JPS5831228B2 - 液滴噴射装置 - Google Patents

液滴噴射装置

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JPS5831228B2
JPS5831228B2 JP9834078A JP9834078A JPS5831228B2 JP S5831228 B2 JPS5831228 B2 JP S5831228B2 JP 9834078 A JP9834078 A JP 9834078A JP 9834078 A JP9834078 A JP 9834078A JP S5831228 B2 JPS5831228 B2 JP S5831228B2
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JP
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piezoelectric element
diaphragm
silicon
droplet
oxide film
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JP9834078A
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JPS5524580A (en
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正年 笠原
正次 寒河江
泰昌 松田
元久 西原
寛児 川上
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は液滴噴射装置に係り、特にノズルより電気信号
に応じて液滴を噴射させるための電気音響変換部の圧電
素子の位置決めを正確に行うのに好適な構造の液滴噴射
装置に関する。
この種液滴噴射装置はインクジェットプリンタなどに用
いられるが、従来の液滴噴射装置は、第1図に示すよう
に構成されていた。
第1図aは平面図、bは正面図、Cは側面図で、第1図
において、1は液滴を噴射させるためのノズル、2は液
体をノズル1に導く流路で、その途中にダイヤフラム室
3があって、ダイヤフラム室3には電気音響変換部4が
設けである。
電気音響変換部4は、パルス状の電気信号が与えられる
と変形する圧電素子(圧電性高分子材料などのものを含
む。
)41と圧電素子41の変形に応じて変位するダイヤフ
ラム42とよりなり、電気信号に応じてダイヤフラム4
2が変位するとダイヤプラム室3の体積が変化するよう
になっている。
5は流体ダイオ−ド、6は供給タンクTより導入管8を
経て液体が供給されている共通液体だめで、流体ダイオ
ード5は液体を共通液体だめ6からノズル1の方向にの
み通す作用をするように構成されており、共通液体だめ
6はそれぞれの流体ダイオード5を経てそれぞれのノズ
ル1に液体を導いている。
ところで、ノズル1、流路2、ダイヤフラム室3、流体
ダイオード5および共通液体だめ6は、第1図すに示す
ように、本体9の片面側に溝部を形成し、本体9をそれ
の溝部を内側としてベース10に接着して構成されてい
る。
そして、ダイヤフラム42はダイヤフラム室3用の溝部
が形成されると同時に形威される。
圧電素子41はダイヤフラム42のダイヤフラム室3側
と反対側に接着しである。
なお、図示を省略しであるが、圧電素子41は駆動回路
に接続されていて、駆動パルスが与えられる。
したがって、供給タンク7からノズル1までの流路内に
液体が充満された状態で、圧電素子41に駆動パルスが
与えられると、圧電素子41がたわみ、それに応じてダ
イヤフラム42が変位して、ダイヤプラム室3の体積が
急激に小さくなり、それに応じてノズル1から液滴が噴
射される。
上記のような構成の液滴噴射装置において、液滴噴射特
性を左右する最も大きな要因は、電気音響変換部4のダ
イヤフラム42と圧電素子41との厚さ、パ大きさおよ
び相対位置関係などである。
ところで、それぞれの厚さおよび大きさは比較的容易に
管理できるが、相対位置関係は、ダイヤフラム42に圧
電素子41を接着した構成となっているので、圧電素子
41の正確な位置決めの管理が困難である。
特に、ノズル1の数がマルチ化シて、電気音響変換部4
のまわりが高密度化され、さらに、全体が小形化される
(こしたがって、益々困難になる。
ところで、従来、本体9が不透明の材料の場合は、圧電
素子41の接着位置を本体9の端面を基準面として治具
を押しあてることなどlこよって決めているが、このよ
うな方法によると、治具の遊びや端面加工誤差などが累
積されるので、正確な位置決めができず、液滴噴射特性
にばらつきを生じていた。
また、圧電素子41をダイヤフラム42に接着後の位置
測定が困難であり、液滴噴射特性(こ対する相関を求め
ることもできず、歩留向上策に苦慮していた。
本発明は上記に鑑みてなされたものであって、その目的
とするところは、液滴噴射特性のばらつきが少ない液滴
噴射装置を提供することにある。
本発明の特徴は、ダイヤフラムをシリコンで構成し、こ
のダイヤフラムの圧電素子接着部分Oこ接着位置を示す
パターンを形成しておくようにした点にある。
以下本発明を第2図ないし第5図に示した実施例および
第6図を用いて詳細に説明する。
第2図は本発明の液滴噴射装置の一実施例を示す平面図
、第3図は第2図の正面図で、第2図、第3図Iこおい
て、第1図と同一部分は同じ符号で示し、説明を省略す
る。
第1図と異なるところは、本体9としてシリコン板を用
い、本体9のノズル1、流路2、ダイヤフラム室3、流
体ダイオード5、共通液体だめ6用の溝部を形威しであ
る部分の反対側の部分にシリコンの酸化膜(Si02)
11を形成させ、酸化膜11の圧電素子41を接着する
ダイヤフラム42のダイヤフラム室3側と反対側の部分
の位置をエツチングによって除去して四角の窓12を設
け、窓124こ圧電素子41を接着するようにした点に
ある。
酸化膜11は厚さ0.3〜1.0μ程度と非常に薄いた
め、光の干渉によってシリコン表面とは異なった色に見
え、窓12を肉眼で観察することができ、窓12の位置
に圧電素子41を正確に接着することは容易である。
なお、窓12の位置決めは、半導体製造プロセスで用い
られる両面マスクアライナ−などを用いれば、容易に数
ミクロン以上の精度で正確に行うことができる。
これは、従来の治具を用いて本体9の端面を基準面とし
て位置決めする場合よりも、容易で、かつ、正確である
特に、液滴噴射装置が高密度化されたものであり、ダイ
ヤフラム42と圧電素子41のまわりが限界設計となっ
ている場合でも、ダイヤフラム42(こ対する窓12の
位置決め、すなわち、圧電素子41の接着の位置決めを
正確に行うのに好適である。
上記したように、本発明の実施例によれば、ダイヤフラ
ム42に対する圧電素子41の接着の位置決めを正確に
行うことができるから、液滴噴射装置の液滴噴射特性の
ばらつきを小さくすることができる。
そして、例えば、7つのノズルの液滴噴射装置に本発明
を適用した場合、位置決めを含めた圧電素子41の接着
時間が従来の1/3程度に短縮され、かつ、接着作業の
歩留りが従来の50〜70%から約100%に向上する
第4図は本発明の他の実施例を示す図で、aは平面図、
bは正面図である。
第4図においては、シリコンよりなる本体9の表面に形
成したシリコン酸化膜11の上面に本体9の下面の流路
パターン(ノズル1、流路2、ダイヤフラム室3、流体
ダイオード5など)のエツチングに用いるのと同一のマ
スクを用いて酸化膜11を除去してパターン窓13を形
成し、窓13のうち、ダイヤフラム42に相当する窓部
に圧電素子41を接着しである。
この場合、酸化膜11が非常に薄いので、流路部分の機
械的強度に対して何ら影響はなく、効果は第2図、第3
図の場合と同様である。
第5図は本発明のさらに他の実施例を示す正面図で、第
5図においては、シリコンよりなる本体9の表面に形成
したシリコン酸化膜11に第2図、第3図を用いて説明
したのと同様の要領で一部酸化膜11を除去して窓12
を形成し、この窓12の部分を本体9の下面に流路パタ
ーンをエツチングするときに同時にエツチングして、窓
12の部分を深い溝部14としてあり、溝部14に圧電
素子41が接着しである。
第5図によれば、第2図、第3図の窓12が溝部14と
なっているから、圧電素子41の明確な位置決めが可能
になる。
なお、この場合、ダイヤフラム42の厚さを同一とする
ためには、シリコンよりなる本体9として溝部14の深
さだけ厚いシリコン板を使用しなければならないが、実
際には本体9として板厚0.2 mmのものを0.4
mrtt程度とすればよく、このことは、ウェハカット
時の歩留り向上の上から有利であり、また、シリコン酸
化膜11の形成、洗浄およびエツチングなどの製造プロ
セス中の歩留り向上のためにも有利であり、かえってコ
スト低減につながる。
第6図は、圧電素子にパルス状の電気信号が与えられて
、圧電素子が励起されてダイヤフラムが変位したときの
ダイヤフラムの端部まわりの変位計算例を図示したもの
で、aは第1図の場合、bは第5図の場合である。
すなわち、第6図aに示すように、固定部15とダイヤ
フラム16の上面が平面状になっているときは、図示点
線で示すよう(こ、固定部15の断面■の部分までダイ
ヤフラム16の変位の影響が及んでいるが、第6図すに
示すように、固定部15に肉厚部15aがあると、肉厚
部15aの剛性により、変位の影響が及ぶのは断面■の
部分までとなり、aの場合より狭くなる。
したがって、第5図の場合は、ダイヤフラム室3を設計
する場合に、隣接するダイトフラム室3との間隔を狭く
することが可能になり、それだけ全体を小形化できるこ
とになる。
なお、第2図〜第5図に示した実施例では、本体9の表
面にシリコン酸化膜11を形成させて、窓12またはパ
ターン窓13を設けたが、これらの窓をシリコン酸化膜
11を形成させずに、シリコンの本体9の表面に直接エ
ツチングによって設けるようにしてもよく、効果が変る
ことはない。
以上説明したように、本発明によれば、ダイヤフラムに
対する圧電素子の位置決めを容易に、かつ、正確に行う
ことができ、液滴噴射特性のばらつきが少ない液滴噴射
装置を提供できるという顕著な効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の液滴噴射装置の構成図、第2図は本発明
の液滴噴射装置の一実施例を示す平面図、第3図は第2
図の正面図、第4図は本発明の他の実施例を示す構成図
、第5図は本発明のさらに他の実施例を示す正面図、第
6図は第5図の効果を説明するためのダイヤフラム端部
まわりの変位計算例を示す図である。 1・・・・・・ノズル、2・・・・・・流路、3・・・
・・・ダイヤフラム室、4・・・・・・電気音響変換部
、5・・・・・・流体ダイオード、6・・・・・・共通
液体だめ、7・・・・・・供給タンク、9・・・・・・
本体、10・・・・・・ベース、11・・・・・・シリ
コン酸化膜、12・・・・・・窓、13・・・・・・パ
ターン窓、14・・・・・・溝部、41・・・・・・圧
電素子、42・・・・・・ダイヤフラム。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 液滴を噴射するノズルと、供給タンクから前記ノズ
    ルまで液体を導く流路と、該流路に設けられ電気信号が
    与えられるとそれに応じて流路の体積を変化させること
    ができる電気音響変換部とを備え、前記ノズルから前記
    電気信号に応じて液滴を噴射させる液滴噴射装置におい
    て、前記電気音響変換部が、前記電気信号により変形す
    る圧電素子と、該圧電素子の変形に応じて変位するシリ
    コンよりなるダイヤフラムとよりなり、該ダイヤフラム
    の前記圧電素子接着部分に該圧電素子の接着位置を示す
    パターンが形成しであることを特徴とする液滴噴射装置
    。 2 圧電素子の接着位置を示すパターンが、シリコンダ
    イヤフラムの前記圧電素子接着面側表面にシリコン酸化
    膜を形成し、該酸化膜をエツチングにより除去すること
    によって設けである特許請求の範囲第1項記載の液滴噴
    射装置。 3 圧電素子の接着位置を示すパターンが、シリコンダ
    イヤフラムの前記圧電素子接着面側表面をエツチングす
    ることGこよって設けである特許請求の範囲第1項記載
    の液滴噴射装置。 4 圧電素子の接着位置を示すパターンが、シリコンダ
    イヤフラムの前記圧電素子接着面側表面にシリコン酸化
    膜を形成し、該酸化膜をエツチングにより除去し、さら
    に、該酸化膜を除去した部分のシリコンをエツチングに
    より所定の深さまで除去して設けである特許請求の範囲
    第1項記載の液滴、噴射装置。
JP9834078A 1978-08-11 1978-08-11 液滴噴射装置 Expired JPS5831228B2 (ja)

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JPS5524580A JPS5524580A (en) 1980-02-21
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JPS5817144U (ja) * 1981-07-27 1983-02-02 日本電気株式会社 噴射ヘツド
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JPS5932972A (ja) * 1982-08-19 1984-02-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd 霧化装置

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