JP2890997B2 - 距離画像取得装置 - Google Patents
距離画像取得装置Info
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- JP2890997B2 JP2890997B2 JP26650192A JP26650192A JP2890997B2 JP 2890997 B2 JP2890997 B2 JP 2890997B2 JP 26650192 A JP26650192 A JP 26650192A JP 26650192 A JP26650192 A JP 26650192A JP 2890997 B2 JP2890997 B2 JP 2890997B2
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Description
【0001】
【技術分野】本発明は距離画像取得装置に関し、特に立
体計測装置に利用される距離画像取得装置に関する。
体計測装置に利用される距離画像取得装置に関する。
【0002】
【従来技術】物体などの三次元位置をテレビカメラから
入力された画像により求める装置として、本願出願人よ
り出願された特開昭64−039513号公報(特願昭
62−195379号)に記載された技術がある。この
距離画像取得装置によりカメラから物体までの距離を求
める方法の一例を図6を参照しつつ簡単に説明する。
入力された画像により求める装置として、本願出願人よ
り出願された特開昭64−039513号公報(特願昭
62−195379号)に記載された技術がある。この
距離画像取得装置によりカメラから物体までの距離を求
める方法の一例を図6を参照しつつ簡単に説明する。
【0003】スペクトルパターン投射装置(以下投射装
置とする)1からは赤から青のスペクトル光に分光され
たスペクトルパターンが物体6に投射される。画像デー
タはカメラ3内の異なる分光感度を有するセンサ5a,
5bにより取得される。尚、4は光分岐素子である。
置とする)1からは赤から青のスペクトル光に分光され
たスペクトルパターンが物体6に投射される。画像デー
タはカメラ3内の異なる分光感度を有するセンサ5a,
5bにより取得される。尚、4は光分岐素子である。
【0004】この画像データはA/D変換器10,11
を介して画像メモリ30,31に蓄積され、各画素毎に
比Rが次式にしたがって比画像演算部34で演算され
る。比画像演算部34で演算された比画像は比画像メモ
リ35に格納される。 R=I1 /(I1 +I2 ) ……(1) 但し、式(1)において、I1 は物体6上の任意の点P
が撮像されたセンサ5aの画素出力であり、I2 は同じ
くセンサ5bの画素出力である。
を介して画像メモリ30,31に蓄積され、各画素毎に
比Rが次式にしたがって比画像演算部34で演算され
る。比画像演算部34で演算された比画像は比画像メモ
リ35に格納される。 R=I1 /(I1 +I2 ) ……(1) 但し、式(1)において、I1 は物体6上の任意の点P
が撮像されたセンサ5aの画素出力であり、I2 は同じ
くセンサ5bの画素出力である。
【0005】いま、点Pの座標を(X,Z)とすると、
カメラ3から物体6までの距離Zは次式により求まる。 Z=(X0 −Z0 tanα)/(tanβ−tanα)……(2) 尚、(X0 ,Z0 )は投射装置1における放射の中心座
標を表す。
カメラ3から物体6までの距離Zは次式により求まる。 Z=(X0 −Z0 tanα)/(tanβ−tanα)……(2) 尚、(X0 ,Z0 )は投射装置1における放射の中心座
標を表す。
【0006】ここで、物体6の存在する空間に距離Za
にある較正用平面8と距離Zb にある較正用平面9との
2つの面を考える。まず、較正用平面8の位置に較正用
白板を置き、較正画像を撮像して各画素について式
(1)の比Rを求める。較正用平面8のZ座標はZa で
あるので、式(2)は次式となる。 Za =(X0 −Z0 tanα)/(tanβ−tanα)……(3)
にある較正用平面8と距離Zb にある較正用平面9との
2つの面を考える。まず、較正用平面8の位置に較正用
白板を置き、較正画像を撮像して各画素について式
(1)の比Rを求める。較正用平面8のZ座標はZa で
あるので、式(2)は次式となる。 Za =(X0 −Z0 tanα)/(tanβ−tanα)……(3)
【0007】αは比Rの関数であり、カメラ3での撮像
位置の座標xa は、レンズ中心から撮像面までの距離C
を定数として、角度βa を用いて表すと、次式となる。 xa =Ctanβa ……(4) また、較正用平面8に関してのxa は比Rの関数として
次式で表せる。 xa (R)=C[{X0 −Z0 tanα(R)}/Za +tanα(R)] ……(5)
位置の座標xa は、レンズ中心から撮像面までの距離C
を定数として、角度βa を用いて表すと、次式となる。 xa =Ctanβa ……(4) また、較正用平面8に関してのxa は比Rの関数として
次式で表せる。 xa (R)=C[{X0 −Z0 tanα(R)}/Za +tanα(R)] ……(5)
【0008】全く同様に、較正用平面9の位置に較正用
白板を置き、較正画像を撮像すると、RとXb(R)と
の関係として次式を得る。 xb (R)=C[{X0 −Z0 tanα(R)}/Zb +tanα(R)] ……(6)
白板を置き、較正画像を撮像すると、RとXb(R)と
の関係として次式を得る。 xb (R)=C[{X0 −Z0 tanα(R)}/Zb +tanα(R)] ……(6)
【0009】ところで、全ての単色光は投射装置1の一
点から空間に放射されていると考えることができる。そ
のため、波長に対応するある比Rの光線が較正用平面8
と交差する位置(Xa ,Za )から定まる直線は全て投
射装置1における放射の中心座標(X0 ,Z0 )を通る
はずである。
点から空間に放射されていると考えることができる。そ
のため、波長に対応するある比Rの光線が較正用平面8
と交差する位置(Xa ,Za )から定まる直線は全て投
射装置1における放射の中心座標(X0 ,Z0 )を通る
はずである。
【0010】そこで、較正用平面8の位置に較正用白板
を置いて第1の較正画像を取得すると、関数演算部37
はスイッチ36を介して比画像メモリ35に格納されて
いる比画像から較正用平面8における比Rの関数x
a (R)を求め、関数xa (R)を保持する。この関数
xa (R)は観測されたRa1≦R≦Ra2の範囲で値を有
する。尚、投射装置1から空間に放射されるスペクトル
パターンの波長λがλ1 ≦λ≦λ2 の範囲であった場合
に、上記のRa1,Ra2は夫々波長λ1 ,λ2 に対応する
比である。
を置いて第1の較正画像を取得すると、関数演算部37
はスイッチ36を介して比画像メモリ35に格納されて
いる比画像から較正用平面8における比Rの関数x
a (R)を求め、関数xa (R)を保持する。この関数
xa (R)は観測されたRa1≦R≦Ra2の範囲で値を有
する。尚、投射装置1から空間に放射されるスペクトル
パターンの波長λがλ1 ≦λ≦λ2 の範囲であった場合
に、上記のRa1,Ra2は夫々波長λ1 ,λ2 に対応する
比である。
【0011】同様に、較正用平面9の位置に較正用白板
を置いて第2の較正画像を取得すると、関数演算部38
は比画像メモリ35内の比画像から関数xb (R)を求
め、関数xb (R)を保持する。この関数xb (R)は
観測されたRb1≦R≦Rb2の範囲で値を有する。尚、R
b1,Rb2も夫々波長λ1 ,λ2 に対応する比である。
を置いて第2の較正画像を取得すると、関数演算部38
は比画像メモリ35内の比画像から関数xb (R)を求
め、関数xb (R)を保持する。この関数xb (R)は
観測されたRb1≦R≦Rb2の範囲で値を有する。尚、R
b1,Rb2も夫々波長λ1 ,λ2 に対応する比である。
【0012】回折位置較正部51は関数xa (R)およ
びxb (R)について、双方のRの定義域の重複部分の
各Rに関し、較正用平面8と交差する位置(Xa ,
Za )および較正用平面9と交差する位置(Xb ,
Zb )の各ペアを求める。これら各ペアを通る直線、つ
まりこれら各ペアと放射の中心座標(X0 ,Z0 )とを
通る直線は次式で表される。 Z=aR X+bR (R=R1 ,R2 ,……) ……(7)
びxb (R)について、双方のRの定義域の重複部分の
各Rに関し、較正用平面8と交差する位置(Xa ,
Za )および較正用平面9と交差する位置(Xb ,
Zb )の各ペアを求める。これら各ペアを通る直線、つ
まりこれら各ペアと放射の中心座標(X0 ,Z0 )とを
通る直線は次式で表される。 Z=aR X+bR (R=R1 ,R2 ,……) ……(7)
【0013】このとき、放射の中心座標(X0 ,Z0 )
は夫々最小自乗法により次式によって求まる。 X0 =[{Σ1/(aR 2 +1)}{ΣaR bR /(aR 2 +1)} −{ΣaR /(aR 2 +1)}{ΣbR /(aR 2 +1)}] /[{ΣaR /(aR 2 +1)}2 −{Σ1/(aR 2 +1)}{ΣaR 2 /(aR 2 +1)}] ……(8) Z0 =[{ΣaR bR /(aR 2 +1)}{ΣaR /(aR 2 +1)} −{ΣbR /(aR 2 +1)}{ΣaR 2 /(aR 2 +1)}] /[{ΣaR /(aR 2 +1)}2 −{Σ1/(aR 2 +1)}{ΣaR 2 /(aR 2 +1)}] ……(9) 但し、式(8),(9)において、ΣはR=R1 ,
R2 ,……の総和である。
は夫々最小自乗法により次式によって求まる。 X0 =[{Σ1/(aR 2 +1)}{ΣaR bR /(aR 2 +1)} −{ΣaR /(aR 2 +1)}{ΣbR /(aR 2 +1)}] /[{ΣaR /(aR 2 +1)}2 −{Σ1/(aR 2 +1)}{ΣaR 2 /(aR 2 +1)}] ……(8) Z0 =[{ΣaR bR /(aR 2 +1)}{ΣaR /(aR 2 +1)} −{ΣbR /(aR 2 +1)}{ΣaR 2 /(aR 2 +1)}] /[{ΣaR /(aR 2 +1)}2 −{Σ1/(aR 2 +1)}{ΣaR 2 /(aR 2 +1)}] ……(9) 但し、式(8),(9)において、ΣはR=R1 ,
R2 ,……の総和である。
【0014】以上から、任意の位置の物体上で比Rの点
が撮像面でxの位置に検知されたとき、そのZは次に示
す式(10),(11)を解いて式(12)で求められ
る。 Z=(Za −Z0 )(X−X0 )/(Xa −X0 )+Z0 ……(10) X=Ctanβ=CX/Z ……(11) Z=(Z0 Xa −Za X0 )C /{(Xa −X0 )C−(Za −Z0 )x} ……(12)
が撮像面でxの位置に検知されたとき、そのZは次に示
す式(10),(11)を解いて式(12)で求められ
る。 Z=(Za −Z0 )(X−X0 )/(Xa −X0 )+Z0 ……(10) X=Ctanβ=CX/Z ……(11) Z=(Z0 Xa −Za X0 )C /{(Xa −X0 )C−(Za −Z0 )x} ……(12)
【0015】ここで、(Xa ,Za )のかわりに
(Xb ,Zb )を用いても全く同様であるので、次式に
よってもZを求めることができる。 Z=(Z0 Xb −Zb X0 )C /{(Xb −X0 )C−(Zb −Z0 )x} ……(13)
(Xb ,Zb )を用いても全く同様であるので、次式に
よってもZを求めることができる。 Z=(Z0 Xb −Zb X0 )C /{(Xb −X0 )C−(Zb −Z0 )x} ……(13)
【0016】以上により、2回の較正画像入力によりX
0 ,Z0 が求まり、これにより実際の物体に対する画像
取得と距離算出が可能であり、距離演算部52により上
述の演算が行われ、その結果であるカメラ3から物体6
までの距離Zが距離画像メモリ43に格納されるのであ
る。
0 ,Z0 が求まり、これにより実際の物体に対する画像
取得と距離算出が可能であり、距離演算部52により上
述の演算が行われ、その結果であるカメラ3から物体6
までの距離Zが距離画像メモリ43に格納されるのであ
る。
【0017】このような従来の距離画像取得装置では、
人体計測などの分野に用いる場合、被計測者の恐怖心を
なくすためにある程度明るい環境が望ましいが、この環
境光に変動が生ずると、式(1)に誤差を含むので測定
誤差が生ずるという欠点がある。
人体計測などの分野に用いる場合、被計測者の恐怖心を
なくすためにある程度明るい環境が望ましいが、この環
境光に変動が生ずると、式(1)に誤差を含むので測定
誤差が生ずるという欠点がある。
【0018】また、投射装置1から投射されるスペクト
ルパターンがX軸およびZ軸に直交するY軸方向におい
て傾きを有する場合、式(12),(13)のxに誤差
を含むので、測定誤差が生ずるという欠点がある。
ルパターンがX軸およびZ軸に直交するY軸方向におい
て傾きを有する場合、式(12),(13)のxに誤差
を含むので、測定誤差が生ずるという欠点がある。
【0019】さらに、計測結果のみからでは物体上の任
意の点と距離画像上の位置との対応付けを自動的に行う
ことができないという欠点がある。
意の点と距離画像上の位置との対応付けを自動的に行う
ことができないという欠点がある。
【0020】
【発明の目的】本発明は上記のような従来のものの欠点
を除去すべくなされたもので、環境光の影響を受けるこ
となく距離画像を取得することができる距離画像取得装
置の提供を目的とする。また、本発明の他の目的は、ス
ペクトルパターン投射装置の傾きの影響を受けることな
く距離画像を取得することができる距離画像取得装置の
提供にある。さらに、本発明の別の目的は、物体上の任
意の点と距離画像上の位置との対応付けを自動的に行う
ことができる距離画像取得装置の提供にある。
を除去すべくなされたもので、環境光の影響を受けるこ
となく距離画像を取得することができる距離画像取得装
置の提供を目的とする。また、本発明の他の目的は、ス
ペクトルパターン投射装置の傾きの影響を受けることな
く距離画像を取得することができる距離画像取得装置の
提供にある。さらに、本発明の別の目的は、物体上の任
意の点と距離画像上の位置との対応付けを自動的に行う
ことができる距離画像取得装置の提供にある。
【0021】
【発明の構成】本発明による距離画像取得装置は、分光
されたスペクトルパターンを対象物に投射する投射手段
と、前記対象物の画像を異なる分光感度の複数のセンサ
で撮像するカメラとを有し、前記センサで撮像した画像
の各画素について前記対象物までの距離を算出する距離
画像取得装置であって、前記投射手段から投射される前
記スペクトルパターンを遮蔽する遮蔽手段と、前記遮蔽
手段による前記スペクトルパターンの遮蔽時の前記セン
サの出力を基に前記スペクトルパターンの投射時の前記
センサの出力から背景ノイズ成分を除去する除去手段と
を設け、前記除去手段によって前記背景ノイズ成分が除
去された前記センサの出力を基に前記対象物までの距離
を算出するようにしたことを特徴とする。
されたスペクトルパターンを対象物に投射する投射手段
と、前記対象物の画像を異なる分光感度の複数のセンサ
で撮像するカメラとを有し、前記センサで撮像した画像
の各画素について前記対象物までの距離を算出する距離
画像取得装置であって、前記投射手段から投射される前
記スペクトルパターンを遮蔽する遮蔽手段と、前記遮蔽
手段による前記スペクトルパターンの遮蔽時の前記セン
サの出力を基に前記スペクトルパターンの投射時の前記
センサの出力から背景ノイズ成分を除去する除去手段と
を設け、前記除去手段によって前記背景ノイズ成分が除
去された前記センサの出力を基に前記対象物までの距離
を算出するようにしたことを特徴とする。
【0022】本発明による他の距離画像取得装置は、分
光されたスペクトルパターンを対象物に投射する投射手
段と、前記対象物の画像を異なる分光感度の複数のセン
サで撮像するカメラとを有し、前記センサで撮像した画
像の各画素について前記対象物までの距離を算出する距
離画像取得装置であって、前記投射手段から投射される
前記スペクトルパターンの傾きを算出する傾き算出手段
と、前記傾き算出手段で算出された前記傾きを基に前記
スペクトルパターンの投射時に算出される前記対象物ま
での距離を補正する補正手段とを設けたことを特徴とす
る。
光されたスペクトルパターンを対象物に投射する投射手
段と、前記対象物の画像を異なる分光感度の複数のセン
サで撮像するカメラとを有し、前記センサで撮像した画
像の各画素について前記対象物までの距離を算出する距
離画像取得装置であって、前記投射手段から投射される
前記スペクトルパターンの傾きを算出する傾き算出手段
と、前記傾き算出手段で算出された前記傾きを基に前記
スペクトルパターンの投射時に算出される前記対象物ま
での距離を補正する補正手段とを設けたことを特徴とす
る。
【0023】本発明による別の距離画像取得装置は、分
光されたスペクトルパターンを対象物に投射する投射手
段と、前記対象物の画像を異なる分光感度の複数のセン
サで撮像するカメラとを有し、前記センサで撮像した画
像の各画素について前記対象物までの距離を算出する距
離画像取得装置であって、前記対象物上の任意の位置に
設置されかつ前記スペクトルパターン以外の単波長の光
を発光する発光手段と、前記センサで撮像した画像上の
前記発光手段の位置を検出する検出手段とを設けたこと
を特徴とする。
光されたスペクトルパターンを対象物に投射する投射手
段と、前記対象物の画像を異なる分光感度の複数のセン
サで撮像するカメラとを有し、前記センサで撮像した画
像の各画素について前記対象物までの距離を算出する距
離画像取得装置であって、前記対象物上の任意の位置に
設置されかつ前記スペクトルパターン以外の単波長の光
を発光する発光手段と、前記センサで撮像した画像上の
前記発光手段の位置を検出する検出手段とを設けたこと
を特徴とする。
【0024】
【実施例】次に、本発明の一実施例について図面を参照
して説明する。
して説明する。
【0025】図1は本発明の一実施例の光学系の構成を
示すブロック図であり、図2は本発明の一実施例のデー
タ処理系の構成を示すブロック図である。これらの図に
おいて、本発明の一実施例の光学系およびデータ処理系
のうち、図6に示す従来例との同等部分には同一符号を
付してあり、それらの同等部分の動作は従来例の動作と
同様である。尚、4a〜4dは光分岐素子である。
示すブロック図であり、図2は本発明の一実施例のデー
タ処理系の構成を示すブロック図である。これらの図に
おいて、本発明の一実施例の光学系およびデータ処理系
のうち、図6に示す従来例との同等部分には同一符号を
付してあり、それらの同等部分の動作は従来例の動作と
同様である。尚、4a〜4dは光分岐素子である。
【0026】スペクトルパターン投射装置(以下投射装
置とする)1はX−Z平面内において扇状の広がり角度
に対して一価関数となる波長のパターンを物体6に向け
投射する。図中、位置(X0 ,Z0 )は分光素子である
回折格子(図示せず)の回折位置を示す。
置とする)1はX−Z平面内において扇状の広がり角度
に対して一価関数となる波長のパターンを物体6に向け
投射する。図中、位置(X0 ,Z0 )は分光素子である
回折格子(図示せず)の回折位置を示す。
【0027】シャッタ2はスイッチ14〜17に同期し
て開閉し、閉じたときに投射装置1から物体6へのスペ
クトルパターンの投射を遮蔽する。すなわち、シャッタ
2は背景光画像入力時に閉じた状態となり、スペクトル
パターン投光画像入力時に開いた状態となる。
て開閉し、閉じたときに投射装置1から物体6へのスペ
クトルパターンの投射を遮蔽する。すなわち、シャッタ
2は背景光画像入力時に閉じた状態となり、スペクトル
パターン投光画像入力時に開いた状態となる。
【0028】物体6上の任意の点と距離画像上の位置と
の対応付けを行う場合、物体6の任意の計測点には発光
体7が設置される。投射装置1から空間に放射されるス
ペクトルパターンの波長λがλ1 ≦λ≦λ2 の範囲であ
った場合、発光体7はλ2 ≦λ≦λ3 の単波長の光を発
光する。
の対応付けを行う場合、物体6の任意の計測点には発光
体7が設置される。投射装置1から空間に放射されるス
ペクトルパターンの波長λがλ1 ≦λ≦λ2 の範囲であ
った場合、発光体7はλ2 ≦λ≦λ3 の単波長の光を発
光する。
【0029】スペクトルパターンが投射された物体6
は、異なる分光感度のセンサ5a〜5dを有するカメラ
3によって撮像される。これらセンサ5a〜5dの分光
感度は夫々順に図3(a)〜図3(d)に示すようにな
っている。カメラ3の4つのセンサ5a〜5dで得られ
た画像データA〜DはA/D変換器10〜13で夫々デ
ィジタル値に変換される。
は、異なる分光感度のセンサ5a〜5dを有するカメラ
3によって撮像される。これらセンサ5a〜5dの分光
感度は夫々順に図3(a)〜図3(d)に示すようにな
っている。カメラ3の4つのセンサ5a〜5dで得られ
た画像データA〜DはA/D変換器10〜13で夫々デ
ィジタル値に変換される。
【0030】スイッチ10〜13は背景画像Ib (x,
y)入力時に画像メモリ18,20,22,24側に切
替わり、スペクトルパターン投光画像Is (x,y)入
力時に画像メモリ19,21,23,25側に切替わ
る。背景補正部26〜29では補正画像Ic (x,y)
を算出し、画像メモリ30〜33に出力する。
y)入力時に画像メモリ18,20,22,24側に切
替わり、スペクトルパターン投光画像Is (x,y)入
力時に画像メモリ19,21,23,25側に切替わ
る。背景補正部26〜29では補正画像Ic (x,y)
を算出し、画像メモリ30〜33に出力する。
【0031】画像メモリ30〜33のデータは比画像演
算部34,44において各画素毎に比Rが計算され、比
画像演算部34,44の出力は比画像メモリ35,45
に格納される。
算部34,44において各画素毎に比Rが計算され、比
画像演算部34,44の出力は比画像メモリ35,45
に格納される。
【0032】比画像メモリ35からの読出しデータはス
イッチ36によって、測定前は関数演算部37,38お
よび光源傾き算出部40側に送出され、実際の測定時は
距離演算部42側に送出される。
イッチ36によって、測定前は関数演算部37,38お
よび光源傾き算出部40側に送出され、実際の測定時は
距離演算部42側に送出される。
【0033】実際の測定前のキャリブレーション時に、
関数演算部37は較正用平面8の位置に較正用白板を置
いて第1の較正画像を取得し、比画像メモリ35から読
出された比画像を基に較正用平面8における比Rの関数
xa (R)を求めて保持する。関数演算部38は較正用
平面9の位置に較正用白板を置いて第2の較正画像を取
得し、比画像メモリ35から読出された比画像を基に較
正用平面9における比Rの関数xb (R)を求めて保持
する。
関数演算部37は較正用平面8の位置に較正用白板を置
いて第1の較正画像を取得し、比画像メモリ35から読
出された比画像を基に較正用平面8における比Rの関数
xa (R)を求めて保持する。関数演算部38は較正用
平面9の位置に較正用白板を置いて第2の較正画像を取
得し、比画像メモリ35から読出された比画像を基に較
正用平面9における比Rの関数xb (R)を求めて保持
する。
【0034】回折位置較正部39は関数xa (R)およ
びxb (R)から回折位置を算出して保持する。光源傾
き算出部40は比画像メモリ35のデータを用いてスペ
クトルパターンの傾き角度(X−Z平面に直交するY軸
方向の傾き角度)を算出して保持する。
びxb (R)から回折位置を算出して保持する。光源傾
き算出部40は比画像メモリ35のデータを用いてスペ
クトルパターンの傾き角度(X−Z平面に直交するY軸
方向の傾き角度)を算出して保持する。
【0035】実際の測定時は関数演算部37,38に保
持された関数xa (R)およびxb(R)が関数補正部
41に入力される。関数補正部41では光源傾き算出部
40に保持された傾き角度を参照して関数を補正し、距
離演算部42に入力する。距離演算部42では補正関数
と回折位置較正部39に保持された回折位置とを参照し
て各画素毎に距離Zが求められ、距離画像メモリ43に
測定結果を保持する。
持された関数xa (R)およびxb(R)が関数補正部
41に入力される。関数補正部41では光源傾き算出部
40に保持された傾き角度を参照して関数を補正し、距
離演算部42に入力する。距離演算部42では補正関数
と回折位置較正部39に保持された回折位置とを参照し
て各画素毎に距離Zが求められ、距離画像メモリ43に
測定結果を保持する。
【0036】比画像メモリ45からの読出しデータは発
光体位置検出部46へ入力され、パラメータメモリ47
に保持された比Rと発光体波長との対応テーブル(図示
せず)を参照しつつ発光体7の位置を検出し、検出画像
メモリ48に出力する。
光体位置検出部46へ入力され、パラメータメモリ47
に保持された比Rと発光体波長との対応テーブル(図示
せず)を参照しつつ発光体7の位置を検出し、検出画像
メモリ48に出力する。
【0037】寸法演算部49は検出画像メモリ48に保
持された発光体位置データから任意の寸法演算(例え
ば、人体計測における肩幅の計測など)を行う。表示部
50は距離画像メモリ43のデータや検出画像メモリ4
8のデータ、および寸法演算部49に保持された寸法デ
ータを表示する。
持された発光体位置データから任意の寸法演算(例え
ば、人体計測における肩幅の計測など)を行う。表示部
50は距離画像メモリ43のデータや検出画像メモリ4
8のデータ、および寸法演算部49に保持された寸法デ
ータを表示する。
【0038】次に、図1および図2に示す距離画像取得
装置の動作について説明する。まず、実際の測定に先立
って回折位置の較正および光源の傾きの算出が行われ
る。
装置の動作について説明する。まず、実際の測定に先立
って回折位置の較正および光源の傾きの算出が行われ
る。
【0039】投射装置1はX−Z平面内において扇状の
広がり角度に対して一価関数となる波長のパターンを物
体6に向け投射する。物体6は異なる分光感度のセンサ
5a,5bを有するカメラ3によって撮像される。カメ
ラ3の2つのセンサ5a,5bで得られた画像データは
A/D変換器10,11で夫々ディジタル値に変換され
る。
広がり角度に対して一価関数となる波長のパターンを物
体6に向け投射する。物体6は異なる分光感度のセンサ
5a,5bを有するカメラ3によって撮像される。カメ
ラ3の2つのセンサ5a,5bで得られた画像データは
A/D変換器10,11で夫々ディジタル値に変換され
る。
【0040】まず、シャッタ2を閉じてスペクトルパタ
ーンを遮蔽し、スイッチ14,15を画像メモリ18,
20側に切替えて背景画像Ib (x,y)を入力する。
続いて、シャッタ2を開いてスペクトルパターンを物体
6に投光し、スイッチ14,15を画像メモリ19,2
1側に切替えて投光画像Is (x,y)を入力する。
ーンを遮蔽し、スイッチ14,15を画像メモリ18,
20側に切替えて背景画像Ib (x,y)を入力する。
続いて、シャッタ2を開いてスペクトルパターンを物体
6に投光し、スイッチ14,15を画像メモリ19,2
1側に切替えて投光画像Is (x,y)を入力する。
【0041】背景補正部26,27では次式によって補
正画像Ic (x,y)を算出し、画像メモリ30,31
に出力する。 Ic (x,y) =Is (x,y)−Ib (x,y) ……(14)
正画像Ic (x,y)を算出し、画像メモリ30,31
に出力する。 Ic (x,y) =Is (x,y)−Ib (x,y) ……(14)
【0042】画像メモリ30,31のデータは比画像演
算部34において各画素毎に比Rが計算され、その出力
は比画像メモリ35に格納される。比画像メモリ35か
らの読出しデータはスイッチ36によって、関数演算部
37,38および光源傾き算出部40に送出される。
算部34において各画素毎に比Rが計算され、その出力
は比画像メモリ35に格納される。比画像メモリ35か
らの読出しデータはスイッチ36によって、関数演算部
37,38および光源傾き算出部40に送出される。
【0043】較正用平面8の位置に較正用白板を置いて
第1の較正画像を取得した場合、関数演算部37はスイ
ッチ36を介して比画像メモリ35から読出された比画
像を基に較正用平面8における比Rの関数xa (R)を
求めて保持する。関数xa (R)は観測されたRa1≦R
≦Ra2の範囲で値を有する。
第1の較正画像を取得した場合、関数演算部37はスイ
ッチ36を介して比画像メモリ35から読出された比画
像を基に較正用平面8における比Rの関数xa (R)を
求めて保持する。関数xa (R)は観測されたRa1≦R
≦Ra2の範囲で値を有する。
【0044】同様に、較正用平面9の位置に較正用白板
を置いて第2の較正画像を取得した場合、関数演算部3
8はスイッチ36を介して比画像メモリ35から読出さ
れた比画像を基に較正用平面9における比Rの関数xb
(R)を求めて保持する。関数xb (R)は観測された
Rb1≦R≦Rb2の範囲で値を有する。
を置いて第2の較正画像を取得した場合、関数演算部3
8はスイッチ36を介して比画像メモリ35から読出さ
れた比画像を基に較正用平面9における比Rの関数xb
(R)を求めて保持する。関数xb (R)は観測された
Rb1≦R≦Rb2の範囲で値を有する。
【0045】回折位置較正部39は関数xa (R)およ
びxb (R)について、双方のRの定義域の重複部分の
Rについて、式(2)により適当な定数Cを用いて(X
a ,Za ),(Xb ,Zb )のペアを求め、式(3)お
よび式(4)により回折位置(X0 ,Z0 )を求める。
求められた回折位置(X0 ,Z0 )は回折位置較正部3
9に保持される。
びxb (R)について、双方のRの定義域の重複部分の
Rについて、式(2)により適当な定数Cを用いて(X
a ,Za ),(Xb ,Zb )のペアを求め、式(3)お
よび式(4)により回折位置(X0 ,Z0 )を求める。
求められた回折位置(X0 ,Z0 )は回折位置較正部3
9に保持される。
【0046】光源傾き算出部40は図4に示すように、
比画像メモリ35から同じ値の直線を抽出し、その直線
とY軸とのなす角度θ(スペクトルパターンの傾き角
度)を算出し、結果を保持する。Y軸はカメラ3の光軸
を原点とし、図1のX軸に垂直な座標軸である。
比画像メモリ35から同じ値の直線を抽出し、その直線
とY軸とのなす角度θ(スペクトルパターンの傾き角
度)を算出し、結果を保持する。Y軸はカメラ3の光軸
を原点とし、図1のX軸に垂直な座標軸である。
【0047】実際の距離測定の場合、物体6の画像は上
述した回折位置の較正時と同様に取得され、比画像メモ
リ35,45に比画像が格納される。比画像メモリ35
からの読出しデータはスイッチ36によって距離演算部
42に送出される。距離演算部42では回折位置較正部
39に保持された回折位置(X0 ,Z0 )、関数補正部
41に保持された補正関数を参照しつつ、式(12),
(13)にしたがって各画素毎に距離が算出される。
述した回折位置の較正時と同様に取得され、比画像メモ
リ35,45に比画像が格納される。比画像メモリ35
からの読出しデータはスイッチ36によって距離演算部
42に送出される。距離演算部42では回折位置較正部
39に保持された回折位置(X0 ,Z0 )、関数補正部
41に保持された補正関数を参照しつつ、式(12),
(13)にしたがって各画素毎に距離が算出される。
【0048】ここで、関数補正部41は光源傾き算出部
40に保持された傾き角と、関数演算部37,38に保
持された関数xa (R)およびxb (R)を用いて補正
関数x′a (R,y),x′b (R,y)を算出する。
40に保持された傾き角と、関数演算部37,38に保
持された関数xa (R)およびxb (R)を用いて補正
関数x′a (R,y),x′b (R,y)を算出する。
【0049】例えば、図5において画素アドレス
(x1 ,y1 )に得られた比をR1 とすると、xa は角
度θを用いて次式で補正される。 x′a (R1 ,y1 ) =x1 −y1 tanθ ……(15) xb も同様に次式で補正される。 x′b (R1 ,y1 ) =x1 −y1 tanθ ……(16)
(x1 ,y1 )に得られた比をR1 とすると、xa は角
度θを用いて次式で補正される。 x′a (R1 ,y1 ) =x1 −y1 tanθ ……(15) xb も同様に次式で補正される。 x′b (R1 ,y1 ) =x1 −y1 tanθ ……(16)
【0050】一方、発光体7から発光された光は異なる
分光感度のセンサ5c,5dを有するカメラ3によって
撮像される。カメラ3の2つのセンサ5c,5dで得ら
れた画像データはA/D変換器12,13で夫々ディジ
タル値に変換される。
分光感度のセンサ5c,5dを有するカメラ3によって
撮像される。カメラ3の2つのセンサ5c,5dで得ら
れた画像データはA/D変換器12,13で夫々ディジ
タル値に変換される。
【0051】まず、発光体7からの発光を停止し、スイ
ッチ16,17を画像メモリ22,24側に切替えて背
景画像Ib (x,y)を入力する。続いて、発光体7か
らの発光を開始してスイッチ16,17を画像メモリ2
3,25側に切替えて投光画像Is (x,y)を入力す
る。
ッチ16,17を画像メモリ22,24側に切替えて背
景画像Ib (x,y)を入力する。続いて、発光体7か
らの発光を開始してスイッチ16,17を画像メモリ2
3,25側に切替えて投光画像Is (x,y)を入力す
る。
【0052】背景補正部28,29では式(14)によ
って補正画像Ic (x,y)を算出し、画像メモリ3
2,33に出力する。画像メモリ32,33のデータは
比画像演算部44において各画素毎に比Rが計算され、
その出力は比画像メモリ45に格納される。
って補正画像Ic (x,y)を算出し、画像メモリ3
2,33に出力する。画像メモリ32,33のデータは
比画像演算部44において各画素毎に比Rが計算され、
その出力は比画像メモリ45に格納される。
【0053】比画像メモリ45からの読出しデータは発
光体位置検出部46へ入力される。発光体位置検出部4
6は既知の発光体7の波長で定まる比Rの値をパラメー
タメモリ47から求め、その値を持つ画素位置を比画像
メモリ45から検出する。パラメータメモリ47に保持
された比Rと発光体波長との対応テーブルを参照しつつ
発光体7の位置を検出し、検出位置にフラグを立てて検
出画像メモリ48に出力する。
光体位置検出部46へ入力される。発光体位置検出部4
6は既知の発光体7の波長で定まる比Rの値をパラメー
タメモリ47から求め、その値を持つ画素位置を比画像
メモリ45から検出する。パラメータメモリ47に保持
された比Rと発光体波長との対応テーブルを参照しつつ
発光体7の位置を検出し、検出位置にフラグを立てて検
出画像メモリ48に出力する。
【0054】パラメータメモリ47にはセンサ5c,5
dの分光感度の比を次式で求めておき、比Rと波長との
対応テーブルとして格納しておく。 R(λ)=δ1 (λ)/[δ1 (λ)+δ2 (λ)] ……(17) 尚、δ1 はセンサ5cの分光感度、δ2 はセンサ5dの
分光感度を表す。
dの分光感度の比を次式で求めておき、比Rと波長との
対応テーブルとして格納しておく。 R(λ)=δ1 (λ)/[δ1 (λ)+δ2 (λ)] ……(17) 尚、δ1 はセンサ5cの分光感度、δ2 はセンサ5dの
分光感度を表す。
【0055】寸法演算部49は検出画像メモリ48に保
持された発光体位置データから任意の寸法演算を行う。
表示部50は距離画像メモリ43のデータや検出画像メ
モリ48のデータ、および寸法演算部49に保持された
寸法データを表示する。
持された発光体位置データから任意の寸法演算を行う。
表示部50は距離画像メモリ43のデータや検出画像メ
モリ48のデータ、および寸法演算部49に保持された
寸法データを表示する。
【0056】上述した例では投射装置1を構成する分光
素子が回折格子の場合について述べたが、これが他の分
光素子、例えばプリズムなどを用いた場合であっても同
じ要領で容易に実施することができ、同じ効果が得られ
ることは明らかである。
素子が回折格子の場合について述べたが、これが他の分
光素子、例えばプリズムなどを用いた場合であっても同
じ要領で容易に実施することができ、同じ効果が得られ
ることは明らかである。
【0057】このように、シャッタ2を閉じて投射装置
1からのスペクトルパターンの投射を遮蔽したときにカ
メラ3で撮像された背景画像と、シャッタ2を開いてス
ペクトルパターンを物体6に投光したときにカメラ3で
撮像された投光画像とから背景補正部26,27で補正
画像を算出することによって、環境光の影響を受けるこ
となく距離画像を取得することができる。
1からのスペクトルパターンの投射を遮蔽したときにカ
メラ3で撮像された背景画像と、シャッタ2を開いてス
ペクトルパターンを物体6に投光したときにカメラ3で
撮像された投光画像とから背景補正部26,27で補正
画像を算出することによって、環境光の影響を受けるこ
となく距離画像を取得することができる。
【0058】また、光源傾き算出部40で比画像メモリ
35から抽出した直線とY軸とのなす角度θ(スペクト
ルパターンの傾き角度)を算出し、この結果と関数演算
部37,38に保持された関数とを用いて関数補正部4
1で補正関数を算出することによって、スペクトルパタ
ーン投射装置1の傾きの影響を受けることなく距離画像
を取得することができる。
35から抽出した直線とY軸とのなす角度θ(スペクト
ルパターンの傾き角度)を算出し、この結果と関数演算
部37,38に保持された関数とを用いて関数補正部4
1で補正関数を算出することによって、スペクトルパタ
ーン投射装置1の傾きの影響を受けることなく距離画像
を取得することができる。
【0059】さらに、発光体位置検出部46で物体6に
設置した発光体7からの既知の波長で定まる比Rの値を
パラメータメモリ47から求め、その値を持つ画素位置
を比画像メモリ45から検出して発光体7の位置を検出
することによって、物体6上の任意の点と取得された距
離画像上の位置との対応付けを自動的に行うことができ
る。
設置した発光体7からの既知の波長で定まる比Rの値を
パラメータメモリ47から求め、その値を持つ画素位置
を比画像メモリ45から検出して発光体7の位置を検出
することによって、物体6上の任意の点と取得された距
離画像上の位置との対応付けを自動的に行うことができ
る。
【0060】
【発明の効果】以上説明したように本発明の距離画像取
得装置によれば、対象物に投射されるスペクトルパター
ンを遮蔽したときのセンサ出力を基にスペクトルパター
ンを投射したときのセンサ出力から背景ノイズ成分を除
去し、この背景ノイズ成分を除去したセンサ出力を基に
対象物までの距離を算出することによって、環境光の影
響を受けることなく距離画像を取得することができると
いう効果がある。
得装置によれば、対象物に投射されるスペクトルパター
ンを遮蔽したときのセンサ出力を基にスペクトルパター
ンを投射したときのセンサ出力から背景ノイズ成分を除
去し、この背景ノイズ成分を除去したセンサ出力を基に
対象物までの距離を算出することによって、環境光の影
響を受けることなく距離画像を取得することができると
いう効果がある。
【0061】また、本発明の他の距離画像取得装置によ
れば、対象物に投射されるスペクトルパターンの傾きを
算出し、この算出結果を基にスペクトルパターンを投射
したときに算出される対象物までの距離を補正すること
によって、スペクトルパターン投射装置の傾きの影響を
受けることなく距離画像を取得することができるという
効果がある。
れば、対象物に投射されるスペクトルパターンの傾きを
算出し、この算出結果を基にスペクトルパターンを投射
したときに算出される対象物までの距離を補正すること
によって、スペクトルパターン投射装置の傾きの影響を
受けることなく距離画像を取得することができるという
効果がある。
【0062】さらに、本発明の別の距離画像取得装置に
よれば、スペクトルパターン以外の単波長の光を発光す
る発光手段を対象物上の任意の位置に設置し、センサで
撮像した画像上の発光手段の位置を検出することによっ
て、物体上の任意の点と距離画像上の位置との対応付け
を自動的に行うことができるという効果がある。
よれば、スペクトルパターン以外の単波長の光を発光す
る発光手段を対象物上の任意の位置に設置し、センサで
撮像した画像上の発光手段の位置を検出することによっ
て、物体上の任意の点と距離画像上の位置との対応付け
を自動的に行うことができるという効果がある。
【図1】本発明の一実施例の光学系の構成を示すブロッ
ク図である。
ク図である。
【図2】本発明の一実施例のデータ処理系の構成を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図3】(a)は図1のセンサ5aの分光感度を示す
図、(b)は図1のセンサ5bの分光感度を示す図、
(c)は図1のセンサ5cの分光感度を示す図、(d)
は図1のセンサ5dの分光感度を示す図である。
図、(b)は図1のセンサ5bの分光感度を示す図、
(c)は図1のセンサ5cの分光感度を示す図、(d)
は図1のセンサ5dの分光感度を示す図である。
【図4】図2の光源傾き算出部による光源傾き検出を説
明するための図である。
明するための図である。
【図5】図2の関数補正部による関数補正を説明するた
めの図である。
めの図である。
【図6】従来例の構成を示すブロック図である。
1 スペクトルパターン投射装置 2 シャッタ 3 カメラ 4a〜4d 光分岐素子 5a〜5d センサ 6 物体 7 発光体 14〜17,36 スイッチ 18〜25,30〜33 画像メモリ 26〜29 背景補正部 34,44 比画像演算部 35,45 比画像メモリ 37,38 関数演算部 39 回折位置較正部 40 光源傾き算出部 41 関数補正部 42 距離演算部 43 距離画像メモリ 46 発光体位置検出部 47 パラメータメモリ 48 検出画像メモリ 49 寸法演算部 50 表示部
Claims (3)
- 【請求項1】 分光されたスペクトルパターンを対象物
に投射する投射手段と、前記対象物の画像を異なる分光
感度の複数のセンサで撮像するカメラとを有し、前記セ
ンサで撮像した画像の各画素について前記対象物までの
距離を算出する距離画像取得装置であって、前記投射手
段から投射される前記スペクトルパターンを遮蔽する遮
蔽手段と、前記遮蔽手段による前記スペクトルパターン
の遮蔽時の前記センサの出力を基に前記スペクトルパタ
ーンの投射時の前記センサの出力から背景ノイズ成分を
除去する除去手段とを設け、前記除去手段によって前記
背景ノイズ成分が除去された前記センサの出力を基に前
記対象物までの距離を算出するようにしたことを特徴と
する距離画像取得装置。 - 【請求項2】 分光されたスペクトルパターンを対象物
に投射する投射手段と、前記対象物の画像を異なる分光
感度の複数のセンサで撮像するカメラとを有し、前記セ
ンサで撮像した画像の各画素について前記対象物までの
距離を算出する距離画像取得装置であって、前記投射手
段から投射される前記スペクトルパターンの傾きを算出
する傾き算出手段と、前記傾き算出手段で算出された前
記傾きを基に前記スペクトルパターンの投射時に算出さ
れる前記対象物までの距離を補正する補正手段とを設け
たことを特徴とする距離画像取得装置。 - 【請求項3】 分光されたスペクトルパターンを対象物
に投射する投射手段と、前記対象物の画像を異なる分光
感度の複数のセンサで撮像するカメラとを有し、前記セ
ンサで撮像した画像の各画素について前記対象物までの
距離を算出する距離画像取得装置であって、前記対象物
上の任意の位置に設置されかつ前記スペクトルパターン
以外の単波長の光を発光する発光手段と、前記センサで
撮像した画像上の前記発光手段の位置を検出する検出手
段とを設けたことを特徴とする距離画像取得装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26650192A JP2890997B2 (ja) | 1992-09-09 | 1992-09-09 | 距離画像取得装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP26650192A JP2890997B2 (ja) | 1992-09-09 | 1992-09-09 | 距離画像取得装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0694450A JPH0694450A (ja) | 1994-04-05 |
JP2890997B2 true JP2890997B2 (ja) | 1999-05-17 |
Family
ID=17431798
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP26650192A Expired - Fee Related JP2890997B2 (ja) | 1992-09-09 | 1992-09-09 | 距離画像取得装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2890997B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6720876B2 (ja) | 2014-12-25 | 2020-07-08 | 日本電気株式会社 | 画像処理方法及び画像処理装置 |
-
1992
- 1992-09-09 JP JP26650192A patent/JP2890997B2/ja not_active Expired - Fee Related
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---|---|
JPH0694450A (ja) | 1994-04-05 |
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