JPS58502124A - ウエハ大集積回路における、または関する改良 - Google Patents

ウエハ大集積回路における、または関する改良

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JPS58502124A
JPS58502124A JP82500158A JP50015882A JPS58502124A JP S58502124 A JPS58502124 A JP S58502124A JP 82500158 A JP82500158 A JP 82500158A JP 50015882 A JP50015882 A JP 50015882A JP S58502124 A JPS58502124 A JP S58502124A
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オズマン・イスメツト・ムハメツド・フア−ゼル・マホミツド
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バロ−ス コ−ポレ−シヨン
バロ−ス・マシ−ンズ・リミテツド
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ウェハ大集積回路における、または関する改良本発明はウェハ大の声積回路に関 する。
一般にウェハ大束a回路は、普通直径が数インチの同じ半導体ウェハ上に多数の データ処理セルとともに1つまたはそれし一上のデータボートを含む。そのセル の製造欠陥率がそのウェハ上で許容できるように、セル間の相互接続は不確定の 状態でおかれており、各セルは選択できる隣のどのセルとも結合が可能である。
1つまたはそれ以上のポートIJlら始まって、そのポートに隣接邊るセルはテ ストされて、もし機能するならば、そのポートと結合される。その後同様に、そ れらの結合されたセルは、テストされて機能することが確められた隣接するセル と結合されて合同する。
機能テストに通らなかったセルは回路の全体の働きには組込まれず、それに代わ り他のセルが捜される。テストと結合の過程が終わると、データ処理をする1つ またはそれ以上のセルのチェインがウェハ大集積回路の表面上に形成される。
成るセルが、そのセル固有の製造欠陥のために機能テストに落ちることがある。
この種の欠陥は集積回路製造においてよく知られておりパッケージの段階の前に 廃棄チップとされる。ウェハ大集積回路の場合には、結果はより重大となり得る 。
ウェハ大集積回路の本質において成る信号はセル間で伝達し、また成る信号はす べてのセルに共通である。たとえば、デー・夕信号は一般に1つの特定のセルか ら他のセルへ伝達し、一方、電力供給やクロック同期信号は一般にすべてのセル に共通である。共通な信号は一般に゛グローバル信号″として知られており、ウ ェハ大回路についてグローバル@を通して送られる。
グローバル線の欠陥は1つ以上のセルに影響する。たとえば、切断したあるいは 短絡した電力供給線は、欠陥2」実際に起こったセルのみならずその線に電力供 給せ依存ターる近隣の多くのでルをも不能にする。
種々の案が提案されて、それによってグローバル線の欠陥の効果が軽減され得る 。特に、電n1海;よ、過剰の1流が流れたときに溶けるヒユーズを含むことに より、届格の存在によってτつ1ス上のセルが不能になること・?防止すること ができる。そのような対策はヒユーズを電力1ブはどの充分な電力を運ぶ腺に4 5(゛ては可能Cあるが、池のグローバル信@線の場合には、そ・のような防御 を連成するほどのエネルギ;よな(・。
したがって、ワエへ大集積回路上の箇能して刊用r−ざ得るセルの故を最大i=  するたうに、低電力のグロー・パル1g号線の故を最小lこすることが望まれ る。
奴発明は、少なくとも前記セルのいくつがか、データ転送のために前記ポートか ら出発してセルのチェイ〉・を形成するために隣接するセルとつなげられ、峙記 チェーーン中の前記セル間の前記データの転送が、前記データと同じ通路に沿っ て前記チェイン中をセルからセルへ伝達するクロック信号によって制御されるこ とを特徴とする。データポートと多数のデータ処理セルを″y導体ウつハ上に含 む集積回路にある。
好ましい実施例において、ウェハ大集積回路は多数のシフト17ジスタ;/モリ ストレージセルからなる。結合するポートから始まって、セルは個々にテストさ れる。そしてその後、それらが機能テスhを通過1〕だ場合、そのポートから始 まる一連のシフトレジスタメモリに結合される。一度シフトレジスタメモリに組 込まれると各セルは、隣接するセルがまだ結合されていない場合5.テストとそ れに引き続いて、(の隣接するセルが機能する言合に、そのシフトレジスタメモ リにその隣接するセルを組込むために、隣接する選択可能な(ニルと結合するこ とが不能である。このテストと組込みの繰返しの結果、そのウェハ大回路上に1 つあるいはそれ以上のデータストレージチェインが確立され、そのあるいはそれ らのチェインは、それらが出発したポートと同じポートで終わる。ストレージセ ルは前進データストレージシフトレジスタと逆進データストレージシフトレジス タからなり、その場合データは、そのセルからチェインのポートに次に近い成る 特定のセルを通って前進レジスタを経由していく、そしてチェイン中の次に遠い セルから逆進レジスタを経由してポートに向けて逆戻りする。チェインの最後の セル中の前進レジスタから出ていくデータは、その最後のセルの逆進レジスタに 帰還する。成る特定のセルの前進レジスタの出力を受けるデータストレージセル は、その特定のセルの逆進レジスタに入力を供給するでルである6 各セルは、チェー(ン中のポートに次に近いセルtJ1らマスタクロック信号を 受取るクロック発生回路を含んでいる。
クロック発生器は、データの叉容と前進レジスタに沿ったデータの動きを制御す る第1のグロック信号を供給し、またデータの受百と逆進レジスタに沿ったデー タの助ざを制卸する第2のクロック信号を供給する。
各特定のセルは、チェイン中の防接する次に遠いセルのうちの選択できる1つに データを結合させるのを醜j御するだめのデータステアリング回路を含んでw’ る。その揚台、ゲータステアリング回路のデータ結合によって決定される沃1こ 、ヂエノン士のポートから次に遼bNFl接するセノーへ、のマスタクロ:rり の入力として、ポートにそのセルから次に)=いその特定のセルによって受ノー れられるマスクゴ?0=Iり信号を供給するためにクロックステアリング回路を も含んででハる。
一例として添付された6面と関係した以下の記述によつ本発明をさらに説明する 。
第1図ば、1枚の半導体サブストレー1〜上に脂されたウェハ大集積回路を示す 。
第2図は、ウェハ上の個々のセルのチェインの構造を示す・ 特表昭58−5t J2124(3)第3図はセル間結合を示す。
第4図はセルの内部構造を示t、。
第5図は、一本のチェインとして結合されたセルの単純化した概略図を示す。
第1図はウェハ大集積回路の物理的配置を示す。
円形の半導体・ウェハサブストレート10は、その上に多数の四角いシフトレジ スタデータストレージセル12が作られている。それらのセル12は、ウェハ1 0の表面で規則正しいモザイク模様を形成し、例外として結合ポート14を形成 するために、そのモザイク模様から1つのt itt If’除かれている。そ の結合ボート14は必ずしもウェハ10の中心またはその遅くにある必要はない 。結合ボート14を縁どっているセル12は、外界とつなげられる結合バンド1 6が供給されている。
Zル12は、データをそこl\、またはそこから私選するために、セル12=i ?i=するどのセルへも某合し得る。ポート]4から出発して、ポート14に隣 接するセル12は、ポート14から接続パッド16を経由して、1詣テストが行 なわれる。セル12がその1能テストを通った場合、それは次の隣接するセル1 2に接続され、その次のセル12がテストさ礼る。
第2図は、ウニへ上でセル12がどのようにv’Uデ・−・タス5レージアエイ ン18.こ溝数されるかを示しでいる。1能テストに通らなかったセル12は、 それらの場所を迂回することによってチェイン18から除かれ得ることを理解す べきである。
第3図は、1つのセル12の境界における接′%、′f:示している。
四角いセル12は4つの境界を有しており、北の需界をN、南の境界をS、*の 境界をEそ1ノて西のj界i v8;と名付げる。北の境界Nは第1の隣接する セル12の南の北興Sと隣合っている。真の境界Eは第2のFA接するセル−2 の西の境界Wと隣合っている。南の境界Sは第3の固接するセル12の北の境界 Nと晴合っている。そして1、酉の境界Wは第4の隣接するセル12の東の1界 Eと隣合って(゛・る。
各境界N、S、E、’V’/は、そのセル12から隣接するセル12t\データ を転だするために、それぞれ第1の績2ON、203.2QE、20Wを持って いる。留境界N、 SeE、’#は、隣接するセル12にマスククロツタ信号を 転送するために、それぞれ第2のM22rJ、22S、22E。
22VVを持つている。2各境F Fj + S + C+覧Nは、隣接するセ ルからマスタクロ・lり信号を受トデるた於に、それぞ11第30線24N、2 43,24E、24Wを持っている。各境界N、S、E、Wは、隣接するセルか らデータを受けるために第4の綜26 N 、 26 S 、 26 E 、  26 ’vVを持っている。辰1は示され1=柳と隣接するセルの線との拒否接 続を示している。
表1:セル間接続 2ONは北に隣接するセルの263に接続する22Nは北に9接するセルの24 Sに接続yる2−1Nば北に隣接するセルの223に接続する2 6 Nは北に 隣接するセルの2O8にa決する2つεは東(、:隣接するセルの26 Wに接 続する22Eは東に隣接するセルの24Wに接続する2 4Eは東に隣接するセ ルの22 ’vVに接続する26Eは泉に隣接するセルの20Wに接続する20 3は南に隣接するでルーrJ26 Nに接続する22Sは南に隣接するセルの2 4Nに接続する24Sは南に騙接するぎルの22 Nに接続する2 6.5は南 に隣接するセルの20 Nに接続する20Vゾ・よ西に隣接するセルの23eに 接読する221Nは西に′A叢するセルの242に接続する2 4 ’AI 1 .を西に隣接するセルの22Eに接続yる2 6 ’V’l/ ハf5 ニ’5 4 署すルセル’J) 20 E i−jfi、a 丈ル1つのセル12は、デ ータ信号とタロツク信号とどの腎接するセル12からも受取ることができるし、 また逆に゛それらに送ることもてざることがわかる。
第4図は1つのセル12の四部pA造、2示す。
でル12の入力および出力線は、因の簡明のために、それらの線が関係した境界 N、S、E、Wと無関係に示されている。
データ入力線26N、263,26E、26Wは、前進データ入力ゲート30と 逆進データ入力ゲート32への入力として配置されている。データ出力線2ON 、2O8゜20E、20Vv’は、前進データ出カゲーr−34と逆進データ出 力ゲート36の出力として設置8孔でいる。
前進データ入力ゲート30は、前進データンフトレジスタストア38への入力の 供給のためにデータ入力線26N。
263.26E、26Wの1つから信号を選択する。逆進データ入力ゲート32 は、逆進データシフトレジスタストア40パ\のスカとしてデータ入力線26N 、26δ、26E、26Wのうろ他の]つの線から信号を選択する。
ml進データストア38と逆進データストア40は共に同じ長さであり得て、ま た各々は多数のシフトレジスタからなり、すなわち直テj1%:結8されたとッ トスル−ジセルである。またあるいは、それらは異なった艮ざのものであり得る 。前うって決められた数のクロックパルスが各ストア38.40へのクロック入 りとしで与えら(した後、それらのへ乃に元来存在している情報データか、それ らの出力に再現される。同様にしで、種々の提案されて知られているセルの配列 によっ【、ストア38.40はデータをストアするD−またはよそからデータを 回収する手段たり得る。すなわら、セル]2を通してチェイン18に沿ってデー タが送られると同時に、セル12中の主ストレージ素子である。
前進データストア38の出力は、データ出力線2ON。
2 OS 、t OE 、 20 Wのうちの選択できる1つの信号としてスト ア38の出π・2引しioるζころの前進データ出力ゲート34に入力こして供 給されるj逆進データストア40の出力は、データ出力a 2 C” −2(J  Se + IJ E * 20Wの:・らの池の選択できる1)の信号として 逆進ス;〜740の出力−2供袷するところの逆進データ己カゲートへ、の人力 として供給されるア マスタクロック入力線24 N −44Se 24ε、24Wは、纏2−¥?i  m 24 Se 24ε、=4¥wtD選択’T: 8 ル1つの信号を供給 するところ・のマスタクOンク入カゲートl\の入力として供給される。葛スク クロブタ入力ゲートの出力は、マスタクロ:!クゲード64 A、の入力として まず第1に供給され、そりゲー、1−44はその大力に闇する信号をその出力と し・てマス54クロツク出力線22 N −225−226−221vの選択1 ′きる1つへ提供する。第2に、マスタクロック入力ゲート42の出力は、クロ ック信号発生器46への入力として供給される。クロック信号発生器46は、前 進データ入力ゲート30のデータ獲得活性と前進ストア3ε、のデータシフティ 〉グ活性をv′J御するたのの第1クロツク纏48に第1クロンーク信号を発生 し、また逆進データ入力ゲート・32のデータ獲得活性と逆進ストア40のデー タシフディング活性を如1頻するための第2クロツク線50に表でわかるように 、いつでも、セル12の1つの面N。
S、EまたはWが、マスタクロツタ信号のソースとして、また逆進データのため のシンクとして、さらに前進データのソースとして選択される。そして、セル1 2の別の1つの面N、S、EまたはWが前進データのためのシンクとして、また マスタクロック信号のためのシンクとして、ざらに逆進データのソースとして選 ばれる。
第5図はウェハ大回路上に形成されたメモリチェイン18の簡略化した配列を示 す。
セル12の前進レジスタ38はM続して接続されている。
セル12の逆進レジスタ40は、同様に連続してつながれている。前進レジスタ 38のチェインはデータをボート14から最後のセル12′へ導く。そして逆進 レジスタ4〇−のチェインはデータを最後のセル12′からボート14へ戻す、 1後のセル12′はループデータ結合6Qを持ち、それによって前進レジスタ3 8′のff1lのセルの出力が逆進レジス940′の最後のセルへの入力として 供給される。
すべてのセル12はループ結合60を形1求するための機能を持っている。しか しそのta能はセル12′がたまたまそのチェインのamである場合のみ用いら れる。
マスタクロック信号は、ボート16から出てクロック発生?1146からクロッ ク発生器46へ、チェイン18に沿ってf&後のセル12−のクロック発生器4 6まで接続されている。、最後のセル12′を越えてセル12が存在しない場合 、そのマスタクロック信号の伝達はそこで止まる。
マスタクロック信号はクロック発生器46によってセル12からセルへと送られ て、セル間で時間遅れを生じる。
セル12間のクロック信号の伝搬における時間遅れをTdとすると、並列グロー バル線による普通の方法ですべてのセルに同時に伝搬する場合に比べて、そのク ロック信号は、ボートから第N番目のセルへN T dだけ遅れて到達するであ ろう。もしその最後のセル12−がボート14から数えて第Mi目のセルである 場合、前進データはその最後のセル12−へMTdだけ遅れて入る。しか12、 その同じクロック信号は、逆進データの流れを制御するのに用いられる様に、前 進データの時間を計るのに用いられる。前進から逆進方向へデータが通るとき、 そのデータの流れは距離の増大に従ってすなわちV後のセル12′からボート′ i4の方向へ遠く錠れたセル12では、伝達されたクロック信号に比べて進んだ 位置になる。
計時された@進データば、RVのセル12−から逆戻りする構台、前進チェイン におけるデータの伝達の場合のような時間遅れの増大でなく、時間進みの増大を 伴なって、#進するマスタクロック信号と出会う。この遅れや進みは、もちろん 、ボート14でマスタクロック信号の最初のセル127\の伝達のときを基準ど して計られる。そのデータがボート14へ帰着するときまでに、その時間遅れの 丁べてを取返す。そしてボートにおけるチェイン18への、またチェイン18か らのデータの流れは、あたかもそのクロック信号が普通のグローバル的に接続さ れた方法においてセル12へ送るかのように起こる。
計時回路の動作は、チェイン18に沿った仮定的に一定な動きのデータの流れを 参照して述べられる。
本発明は、前進データ通路と逆進データ通路を持ったチェイン接続の可能な、ど のようなウニ八大集積回路においても等しくよく機能する。本技術の主要なもの は、この種のチェイン接読可能なウェハ大回路において多くの応用ができること に気付くであろう。
本発明は、データが1つのボートで一方向のチェインに入り別のボー1へから出 る、つまりそのデータがデータ入口ボートからデータ出口ボートへのその間で伝 達されるクロック信号であるところのウェハ大回路において等しくよく採用され 得るであろう。
本発明はまた、選択できるセルへのストアのためのチェインに沿ったデータの伝 達や、チェイン中の選択できるセルから記憶を呼び戻してボートへ送り返すそれ らの回路にも適用される。
本発明の適用に関して、クロック発生器46は、特定のセルの作用と矛盾しない どのような種類のものであってもよいことに注意しなければならない。特に、ク ロック発生器46が、マスタクロック信号がチェインに沿って進むとぎの漸進的 な衰弱を防ぐクロック低@纏和手段を含んでいることは利点である。
セルは四角い必要はなく、そのクロックやデータ信号もセルの合縁を横切って伝 達するものである必要もない。セルは必ずしもすべてが同じ形あるいは同じ機能 である必要はない。本発明は、たとえばウェハ大のプロセッサ集積回路中の計算 ユニットに出入りするクロックデータにも等しく用いられ得るだろう。
18 国際調査報告

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.1枚の半導体ウェハ上にデータボートと多数のデータ処理セルを含む集積回 路であって、少な(とも前記セルのいくつかが、データ転送のために、前記ポー トを出発点としてチェイン状のセルを形成するために、隣接するセルと接続可能 であって、前記集積回路がクロック信号によって制御される前記チェイン中の前 記セル間でデータを転送することによって特徴付けられ、また前記チェイン中の 前記各セルが前記チェインに沿ってセルからセルへ前記クロック信号を伝達する ためのクロック信号伝達手段を含んでいる集積回路。 2、 クロック信号伝達手段が、隣接する第1のセルからの前記クロック信号を 受けるためのクロック信号入力ロジックと、前記クロック信号を他の選択できる 1つの隣接するセルに供給するためのクロック信号出力ロジックとからなる請求 の範囲第1墳記載の集積回路。 3、 前記クロック信号の入力ロジックが、前記隣接する第1のセルからの前記 クロック信号の受入れに続いて、他のどの隣接するセルからのmllツクロック 信号受入れをも防ぐ働きをする請求の範囲第2項記載の集積回路。 4、 前記チェイン中の前記各セルか市記入カロジックと前記出力ロジックの間 で接続されたクロック発生器と含み、前記クロック発生器が前記入力ロジックか らの前記クロック信号を受けるためと、前記出力ロジックへ前記クロック信号を 送るためと、かつ前記入力ロジックからの前記クロック信号に応答して、前記チ ェイン中の前記各セル内で用いるための1つまたはそれ以上の内部クロック信号 を発生するために働く請求の範囲第3項記載の集積回路。 5、 #記チェイン中の前記各セルが、前記隣接する第1のセルからのデータを 受入れるためと、かつ前記隣接する第1のセルから受入れた前記データを前記選 択された他の1つのILLS!!するセルへ送るための第1のデータ通路を含み 、また前記選択された他の1つの隣接するセルからのデータを受入れるためと、 かつ前記選択された他の1つの隣公yるセルからのデータを前記f14接する第 1のセルへ送るための第2のデータ通路を含む請求の範囲!4項記載の集積回路 。 6、 前記クロック発生器が、前記第1のデータ通路における前記ケータの!l lきを制御するためのM1内部クロック信号を供給°丈るl;めの第1クロック 発生器と、前記第2データ通路における前記データの動きを制御するための第2 内部クロック信号を供給する7eめの第2クロック発生器からなる請求の範囲第 5項記載の集積回路。 7、 前記第1ケータ通路が第1データストレージシフトレジスクを含み、また 前記第2データ通路が第2データストレージシフ1−レジスタを含む請求の範囲 第6項記載の果8回路。 8、 前記チェイン中の前記各セルが、前記第2のデー夕通路への入力として、 前記第1のデータ通路の出力を接続するための選択できる他の1つの隣接するセ ルへ、前記クロック信号を供給するように前記クロック信号出力ロジックへの指 令がないときに働(ラップアラウンド(ivrap−around)ロジックを 含む請求の範囲第5項、第6項または第7項記載の集積回路。 9、 @記セルが正方形で、前記ウェハ上で規則正しいモザイク模様を形成する 請求の範囲第8項記載の集積回路。 10、前記ボートが、tiJ記モザイク模様から1つのセルを取除くことにより 、またそれに隣接する1つまたはそれ以上のセルと番統を施すことにより形成さ れる請求の範囲第9項記載の集積回路。 11、 添付された図面を参照することにより本質的に記述され℃いる集積回路 。
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