JPS5836450Y2 - 消耗電極式ア−ク溶接ト−チ - Google Patents
消耗電極式ア−ク溶接ト−チInfo
- Publication number
- JPS5836450Y2 JPS5836450Y2 JP1555677U JP1555677U JPS5836450Y2 JP S5836450 Y2 JPS5836450 Y2 JP S5836450Y2 JP 1555677 U JP1555677 U JP 1555677U JP 1555677 U JP1555677 U JP 1555677U JP S5836450 Y2 JPS5836450 Y2 JP S5836450Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- baffle
- guide tube
- gas
- electrode guide
- nozzle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Arc Welding In General (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、シールドガスを使用する消耗電極式アーク溶
接トーチに関するものである。
接トーチに関するものである。
一般にこの種の溶接トーチにおいては、アーク部からス
パッタと呼ばれる小さな金属粒子が飛散する。
パッタと呼ばれる小さな金属粒子が飛散する。
このスパッタがガスノズル或内面やシールドガスの噴出
口に付着すると、シールドガスの円滑が流出が妨げられ
るだけでなく、ガスノズル或いはノズル接手と電極案内
管或いはチップとがスパッタにより橋絡された場合にこ
の橋絡部にアークが発生してトーチを損傷することがあ
る。
口に付着すると、シールドガスの円滑が流出が妨げられ
るだけでなく、ガスノズル或いはノズル接手と電極案内
管或いはチップとがスパッタにより橋絡された場合にこ
の橋絡部にアークが発生してトーチを損傷することがあ
る。
そこで従来のトーチでは、第1図に示すように、電極案
内管1′の先端部の外周に耐熱絶縁材からなるフランジ
付のバッフル7′を挿通してこのバッフルのフランジ7
a′をガスノズル5′内に設けた段部5a′に係合せる
ことにより取付け、このバッフルによりスパッタの実害
を抑制していた。
内管1′の先端部の外周に耐熱絶縁材からなるフランジ
付のバッフル7′を挿通してこのバッフルのフランジ7
a′をガスノズル5′内に設けた段部5a′に係合せる
ことにより取付け、このバッフルによりスパッタの実害
を抑制していた。
第1図に示したトーチでは、スパッタがガスノズル5′
とバッフル7′と電極案内管1′とチップ6′とにより
形成された空間の各壁部に付着するため、このスパッタ
の付着量が増加してガスのシールド効果が低下したとき
に作業者はこの付着したスパッタを除去する必要がある
。
とバッフル7′と電極案内管1′とチップ6′とにより
形成された空間の各壁部に付着するため、このスパッタ
の付着量が増加してガスのシールド効果が低下したとき
に作業者はこの付着したスパッタを除去する必要がある
。
スパッタの除去作業は、ガスノズル5′をノズル接手4
′から取外した後に行なわれるが、上記のトーチではバ
ッフル7′がガスノズル5′を取外した際に同時に外さ
れ、しかもガスノズル5′の内面に付着したスパッタを
除去する際にバッフルとガスノズルとが分離されるので
スパッタの除去作業中にバッフルが紛失し易い欠点があ
った。
′から取外した後に行なわれるが、上記のトーチではバ
ッフル7′がガスノズル5′を取外した際に同時に外さ
れ、しかもガスノズル5′の内面に付着したスパッタを
除去する際にバッフルとガスノズルとが分離されるので
スパッタの除去作業中にバッフルが紛失し易い欠点があ
った。
また一般にバッフル7′はアルミナ磁器のような耐熱性
と電気絶縁性とを有する非鉄金属であるためスツタ除去
時にバッフルを1・−チ本体から取外したときにバッフ
ルを落したり誤ってバッフルに他の硬い物体を当てたり
してバッフルを損傷させることが多かった。
と電気絶縁性とを有する非鉄金属であるためスツタ除去
時にバッフルを1・−チ本体から取外したときにバッフ
ルを落したり誤ってバッフルに他の硬い物体を当てたり
してバッフルを損傷させることが多かった。
更に、上記のようにバッフルとガスノズルとが分離する
構造であると、スパッタ除去作業後の組立時にバッフル
の装着を忘れることがあり、このまま溶接を行なった場
合にはトーチを損傷することがあった。
構造であると、スパッタ除去作業後の組立時にバッフル
の装着を忘れることがあり、このまま溶接を行なった場
合にはトーチを損傷することがあった。
またバッフルをアルミナ磁器のような硬質材料により形
成した場合、このバッフルの内径加工はタングステンの
ような超硬合金のバイトにより行なわなければならず、
非常に高価になる。
成した場合、このバッフルの内径加工はタングステンの
ような超硬合金のバイトにより行なわなければならず、
非常に高価になる。
そこでバッフルの内径部に機械加工を施さないことが考
えられるが、この場合はバッフルと電極案内管との挿通
部にガタが生じるのを避けられない。
えられるが、この場合はバッフルと電極案内管との挿通
部にガタが生じるのを避けられない。
バッフルと電極案内管との挿通部にガタが生じると、ガ
ス通路3′内を軸方向に供給されるシールドガスが半径
方向のガス流出孔702′よりむしろ軸方向に開口する
バッフルと電極案内管との挿通部の間隙から軸方向に流
出する。
ス通路3′内を軸方向に供給されるシールドガスが半径
方向のガス流出孔702′よりむしろ軸方向に開口する
バッフルと電極案内管との挿通部の間隙から軸方向に流
出する。
この場合ガスノズル5′から被溶接物側に噴出されるシ
ールドガスの流れはバッフルと電極案内管との挿通部の
間隙から軸方向に流出するシールドガスにより擾乱され
て乱流化し、バッフルの半径方向のガス流出孔702′
から噴出して形成される略層流状のシールドガス流に比
して被溶接部のシールド効果が低下し、またシールドガ
スの乱流化により被溶接部に大気が混入することがあっ
た。
ールドガスの流れはバッフルと電極案内管との挿通部の
間隙から軸方向に流出するシールドガスにより擾乱され
て乱流化し、バッフルの半径方向のガス流出孔702′
から噴出して形成される略層流状のシールドガス流に比
して被溶接部のシールド効果が低下し、またシールドガ
スの乱流化により被溶接部に大気が混入することがあっ
た。
本考案の目的は、バッフルをトーチ本体に取付けたまま
でスパッタ除去作業を行なうことができるようにし、ま
たバッフルと電極案内管との挿通部にガタがあってもこ
の挿通部からシールドガスが流出することがないように
して上記の欠点を解消した消耗電極式アーク溶接トーチ
を提供することにある。
でスパッタ除去作業を行なうことができるようにし、ま
たバッフルと電極案内管との挿通部にガタがあってもこ
の挿通部からシールドガスが流出することがないように
して上記の欠点を解消した消耗電極式アーク溶接トーチ
を提供することにある。
以下図示の実施例による本考案の溶接トーチを詳細に説
明する。
明する。
第2図において1は軸方向にシールドガスの通路を有す
る電極案内管で、図示の例ではこの案内管の内部に、電
極ワイヤの通路孔201が略軸心部に穿設されたライナ
2が略同心的に配設され、案内管1とライナ2との間に
軸方向に延びるシールドガス通路3が外部に対して気密
的に形成されている。
る電極案内管で、図示の例ではこの案内管の内部に、電
極ワイヤの通路孔201が略軸心部に穿設されたライナ
2が略同心的に配設され、案内管1とライナ2との間に
軸方向に延びるシールドガス通路3が外部に対して気密
的に形成されている。
シールドガス通路3の被溶接側(x、方向側)の端部付
近には、半径方向に噴出孔301が穿設されている。
近には、半径方向に噴出孔301が穿設されている。
4は電極案内管1の略中央部の外周に螺着されたノズル
接手で、この接手は例えば電気絶縁材料からなっていて
案内管1に螺着された第1の接手部材401と、第1の
接手の外周に嵌着されて外周部にノズルを取付けるため
のネジが螺設された硬質材料からなる第2の接手部材4
02とにより構成されている。
接手で、この接手は例えば電気絶縁材料からなっていて
案内管1に螺着された第1の接手部材401と、第1の
接手の外周に嵌着されて外周部にノズルを取付けるため
のネジが螺設された硬質材料からなる第2の接手部材4
02とにより構成されている。
5はノズル接手4の第2の接手部材に螺着されたガスノ
ズル、6は、大径部601と小径部602とを有して小
径部602の外周のネジが電極案内管1のX1方向の端
部内面に設けたネジに螺合されて取付けられたチップで
ある。
ズル、6は、大径部601と小径部602とを有して小
径部602の外周のネジが電極案内管1のX1方向の端
部内面に設けたネジに螺合されて取付けられたチップで
ある。
7は電極案内管1のX1方向の端部外周に挿通又は嵌装
された耐熱性の電気絶縁材よりなるバッフルで、このバ
ッフルの内面には電極案内管1との間の環状空間701
を形成する周設溝が形成されており、その周壁部には環
状空間701に連通ずる少なくとも2個のガス流出孔7
02が配設されている。
された耐熱性の電気絶縁材よりなるバッフルで、このバ
ッフルの内面には電極案内管1との間の環状空間701
を形成する周設溝が形成されており、その周壁部には環
状空間701に連通ずる少なくとも2個のガス流出孔7
02が配設されている。
バッフル7のX2方向の端部は接手4の例えば第1の接
手部材401のX1方向側端部と半径方向にラップする
ようになっている。
手部材401のX1方向側端部と半径方向にラップする
ようになっている。
そしてチップ6の大径部601の少なくとも電極案内管
1のX1方向の端部101に当接する部分の外径は電極
案内管1の外径(従ってバッフル7の電極案内管との挿
通部の内径)より大きく設定され、バッフルはこのノズ
ルの大径部601によりX1方向へ変位しないように係
止されるようになっている。
1のX1方向の端部101に当接する部分の外径は電極
案内管1の外径(従ってバッフル7の電極案内管との挿
通部の内径)より大きく設定され、バッフルはこのノズ
ルの大径部601によりX1方向へ変位しないように係
止されるようになっている。
尚8は電極案内管1のX2方向側端部を覆うように取付
けられた電気絶縁部材である。
けられた電気絶縁部材である。
上記の実施例においては、シールドガス通路3が電極案
内管1の内方に配設されているので、バッフル7の内方
の環状空間701に至るまでの途中でシールドガスが外
部に流出することがなく、またバッフル7とノズル接手
4とが一部でラップしているため、ガス流出孔702以
外からのシールドガスの流出が抑止される。
内管1の内方に配設されているので、バッフル7の内方
の環状空間701に至るまでの途中でシールドガスが外
部に流出することがなく、またバッフル7とノズル接手
4とが一部でラップしているため、ガス流出孔702以
外からのシールドガスの流出が抑止される。
従ってシールドガスはガス流出孔702のみから流出し
、良好なシールドガス流を得ることができる。
、良好なシールドガス流を得ることができる。
更に、バッフル7はチップ6の大径部601によりX1
方向に移動しないように係止されているため、スパッタ
除去作業時にはこのバッフルを取外さずにガスノズル5
のみを外すことができる。
方向に移動しないように係止されているため、スパッタ
除去作業時にはこのバッフルを取外さずにガスノズル5
のみを外すことができる。
第3図は本考案の他の実施例を示したもので、電極案内
管1の外周部に軸方向に延在するスリット31を設けて
シールドガス通路3を形成した場合である。
管1の外周部に軸方向に延在するスリット31を設けて
シールドガス通路3を形成した場合である。
ノズル接手4は電気絶縁材料からなる部材の両端に取付
ネジを直接螺設したものからなり、この接手のX1方向
側端部のネジにガスノズル5が螺着されている。
ネジを直接螺設したものからなり、この接手のX1方向
側端部のネジにガスノズル5が螺着されている。
またX2方向側端部内面に設けたネジがベース金具9の
端部のネジに螺合され、ベース金具9の外周は電気絶縁
部材8により覆われている。
端部のネジに螺合され、ベース金具9の外周は電気絶縁
部材8により覆われている。
接手4のX1方向側端部はバッフル7のX2方向側端部
の外周にラップされ、このラップした部分によりシール
ドガスの流出が抑止されている。
の外周にラップされ、このラップした部分によりシール
ドガスの流出が抑止されている。
ベース金具9と電極案内管1との間にはシールドガス流
路3に流通するガス通路311が形成され、シールドガ
スはこのガス通路311からシールドガス通路3を経て
バッフル7の内方の環状空間701へと供給される。
路3に流通するガス通路311が形成され、シールドガ
スはこのガス通路311からシールドガス通路3を経て
バッフル7の内方の環状空間701へと供給される。
尚第3図の実施例では電極案内管1の外周にス1ットを
設けてシールドガス通路3を形成したが、電極案内管1
の外側に配設される部材(図示の例ではノズル接手4等
の部材)の内周にスリットを設ける等の手段によりシー
ルドガス通路を形成することもできる。
設けてシールドガス通路3を形成したが、電極案内管1
の外側に配設される部材(図示の例ではノズル接手4等
の部材)の内周にスリットを設ける等の手段によりシー
ルドガス通路を形成することもできる。
次に第4図は第2図のトーチに変形を加えた本考案の更
に他の実施例を示したもので、バッフル7とノズル接手
4とをラップさせることなく、電極案内管1の外周に嵌
装されたバッフル7をノズル接手4とチップ6との間に
挟持または遊止するようにしたものである。
に他の実施例を示したもので、バッフル7とノズル接手
4とをラップさせることなく、電極案内管1の外周に嵌
装されたバッフル7をノズル接手4とチップ6との間に
挟持または遊止するようにしたものである。
図示の例ではバッフル7かノズル接手4とチップ6との
間に挟持されていてバッフルの軸線方向の変位が阻止さ
れているが、ノズル接手4とチップ6との間の間隙の軸
方向寸法とバッフル7の軸方向寸法とを考慮した場合、
バッフル7の軸方向寸法をノズル接手4とチップ6との
間隙により僅かに小さく形成してバッフル7をノズル接
手とチップとの間に遊止的に、即ち僅かに軸線方向の変
位を許容し得るようにして配置した方がバッフル7を損
傷することなく有利である。
間に挟持されていてバッフルの軸線方向の変位が阻止さ
れているが、ノズル接手4とチップ6との間の間隙の軸
方向寸法とバッフル7の軸方向寸法とを考慮した場合、
バッフル7の軸方向寸法をノズル接手4とチップ6との
間隙により僅かに小さく形成してバッフル7をノズル接
手とチップとの間に遊止的に、即ち僅かに軸線方向の変
位を許容し得るようにして配置した方がバッフル7を損
傷することなく有利である。
第2図及び第4図に示したように、電極案内管1の内方
にシールドガスの通路を設けた場合には、第3図のよう
に電極案内管の外部にシールドガス通路を設けた場合に
比べて、シールドガスが環状空間701に至るまでの途
中で外部に漏洩する危険がなく有利である。
にシールドガスの通路を設けた場合には、第3図のよう
に電極案内管の外部にシールドガス通路を設けた場合に
比べて、シールドガスが環状空間701に至るまでの途
中で外部に漏洩する危険がなく有利である。
第2図及び第3図のように、ノズル接手4とバッフル7
とを一部でラップさせた場合には、シールドガスの流出
を抑止できるだけでなく、ノズル接手4とバッフル7と
の間の間隙部ヘスバッタが入り込む虞れがなくなる。
とを一部でラップさせた場合には、シールドガスの流出
を抑止できるだけでなく、ノズル接手4とバッフル7と
の間の間隙部ヘスバッタが入り込む虞れがなくなる。
尚第2図の1・−チにおいては、バッフル7のガス流出
孔702以外からシールドカ゛スが流出することは殆ん
どないが、第3図及び第4図のトーチにおいては、力゛
ス流出孔702以朴からシールドガスが漏洩する可能性
がある。
孔702以外からシールドカ゛スが流出することは殆ん
どないが、第3図及び第4図のトーチにおいては、力゛
ス流出孔702以朴からシールドガスが漏洩する可能性
がある。
しかしながらこの場合たとえ漏洩したとしても漏洩する
シールドカ゛スの流量は僅かなもので゛あり、しかもガ
ス流出孔702よりもチップ6側の部分からは漏洩しな
いため、ガス流出孔702から流出した略層状のシール
ドガス流は殆んど擾乱させることなく、良好なシールド
ガス流を得ることができる。
シールドカ゛スの流量は僅かなもので゛あり、しかもガ
ス流出孔702よりもチップ6側の部分からは漏洩しな
いため、ガス流出孔702から流出した略層状のシール
ドガス流は殆んど擾乱させることなく、良好なシールド
ガス流を得ることができる。
以上本考案の実施例を種々示したが、本考案はこれらの
実施例に限定されるものではなく、上記実施例の各部を
適宜に組合せたり、同等の部材で置換したりすることに
より種々の変形を行なうことができるのは勿論である。
実施例に限定されるものではなく、上記実施例の各部を
適宜に組合せたり、同等の部材で置換したりすることに
より種々の変形を行なうことができるのは勿論である。
以上のように、本考案によれば、バッフルがチップによ
り係止されているため、バッフルを取外さずにノズルの
みを外すことができ、スパッタの除去時にバッフルを紛
失したリバツフルを落下させて損傷したりするのを防止
できる利点がある。
り係止されているため、バッフルを取外さずにノズルの
みを外すことができ、スパッタの除去時にバッフルを紛
失したリバツフルを落下させて損傷したりするのを防止
できる利点がある。
またこのようにバッフルをトーチ本体に取付けたままで
スパッタの除去作業を行なうことができるので従来のよ
うにスパッタ除去後にバッフルの取付を忘れる慮れがな
く、l−−チの損傷を防ぐことができる。
スパッタの除去作業を行なうことができるので従来のよ
うにスパッタ除去後にバッフルの取付を忘れる慮れがな
く、l−−チの損傷を防ぐことができる。
更に、電極案内管の先端部に取付けられるチップがバッ
フルと電極案内管との挿通部の内径よりも大きい外径を
有しているので、たとえバッフルと電極案内管との挿通
部にガタがあってもこの挿通部の端部はチップで遮蔽さ
れ、シールドガスがバッフルと電極案内管との間の間隙
から流出することはない。
フルと電極案内管との挿通部の内径よりも大きい外径を
有しているので、たとえバッフルと電極案内管との挿通
部にガタがあってもこの挿通部の端部はチップで遮蔽さ
れ、シールドガスがバッフルと電極案内管との間の間隙
から流出することはない。
したがってバッフルのガス流出孔から流出した略層流状
のシールドガス流は擾乱させることなく良好なシールド
効果を得ることができる。
のシールドガス流は擾乱させることなく良好なシールド
効果を得ることができる。
第1図a従米の1−一部の縦断面図、同図すは同図aの
電極案内管とシールドガス通路とを示す横断面図、第2
図乃至第4図はそれぞれ本考案の異なる実施例を示す縦
断面図である。 1・・・・・・電極案内管、3・・・・・・シールドガ
ス通路、4・・・・・・ノズル接手、5・・・・・・ガ
スノズル、6・・・・・・チップ、7・・・・・・バッ
フル、601・・・・・・大径部、701・・・・・・
環状空間、702・・・・・・ガス流出孔、311・・
・・・・シールドガス通路。
電極案内管とシールドガス通路とを示す横断面図、第2
図乃至第4図はそれぞれ本考案の異なる実施例を示す縦
断面図である。 1・・・・・・電極案内管、3・・・・・・シールドガ
ス通路、4・・・・・・ノズル接手、5・・・・・・ガ
スノズル、6・・・・・・チップ、7・・・・・・バッ
フル、601・・・・・・大径部、701・・・・・・
環状空間、702・・・・・・ガス流出孔、311・・
・・・・シールドガス通路。
Claims (1)
- 電極案内管の先端部の外周に耐熱性の電気絶縁材からな
るバッフルを挿通し、前記バッフルの挿通部の内径より
も大きい外径を有するチップを前記電極案内管の先端部
に螺着するとともに前記バッフルの内方に環状空間を設
け、且つ該環状空間に連通ずる少なくとも2個のガス流
出孔を前記バッフルの周壁部に設けた消耗電極型アーク
溶接トーチ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1555677U JPS5836450Y2 (ja) | 1977-02-10 | 1977-02-10 | 消耗電極式ア−ク溶接ト−チ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1555677U JPS5836450Y2 (ja) | 1977-02-10 | 1977-02-10 | 消耗電極式ア−ク溶接ト−チ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS53110926U JPS53110926U (ja) | 1978-09-05 |
JPS5836450Y2 true JPS5836450Y2 (ja) | 1983-08-16 |
Family
ID=28837459
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1555677U Expired JPS5836450Y2 (ja) | 1977-02-10 | 1977-02-10 | 消耗電極式ア−ク溶接ト−チ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5836450Y2 (ja) |
-
1977
- 1977-02-10 JP JP1555677U patent/JPS5836450Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS53110926U (ja) | 1978-09-05 |
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