JPS586231B2 - 半導体記憶装置の駆動方法 - Google Patents

半導体記憶装置の駆動方法

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JPS586231B2
JPS586231B2 JP52080048A JP8004877A JPS586231B2 JP S586231 B2 JPS586231 B2 JP S586231B2 JP 52080048 A JP52080048 A JP 52080048A JP 8004877 A JP8004877 A JP 8004877A JP S586231 B2 JPS586231 B2 JP S586231B2
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JP
Japan
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clock
driving
circuit
address
column
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JP52080048A
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English (en)
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JPS5414131A (en
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中野富男
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C8/00Arrangements for selecting an address in a digital store
    • G11C8/18Address timing or clocking circuits; Address control signal generation or management, e.g. for row address strobe [RAS] or column address strobe [CAS] signals

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半導体記憶装置に関し、特にそのアドレス回路
の駆動方法に関する。
ダイナミック動作型のMOS型記憶装置(メモリ)のア
ドレス回路は、その働きによりワードラインを選択する
行側アドレス回路をビットラインを選択する列側アドレ
ス回路とに分けられるが、一般に行側アドレス回路と列
側アドレス回路とは同一のクロツクにより動作させてい
る。
マルチプレツクス方式を採用しないコンピュータシステ
ムにおいて、列側と行側のアドレス回路とを同一のクロ
ツクで動作させると、行側のみを動作させた場合に比較
し、クロツク発生回路の負担が2倍となる。
このため、クロツクのスピードは遅くなり、その結果ア
ドレス回路のスピードも遅くなるという欠点がある。
本発明は上述の如き従来の欠点を改善する新規な発明で
あり、その目的は従来のダイナミック動作型のMOSメ
モリの構成を大幅に変えることなく、アドレス指定のス
ピードを速くすることができるようなアドレス指定回路
の駆動方法を提供することにある。
その目的を達成せしめるため、本発明の半導体記憶装置
の駆動方法は、所定のワードラインとビットラインを選
択して所望のメモリセルを選択するダイナミック型のラ
ンダム・アクセス・メモリにおいて、単一の外部クロツ
クから生成される行側アドレス回路を駆動するクロツク
と列側アドレス回路を駆動するクロツクとを異なったタ
イミングとし、かつ列側アドレス回路を駆動するクロツ
クを行側アドレス回路を駆動するクロックよりも遅れタ
イミングとしたことを特徴とするもので、以下実施例に
ついて詳細に説明する。
第1図は本発明の実施例を示すブロック図である。
同図において、1はメモリセルマトリックスでM個×N
個のメモリセルからなる。
2はワードデコーダで、Mビットの出力端を持つ、3は
コラムデコーダで、Nビットの出力端を持つ。
4はワード線側のアドレスバツファ、5はビット線側の
アドレスバツファ、6はクロツク発生器で、後述するが
、クロック発生器に加えられる外部クロツクをもとにし
てタイミングの異なる5つのクロツクφ′1,φ″1,
φ2,φ3,φ4を発生する。
7は入出力回路である。
本発明においては、アドレスバツファを駆動するクロツ
クをワード線側アドレスバツファを駆動するクロツクφ
′1とビツト線側アドレスバツファを駆動するクロツク
φ′1とに分けかつその発生タイミングを第2図に示す
ようにクロツクφへの発生をクロツクφ′1よりも遅く
する。
この理由は、ワード線側アドレスバツファは、ワード線
を選択するため、スピードを出来得る限り早くする必要
があるが、一方ビツト線側アドレスバツファは、ワード
線が選択された後にビツト線を選択すれば良いので、ワ
ード線側アドレスバツファ程スピードを必要としないた
めである。
これにより、従来の如く、ワード線側とビツト線側のア
ドレスバツファを同時に駆動する時よりもワード線側ア
ドレスバツファのスピードは早くなり、ワード線が選択
されるスピードも早くなる。
一方、列側のアドレスバツファのスピードは遅れるが、
ビツト線を選択するまでは時間的に十分余裕があるため
、この遅れは問題にならない。
なお、上記実施例におけるクロツク発生器は、外部から
加えられたクロツクをもとにして5つのクロツクを作成
しているが、クロツク発生器の中で基本クロツクを発生
させる自励型のクロツク発生器を用いてもよい。
以上詳細に説明したように、本発明の半導体記憶装置の
駆動方法では、単一の外部クロツクから生成される行側
アドレス回路を駆動するクロツクと列側アドレス回路を
駆動するクロツクとを異なったタイミングとし、かつ列
側アドレス回路を駆動するクロツクを行側アドレス回路
を駆動するクロツクよりも遅れタイミングとしたので、
外部MOSレベル駆動方式におけるメモリでは、外部駆
動信号の負荷を軽減し、単一のMOSドライバによるメ
モリのドライブ可能な数を増し、よってMOSドライバ
の数を減少し、システムコストを低減できる。
また、内部において基本クロツクを発生せしめるメモリ
では、基本クロツク発生回路の負荷を低減できるので、
低消費電力(特に待期時)、高速度等のメモリのパーフ
オーマンスが向上する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロツク図、第2図は
クロツク信号のタイミング図である。 図中、1はメモリセルマトリツクス、2はワードデコー
ダ、3はコラムデコーダ、4はワード線側のアドレスバ
ツファ、5はビツト線側のアドレスバツファ、6はクロ
ツク発生器である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 所定のワードラインとビットラインを選択して所望
    のメモリセルを選択するダイナミック型のランダム・ア
    クセス・メモリにおいて、単一の外部クロックから生成
    される行側アドレス回路を駆動するクロツクと列側アド
    レス回路を駆動するクロツクとを異なったタイミングと
    し、かつ列側アドレス回路を駆動するクロツクを行側ア
    ドレス回路を駆動するクロツクよりも遅れタイミングと
    したことを特徴とする半導体記憶装置の駆動方法。
JP52080048A 1977-07-04 1977-07-04 半導体記憶装置の駆動方法 Expired JPS586231B2 (ja)

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JPS5414131A JPS5414131A (en) 1979-02-02
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6052513B2 (ja) * 1981-12-02 1985-11-19 富士通株式会社 半導体記憶装置
JPS63136388A (ja) * 1986-11-27 1988-06-08 Nec Corp メモリ装置
JPH02228130A (ja) * 1989-03-01 1990-09-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd ディジタル・アナログ変換器

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3969706A (en) * 1974-10-08 1976-07-13 Mostek Corporation Dynamic random access memory misfet integrated circuit

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JPS5414131A (en) 1979-02-02

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