JPS58501561A - 多重発生源クロツクで符号化した通信エラ−検出回路 - Google Patents
多重発生源クロツクで符号化した通信エラ−検出回路Info
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- JPS58501561A JPS58501561A JP57503095A JP50309582A JPS58501561A JP S58501561 A JPS58501561 A JP S58501561A JP 57503095 A JP57503095 A JP 57503095A JP 50309582 A JP50309582 A JP 50309582A JP S58501561 A JPS58501561 A JP S58501561A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
多重発生諒クロックで符号化した
通信エラー検出回路
この発明はディジタル・データ送信システムに関し、特に自己クロッキング・デ
ィジタル・データ信号から回復したクロ、り信号のエラーを検出するエラー検出
回路に関する。
背景技術
自己クロ、キング・ディジタル・データ流の送信において、それは通常クロック
信号が正しく抽出されるということがディジタル装置の正しい動作に対する本質
的事項である。引出されるクロック信号が入力自己クロッキング・ディジタル・
データ流から正しくなく発生した場合は、直ちに装置の動作を停止してメッセー
ノの再送信のような回復手段を行わせるようにするため、かかるエラーの検出は
できる限り早いことが高く望捷れる。従来、・やりティ・チェック又はサイクリ
ック・レダンダン/イ・チェックなどのような多くの技術が送信エラーの検出の
ために用いられてきた。しかし、これらの技術はデータ・エラーの検出の方に多
く採用されている。故に、クロック信号については、回復されたクロック信号の
エラーを検出するだめの技術を使用するように(7−rさf−0し℃・し、−イ
ーq)よう・1先行技術は一般に回復したクロックのエラーヲ検出−することが
できる1で約4ピツ(時(回数)又はそれ以上の1数を必要とした。
発明の開示
この発明は、自己クロッキング・テ゛イノクル・データ信号から回復したクロッ
ク信号のエラーを迅速に検出する回路を提供することを目的とする。
この発明によると、それはクロック信号の電圧レベルの遷移又は移行を検出して
前記移行か所定時間内に発生したか否かを表示する移行信号を供給する検出手段
と、前記所定時間内に移行が発生しなかった場合にエラー信刊を供給するために
前記移行信号を感知する感知手段とを含み、前記自己クロ、キング・ディジタル
・データ信号から回復したクロ、り信号のエラーを検出する回路を提供する。
図面の簡単な説明
次に、添付図面を参照してその例によシこの発明の好ましい実施例を説明する。
第1図は、エラー検出回路が含むことを表わす7ステム・インタフェース・レシ
ーバの簡略ブロック図テある。
第2図は、エラー検出回路の好捷しい実′施例のロソ7り図である。
第3図は、/ステム・インタフェース・し7−パのクロック回復回路に利用され
ている持続的低周波発生器回イ路の好ましい実施例のロジ、り図である。
第4図は、回復したクロック信号の発生のための回路のロノ、り図である。
第5図は、この発明の回路により半ビット時以内にエラー状態を検出することを
表わす例として利用する特定信号のタイミング図である。
第6図は、この発明の回路により約15ビツト時内にエラー状態を検出すること
を表わす例として利用す7、特定信号のタイミング図である。
発明を実施するだめの最良の形態
好ましい実施例におけるこの発明のエラー検出回路はプロセッサ・メモリー間パ
スとビット直列リンクとの間に接続されているインタフェース・アダゲタの一部
を形成するシステム・インタフェース・し/−バに含まれる。
第1図はシステム・インタフェース・レシーバ1を表ワス。システム・インタフ
ェースレシーバ1 u I10リンク2からの生直列データ入力信号を受信する
。信号発生器4は3つのディジタル信号と夫々それらの補数(又はパー)信号と
を発生する。これらディジタル信号はデータとクロック信号との組合せである生
直列データ入力信号から引き出される。この生血タ1jデータ信号はマノチェス
タ符号化又は二相符号化タイプのものである。該デイノクル信じは業界で公知の
再生技術を使f用する生直列データ人力信号の復調形状化版であるビット直列デ
ータ信号(BSD )と、1ビ、ト時の1/4だけ遅延したBSDの1/4遅延
版である1/4ビット時信号(QBT )と、1ビット時の3/4たけ遅延した
BSDの3/4遅延版である3/4ビ、ト時信号(TQBT )と、夫々の補数
又は反転信号BSD 、 QBT 、 TQBTなどとから成る。ディジタル信
号及び夫々の補数信号を発生する技術は業界で公知である。故に、信号発生器4
はこれ以上説明しない。
これらディジタル・データ信号はデータ回復回路6及びクロ、り回復回路8に接
続される。データ回復回路6は符号化データをバイナリ゛に復号し、データをバ
イト形式にデンリアライズし、バイト整列し、出力にバイト・データを送信する
。クロ、り回復回路8は自己クロッキング・ディジタル・デー!入力信号からク
ロ、り信号を回復する。/ステム・インタフェース・レシーバ1に利用されるク
ロック回復回路8は欧州特許出願第82900433.2に説明したものと同一
であり、該回路8の動作の詳細な説明については、その出願を参照すると良い。
クロ、り回復回路8からの回復したクロック信号RFI及びデータ入力信号LL
Fはこの発明によるエラー検出回路10とデータ回復回路6とに接続される。自
己クロッキング・ディノタル・データ入力信号が1だ活性でちるというととを表
示するデータ入力信号LLFは以下詳細に説明する。LLF信号ばその状弗の変
化によってBSD信号の低い方の周波数が1ビット時以内に発生したときを表示
する。システム・インタフェース・レシーバ1に入力された送信クロック信号B
FXは又エラー検出回路に接続される。エラー検出回路10はエラー検出と同時
にエラー信号ERRを出力する。
エラー検出回路10のロノ、り図は第2図に表わす。
その好ましい実施例の回路は両方とも立下り端でクロックされるD型フリ/f・
クロックである第1のフロツノ・70.ゾ12と第2のノリ、ノ・70.プ14
とから成る。D型フリ、ゾ・フロップの動作は当業者の良く理解するところであ
る。第1及び第2のフリ。
ゾ・フロツノ12.14両方共システム・インタフェース・レシーバに入力され
た送信クロ、り信号(BFX)が接続されるクロック入力(C)を持つ。第1の
フリップ・フロ、プ12のセット入力(S)は回復したクロ、り信号(RFI
)に接続され、D入力は接地又は論理″O″ルベルに接続される。第1のフリッ
プ・フロッグ12のQ出力又はツルー(眞)出力はノア・グー)16に入力され
る。ノア・ダート16は、又第2の入力に接続されたLLF信号と第3の入力に
接続された回復したクロック信号(RFI )とを持つ。ノア・グートエ6の出
力は第2のフリ、プ・フロ、プ14のD入力に接続される。フリ、プ・フロッグ
エ4のQ出力はエラー信号(ERR)である。ERRが/・イ”のと婆は、クロ
ックのエラーが検出されたということである。
基本的に、エラー検出回路10は送信クロ、りから回復したクロックをサンプル
する。もし、2つのサンプル間で、回復したクロック信号(RFI )が変化し
なかった場合、そのときはエラー状態が存在する。エラー検出回路10の動作は
推定上等しい周波数の基準又0 は絶対クロック信号(送信クロ、りB FX)
に対して回復したクロ、り信号(RFI )を比較することである。もし、絶対
クロ、り信号の連続する負方向に移行する2つの立下シ端の間で、回復したクロ
ックが活性であり、移行又は変化しなかったならば、エラーが検出さ群る。
すなわち回復したクロ、りの期間が正しいとするためには長すぎたことになる。
故に、送信クロ、り(BFX)の期間は回復したクロック信号(RFI )が感
知される所定の期間である。エラー検出回路10が使用する絶対クロック信号(
送信クロックBFX )はシステム・インタフェース・トランスミ、り(図示し
ていない)の送信クロッキング信号でちる。システム・インタフェース・トラン
スミ、りは上記インタフェース・アダシタの一部ヲ形成し、システム内の各種シ
ステム・インタフェース・トランスミッタはほぼ等しい周期を搏つそれら自体の
水晶から発生したそれら個々の送信クロック信号を持つ。
2つのクロ、りの比較は本質的に第1のフリップ・フロ、f12において行われ
る。第1のフリップ・70ププ12のクロ、り入力に入力された送信クロックB
FXはノア・ケ”−)16に対して低周波ディゾ、タル信号を伝搬しようと試み
る。同時に、回復したクロ、り信号RFIは第1のフリ、f・70ツf12のセ
ット端子に入力される。故に、第1のフリップ・フロ、プ12はこれら2つのク
ロック信号の動作により、はぼスイッチのようにセット及びリセットされる。も
し、回復したクロックからのクロ、り信号がない場合には、第1の7リツプ・フ
ロ、f12はセットを失敗するであろう。絶対クロック信号(送信クロック信号
) BFXの次の立下シ端において第1のフリップ・フロ、プ12は10−”と
なる。すなわち、第1のフリップ・フロ、プ12のQ出力は゛ロー”となり、ノ
ア・ダート16に一部反転の条件を与える。信号RFIを含むノア・ゲート16
への第2の入力も同様にして10−”になるが、まだノア・ゲート16に反転の
条件の一部を与えるだけである。ノア・ダート16の反転の資格を与える最後の
入力であるLLF信号が゛ロー”になると、ノア・グー)16を反転する資格を
全部与えた事になる。これは第2のフリップ・フロツノ14のD入力を”ハイ”
にする結果となる。BFX信号の次の尾端において、第2の7リツプ・フロッグ
14が1ノ・イ“にセットされ、エラー信号ERRを発生する。
LLF信号はクロック回復回路8の一部である持続性低周波発生回路から引き出
され、第3図に関して説明を行う。持続性低周波発生回路は回復したクロ、りR
FIが論理″′1”(ハイ)である間、BSD及びBSC信号と共に、QBT及
びTQBT信号とそれらの補数信号とを同時に組合わせる。tEましい実施例の
持続性低周波発生回路を第3図に表わす。下記論理方程式に従ってLLFラッチ
31がセットされ、リセットされる。
LLF = R1五・(BSD −QBT −TQBT )LLF = RFI
・(BSD −QBT −’TQBT )信号BSD 、 QBTが論理“l”
(・・イ)でちり、RFlが論理“0″(ロー)であるとき、ノア・r −)
32の出力は論理“0#(又はロー)である。インバータ33はノア・ダート3
2の出力を反転してノア・ゲート34に対する論理″1”入力を発生する。TQ
BT信号が“ロー″のときには、ノアーケ゛−ト34の出力は鵠ロー”であり、
LLFう、チ31がリセットされる。
すなわち、LLF=0 、 LLFが一ハイ”のためである。
そのとき、同時刻において、ノア・r −) 36に対するQBT 、 BSD
入力は″ロー”であり、信号RFIはまだ唄口−1であるため、ツアーゲート3
6の出力は論理″1”である。従って、インバータ37の出力及びノア・ダート
38の入力は10−〇である。TQBTが@ロー”、TQBTが1ハイ”である
から、ノア・f−)38から60−”出力が発生する。これはノア・ケ8−ト3
8の出力を6ハイ”にし、LLFilo−”にし、LLF ff:″′ハイ”に
してLLFラッチ31をセットする。
上記の状態から見ることができるように、ノア・グー)32.34とインバータ
33とはLLFラッチ31をセットするだめのTQBT 、 QBT 、 BS
Dに対する合成アンド作用を与え、ノア・ダート36.38とインバータ37と
は共にLLFラッチ31をリセットするためにLLFラッチ31のセット及びリ
セットは上記方程式に従って行われる。
回復したクロック信号RF1は表1に記載する論理方程式に従い、第4図のラッ
チ81のセット及びリセットによって発生する。
セット及びリセット・ロジック82は表1に規定したセット及びリセット信号を
使用して実行する。第4図の回路の動作に対する更に詳細な説明は前述の欧州特
許出願を参照すると良い。
エラー検出回路10の動作は第5図及び第6図に表わす特定の例の助けをかシて
理解するのが最良であろう。第5図の例は、エラーの検出才でに半ビツト時経過
した場合を表わす。TA期間中、/ステム・インタフェース・レシーバは通常に
動作している。第5図はビット時と、ビット直列データ信号BSDと、QBT及
びTQBTと、エラー検出回路1oに対するBFX入力信号とを表わす。又、回
復したクロック信号及び発生したLLF及びLLF信号をも表わす。第2のクリ
ップ・クロック14の出力信号(ERR)も又第1のフリップ・クロック12の
出力信号及びノア・ゲート16の出力と共に表わしである。RFIが°ハイ”の
ときは、クリップ・フロツノ12の出力も1ハイ″である。ノア・ゲート16の
出力はほとんどの期間中゛ハイ”であるLLF入力によって“ロー”に維持され
る。LLF 、 LLF信号は上記規定の方程式に従って発生する。この特定の
例においては、エラー状態は時刻Tlにおいて開始する。すなわち、QBTはこ
のとき60−”となっているはずである。このエラー状態の結果として、時刻T
1で回復したクロック・パルスは発生できず、そのため、T1時に点線で表わす
ように、RFlが1ハイ”になるのを失敗することになる。TB期間中、RFl
が゛ロー“であるから、ノア・ダート16は部分的に反転状態が与エラレ、LL
Fも“ロー”であって更に部分的にノア・ケ”−)16に反転の資格を与える。
第1のクリップ・フロツノ12の出力は72時でBFXの立下り信号にょっ・(
ルスRF1の発生がなかったためにセットに失敗した。
その結果、送信クロックBFXが13時で10−”になったときに、第2の7リ
ツプ・70ツ7’14に対するD入力は゛ハイ”になり、それが第2のフリ、プ
・フロ7ゾ14をセットして、13時においてエラー信号ERRを立上らせる。
T1時におけるエラー状態の開始からエラー信号ERRが13時で立上るときま
での期間は1ビット時の半分である。
第6図には、エラーの検出まで1.5ビット時経過した例を表わす。第6図は、
第5図同様、ビット時と、入力ビット直列データ(BSD )と、QBT及びT
QBTと、BFX信号とを表わす。又、発生したLLF及びLLF信号と共にR
FI信号も表わす。第2のフリップ・フロツノ14 (ERR)の出力信号は第
1のクリップ・702ノ12の出力信号とノア・ゲート16の出力と共に表ゎき
れる。なお、第6図におけるエラー検出回路1oは上記同様、TA期間中、正常
に動作している。エラー状態はT1時に開示する。第1の7リツプ・70.ノ1
2の出力はTA期間中を通して“ハイ”に維持される。それは14時のちょうど
前の時刻に発生したBFXの立子シ端の作動期間中、回復したクロ、り信号がま
だ“ハイ”であり、第1のフリップ・クロック12をセットに保持するからであ
る。第1のフリ、プ・クロック12の出力は送信クロック・ノEルスが失なわれ
るため、72時にlJfセ、トされる。72時には、RFl及び百下は”ロー”
となり、ノア・ゲート16を部分的に反転する資格を与える。ひとたび第1の7
リツプ・70ツゾ12の出力が゛ロー”になると、ノア・ゲート16は全部反転
する資格が与えられ、第2のフリ、プ・クロック14のD入力を°゛ハイにする
。13時において、第2のクリップ・クロック14の出力はBFX信号の立下シ
端を通してセットされ、エラー信号ERRi立上らせる。エラー状態の開始から
13時におけるエラー状態の検出までの期間TBは1及び半ビ、ト時(15ビッ
ト時)である。この期間はこの発明のエラー検出回路10におけるエラー状態の
検出の最長期間である。
ナオ、エラー信号はシステム・インタフェース・レシーバ1から直接出力するこ
とができ、又はシステムに対してエラー信号を出力する前にう、チにセットする
ように使用することもできるということを理解するべきである。後者の場合、そ
のラッチはエラーが認識されて、システムにより適当な回復動作がとられるまで
セットされたままに維持される。
FIG、2
FIG、 4
倉−−−−一一−−−−−−−−−−コ r −−mFIG、 5
FIG、6
国際調査報告
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 クロ、り信号の電圧レベルの移行を検出して前記移行が所定の期間内に発生 したか否かを表示する移行信号゛を供給する検出手段(12,16)と、前記移 行信号を感知するようにし前記所定期間内に移行が発生しなかった場合にエラー 信号を供給するようになした感知手段(14)とを含み、自己クロッキング・デ ィノタル・データ信号から回復したクロック信号のエラーを検出するエラー検出 回路。 2、 前記検出手段(12,16)は前記所定の期間を規定する基準クロック信 号を受信するよう適合された入力端子(C)を持つ請求の範囲1項記載のエラー 検出回路。 3 前記検出手段(12,16)は夫々クロック係号と基準クロック信号とに応 答して第1の状態と第2の状態間を交替するスイッチ手段(12)と、前記スイ ッチ手段(12)に動作的に接続されクロック信号の作用として前記スイッチ手 段の状態をダートして前記移行信号を供給するダート手段(16)とを含む請求 の範囲2項記載のエラー検出回路。 −4,前記感知手段(14)は前記ダート手段(16)に動作的に接続された入 力(D)fi−持つフリップ・707ノを含み、前記基準クロック信号を受信す るために配置きれた第2の入力(C)を持つようになしだ請求の範囲3項記載の エラー検出回路。 5、前記ケゝ−ト手段(16)は第1、第2及び第3人力を持つ論理ケ゛−トを 含み、前記第1人力は前記スイッチ手段(12)に動作的に接続され、前記第2 人力は回復したクロ、り信号を受信するよう配置され、前記第3人力はデータ入 力信号を受信するよう配置された請求の範囲3項記載のエラー検出回路。 6、前記スイッチ手段(12)は論理Oレベルに接続された第1人力と、前記基 準クロック信号を受信するよう配置された第2人力と、前記回復したクロ、り信 号を受信するよう配置された第3人力とを持つフリ。 グ・フロ、プを含み、更に前記スイッチ手段(12)の入力端子に動作的に接続 する出力を持つ請求の範囲3項、4項、又は5項記載のエラー検出回路。
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JP57503095A Pending JPS58501561A (ja) | 1981-09-28 | 1982-09-23 | 多重発生源クロツクで符号化した通信エラ−検出回路 |
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JP (1) | JPS58501561A (ja) |
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