号が第１図において斜線内に
入った場合はすべて選別排除される。
このような従来の方法は、赤系および前糸の検出信号を
赤系および青系基準レベルと個々に独立して比較してい
るので選別の精度を上げることに難点があった。つまり
、反射光の赤系および前糸の明度のみを基準レベルと設
定しているので、反射光の色相を考膳に入れていないこ
ととなり精度を上げるのが困難なのである。具体的には
、たとえば第、１図において、合成信号（ｂ）に相当す
る穀粒を選別排除したい場合に、基準レベルをｙｌとす
ると排除をしたくない合成信号（ａ）の穀粒をも排除し
合成信号（ｂ）及び（Ｃ）とで示される穀粒の反射光は
色相が甚だしく異なるにもかかわらず、前糸の基準レベ
ルたとえばｘ２ によっても判別が不可能となる不合
理な面を有していた。
赤系および青系基準レベルと個々に独立して比較してい
るので選別の精度を上げることに難点があった。つまり
、反射光の赤系および前糸の明度のみを基準レベルと設
定しているので、反射光の色相を考膳に入れていないこ
ととなり精度を上げるのが困難なのである。具体的には
、たとえば第、１図において、合成信号（ｂ）に相当す
る穀粒を選別排除したい場合に、基準レベルをｙｌとす
ると排除をしたくない合成信号（ａ）の穀粒をも排除し
合成信号（ｂ）及び（Ｃ）とで示される穀粒の反射光は
色相が甚だしく異なるにもかかわらず、前糸の基準レベ
ルたとえばｘ２ によっても判別が不可能となる不合
理な面を有していた。
本発明は、このような従来の欠点を除去し、選別精度を
格段に上げうる穀粒の選別方法を提供せんとするもので
ある。
格段に上げうる穀粒の選別方法を提供せんとするもので
ある。
この発明の穀粒選別方法の原理を上述の具体例を参照し
て説明すわば、第２図のように表わさｊる。すなわち第
２図は、第１図に示される合成信号（ａ）、（ｂｌ、（
ｃ） ｆ Ｘ Ｙ座標軸上でｅあるいｎθｌ（第１図の
合成信号（ｂ）が各々Ｙ１！ＩＩあるいはＸ軸となす角
度）回転させたもので、このようにすることにに選別基
準レベルｘ１°を設定すわば容易に所望の合成信号（ｂ
）に相当する穀粒のみを選別排除することができる０こ
の目的のため本発明の穀粒選別方法は、穀粒に光を投射
し、その反射光を赤系統と青系統とに識別して検出し、
これら２種類の検出信号を合成し、この合成信号＝ｉＸ
、Ｙ座標軸のまわりに所定角度回転させ、穀粒から得ら
れる反射光の上記合成信号の合成値がＸＭあるいはＸ軸
上に設定した所定の選別基準レベルよりも大きいときに
選別信号を発生し、所望の穀粒を選別する構成としてい
る。
て説明すわば、第２図のように表わさｊる。すなわち第
２図は、第１図に示される合成信号（ａ）、（ｂｌ、（
ｃ） ｆ Ｘ Ｙ座標軸上でｅあるいｎθｌ（第１図の
合成信号（ｂ）が各々Ｙ１！ＩＩあるいはＸ軸となす角
度）回転させたもので、このようにすることにに選別基
準レベルｘ１°を設定すわば容易に所望の合成信号（ｂ
）に相当する穀粒のみを選別排除することができる０こ
の目的のため本発明の穀粒選別方法は、穀粒に光を投射
し、その反射光を赤系統と青系統とに識別して検出し、
これら２種類の検出信号を合成し、この合成信号＝ｉＸ
、Ｙ座標軸のまわりに所定角度回転させ、穀粒から得ら
れる反射光の上記合成信号の合成値がＸＭあるいはＸ軸
上に設定した所定の選別基準レベルよりも大きいときに
選別信号を発生し、所望の穀粒を選別する構成としてい
る。
以下本発明の穀粒選別方法をその好ましい実施例に基づ
き図面を参照して説明する。
き図面を参照して説明する。
この発明の穀粒選別方法が適用される選別機構の概略を
第３図を参照しまず説明する。図において符号（１）で
示されるものは選別・対象である穀粒（ｎ・・・［Ｆ］
が投入されるホッパーであり、ホッパ−＋１１に投入さ
れた穀粒のは、フィーダ（２）を介してシュート（３）
に導かれ、このシュート（３）の下端部から放出される
各穀粒に対して本発明の方法が適用されて穀粒を選別し
ている。シー−） （３１から放出される穀粒の通路に
は、光が光源（４）によってあらかじめ照射されている
。穀粒によって反射した光は、ハーフミラ−（５１ｖＣ
より赤系統と青系統とを各々識別して検出する２種類の
センサー（６） （６）’によって受光さ４２種類の検
出信号をつくっている。これらセンサー（６） （６７
’は、たとえば半導体フォト・センサーの前方位置に赤
色系あるいは青色系の光フィルタ（６） （６１’によ
って検出された２種類の検出信号は各々検出信号処理回
路（力に入力され処理された後、選別基準レベルと比較
されて選別信号をエジェクタ（８）に出力している。そ
して検出され次反射光に対応する穀粒がエジェクタ（８
）の前方を通過する時にエジェクタ（８）が作動して穀
粒を、選別排出するようになされている。
第３図を参照しまず説明する。図において符号（１）で
示されるものは選別・対象である穀粒（ｎ・・・［Ｆ］
が投入されるホッパーであり、ホッパ−＋１１に投入さ
れた穀粒のは、フィーダ（２）を介してシュート（３）
に導かれ、このシュート（３）の下端部から放出される
各穀粒に対して本発明の方法が適用されて穀粒を選別し
ている。シー−） （３１から放出される穀粒の通路に
は、光が光源（４）によってあらかじめ照射されている
。穀粒によって反射した光は、ハーフミラ−（５１ｖＣ
より赤系統と青系統とを各々識別して検出する２種類の
センサー（６） （６）’によって受光さ４２種類の検
出信号をつくっている。これらセンサー（６） （６７
’は、たとえば半導体フォト・センサーの前方位置に赤
色系あるいは青色系の光フィルタ（６） （６１’によ
って検出された２種類の検出信号は各々検出信号処理回
路（力に入力され処理された後、選別基準レベルと比較
されて選別信号をエジェクタ（８）に出力している。そ
して検出され次反射光に対応する穀粒がエジェクタ（８
）の前方を通過する時にエジェクタ（８）が作動して穀
粒を、選別排出するようになされている。
つぎに、上記検出信号処理回路（７）の構成ならびに動
作を第４図を参照し説明する。検出信号処理回路（力は
、センサー（６１（６）’からの検出信号Ｘ、Ｙを受け
、それぞハ赤系統の信号をＸ座標に青系統の信号をＸ座
標に対応させるとともに、これら２種類の信号＝ｉＸＹ
座標軸のまわりに所定角度回転させるために所定の係数
を設定する係数設定器りυと係数設定された信号に所定
の加算を行い所定角度の回転を実行する加算器（ハ）と
、所定角度回転させた穀粒の反射光の合成信号であるＸ
’、Ｙ“出力と基準レベルＶＲＸ、ＶＲＹ とを比較
しエジェクタ（８）に選別信号を出力する比較器に）と
より構成されている。
作を第４図を参照し説明する。検出信号処理回路（力は
、センサー（６１（６）’からの検出信号Ｘ、Ｙを受け
、それぞハ赤系統の信号をＸ座標に青系統の信号をＸ座
標に対応させるとともに、これら２種類の信号＝ｉＸＹ
座標軸のまわりに所定角度回転させるために所定の係数
を設定する係数設定器りυと係数設定された信号に所定
の加算を行い所定角度の回転を実行する加算器（ハ）と
、所定角度回転させた穀粒の反射光の合成信号であるＸ
’、Ｙ“出力と基準レベルＶＲＸ、ＶＲＹ とを比較
しエジェクタ（８）に選別信号を出力する比較器に）と
より構成されている。
上記合成信号と対応させたＸ、Ｙ信号をＸＸ座標軸のま
わりにθ回転させるためには、Ｘ、Ｙ信号に対して各々
下記の演算を施して算出されるＸ。
わりにθ回転させるためには、Ｘ、Ｙ信号に対して各々
下記の演算を施して算出されるＸ。
およびＹ１信号を用いればよい。
Ｘ ’ ＝ Ｘ ｃｏｓθ＋ＹｓｉｎθＹ ’ ＝ Ｘ
ｓｉｎθ＋Ｙ ｃｏｓθしたがって、本発明の好まし
い実施例として上記演算を施すために正弦特性および余
弦特性を有し＆４連可変抵抗１ＶＲｘ、’ＶＲ２、ＶＢ
２およびＶＢ２を用いている。ＶＲｌおよびＶＢ２は可
変抵抗器の回転角度に対する抵抗値が余弦特性を有し、
ＶＢ２およびＶＢ２は同様に正弦特性を有している。こ
れら可変抵抗器からの出力をバッファを介して加算器に
入力し、加算器（７２を構成する演算増幅器（７２Ａ）
はＸ ｃｏｓθ＋Ｙｓｉｎθ の演算を、演算増幅器（
７２Ｂ）は−Ｘｓｉｎθ＋Ｙｃｏｓθの演算を各々行い
インバータ＜７２０）、（７２Ｄ）を介してＸ’ 、Ｙ
’比出力比較器り３に供給している。
ｓｉｎθ＋Ｙ ｃｏｓθしたがって、本発明の好まし
い実施例として上記演算を施すために正弦特性および余
弦特性を有し＆４連可変抵抗１ＶＲｘ、’ＶＲ２、ＶＢ
２およびＶＢ２を用いている。ＶＲｌおよびＶＢ２は可
変抵抗器の回転角度に対する抵抗値が余弦特性を有し、
ＶＢ２およびＶＢ２は同様に正弦特性を有している。こ
れら可変抵抗器からの出力をバッファを介して加算器に
入力し、加算器（７２を構成する演算増幅器（７２Ａ）
はＸ ｃｏｓθ＋Ｙｓｉｎθ の演算を、演算増幅器（
７２Ｂ）は−Ｘｓｉｎθ＋Ｙｃｏｓθの演算を各々行い
インバータ＜７２０）、（７２Ｄ）を介してＸ’ 、Ｙ
’比出力比較器り３に供給している。
所定角度θ回転させた穀粒の反射光の合成信号であるＸ
Ｉ ＳＹ’出力は、比較器（７３を構成する比較器（７
３Ａ）、（７３Ｂ）の反転入力端子に供給され、非反転
入力端子に供給される基準レベル■ＲＸ％ｖＲＹと比較
され選別信号をエジェクタ（８）に出力している。
Ｉ ＳＹ’出力は、比較器（７３を構成する比較器（７
３Ａ）、（７３Ｂ）の反転入力端子に供給され、非反転
入力端子に供給される基準レベル■ＲＸ％ｖＲＹと比較
され選別信号をエジェクタ（８）に出力している。
なお、第２図で示したよゲに選別基準レベルををＹ軸上
でｙＩ、Ｘ軸上でｘ］ｌと例示したが、こｌ れに限定するものではなく、たとえばＹ軸上での比較に
ｙＩのみでなくｘ］″、Ｘ１〃′等のＸ軸方向の選別範
囲を示す基準レベルを設定することや、巨：じ〈Ｘ軸上
での比較にＸ“のみでなくＶ１’、Ｖｌ”等のＹ軸方向
の選別範囲を示す基準レベルを設定することも可能であ
る。
でｙＩ、Ｘ軸上でｘ］ｌと例示したが、こｌ れに限定するものではなく、たとえばＹ軸上での比較に
ｙＩのみでなくｘ］″、Ｘ１〃′等のＸ軸方向の選別範
囲を示す基準レベルを設定することや、巨：じ〈Ｘ軸上
での比較にＸ“のみでなくＶ１’、Ｖｌ”等のＹ軸方向
の選別範囲を示す基準レベルを設定することも可能であ
る。
以上本発明の詳細な説明したように、２種類の検出信号
をＸＹ座標に対応して合成し、任意の合成信号のベクト
ル量に対するその大きさおよび方向を基準として選別基
準レベルを設定して穀粒の選別排除を行っているので、
従来のようにＸＹ座標のＸ軸およびＹ軸のスカラ量的な
大きさのみを基準レベルに設定する選別方法では得゛る
ことのできない精度の高い選別方法を提供できるという
特
をＸＹ座標に対応して合成し、任意の合成信号のベクト
ル量に対するその大きさおよび方向を基準として選別基
準レベルを設定して穀粒の選別排除を行っているので、
従来のようにＸＹ座標のＸ軸およびＹ軸のスカラ量的な
大きさのみを基準レベルに設定する選別方法では得゛る
ことのできない精度の高い選別方法を提供できるという
特
第１図は従来の穀粒選別方法の原理を示す図、第２図は
、本発明の穀粒選別方法の原理を示す図、第３図は本発
明の方法を適用した穀粒選別機構の概略図、第４図は本
発明の方法を実施するための好ましい実施例を示す具体
的電気回路ブロック図である。 （Ｉ）・・・ホッパ、（２）・・・ツイータ、（３１・
・・シュート、（４）・・・光源、（５）・・・ハーフ
ミラ−１＋６） （６１’・・・センサー、（７）・・
・検出信号処理回路、（７Ｉ）・・・係数設定器、■・
・・加算器、Ｑ３・・・比較器、（８）・・・エジェク
タ。 特許出願人 株式会社安西製作所 代理人弁理士 橘 高 郁 文ｌ） 第１図 第３図 息 ８ ・ Ｗ 盲
、本発明の穀粒選別方法の原理を示す図、第３図は本発
明の方法を適用した穀粒選別機構の概略図、第４図は本
発明の方法を実施するための好ましい実施例を示す具体
的電気回路ブロック図である。 （Ｉ）・・・ホッパ、（２）・・・ツイータ、（３１・
・・シュート、（４）・・・光源、（５）・・・ハーフ
ミラ−１＋６） （６１’・・・センサー、（７）・・
・検出信号処理回路、（７Ｉ）・・・係数設定器、■・
・・加算器、Ｑ３・・・比較器、（８）・・・エジェク
タ。 特許出願人 株式会社安西製作所 代理人弁理士 橘 高 郁 文ｌ） 第１図 第３図 息 ８ ・ Ｗ 盲
Claims (3)
- （１） 穀粒に光を投射し、その反射光を赤系統と青
系統とに識別して検出し、これら２種類の検出信号を各
々ＸＸ座標上のＸ座標およびＹ座標士に合成し、この合
成信号をＸＸ座標軸のまわりに所定角度回転させ、穀粒
から得られる反射光の上記、対応するＸあるいはＸ座標
がＸ軸あるいはＹ軸上に設定した所定の選別基準レベル
よりも大きいときに選別信号を発生し、所望の穀粒を選
別するこ゛とを特徴とする穀粒の選別方法。 - （２） 合成信号をＸＸ座標軸のまわりに回転させる
所定角４度は、回転させる前の所定ＸＸ座標がＸ軸上あ
るいはＹ軸上に一致する角度であることを特徴とする特
許請求の範囲第１項記軟の穀粒選別方法。 - （３）前記ＸＸ座標軸の１わりの回転が、正弦特性およ
び余弦特性を有した４連可変抵抗器と加算器とによって
行なわれる特許請求の範囲第１項あるいは第２功に記載
の穀粒の選別方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16372481A JPS5864172A (ja) | 1981-10-14 | 1981-10-14 | 穀粒の選別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16372481A JPS5864172A (ja) | 1981-10-14 | 1981-10-14 | 穀粒の選別方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5864172A true JPS5864172A (ja) | 1983-04-16 |
Family
ID=15779452
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16372481A Pending JPS5864172A (ja) | 1981-10-14 | 1981-10-14 | 穀粒の選別方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5864172A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6242778A (ja) * | 1985-08-16 | 1987-02-24 | 有限会社 安西総合研究所 | けい光物質を含む粒状物質の色彩選別機 |
| US5231449A (en) * | 1988-06-03 | 1993-07-27 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Zoom lens barrel and camera incorporating such barrel |
| US5262898A (en) * | 1988-06-03 | 1993-11-16 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Zoom lens barrel and camera incorporating such barrel |
| US5270868A (en) * | 1988-06-03 | 1993-12-14 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Zoom lens barrel and camera incorporating such barrel |
-
1981
- 1981-10-14 JP JP16372481A patent/JPS5864172A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6242778A (ja) * | 1985-08-16 | 1987-02-24 | 有限会社 安西総合研究所 | けい光物質を含む粒状物質の色彩選別機 |
| US5231449A (en) * | 1988-06-03 | 1993-07-27 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Zoom lens barrel and camera incorporating such barrel |
| US5262898A (en) * | 1988-06-03 | 1993-11-16 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Zoom lens barrel and camera incorporating such barrel |
| US5270868A (en) * | 1988-06-03 | 1993-12-14 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Zoom lens barrel and camera incorporating such barrel |
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