JPS5858629B2 - がいし等の表面状態判定方法 - Google Patents
がいし等の表面状態判定方法Info
- Publication number
- JPS5858629B2 JPS5858629B2 JP51157030A JP15703076A JPS5858629B2 JP S5858629 B2 JPS5858629 B2 JP S5858629B2 JP 51157030 A JP51157030 A JP 51157030A JP 15703076 A JP15703076 A JP 15703076A JP S5858629 B2 JPS5858629 B2 JP S5858629B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- leakage current
- temperature distribution
- insulators
- temperature
- bushing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Testing Of Devices, Machine Parts, Or Other Structures Thereof (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
- Insulators (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、表面汚損により絶縁抵抗の変化するがいし、
かい管、ブッシング等（以下「がいし等」という）の表
面状態を判定する方法に関する。
かい管、ブッシング等（以下「がいし等」という）の表
面状態を判定する方法に関する。
がいし等の表面汚損によるフラッジオーバを避けるため
の方法として、がいし等の表面を水にて洗浄することが
行なわれているが、活線洗浄をするためには当該がいし
等の表面状態、特にもれ電流の大きさを知る必要がある
。
の方法として、がいし等の表面を水にて洗浄することが
行なわれているが、活線洗浄をするためには当該がいし
等の表面状態、特にもれ電流の大きさを知る必要がある
。
このもれ電流の大きさを計る方法としては、パイロット
がいしを傍に設置してそのもれ電流から推測する方法や
、がいしに直列に電流検知素子を設けてもれ電流の実際
量を測定する方法があるが、両方法とも、もれ電流の合
計量を測るものであって、フラッジオーバを起す時点を
推定するにはまだ不充分なものであった。
がいしを傍に設置してそのもれ電流から推測する方法や
、がいしに直列に電流検知素子を設けてもれ電流の実際
量を測定する方法があるが、両方法とも、もれ電流の合
計量を測るものであって、フラッジオーバを起す時点を
推定するにはまだ不充分なものであった。
本発明はがいし等のフラッジオーバがその表面もれ電流
の不均一性に起因するものであるとの認識に基づくもの
で、もれ電流の不均一性を検知して表面汚損状態を把握
する方法を提供することを目的とするものである。
の不均一性に起因するものであるとの認識に基づくもの
で、もれ電流の不均一性を検知して表面汚損状態を把握
する方法を提供することを目的とするものである。
本発明はこの目的を、がいし表面の温度分布を輻射線検
出器にて検出し、温度分布の不均一性に応じて表面もれ
電流の状態を把握することによって達成する。
出器にて検出し、温度分布の不均一性に応じて表面もれ
電流の状態を把握することによって達成する。
即ち、がいし等の表面には、その汚損の程度に応じても
れ電流が流れるが、このもれ電流は汚損被膜を流れる際
にジュール熱を発生し、従ってその部分の温度を上昇さ
せる。
れ電流が流れるが、このもれ電流は汚損被膜を流れる際
にジュール熱を発生し、従ってその部分の温度を上昇さ
せる。
汚損が少なく従ってもれ電流の太きさも小さい場合には
、この温度上昇も低くかつ温度分布もほぼ均一である。
、この温度上昇も低くかつ温度分布もほぼ均一である。
ところが汚損が進んでもれ電流が臨界もれ電流に近づく
と、もれ電流の多く流れた表面部分が温度上昇により乾
燥して絶縁抵抗が高くなり、もれ電流が他の表面部分に
集中して流れるようになり、この結果再びその表面部分
の温度が上昇してもれ電流は更に他の（場合によっては
元の）部分に戻るといった状態を繰返すようになる。
と、もれ電流の多く流れた表面部分が温度上昇により乾
燥して絶縁抵抗が高くなり、もれ電流が他の表面部分に
集中して流れるようになり、この結果再びその表面部分
の温度が上昇してもれ電流は更に他の（場合によっては
元の）部分に戻るといった状態を繰返すようになる。
これをもれ電流の流れ方向を横切る方向における温度分
布という観点から見ると、その分布が極めて不均一であ
りかつ変動が激しいということが云える。
布という観点から見ると、その分布が極めて不均一であ
りかつ変動が激しいということが云える。
従って、がいし類のもれ電流の流れ方向を横切る方向（
即ち垂直なブッシングで云えば水平方向）の温度分布を
測定した結果、それが著しく不均一になっていたとすれ
ば、少なくともその走査面における汚損状態がきわめて
進んでいるということを推定できることになる。
即ち垂直なブッシングで云えば水平方向）の温度分布を
測定した結果、それが著しく不均一になっていたとすれ
ば、少なくともその走査面における汚損状態がきわめて
進んでいるということを推定できることになる。
このような見地から、第１図に示すように高電圧を印加
したブッシング１の汚損状態を変えて、その表面温度分
布を輻射線検出器２にて検出し、データプロセッサ３に
てデータ処理してモニタ４にて観察した結果を第２図、
第３図に示す。
したブッシング１の汚損状態を変えて、その表面温度分
布を輻射線検出器２にて検出し、データプロセッサ３に
てデータ処理してモニタ４にて観察した結果を第２図、
第３図に示す。
第２図ａは電圧を印加しない状態でブッシングを洗浄し
た後の温度分布を示す。
た後の温度分布を示す。
Ｔ１は背景の温度分布、Ｔ２はブッシングの走査線上の
温度分布であり、ｂ−ｄにおいても同様である。
温度分布であり、ｂ−ｄにおいても同様である。
ｂは低度の汚損状態、Ｃは臨界もれ電流近くのもれ電流
の流れる汚損状態、ｄはフラッジオーバ状態における温
度分布を示す。
の流れる汚損状態、ｄはフラッジオーバ状態における温
度分布を示す。
第２図Ｃから判るように、臨界もれ電流近くのもれ電流
が流れる場合には、ブッシングの走査線上の温度分布は
す、ｄに比して著しく不均一である。
が流れる場合には、ブッシングの走査線上の温度分布は
す、ｄに比して著しく不均一である。
第３図はブッシングの垂直方向の温度分布を示す。
横軸は温度Ｔ１縦軸は高さＨである。ａは無電圧時の分
布、ｂは低汚損時の分布、Ｃは臨界もれ電流近辺のもれ
電流が流れる状態における分布を示す。
布、ｂは低汚損時の分布、Ｃは臨界もれ電流近辺のもれ
電流が流れる状態における分布を示す。
低汚損時にはもれ電流が均一に分布するため、ブッシン
グのくびれ部の温度が高くなり、第３図すで示すような
波形の特性を呈する。
グのくびれ部の温度が高くなり、第３図すで示すような
波形の特性を呈する。
汚損度が増すにつれもれ電流が犬となり、笠部への放電
も増してくるので逆に笠部の温度が高くなる。
も増してくるので逆に笠部の温度が高くなる。
そして第３図Ｃに示すように臨界もれ電流近くになると
、汚損の進んでいる場所Ｘでは第２図ｄに示すような高
値安定の状態となり、中程度の汚損部分Ｙでは笠の形状
の温度分布が現われ、汚損の少ない部分（あるいはもれ
電流のために乾燥してしまった部分）Ｚでは低い波形の
分布が現われる。
、汚損の進んでいる場所Ｘでは第２図ｄに示すような高
値安定の状態となり、中程度の汚損部分Ｙでは笠の形状
の温度分布が現われ、汚損の少ない部分（あるいはもれ
電流のために乾燥してしまった部分）Ｚでは低い波形の
分布が現われる。
この場合汚損の少ない部分Ｚというのは飽くまでも輻射
検出器２の走査線上の話であって、部分Ｚと同じ高さに
おけるたとえば裏側の部分ではＸのような温度分布を示
している筈である（もれ電流の合計量は各高さにおいて
等しいから）。
検出器２の走査線上の話であって、部分Ｚと同じ高さに
おけるたとえば裏側の部分ではＸのような温度分布を示
している筈である（もれ電流の合計量は各高さにおいて
等しいから）。
実験の結果では、ある走査線上で見た第３図Ｃの温度分
布におけるＸの部分が全体の５０％以上を占めている場
合には、もれ電流が臨界値に達していると見てよいこと
が判明した。
布におけるＸの部分が全体の５０％以上を占めている場
合には、もれ電流が臨界値に達していると見てよいこと
が判明した。
以上はブッシングの水平または垂直線上の温度分布に基
づく判定の例であるが、ブッシングの全面あるいは一部
の面の温度を連続的に走査して、温度マツプを作り、公
知の画像処理方法を用いてパターンむらの検出を行なう
ことにより、表面状態を把握することも可能である。
づく判定の例であるが、ブッシングの全面あるいは一部
の面の温度を連続的に走査して、温度マツプを作り、公
知の画像処理方法を用いてパターンむらの検出を行なう
ことにより、表面状態を把握することも可能である。
また、本発明によりもれ電流状態を把握して自動的に活
線洗浄用のスプレーパルプを操作することも可能である
。
線洗浄用のスプレーパルプを操作することも可能である
。
第１図は本発明の実施例の機器配置図、第２図および第
３図はブッシング表面の温度分布例を示すグラフである
。 １・・・・・・ブッシング、２・・・・・・輻射線検出
器。
３図はブッシング表面の温度分布例を示すグラフである
。 １・・・・・・ブッシング、２・・・・・・輻射線検出
器。
Claims (1)
- １ 表面汚損により絶縁抵抗の変化するがいし等の温度
分布を輻射線検出器にて随時検出し、温度分布の不均一
な変化に応じて表面汚損の進行に伴うもれ電流の状態を
把握するようにしたことを特徴とするがいし等の表面状
態判定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51157030A JPS5858629B2 (ja) | 1976-12-25 | 1976-12-25 | がいし等の表面状態判定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP51157030A JPS5858629B2 (ja) | 1976-12-25 | 1976-12-25 | がいし等の表面状態判定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5380596A JPS5380596A (en) | 1978-07-17 |
| JPS5858629B2 true JPS5858629B2 (ja) | 1983-12-26 |
Family
ID=15640638
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP51157030A Expired JPS5858629B2 (ja) | 1976-12-25 | 1976-12-25 | がいし等の表面状態判定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5858629B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62245977A (ja) * | 1986-04-18 | 1987-10-27 | Mitsubishi Electric Corp | 電力機器監視装置 |
| JP4849592B2 (ja) * | 2004-05-27 | 2012-01-11 | 財団法人電力中央研究所 | がいしにおいて生じる漏れ電流の推定装置および方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4928871A (ja) * | 1972-07-14 | 1974-03-14 |
-
1976
- 1976-12-25 JP JP51157030A patent/JPS5858629B2/ja not_active Expired
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4928871A (ja) * | 1972-07-14 | 1974-03-14 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5380596A (en) | 1978-07-17 |
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