RU1805281C - Способ контрол толщины электропроводного покрыти на диэлектрической пленке - Google Patents

Abstract

Изобретение относитс  к измерительной технике и имеет целью повышение точ- ности контрол  емкостного способа контрол  толщины электропроводного покрыти  в жидкой или твердой фазе, нанесенного на диэлектрическую пленку. Способ контрол  заключаетс  в том, что участок по- лиимидной пленки с покрытием в виде сло  водной суспензии фторопласта, наносимого на пленку окунанием в ванну, помещаю в поле измерительного плоскопараллельного конденсатора, предварительно определив, например, визуально преимущественное направление утолщений и утонений в слое покрыти . Пленку или пластины конденсатора поворачивают друг относительно друга так, чтобы тангенциальна  составл юща  электрического пол  плоскопараллельного конденсатора была направлена вдоль этого направлени , благодар  чему уменьшаетс  вли ние неровностей покрыти  на точность измерени  толщины. О толщине-покрыти  суд т по величине изменени  емкости конденсатора . 4 ил. ел

Description

Изобретение относитс  к измерительной технике и может быть использовано дл  измерени  толщины фторопластового покрыти , на полиимидной пленке в процессе нанесени  этого покрыти  на ее поверхность .

Цель изобретени  - повышение точности контрол .

На фиг. 1 приведена принципиальна  схема устройства дл  нанесени  фторопластового покрыти  на полиимидную пленку; на фиг. 2 - сечение полиимидной пленки, покрытой слоем фторопластовой суспензии; на фиг. 3 - конструкци  измерительного

плоскопараллельного конденсатора с размещенным в нем участком пленки; на фиг. 4 - зависимость емкости измерительного конденсатора от изменени  направлени  утолщений и утонений во фторопластовом покрытии относительно направлени  тангенциальной составл ющей электрического, пол  конденсатора.

Установка дл  нанесени  фторопластового покрыти  включает в себ  паковку с полиимидной пленкой 2, ванну с водной фторопластовой суспензией 3, вал 4, термокамеру 5, приемную паковку 6. Датчик 7 (емкостный измерительный конденсатор)

00

о ел ю

00

расположен по ходу пленку между ванной 3 и термокамерой 5.

Покрыта  пленка в сечении представл ет собой двухслойную ленту, содержащую полиимидную пленку 2 и слой фторопласто- вой суспензии 8 по ширине пленки.

Конструктивно емкостный измерительный конденсатор содержит, генератор синусоидального напр жени  9, трансформатор 10, плоско-па раллельный конденсатор 11, через который проходит покрыта  водной фторопластовой суспензией пленка 12. Плоско-параллельный конденсатор содержит электроды 13, одна пара которых электрически подключена к вторичной обмотке трансформатора 10, а друга  пара - к измерителю емкости 14. Картина распределени  силовых линий электрического пол  между электродами 13 изображена на фиг. 3.

Способ контрол  осуществл ют следующим образом.

Предварительно определ ют преимущественное направление утолщений и утонений в слое покрыти  пленки. Поскольку направление утолщений и утонений, как правило, определ етс  направлением движени  полосы пленки 2 из ванны 3 (в данном случае вертикально вверх), а стекание водной суспензии -фторопласта под действием силы т жести обуславливает парали лельное кра м пленки чередование утолщений и утонений, то определение прет имущественного направлени  утолщений и утонений можно осуществить следующим образом.

Помещают покрытый водной суспензией фторопласта участок пленки в электрическое поле измерительного конденсатора и поворачивают пленку в плоскости, параллельной плоскост м измерительных электродов . При совпадении тангенциальной составл ющей электрического пол  с преимущественным направлением утолщений

0

5

0

5

0

5

0

и утонений показани  измерител  емкости 14 максимальны ( фиг. 4).

При измерении толщины покрыти  в технологическом процессе его нанесени  на пленку изменени  направлени  электрического пол  измерительного конденсатора можно осуществить изменением положени  плоских электродов конденсатора относительно направлени  утолщений и утонений пленки, дл  чего при конструировании измерительного конденсатора его электроды располагают таким образом, чтобы тангенциальна  составл юща  электрического пол  конденсатора совпадала с направлением утолщений и утонений в слое покрыти .

Способ может быть использован дл  контрол  толщины покрыти , наносимого на любые электроизол ционные пленки, при условии электропроводности наносимого покрыти , наход щегос  как в жидком, так и в твердом агрегатных состо ни х.

Ф о рмула изобретени  Способ контрол  толщины электропроводного покрыти  на диэлектрической пленке , заключающийс  в том, что участок полиимидной пленки с покрытием в виде сло  водной суспензии фторопласта, имеющего посто нную толщину, помещают в электрическое поле измерительного плоскопараллельного конденсатора, измер ют его емкость и по ее изменению суд т о толщине покрыти , отличающийс  тем, что. с целью повышени  точности контрол , предварительно определ ют преимущественное направление утолщений и утонений в слое покрыти  и ориентируют тангенциальную составл ющую электрического пол  плоскопараллельного конденсатора вдоль этого направлени , дл  чего поворачивают пленку в плоскости, параллельной плоскост м электродов конденсатора.