JPS5852471A - 電子写真用感光体の製造装置 - Google Patents

電子写真用感光体の製造装置

Info

Publication number
JPS5852471A
JPS5852471A JP15094681A JP15094681A JPS5852471A JP S5852471 A JPS5852471 A JP S5852471A JP 15094681 A JP15094681 A JP 15094681A JP 15094681 A JP15094681 A JP 15094681A JP S5852471 A JPS5852471 A JP S5852471A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
substrate
gas
photosensitive layer
cylindrical
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP15094681A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0135075B2 (ja
Inventor
Michiro Shimatani
島谷 道郎
Toyoki Kazama
風間 豊喜
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
Fuji Electric Corporate Research and Development Ltd
Fuji Electric Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd, Fuji Electric Corporate Research and Development Ltd, Fuji Electric Manufacturing Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
Priority to JP15094681A priority Critical patent/JPS5852471A/ja
Priority to US06/387,221 priority patent/US4438188A/en
Priority to DE3222491A priority patent/DE3222491A1/de
Publication of JPS5852471A publication Critical patent/JPS5852471A/ja
Publication of JPH0135075B2 publication Critical patent/JPH0135075B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/50Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges
    • C23C16/505Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges using radio frequency discharges
    • C23C16/509Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges using radio frequency discharges using internal electrodes
    • C23C16/5093Coaxial electrodes

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Photoreceptors In Electrophotography (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はプラズマCVD法によって導電性基体上に感光
層を形成するための電子写真用感光体の製造装置Kla
1する。
静電式複写機あるいは電算機プリンタなどに使用され石
電子写真用感光体の感光層は1例えばセレンまた酸セレ
ン合金の蒸着、もしくは硫化カドミウム、酸化亜鉛を分
散させた樹脂あるいは有機光導電性材料の塗布などKよ
り形成された。しかし、例えば耐刷性が良好なことから
注目されている非晶質シリコンからなる感光層のように
、プラズマCVD法を剰用される本のが最近出現してい
ム第1図は容量結合形グロー放電による非晶質シリコン
感光層の生成装置の一例を示し1真空槽1内に水平に配
置された回転支持体2にアルミニウム円筒の基体8が支
持され、基体8に対向して円筒状の電極4が真空槽1に
絶縁して固定嘔れている〇槽1内を排気口5から真空排
気し九のち、ガス導入口6からシラン(8iH4)ガス
を導入し、ヒーター7によって所定の温度に加熱した円
筒基体8と対内電極4との関に高周波電源8から高周波
入力を印加するとグロー放電が発生し、非晶質シリコン
層が円筒基体80表面に堆積する。しかしこのような装
置では導入口6から入った反応ガスは円筒状電極4の内
部を基体8の表面に沿って矢印Sで示すように流れるの
で、反応ガス中の水素浸度がガス入口IIC図の右側)
とガス出口側(図の左@)とで異なる。また成膜速度も
入口側より出口側に向って単調に減少するので、感光層
の膜厚および感光特性が均一でなくなる。
本発明はこれに対し円筒状感光体基体の全表面に同じ組
成の反応ガスが均等に供給され、均一な膜厚と感光特性
を有する感光層が形成される製造装置を提供することを
目的とする。
この目的は、真空槽内に配置された回転支持体に同軸に
支持される円筒状基体とそれに対向する同軸の円筒状電
極との間に電圧を印加してグロー放電を発生させ、真空
槽内に導入された反応ガスを分解して基体上に感光層を
形成するもの艮おいて、円筒状電極が全1iiKはぼ一
様に分散じて設けられ九貫通孔を有することKよって達
成される。
この場合、支持体および電極の軸はほぼ鉛直であること
が望ましい。さらに1電極を壁にはさまれた空間に反応
ガスが導入される二重壁構造とじへ内側の壁にガス流出
貫通孔を設け、かつ内側の壁と外側の壁とを貫通するガ
ス排出通路を設けた構造も有効である。
以下、図を引用して本発明の実施例について説明する。
第2図において第1図と共通の部分には同一の符号が付
されている。第2図においては、1 回転支持体2および対向電極責は鉛直方向に同軸1 に配置されており、対向電極りは第8図内、@に展開し
て示すように一様に分散配置されたスリ7)litたは
孔12が貫通している。この装置を用いて先ず・ トリ
クレン洗浄したアルミニウム、ステンレス鋼などの円筒
状感光体基体(ドラム)8を支持体9ではさみ、回転可
能な支持体2に取り付ける。真空槽1は排気口5よシ真
空排気して1O−8Torrにする。ドラム8を支持体
2内に絶縁固定されたヒーター7によって所定の温度に
保持し、ガス導入口6よ〕水素ガスを導入し、高周波電
源8よシ高周波入力を対向電極41に印加し、アース電
位のドラム8との間にグロー放電を発生させ1ドラム表
面を清浄にする。逆に電極41をアース電位とし、ドラ
ム8に高周波入力を印加するこζもできる。H,ガスを
排気した後1ガス導入口6より8iH4ガスを導入し、
同IKグロー放電を発生させると、電極41の外側の空
間からスリット11または貫通孔12を通って電極41
とドラム30間の空間に違した反応ガスは分解し、回転
するドラム8の上に非晶質シリコン層が堆積する。反応
ガスはスリット11tたは孔!2から導入されるのでド
ラム80表面に接する反応ガスの組成は一様7cめシ、
ドラム8の全面に均一な感光層を生ずる。反応ガスに適
当な濃度で適当なsWAの不純物ガスを同時に導入する
かめるいは導入しないことによp、堆積する非晶質シリ
コン層はP形〜1形またはN形になる・さらに放電を止
めてガスを排気したのち、不純物の種類を変えるかtた
は不#1物ガスを導入しないととKよfi P−1、P
−N、N−1などの接合を持つ感光層を形成することが
できる。
実験例1: 電極41として第8図(AIK示すような6本のスリッ
トttt持つものを用い、直径9側藁、長さ820Uの
アルミニウムドラムを200℃に加熱し電流量80kQ
/nh1で圧力4Torrの水素中で高周波人力10W
Kよりグロー放電を発生させてクリーニングした。次い
で100*8iH4ガスを”’Q’mrns水素中の濃
度80PPMのジボラン(B2H6)ガスを6cty’
y i nの流量で導入、ガス圧0.9T−orr I
cおいて50Wの高周波入力を電極に印加し、5時間の
グロー放電によりP形非晶質シリコン層を形成し九〇比
較のために第1図の装置でスリットのない電極4を用い
て、他は同じ条件で非晶質シリコン層を形成した。ドラ
ム上の位置をガス導入口6に近い端部付近を工、中央を
C,ガス排出口5に近い端部付近を0とした場合、各位
置におけるシリコンの膜厚を#!1表に示す・第1表 すなわち、本発明による第2図の装置では均一な膜厚が
得られたのに対し、ts1図の装置で従来の電極を用い
た場合は膜厚がガス入口側から出口側Kかけて単調に減
少した。さらに、第1図に示す装置による場合は表面に
凹凸が多かった。これはグロー放電発生の際温度の低い
電極上に成膜せず、粉末状で付着した8 i (H)粉
末が落下、飛散しドラム上の堆積層表面に付着するため
である。しかるに、第2図に示す装置ではドラムおよび
電極の軸が鉛直であるため、電極上から8 i (H)
粉末が落下してもドラム側に落ちることはなく、従って
ドラム上の堆積層表面に付着することがない。
実験例2; 対向電極41として第8図Uに示すような細孔12を多
数あけたものを用い、実験例1と同様にして非晶質シリ
コン層を形成したところ、均一な膜厚が得られた。
実験例8: 対向電極として第4回内およびそのXLx゛線断面図第
斗図(BIK示したものを用いた。図に示すようにこの
電極は二重壁構造をもち、縦に入ったスリ7)15によ
って6個の繭状筒部16に分れており、反応ガスはこの
筒部16の内部を通って内壁に設けられた穴17よシ基
体に向って流出する。反応を終ったガスはスリット15
を通り、筒部16の外壁18とプラズマを閉じこめるた
めのシールド板19との間を経由して外に出る。対向電
極のほかは実験例1゜2と同じ条件で非晶質シリコン層
を形成したところ、よ〕高い膜厚の均一度を得た。
本発明は、以上の例に挙げたような基体および電極の鉛
直耐直に限定されず、第1図に示したような水平配置に
対しても適用できる。また非晶質シリコンに限らずプラ
ズマCVD法による酸化亜鉛感光体の製造に対して本適
用できる。
以上述べたように1本発明は非晶質シリコン感光層のよ
うなプラズマCVD法によって“生成−される感光層を
有する電子写真用感光体の製造゛装置の対向電極に反応
ガス流入」の貫通孔を設けるものでラシ、これによシ基
体の全面において均一な組成の反応ガスが接触して均一
な膜厚の感光層が生成されるので、例えば大面積の非晶
質、シリコン感光層の有する特性のすぐれた感光体の製
造が可能になる。
【図面の簡単な説明】
・第1図は電子写真用感光体製造装置の従来例の断面図
、第2図は本発明の一1!施例の断面図、第8図^、■
はその電極の二つの実施例の展開図、第4図は電極のさ
らに異なる実施例で、囚は横断面図、■はそのx−x’
線断面図である。 1・・・真空槽、2・・・回転支持体、8・・・円筒状
基体、6・・・ガス導入口、8・・・高周波電源、11
・・・スリット、12・・・細孔、15・・・スリット
、16・・・扇形筒部、17・・・ガス流出孔、41・
・・円筒状対向電極。 代理人距江士山 口   息 Ir1図 f2図 才3図 才4図 手続補正書(6劃 日 −Eト 3、補j「をする者 ’JF件との関係       出願人6、補正により
増加する発明の数 補正の内容 1、明細書落6頁8行目から9行目の[電極41の外側
の空間からスリン)11または貫通孔12を通って」を
削除する。 2、、I!Jl細書第5頁12行目の「孔12から導入
される」の「導入」とあるのを「分散して排出」壷こ訂
正する。 3、明細書゛第8頁13行目の「対向電極のほかは」の
「対向電極」の次に「およびガス流出方向」をそう人す
る。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)真空槽内に配置された回転支持体に同軸に支持され
    る円筒状基体とそれに対向する同軸の円筒状電極との間
    に電圧を印加してグロー放電を発生させ1前記真空槽内
    に導入された反応ガスを公簿して基体上に感光層を形成
    する亀のにおいて、円筒状電極が全面にほぼ一様に分散
    して設妙られた貫通孔を有することを特徴とする電子写
    真用感光体の製造装置。 2、特許請求の範囲第1項記載の装置において、支持体
    および電極の軸かはぼ鉛直であることを特徴とする電子
    写真用感光体の製造装置。 8)  %許錆求の範囲第1項または第2項記載の装置
    において、電極が壁にはさまれ九空関に反応ガスが導入
    される二重壁構造を有し、内側の壁にはガス流出貫通孔
    が設けられ、かつ内側の壁と外側の壁を貫通してガス排
    出通路が設けられたことを特徴とする電子写真用感光体
    の製造装置。
JP15094681A 1981-06-15 1981-09-24 電子写真用感光体の製造装置 Granted JPS5852471A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15094681A JPS5852471A (ja) 1981-09-24 1981-09-24 電子写真用感光体の製造装置
US06/387,221 US4438188A (en) 1981-06-15 1982-06-10 Method for producing photosensitive film for electrophotography
DE3222491A DE3222491A1 (de) 1981-06-15 1982-06-15 Verfahren und vorrichtung zur herstellung eines lichtempfindlichen films auf einem substrat fuer elektrofotographie

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15094681A JPS5852471A (ja) 1981-09-24 1981-09-24 電子写真用感光体の製造装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5852471A true JPS5852471A (ja) 1983-03-28
JPH0135075B2 JPH0135075B2 (ja) 1989-07-24

Family

ID=15507867

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15094681A Granted JPS5852471A (ja) 1981-06-15 1981-09-24 電子写真用感光体の製造装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5852471A (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0135075B2 (ja) 1989-07-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5910342A (en) Process for forming deposition film
JPS59193265A (ja) プラズマcvd装置
US4868014A (en) Method for forming thin film multi-layer structure member
GB2043042A (en) Production of semiconductor bodies made of amorphous silicon
JP3145536B2 (ja) 触媒cvd装置
JP2520589B2 (ja) Cvd法による堆積膜形成方法
JPS5852471A (ja) 電子写真用感光体の製造装置
JPS6010618A (ja) プラズマcvd装置
JPH08232070A (ja) 堆積膜形成装置及びそれに用いられる電極
JPS62142779A (ja) 堆積膜形成法
US4418645A (en) Glow discharge apparatus with squirrel cage electrode
JPS6126365Y2 (ja)
JPH0645888B2 (ja) 堆積膜形成法
JPS62149874A (ja) 電子写真用感光体製造装置
JPS62235471A (ja) プラズマcvd法による堆積膜形成装置
JPS6333573A (ja) 電子写真用感光体製造装置
JPH0645882B2 (ja) 堆積膜形成法
JPS6086277A (ja) 放電による堆積膜の形成方法
JPH01162768A (ja) 水素化アモルファスシリコン成膜装置
JPH057462B2 (ja)
JPS63125679A (ja) 堆積膜形成法
JPS59217614A (ja) アモルフアスシリコン成膜装置
JPS58190813A (ja) 成膜装置
JPS60215766A (ja) グロ−放電分解装置
JPS60215767A (ja) グロ−放電分解装置