JPS5846701B2 - イオンセンタクセイデンキヨクオモチイタブンセキソウチ - Google Patents
イオンセンタクセイデンキヨクオモチイタブンセキソウチInfo
- Publication number
- JPS5846701B2 JPS5846701B2 JP50158932A JP15893275A JPS5846701B2 JP S5846701 B2 JPS5846701 B2 JP S5846701B2 JP 50158932 A JP50158932 A JP 50158932A JP 15893275 A JP15893275 A JP 15893275A JP S5846701 B2 JPS5846701 B2 JP S5846701B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ions
- ion
- electrodes
- taxiden
- sekisouchi
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明はイオン選択性電極を用いた定量分析装置に関す
る。
る。
本発明は特に河川流水の水質検査、工業上等の各種プロ
セスの管理、公害の監視等試料が流通しており、試料中
に着目した単数または複数の成分がどの程度存在するか
と云うことを測定する場合に適したものである。
セスの管理、公害の監視等試料が流通しており、試料中
に着目した単数または複数の成分がどの程度存在するか
と云うことを測定する場合に適したものである。
イオン選択性電極は特定のイオンを検出及び定量するの
に簡便でかつ高感度、高精度であるが、他種のイオンの
妨害を受は易く、妨害イオンの存在により検出定量しよ
うとするイオンの測定値が異って来る。
に簡便でかつ高感度、高精度であるが、他種のイオンの
妨害を受は易く、妨害イオンの存在により検出定量しよ
うとするイオンの測定値が異って来る。
そこで従来は成るイオン選択性電極を用いるときは、そ
の電極に対して妨害作用を有する成分を予め試料から除
去する前処理を行っていた。
の電極に対して妨害作用を有する成分を予め試料から除
去する前処理を行っていた。
そのためこの前処理に時間がか＼りかつ繁雑でこの種の
電気化学的分析方法自身の有する簡便さ、迅速性と云っ
た長所が充分発揮されないのであった。
電気化学的分析方法自身の有する簡便さ、迅速性と云っ
た長所が充分発揮されないのであった。
特に試料が流通している場合に迅速に結果を得て対応動
作をする必要のある場合、上記前処理が介在することは
大へん不利なことである。
作をする必要のある場合、上記前処理が介在することは
大へん不利なことである。
本発明はイオン選択性電極による分析法の上述したよう
な欠点を除き長所を充分に発揮させることを目的とした
ものである。
な欠点を除き長所を充分に発揮させることを目的とした
ものである。
本発明は上記目的を遠戚するため、任意個数の測定しよ
うとするイオンを検出する電極と試料中に存在が予想さ
れるイオンで上記測定しようとするイオンに応答する電
極に妨害作用を及ぼすイオンを検出する電極とを試料槽
に設け、上記各電極の出力に対して他種イオンの干渉を
求めて補正を行う逐次近似計算を行い（ｎ−１）回目の
計算とｎ回目の計算結果の差が所定比率以下になった所
で計算を打切り正しい着目イオンの定量値とする計算手
段に上記各電極の出力を印加するようにしたイオン選択
性電極を用いた分析装置を提供するものである。
うとするイオンを検出する電極と試料中に存在が予想さ
れるイオンで上記測定しようとするイオンに応答する電
極に妨害作用を及ぼすイオンを検出する電極とを試料槽
に設け、上記各電極の出力に対して他種イオンの干渉を
求めて補正を行う逐次近似計算を行い（ｎ−１）回目の
計算とｎ回目の計算結果の差が所定比率以下になった所
で計算を打切り正しい着目イオンの定量値とする計算手
段に上記各電極の出力を印加するようにしたイオン選択
性電極を用いた分析装置を提供するものである。
今検出しようとするイオンをＡ、妨害イオンをＢとし、
各イオンの濃度をＡＯ、ＢＯで表わし、各イオンに応答
する電極の出力をＡ、Ｂとする。
各イオンの濃度をＡＯ、ＢＯで表わし、各イオンに応答
する電極の出力をＡ、Ｂとする。
Ａイオン電極に対するＢイオンの影響は干渉係数をｋと
して、ｋ（ＡＯＢＯ）ＢＯであり、Ａ＝ＡＯ＋ｋ（ＡＯ
ＢＯ）ＢＯである。
して、ｋ（ＡＯＢＯ）ＢＯであり、Ａ＝ＡＯ＋ｋ（ＡＯ
ＢＯ）ＢＯである。
ｋ（ＡＯＢＯ）と書いたのは干渉係数が定数でなく両イ
オンの濃度によって変るからである。
オンの濃度によって変るからである。
同様にしてＢイオンについても、Ｂ＝ＢＯ＋ｔ（ＡＯＢ
Ｏ）ＡＯとなリ、こＸでＡ、Ｂがイオン電極によって直
接得られた濃度値であり、ＡＯ、ＢＯが求めたい（実際
はＡＯが知りたい）真の濃度値である。
Ｏ）ＡＯとなリ、こＸでＡ、Ｂがイオン電極によって直
接得られた濃度値であり、ＡＯ、ＢＯが求めたい（実際
はＡＯが知りたい）真の濃度値である。
上式は干渉係数に、ｔが定数なら簡単に解けてＡＯ、Ｂ
Ｏが求められるが、ｋ、ｔがＡＯ、ＢＯの関数なので計
算が大へん面倒になる。
Ｏが求められるが、ｋ、ｔがＡＯ、ＢＯの関数なので計
算が大へん面倒になる。
そこで例えば次のようなプログラムによって逐次近似法
で上式を解く。
で上式を解く。
まず両電極によって得られた濃度値Ａ、ＢをそのまＳ用
いて、 としてＡ２ 、Ｂ２を求め以下同様の計算を繰返してｎ
回に至る。
いて、 としてＡ２ 、Ｂ２を求め以下同様の計算を繰返してｎ
回に至る。
そして（ｎ−１）回目の値Ａｎ１とｎ回目の値Ａｎとの
差の比率 （Ａｎ−Ａｎ−１）／ Ａｎ が適当に定めた値Ｃ以下になった所で計算を止めＡｎを
正しい値とする。
差の比率 （Ａｎ−Ａｎ−１）／ Ａｎ が適当に定めた値Ｃ以下になった所で計算を止めＡｎを
正しい値とする。
即ちＡｎ中ＡＯ以上の計算はに、ｔの形が予め判ってい
るので、各段毎にに、ｔの値を設定してやれば計算その
ものは単純である。
るので、各段毎にに、ｔの値を設定してやれば計算その
ものは単純である。
しかしこれを入間がやるとなると甚だ繁雑で非能率なの
で、この計算部分は計算機に任せるのである。
で、この計算部分は計算機に任せるのである。
図は本発明の一実施例を示す。
１は試料セルでこの例では管であり試料の液が流通して
いる。
いる。
２゜３．４がイオン選択性電極であり、各電極の出力は
増幅器５で夫々増幅された後Ａ−Ｄ変換器６で数値信号
化されてマイクロプロセッサ７に送られる。
増幅器５で夫々増幅された後Ａ−Ｄ変換器６で数値信号
化されてマイクロプロセッサ７に送られる。
マイクロプロセッサγには電極２，３．４の出力の相互
干渉係数が記憶させてあり、前述計算原理によるプログ
ラムが設定してあり、マイクロプロセッサ１の出力が表
示装置８に送られる。
干渉係数が記憶させてあり、前述計算原理によるプログ
ラムが設定してあり、マイクロプロセッサ１の出力が表
示装置８に送られる。
この例では電極は２，３．４の３個であり、この内例え
ば検出定量しようとするイオンに対応するのは２であり
、３，４は試料中に存在が予想される（必ずしも在ると
は限らない）妨害イオンに応答するものである。
ば検出定量しようとするイオンに対応するのは２であり
、３，４は試料中に存在が予想される（必ずしも在ると
は限らない）妨害イオンに応答するものである。
勿論３電極に対応する３種のイオン全部が検出定量した
いものであり相互干渉するものである場合も有り得る。
いものであり相互干渉するものである場合も有り得る。
本発明は上述したように直接検出定量しようとするイオ
ンだけでなく検出定量しようとするイオン用電極に妨害
作用（干渉）を及ぼすイオンに対しても夫々の選択性電
極を用意し、計算によって相互干渉の影響を補正するよ
うにしたので、従来のように検出定量しようとするイオ
ン以外のイオンで検出定量に干渉するイオンを予め化学
的前処理で除去し検出定量しようとするイオン用の電極
のみを用いていたのに比し、試料の前処理の手数が省す
てイオンの検出定量が能率的になり流通する試料を連続
的に監視すると云うことも可能となるのである。
ンだけでなく検出定量しようとするイオン用電極に妨害
作用（干渉）を及ぼすイオンに対しても夫々の選択性電
極を用意し、計算によって相互干渉の影響を補正するよ
うにしたので、従来のように検出定量しようとするイオ
ン以外のイオンで検出定量に干渉するイオンを予め化学
的前処理で除去し検出定量しようとするイオン用の電極
のみを用いていたのに比し、試料の前処理の手数が省す
てイオンの検出定量が能率的になり流通する試料を連続
的に監視すると云うことも可能となるのである。
図は本発明の一実施例装置の構成を示すブロック図であ
る。 １・・・・・・試料セル、２，３，４・・・・・・イオ
ン選択性電極、５・・・・・・増幅器、６・・・・・・
Ａ−Ｄ変換器、７・・・・・・マイクロプロセッサ、８
・・・・・・表示装置。
る。 １・・・・・・試料セル、２，３，４・・・・・・イオ
ン選択性電極、５・・・・・・増幅器、６・・・・・・
Ａ−Ｄ変換器、７・・・・・・マイクロプロセッサ、８
・・・・・・表示装置。
Claims (1)
- １ 任意個数の検出しようとするイオンに対する選択性
電極と、これらに妨害作用を及ぼすイオンに対する選択
性電極とを試料槽に設け、上記各電極の出力に対して相
互干渉の逐次近似による補正計算を行う計算手段に上記
各電極の出力を印加し、この計算手段の出力として検出
しようとするイオンの定量値を得ることを特徴とするイ
オン選択性電極を用いた分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50158932A JPS5846701B2 (ja) | 1975-12-31 | 1975-12-31 | イオンセンタクセイデンキヨクオモチイタブンセキソウチ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP50158932A JPS5846701B2 (ja) | 1975-12-31 | 1975-12-31 | イオンセンタクセイデンキヨクオモチイタブンセキソウチ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5284795A JPS5284795A (en) | 1977-07-14 |
| JPS5846701B2 true JPS5846701B2 (ja) | 1983-10-18 |
Family
ID=15682479
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP50158932A Expired JPS5846701B2 (ja) | 1975-12-31 | 1975-12-31 | イオンセンタクセイデンキヨクオモチイタブンセキソウチ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5846701B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63272601A (ja) * | 1987-04-25 | 1988-11-10 | Fuji Pack Syst Ltd | 袋への品物供給方法 |
| JPH0547042Y2 (ja) * | 1987-09-17 | 1993-12-10 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01197648A (ja) * | 1988-02-02 | 1989-08-09 | Tokuyama Soda Co Ltd | イオン検知方法及び装置 |
| JPH01244356A (ja) * | 1988-03-25 | 1989-09-28 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | イオン活量の測定方法および装置 |
-
1975
- 1975-12-31 JP JP50158932A patent/JPS5846701B2/ja not_active Expired
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63272601A (ja) * | 1987-04-25 | 1988-11-10 | Fuji Pack Syst Ltd | 袋への品物供給方法 |
| JPH0547042Y2 (ja) * | 1987-09-17 | 1993-12-10 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5284795A (en) | 1977-07-14 |
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