JPS5860585A - 高分子圧電体の製造方法 - Google Patents

高分子圧電体の製造方法

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JPS5860585A
JPS5860585A JP56158191A JP15819181A JPS5860585A JP S5860585 A JPS5860585 A JP S5860585A JP 56158191 A JP56158191 A JP 56158191A JP 15819181 A JP15819181 A JP 15819181A JP S5860585 A JPS5860585 A JP S5860585A
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vdf
heat treatment
trfe
phase transition
film
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Koji Daito
弘二 大東
Keiko Koga
啓子 古賀
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Toray Industries Inc
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Daikin Industries Ltd
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    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H10N30/01Manufacture or treatment
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  • Processing And Handling Of Plastics And Other Materials For Molding In General (AREA)
  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、高性能の厚み圧電性を有する高分子FI−電
体の製造方法に関する。
高分子圧電体として従来平面ジグザグ構造(■型あZい
はβ型と呼ばれる)を持つ膜を高電場ドでポーリングし
たポリフッ化ビニリチン(P V ]、) F’ 、’
)が最もよく研究されている。PVDFの常圧ti: 
融成型物あるいは溶液からキャストして得ら7する成形
物は■型またはβ型と呼ばれるT G T G’  の
コン7オーメーンヨンを持つ結晶から構成されるが。
これは非圧電的であるので1通常、■型結晶から在る成
型物を一軸延伸あるいはロール圧延して■型に変換し、
これをポーリングして圧電膜を得ている5 しかしながら、このような延伸を伴う圧電膜の製造は多
くの制約が伴う。すなわち1例えば、きわめて薄い1摸
を得ることは困難である。、また他の素r1例えば半導
体素子と組合せる場合には、素j′−トに塗布形成する
ことができないので、延伸後]を后が必要である。さら
に、PVDFの圧電−化は通常数100 KV/cm以
上の高電場が必要であり、絶縁破壊等の問題が生ずるな
ど1種々の困難が伴っ7/。
本発明者らは、すでに、高分子圧電膜が超音波・7ノ発
振・受信が可能であり、音響インピータンスの低い超音
波l・ランスジユーザ材料として有効にfij用できる
ことを示した。このような目的の用途には厚み圧電性が
用いられ、これに関する圧電定数033.d6.あるい
は電気機械結合係数Ktが重要−Cある。、PVDFの
Ktは、最大でも02であり、この点ても、より大きい
Ktを持つ材料が望ま、fVてし・た。
最近、フッ化ビニリチン(VDF) と3フツ化エチL
/ 7 (Tr FK )の共重合体P (VDF−T
r FE−)、特にVDFを55mo1%含む共重合体
が比較的大きい横圧電効果d31を持つことが知られて
いる[1〜.開閉55−127086号公報、特開昭5
5−127087号公報、特開昭55−127085号
公報あるいr、−1東畑他、  Ferroelect
j、cs Vo’l、ろ2.P/85−92(1981
)]。dIIとd、、 e33. Ktは独立4・パラ
メーターである。我々は、d61とKtのV D h’
組成依存性が全く異なること、厚み圧電効果かVLIF
″65モル%で犬きく1、また結晶相転移点(Trn’
 、+月近以上の温度での熱処理によって大きいKtが
4HIられることを開示した(特願昭55−138ろ9
弓)4゜しかし、なから、 P (V、DBi’−Tr
FE)は次の問題、5!、iを有する。すなわち%願昭
55−16839号にもその傾向が示されているように
、VDFの組成が75mo1%を超えると到達可能なK
t(1−p急激に低「するという難点があった。−!た
。経験によれは。
ヒ(VDF’−TrEE)の圧電性は1回し組成比を汀
ずゐものであっても、ボーリンクした膜のKtの1直に
はけらつきが大きく、均−各性能の圧電膜を安定し、で
製造することに問題があった。本発明の目的はこれらの
難点を解決することである。
さらに本発明の他の目的は、 Ktの大きい非延伸膜を
出来るたけ小さいポーリング電場Epで得ることである
(従来から高分子圧電膜の製造には出来るたけ高いポー
リング電場を加えることが望まし。
いことが知られているが、高い電場は絶縁破壊を生じ易
く、出来るたけ小さいEpでポーリングできることが望
寸しい)。
1−属目的を達成するだめの本発明は次の構成からなる
 すなわち、フッ化ビニリゾ/およびトリノルオロエチ
レノを主体とする共重合体の溶液か(、溶媒を除去する
ことによって得られた成型物を融点(’Tm)  以下
、はぼ結晶相転移点(Tm’)以上の1+A aで熱処
理後ポーリングするか、あるいは、前記熱処理と同時に
ポーリングすることを特徴とする高分子圧電体の製造方
法。
本発明rtP(VDF−TrFE) の厚み圧′市訃は
V I) FとTrFEの組成比のみならず、ポーリン
クJJ)、 1iii 1こ受ける製作過程、熱履歴ひ
いてはP (V D F−Tr li’E、)固体の微
細構造(morpho]、ogy )に著じるし、く影
響されることの発見に基ついており、その骨子は溶液か
ら塗布法やギヤスト法により成形し、たP (V D 
F、−Tr F E)を略々結晶相転移点Tm’ Jソ
、に融点(Tm)以下の温度で熱処理した後ポーリンク
するか、あるいit前記成形物を略々Trn’以上Tn
I以下の温度でポーリングすることを特徴とする高分子
圧電体の製造方法である。ここでTm’は前記成形物の
昇温]) S C曲線において吸熱をLjえるピークと
し、てあられれ1通常Tmより数度〜数10度低温側に
ある。このTm’がどのような相転移に対応するかは十
分には明らかでないが1分子鎖にIL行な分子軸の回り
の回転に伴う強誘電−常昌電相転移であると省えられる
次に本発明を実施例およびトご1面に基ついてl、り詳
しく説明する3゜ 寿施例1 VDF :  TrFK=’79 :  2’1モル%
cr)P (VDF/TrFMりを7メチル鴛4ルムア
4/ド(DMF)100重:Ii部に対して、15重量
部溶解した溶液をカラスト反トにキャストして、常温で
24時間減圧乾固した5、さらにこれを100℃におい
て3時間D M F (i・蒸発させた後、1401:
4’定長下で1時間の熱処理を行ない厚み75μmの膜
を得た。両面にAj5電極を蒸着した後100℃で30
0KV/Cmの電場下で1時間のボーリンクを行なった
jすみ圧電性に関する電気音響結合定数およびそ・/)
他の定数を次の文献記載の方法に準じて測定し一〇1次
の結果を得た。
文献: HlOhigashi 、 J、Appl、P
hys、47979(1976)K t = 0.25
2       5’  = 6.3 (10MH2に
おイテ)■ %、 = 2.35 m/s 、    t”−10C
,’、= 10.5x109N/m2tanδ−016
Q、、 = 20 (註)町:厚み方向の音速 (2?、 :  厚み方向
の弾性率、QM:力学的Q値、εミ、ε″゛複素誘電率
のそれぞれ実数6虚数部 一方、準静的方法(110H2)で測定し、たこの脇の
横圧電定数dl+は8.2 x 10−12C/Nであ
る。1上に示したKtO値は従来PVDFで得られてい
る最大値Kt、、、、0.2よりも大きく1例えば超音
波の発振受信素子としてきわめて優れたものである。7
なおd31は8.18 x 10−12C/N Tあす
、 PV D FC/)(]、。
よりも小さい1、すなわちd31とKtは比例し7ない
、。
現在の知見から、 Ktをd31の値から推察はできな
い。なお、熱処理前の本試料を250 KV/cmの電
場を−で130℃、1時間のポーリングを行った場合K
t=0.215であった。しかし、120℃、1時間の
ポーリングで[Kt=O,02以下であった。
〔比較実施例〕
実施例1で用いたのと同じ組成のP (VDF −Tr
Fm ) (79/21 > をホットプレス法により
260℃で溶融し、これ=Q4o℃の水中に急冷して7
5μmの未延伸膜を得た。実施例1と同一条件にて熱処
理を行った後、100℃において1時間467 KVΔ
n1の電場を印加してポーリングを行った− 444 
ラit fv圧電膜の性能は次の通りであった。
■ Kt −0,160%、 = 2242m/5ecc、
”; = 9.4 Xl 09N/m2QM= 18.
5実施例1に示されているように、溶液からキャストし
7て製膜したものは、低電場のポーリングにもかかわら
すKtが大きく、かつ音速8弾性率、力学的褪値(Q、
)も大きくなっている。 これは本発明に従って溶液か
ら得だ膜は結晶化が進行しているとともに、低電場で極
性軸の電場方向への配向かより高度であることを示す、
実施例2.6 比較実施例2,3 夷殉例1と同様に作成しだP (VhF/TrFE)(
79,/21モル%比9のDMF’溶液キ溶液キャスト
及フィル1厚さ約75 μm、 )を140℃(実施例
2)、130℃(実施例1’、120℃(比較例2)お
よび110しく比較例6)において1時間、自由端状態
で熱処理を行なった後、100℃で1時間のポーリング
を行った。得られた圧電膜の性質を第1表に示ず1゜こ
こでEpはポーリング電圧、町、cp、はそれぞれ圧電
自由共振法で」11定した厚み方向の音速および弾性率
(周波数は約15 MH2) テあり、 IEI 、 
tJ、。
は110 MHzで求めた膜に平行な方向のキンク率お
よび横圧電定数である、。
9− 第1表から明らかなように、いず7Lの試料(1ボーリ
ンクにより同程度の大きさのd、1を与えるが。
Kしは熱処理温度Thに強く依存する。、120℃以l
、での熱処理ではKtは小さいが、より高温の熱処理で
急激に増大し、Th=140℃では、小さい42 pに
もか力・わらず、大きいKtが得られることかわかる。
。 なお1本試料を溶融再結晶後、たものの相転移、にI、
iの吸熱曲線のピークは136℃であった1、実施例4 VDFとTrFEの比が75:25モ/l/%のト(V
l)F−Trot″E)をD+aF100重敏部に対し
て101(H−11i溶解した溶液をカラス板上にキャ
ストし2て常温で6時間、60℃において6時間、80
t)こおいて6時間、減圧下で溶媒を除去し、厚き約3
0μIl’lの膜を得た。両面にAe電極を蒸着後、1
40Cで1時間の熱処理を行ない、100℃で275K
V/・Illの電場ドで1時間のポーリングを行なつ/
ζ3.室温における結合係数はKt=0.196であっ
た。まだ課5=2433伊巾であり、  a、 = a
、、、、 = 7.5 x 10−” c7封であった
。。
また、この熱処理し2だ膜を室温でEp=450にν/
”L’l11 。
1時間のポーリングを行ったところKも−0225をf
(fた。。
なお・本組成P (VDF−TrFE )の溶融再結晶
後のTmは125℃であった。
比較実施例4 ゛実施例1に用いたのと同じP (VDF−TrFE)
t797’21モル%)をポットプレスを用いて270
℃−C−j’ yυε板間に溶融し、これを室温で自然
冷却さu I%+−さ61 ltmの膜を得た。gれを
140℃で熱処理(1時間) L、、100r:で74
1 KV/cmの電場を加え−c、14’ −+)ツク
した膜のKtはたかだか0241であっ7′コ  8速
〜5ば2318m/sテあった。
このように、自然冷却で溶融製膜で得た1ノ(VDF、
、、−T2〜FE)(79/21)は、高いKtをイq
るにはきわめて尚いボーリンク電場を必要とする、。
本製造方法の効果は次の如くである。
(1)未延伸圧電膜を製造する他の方法には、溶融製膜
法がある。しかし本発明の方法は組成比、ポーリング温
度、ポーリング時間が同じ場合、より低いポーリング電
場で大きいKtが実現できる1゜ f21 75 mo−+%以上のVDF成分を含むも、
・)でも大きいKtが得られる。
(3)溶液の塗布、スプレー等によって膜を一心安なノ
リみ、形状に形成でき得るので薄膜化が+iJ能であり
、−造たあら〃・しめ必要な形状に(1−成し、た電極
上やIC基板上に膜を形成し1(Iるので、きわめて複
雑な形状の圧電素子を作成できる。さらに延伸膜に比較
して膜面内で(・寸はぼ等方向であるので膜の割れなど
が生りにくく1機械的に安定である。
(41Ktのf+liにばらうきのない刀莫の製造がで
”きる、本発明の効果は以上ユ1へた通りであるが、−
そ(′ノ中で、 +1+、 (2+項の効果の発現の理
由は次の通りであると考えら11る。
すなわち、(1)溶液から製膜することに1っで。
非晶部の多い、結晶構造の乱ftだ、あるいは粒径の小
さい結晶からなる膜が形成さ7Iる。 (TI)こtl
をほぼTm’付近以上の温度で熱処理を行うことにまり
、結晶径が増大した。欠陥のより少ない結晶に成長し、
かつ結晶化度が向上する。
このようにして得られた膜は、結晶極性軸の電場方向−
\の配向(強誘電的分極配向)に必要な市」易(抗電場
)が小さくなるとともに、電場による結晶化度の増大(
F゛メイノ成長)が生し1人きい圧電1隼が得られるも
のと推定される。これらは次の事実によって裏付けされ
よう。
図6:t 、実施例2の熱処理前の膜のDsclJIJ
線である。127′cの発熱ピークは結晶化によるもの
であり、この試料は非晶部を多く含んでいたことを・ノ
、41〜.、(この結晶化は相転移の原因となる分子回
転に土って誘起されると考えられる。122℃の吸熱ピ
ークはとの相転移の低温側に分布する部分の寄Ljによ
ると考えられる)。本試料のX線回折図形は結晶の(i
io)および(200)の回折線が回4ノ1角(2θ)
約20 にあられれるが、その半値幅2Jθと回折強度
■は未熱処理膜(A)、140℃熱処理膜(切および夾
゛−リング膜(C)でそれぞれ第2表に示す結果となる
。。
第  2  表 試  利     2Δθ (度)     T(相対
値)081 B   O,732,5 第2表から、熱処理による結晶化度、納品R径の増大あ
るいは結晶の乱れの減少が生じ、さらにポーリングによ
りおそらく強誘電相トメイ/′の成長を通して、これが
さらに進行するものと考えられる。実施例で示す如く、
大きいKtを持つものは音速1弾性率の大きいこともこ
れらを支J\5し、cいる。
本発明は、VDFを65 mo1%以上95mo1%l
ソFを含むP (VDF−TrFE )に有効であるが
、70mol係以上82 mo]%以下のもので特に有
効である本発明に用いられる溶媒はDMF、 /メチル
スルホオギンド、アセトン、メチル・エチルケlン等P
 (VDF−TrFE)を溶解するものであれは、 般
的に用いることができる。
なお本発明では圧電性について記述したか、不発明で得
られる膜は焦電効果をも持っている 我々の経験によれ
ば、同一材料であればKtの入、!、るものは焦電効果
も大きい。したがって本発明でイ!Iられた膜は焦電性
を利用する分野にも用いることができることは当然であ
る。
ヤ゛碍らハろので′、よ夕佑い小°−9ング電五z′、
1.−力ゝル・ 1ぐf、つ入ぎ露E電イナか)得られ
ろ。
4、  l!]茹の簡単1よ設す 団に¥死朗1(イ牽る失涛例2の方法11よ−y 79
1 r:熱に理荊の秋のpsc曲琢で・める・ 特許出願人  東し株式会社 1/: l’il l ’ lンT”−1’: ’、 
l”l Fr ’ニワλ゛更イζし)閃 乙 r   続  袖  1F    占   (文輸昭和
571 (I 1111− H 1°遣◎l I ’I I> ’[4’島141 合樹
殿1、$1′10表小 11)1相5〕6年特許願第1!18191号ビイ℃明
の名称 高5?子Fr電体の製造方法 1 抽+I o++ ?’i(ツノI」イ・1  昭和
57年2月2jll+(発送日)、袖11−により増加
づ°る発明の数  なし+、 411  i  の メ
J 象   図面i+1lJ1  の 内 6   図
面の?:/I^(内容に変更なし)−1=

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. フッ化ビニリチンおよびトリフルオロエチレ/を主体と
    する共重合体の溶液から溶媒を除去すると々によって得
    られた成型物を融点(Tm、)以1・、はぼ結晶相転移
    点(Tnn’)以上の温度で熱処理後ポーリングするか
    、あるいは、前記熱処理と同時にポーリングすることを
    特徴とする高分子圧電体の製造方法。
JP56158191A 1981-10-06 1981-10-06 高分子圧電体の製造方法 Granted JPS5860585A (ja)

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JPH0117274B2 JPH0117274B2 (ja) 1989-03-29

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