JPS5832449B2 - 撮像管タ−ゲットの製造方法 - Google Patents
撮像管タ−ゲットの製造方法Info
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- JPS5832449B2 JPS5832449B2 JP9305479A JP9305479A JPS5832449B2 JP S5832449 B2 JPS5832449 B2 JP S5832449B2 JP 9305479 A JP9305479 A JP 9305479A JP 9305479 A JP9305479 A JP 9305479A JP S5832449 B2 JPS5832449 B2 JP S5832449B2
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- Japan
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- film
- manufacturing
- image pickup
- pickup tube
- layer
- Prior art date
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
- H01J9/20—Manufacture of screens on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted or stored; Applying coatings to the vessel
- H01J9/233—Manufacture of photoelectric screens or charge-storage screens
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Image-Pickup Tubes, Image-Amplification Tubes, And Storage Tubes (AREA)
- Formation Of Various Coating Films On Cathode Ray Tubes And Lamps (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は光導電型撮像管ターゲットの製造方法に関する
ものである。
ものである。
従来、撮像管ターゲットの製造は透明導電膜を有するガ
ラス基板上にZnS 、 Zn5e ) CctS t
CdSeの少なくとも1種以上からなる膜を第一層とし
て被着形成し、(Zn1xCdxTe)1 y(In
2Teg)yを主成分とし平均の組成比が0<x<1.
0<y〈0.3からなる膜を第二層として被着形成した
後、真空中又は不活性ガス中で熱処理を施こすことGこ
よって行われていた。
ラス基板上にZnS 、 Zn5e ) CctS t
CdSeの少なくとも1種以上からなる膜を第一層とし
て被着形成し、(Zn1xCdxTe)1 y(In
2Teg)yを主成分とし平均の組成比が0<x<1.
0<y〈0.3からなる膜を第二層として被着形成した
後、真空中又は不活性ガス中で熱処理を施こすことGこ
よって行われていた。
又、別な製造方法として、透明導電膜を有するガラス基
板上にZnS 、Zn5e 、CdS 、CdSeの少
なくとも1種以上からなる膜を第一層として被着形成し
、CdTeを主成分とする膜を第二層として被着形成す
る。
板上にZnS 、Zn5e 、CdS 、CdSeの少
なくとも1種以上からなる膜を第一層として被着形成し
、CdTeを主成分とする膜を第二層として被着形成す
る。
更に第二層上に(ZnTe)1 z(In2Te3)z
を主成分とし平均の組成比がO<Z<0.3からなる膜
を第三層として被着形成した後、真空又は不活性ガス中
で熱処理を施こすことによって行われていた。
を主成分とし平均の組成比がO<Z<0.3からなる膜
を第三層として被着形成した後、真空又は不活性ガス中
で熱処理を施こすことによって行われていた。
この従来の製造方法による撮像管ターゲットは光感度が
高く暗電流・残像が低い等の特徴がある。
高く暗電流・残像が低い等の特徴がある。
しかしながら、この従来の製造方法による撮像管ターゲ
ットはテレビカメラに用いた時、温度が上昇すると小さ
な点キズが発生する欠点がある。
ットはテレビカメラに用いた時、温度が上昇すると小さ
な点キズが発生する欠点がある。
一般にブロッキング型撮像管はあるターゲット電圧以下
では焼付けがおこり(焼付けの消える電圧をVminと
定義する)。
では焼付けがおこり(焼付けの消える電圧をVminと
定義する)。
あるターゲット電圧以上になると点キズが発生する(こ
のターゲット電圧をVmaxと定義する)。
のターゲット電圧をVmaxと定義する)。
この”minとVmaxの間が使用可能なターゲット電
圧であり電圧裕度という。
圧であり電圧裕度という。
このV ・ 、■ は温度によって変min
maX 化するために電圧裕度をできる限り大きくする必要があ
る。
maX 化するために電圧裕度をできる限り大きくする必要があ
る。
第1図に従来の製造方法(こよる撮像管と本発明製造方
法による撮像管のVminとVmaxの温度依存性を示
す。
法による撮像管のVminとVmaxの温度依存性を示
す。
曲線■は本発明と従来によるVmloであって大差はな
いが、曲線■、■はそれぞれ従来と本発明によるVma
xであって差が著しい。
いが、曲線■、■はそれぞれ従来と本発明によるVma
xであって差が著しい。
このようにV ・ 、■ が温度に大きくmin
maX 依存するので、広範囲の温度領域で画質の良否を考慮す
る場合、ターゲット電圧裕度は実用上非常に重要な特性
の一つとなる。
maX 依存するので、広範囲の温度領域で画質の良否を考慮す
る場合、ターゲット電圧裕度は実用上非常に重要な特性
の一つとなる。
本発明は、ターゲット電圧裕度の大きい撮像管ターゲッ
トの製造方法を提供するものである。
トの製造方法を提供するものである。
以下、実施例を用いて本発明による製造方法を説明する
。
。
実施例 ■
第2図Gこ本発明の製造方法(こよる撮像管ターゲット
の断面図を示す。
の断面図を示す。
透明導電膜2を有するガラス基板1上に真空蒸着法によ
り第一層3としてZn5eの膜を基板温度150〜30
0℃の範囲で0.05〜0.2 pmの膜厚に蒸着する
。
り第一層3としてZn5eの膜を基板温度150〜30
0℃の範囲で0.05〜0.2 pmの膜厚に蒸着する
。
次に第一層3上に(Zn □、3 Cd O,7Te)
0.95 (T n2 Te 3) 0.05からな
る膜を第二層4**として基板温度100〜300°C
の範囲で0.5〜4.0μmの膜厚に蒸着する。
0.95 (T n2 Te 3) 0.05からな
る膜を第二層4**として基板温度100〜300°C
の範囲で0.5〜4.0μmの膜厚に蒸着する。
そしてこの膜をH2雰囲気中で400〜600℃の範囲
で5〜120分の熱処理を行いビームランデングの改善
のために第二層4上に0.1μm位の膜厚のSb2S3
膜を蒸着する。
で5〜120分の熱処理を行いビームランデングの改善
のために第二層4上に0.1μm位の膜厚のSb2S3
膜を蒸着する。
第1表に本発明の製造方法により製造された撮像管ター
ゲットと従来の製造された撮像管ターゲットを用いた%
インチ撮像管の緒特性の結果を示す。
ゲットと従来の製造された撮像管ターゲットを用いた%
インチ撮像管の緒特性の結果を示す。
第1表のAはH2雰囲気中で400〜6008Cの範囲
で5〜120分の熱処理を行ったもので、従来の製造方
法で作ったaに比べて夕・−ゲット電圧裕度が増加して
いることがわかる。
で5〜120分の熱処理を行ったもので、従来の製造方
法で作ったaに比べて夕・−ゲット電圧裕度が増加して
いることがわかる。
実施例 ■
第3図に本発明の別な製造方法による撮像管の断面図を
示す。
示す。
透明導電膜2を有するガラス基板上1上に、真空蒸着法
により第一層3としてZn5eの膜を基板温度150〜
300℃の範囲で0.03〜0.1μmの膜厚に蒸着す
る。
により第一層3としてZn5eの膜を基板温度150〜
300℃の範囲で0.03〜0.1μmの膜厚に蒸着す
る。
次に第一層3上にCdTeからなる膜を第二層5として
基板温度100〜300℃の範囲で0.:3〜2.0μ
mの膜厚に蒸着し、更Oこその上(こ(ZnTe)。
基板温度100〜300℃の範囲で0.:3〜2.0μ
mの膜厚に蒸着し、更Oこその上(こ(ZnTe)。
、98(Tn2Te3 )。
、。2からなる膜を第三層6として基板温度100〜3
00℃の範囲で1.0〜2.5μ扉の膜厚に蒸着する。
00℃の範囲で1.0〜2.5μ扉の膜厚に蒸着する。
しかる後、H2雰囲気中で400〜600℃の範囲で5
〜120分の熱処理を行いビームランデングの改善のた
めに第三層5上にo、iμmの膜厚のSb2S3膜を蒸
着する。
〜120分の熱処理を行いビームランデングの改善のた
めに第三層5上にo、iμmの膜厚のSb2S3膜を蒸
着する。
第1表のBはH2雰囲気中で400〜600°Cの範囲
で5〜120分の熱処理を行ったもので、従来の製造方
法で作ったbに比べてターゲット電圧裕度が増加してい
ることがわかる。
で5〜120分の熱処理を行ったもので、従来の製造方
法で作ったbに比べてターゲット電圧裕度が増加してい
ることがわかる。
各実施例では最後の層に0.1μm位の膜厚のSb2S
3膜を形成しているがSb2S3膜が無くても同様な結
果である。
3膜を形成しているがSb2S3膜が無くても同様な結
果である。
なおH2雰囲気中熱処理工程において熱処理を400〜
600℃以外の範囲で行った場合は電圧裕度は従来のも
のと比較してほとんど変化がなかった。
600℃以外の範囲で行った場合は電圧裕度は従来のも
のと比較してほとんど変化がなかった。
以上、説明したよう(こ後熱処理としてH2雰囲気中4
00〜600℃で5〜120分の熱処理する本発明の製
造方法による撮像管ターゲットは、ターゲット電圧裕度
が大きくなるために、広範囲の温度領域で良好な画質が
得られ実用上非常に有効なものである。
00〜600℃で5〜120分の熱処理する本発明の製
造方法による撮像管ターゲットは、ターゲット電圧裕度
が大きくなるために、広範囲の温度領域で良好な画質が
得られ実用上非常に有効なものである。
本発明の製造方法は、撮像管ターゲットの製造だけでな
く光導電素子の製造方法として、受光素子等の製造にも
使用できる。
く光導電素子の製造方法として、受光素子等の製造にも
使用できる。
第1図は従来の製造方法による撮像管と本発明の製造方
法による撮像管のvmaxと■minの温度特性を示す
図である。 第2図は本発明の製造方法による撮像管ターゲットの一
実施構成を示す断面図である。 第3図は本発明の製造方法による撮像管ターゲットの他
の実施構成を示す断面図である。 1・・・・・・ガラス基板、2・・・・・・透明導電膜
、3・・・・・・Zn5e膜、4・・・・・・(Zn1
−XCdxTe)1(ln2Te3) 膜、5・・・・
・・CdTeを主成分とする物質からなる膜、6 ・・
・−・(ZnTe)、−2(ln2Te3)z膜。
法による撮像管のvmaxと■minの温度特性を示す
図である。 第2図は本発明の製造方法による撮像管ターゲットの一
実施構成を示す断面図である。 第3図は本発明の製造方法による撮像管ターゲットの他
の実施構成を示す断面図である。 1・・・・・・ガラス基板、2・・・・・・透明導電膜
、3・・・・・・Zn5e膜、4・・・・・・(Zn1
−XCdxTe)1(ln2Te3) 膜、5・・・・
・・CdTeを主成分とする物質からなる膜、6 ・・
・−・(ZnTe)、−2(ln2Te3)z膜。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 透明導電膜を有するガラス基板上に、ZnS。 Zn5e s ccts j CdSeの少なくとも1
種以上からなる膜を第一層として被着形成する工程と、
前記第一層上に光導電膜として(Zn1− xCdxT
e )1−(In2Te3)yを主成分とし平均の組成
比がOくx<1.0<y<0.3からなる膜を被着形成
する工程と、その後少なくとも水素を含む雰囲気中で前
記各層を熱処理することを特徴とする撮像管ターゲット
の製造方法。 2 光導電膜がCdTeを主成分とする物質からなる膜
と、同膜上に被着形成された、(ZnTe )1 z
(In2Te3)zを主成分とし平均の組成比がO〈z
< 0.3からなる膜とからなることを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載の撮像管ターゲットの製造方法
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9305479A JPS5832449B2 (ja) | 1979-07-20 | 1979-07-20 | 撮像管タ−ゲットの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9305479A JPS5832449B2 (ja) | 1979-07-20 | 1979-07-20 | 撮像管タ−ゲットの製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5618340A JPS5618340A (en) | 1981-02-21 |
JPS5832449B2 true JPS5832449B2 (ja) | 1983-07-13 |
Family
ID=14071786
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9305479A Expired JPS5832449B2 (ja) | 1979-07-20 | 1979-07-20 | 撮像管タ−ゲットの製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5832449B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6000420B1 (ja) | 2015-08-31 | 2016-09-28 | メック株式会社 | エッチング液、補給液及び銅配線の形成方法 |
-
1979
- 1979-07-20 JP JP9305479A patent/JPS5832449B2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5618340A (en) | 1981-02-21 |
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