JPS5827872B2 - エナメル線の焼度判定方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、エナメル線の焼度判定方法の改良に関する。

一般にエナメル線は、導体−Ｌへ、絶縁ワニスの塗布焼
付を複数回繰り返すことにより製造されるが、冷凍機等
へ使用される所謂耐冷媒エナメル線等にあっては、焼付
が不充分である場合には焼付塗膜から可溶分が抽出され
て冷凍機等の故障を惹起させることがある。

而してかかる難点を解消するため、焼付塗膜が焼度に応
じてその誘電特性を変化させることに着目して、焼付塗
膜の誘電正接を測定して焼度を判定することが行なわれ
ている。

しかるにかかる従来の焼度の判定方法では、巻取ボビン
に巻回されたエナメル線の巻終り端を一定長切断し、水
銀電極に浸漬して誘電正接を測定する方法であったため
、不良と判定された場合、１ボビン全部が屑落しの対象
となってしまい、実質的な不良減少には結びつかないと
いう難点があった。

本発明は、かかる従来の難点を解消すべくなされたもの
で、焼付炉から巻取装置へ向けて連続的に走行するエナ
メル線上へ、互いに間隔をおいて２個の磁性素子を近接
配置すると共に、これら磁性素子の間のエナメル線上へ
、互いに間隔をおいて、該エナメル線を囲繞する２個の
電極を近接配置し、これら２個の電極を誘電正接測定用
ブリッジの測定端子へ接続して、焼付塗膜の誘電正接を
測定し、該誘電正接の値からエナメル線の焼度を判定す
ることにより焼度不良を早期に発見し、焼度不良を減少
させようとするものである。

以下、図面に示す一実施例につき本発明の詳細な説明す
る。

第１図において、１は、焼付炉２、塗布装置３および焼
付炉２、塗布装置３をはさんで上下に平行配置されたク
ーンシーブ４，５から成る慣用の塗布焼付装置であって
、心線供給装置６から供給された軟鋼線７は、その外周
に塗布装置３により絶縁ワニスが塗布され、焼付炉２で
焼付０られ、更にこの塗布焼付けを３〜７回程度繰り返
されてエナメル線８が得られた。

而して、塗布焼付装置１と巻取装置９との間のエナメル
線通路には第２図に示すように、間隔を置いて１対の中
空の例えばフェライトから成る２つ割り中空磁性体、塞
流コイル等で構成される磁性素子１０，１１が共軸的に
配置されている。

また、磁性素子’ＩＯ，１１の間のエナメル線通路には
、中空の円筒状電極１２．１３が共軸的に配置され、こ
れらの円筒状電極１２．１３は、それぞれ誘電正接測定
用ブリッジ１４の測定端子へ接続されている。

以上の誘電正接測定部を等価回路で示すと第３図の如く
なり、更に、この等価回路を簡略化すると第４図に示す
通りとなる。

すなわち磁性素子１０．１１による２つのコイルはイン
ダクタンスが大きいので、ブリッジ１４の電源による交
流電圧を円筒状電極１２，１３を通して印加したときに
高インピーダンスとなって電流を通さず、ブリッジ１４
の一方の測定端子から電極１２，１３と磁性素子１０，
１１間のエナメル線との間に構成されるコンデンサーＣ
Ｉ、Ｃ２を通り、ブリッジ１４の他方の測定端子に至る
回路が形成される。

従ってコンデンサーＣＩ 、Ｃ２を合成した１個のコン
デンサーがブリッジ１４の測定端子に接続されているこ
とになる。

この１個のコンデンサーは磁性素子ｉｏ、ｉｉ間のエナ
メル線の塗膜を等価的に表わしている。

ここで静電正接測定用ブリッジ１４としてはシ工−リン
グ・ブリッジが好適である（オーム社「新制電気材料」
（昭和３１年３月２５日発行）１４８頁参照）。

測定すべきエナメル線の塗膜を等価的に表わしている、
測定端子に接続した１個のコンデンサーにより、このシ
エーリング・ブリッジを構成させる。

そしてシエーリング・ブリッジの例えばコンデンサー（
あるいは抵抗）を調整して平衡させれば、そのときのコ
ンデンサーの静電容量を使って等価のコンデンサーの誘
電正接が求められるから、磁性素子１０，１１の間のエ
ナメル線の絶縁塗膜の誘電正接を測定することができ、
この測定値から焼度を判定することができる。

しかもこの場合磁性素子１０，１１で電気的に遮断され
たようになっているので、エナメル線の塗膜は正確に磁
性素子１０．１１に挾まれた部分のみが測定される。

なお、以上の実施例では、エナメル線を囲繞する電極と
して中空円筒電極を使用したが、本発明は、かかる実施
例に限定されるべきものではなく、例えば、円筒状電極
１２，１３にかえて、水銀、塩類水溶液その他の導電性
液体から成る液状電極を使用することも可能である。

以上の説明からも明らかなように、本発明によれば、エ
ナメル線の製造過程において非破壊的かつ正確な区間で
連続的にエナメル線の焼度を判定できるから、例えば、
判定結果を直ちに塗布焼付装置の駆動装置にフィードバ
ックして、自動的に焼度を適正に保持することができる
。

また、仮りに不良が出ても直ちに判定し得るから、不良
率を大巾に低減することが可能である。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明の一実施例の説明図、第２図は、本発
明の詳細な説明図、第３図および第４図は、測定部の等
価回路図である。 １・・・・・・塗布焼付装置、８・・・・・・エナメル
線、１０゜１１・・・・・・磁性素子、１２，１３・・
・・・・円筒状電極。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 焼付炉から巻取装置へ向けて連続的に走行するエナ
   メル線上へ、互いに間隔をおいて２個の磁性素子を近接
   配置すると共に、これら磁性素子の間のエナメル線上、
   へ、互いに間隔をおいて、該エナメル線を囲繞する２個
   の電極を近接配置し、これら２個の電極を誘電正接測定
   用ブリッジの測定端子へ接続して、焼付塗膜の誘電正接
   を測定し、該誘電正接の値からエナメル線の焼度を判定
   することを特徴とするエナメル線の焼度判定方法。 ２ 電極は、液体電極である特許請求の範囲第１項記載
   のエナメル線の焼度判定方法。