JPH0453378B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0453378B2 JPH0453378B2 JP16870685A JP16870685A JPH0453378B2 JP H0453378 B2 JPH0453378 B2 JP H0453378B2 JP 16870685 A JP16870685 A JP 16870685A JP 16870685 A JP16870685 A JP 16870685A JP H0453378 B2 JPH0453378 B2 JP H0453378B2
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- JP
- Japan
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- voltage
- frequency
- deterioration
- insulation
- capacitance
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- Expired
Links
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- 230000006866 deterioration Effects 0.000 claims description 15
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は電動機、変圧器、ケーブル等、電気機
器、設備一般に広く適用できる絶縁劣化の診断方
法に関する。
器、設備一般に広く適用できる絶縁劣化の診断方
法に関する。
電気機器、設備はその経年使用により絶縁特性
が劣化していく。従つて定期的にこれを診断し
て、異常な劣化がみられ、或いは許容限度を超え
る程に劣化が進展している場合は、修理、交換を
行う。従来の絶縁劣化の診断方法としては誘電正
接測定及び直流漏洩電流測定が挙げられる。前者
は診断部分に高電圧の商用周波数電圧を印加し、
誘電体損失を測定する方法であり、また後者は直
流高電圧を印加して漏れ電流、成極指数等を求め
る方法である。
が劣化していく。従つて定期的にこれを診断し
て、異常な劣化がみられ、或いは許容限度を超え
る程に劣化が進展している場合は、修理、交換を
行う。従来の絶縁劣化の診断方法としては誘電正
接測定及び直流漏洩電流測定が挙げられる。前者
は診断部分に高電圧の商用周波数電圧を印加し、
誘電体損失を測定する方法であり、また後者は直
流高電圧を印加して漏れ電流、成極指数等を求め
る方法である。
以上の従来方法においては高電圧を印加するた
めに作業の安全性に問題がある。また安全に診断
をするための準備作業に長時間を要する。
めに作業の安全性に問題がある。また安全に診断
をするための準備作業に長時間を要する。
また固体絶縁物の場合はクラツク、或いはトリ
ーが発生する。そうすると、この部分の絶縁耐力
は弱く、ここで部分放電が生じる。このような部
分放電が生じると、絶縁特性の測定に支障を来し
正しい診断ができないことがある。
ーが発生する。そうすると、この部分の絶縁耐力
は弱く、ここで部分放電が生じる。このような部
分放電が生じると、絶縁特性の測定に支障を来し
正しい診断ができないことがある。
更に高電圧下での誘電正接測定、漏洩電流測定
ともに吸湿等の環境条件により測定値の変動を伴
う。
ともに吸湿等の環境条件により測定値の変動を伴
う。
本発明は斯かる問題点を解決するためになされ
たものであり、診断対象たる絶縁物に常時加わる
電界の周波数（一般には商用周波数）よりも高い
周波数の電圧を印加することにより、印加電圧を
低下させて診断を行えるようになし、安全性を高
めると共に、クラツク、トリーにおける部分放電
を防止して診断のための測定の精度を高め得る一
方、このような測定精度向上により静電容量を診
断の要素となし得る絶縁劣化診断方法を提供する
ことを目的とする。
たものであり、診断対象たる絶縁物に常時加わる
電界の周波数（一般には商用周波数）よりも高い
周波数の電圧を印加することにより、印加電圧を
低下させて診断を行えるようになし、安全性を高
めると共に、クラツク、トリーにおける部分放電
を防止して診断のための測定の精度を高め得る一
方、このような測定精度向上により静電容量を診
断の要素となし得る絶縁劣化診断方法を提供する
ことを目的とする。
本発明に係る絶縁劣化診断方法は、所定の交流
電圧が常時印加される絶縁物に交流又は直流の診
断電圧を印加して、その絶縁特性の劣化を診断す
る方法において、該絶縁物に常時印加される交流
電圧よりも低く、高周波数の診断電圧を印加して
その静電容量及び／又は誘電体損失を測定するこ
とを特徴とする。
電圧が常時印加される絶縁物に交流又は直流の診
断電圧を印加して、その絶縁特性の劣化を診断す
る方法において、該絶縁物に常時印加される交流
電圧よりも低く、高周波数の診断電圧を印加して
その静電容量及び／又は誘電体損失を測定するこ
とを特徴とする。
以下本発明をその実施例を示す図面に基づいて
詳述する。
詳述する。
第１，２図は本発明のケーブルに適用した場合
の実施状態を示す模式図であり、第１図は静電容
量の測定を行う場合の結線図、第２図は誘電体損
失の測定を行う場合の結線図である。
の実施状態を示す模式図であり、第１図は静電容
量の測定を行う場合の結線図、第２図は誘電体損
失の測定を行う場合の結線図である。
第１図においてケーブル１の内外の導体１ａ，
１ｂ間には商用周波数よりも高い周波数ｆの電圧
が高周波数電源２にて印加され、印加電圧Ｅ及び
漏洩電流１は夫々電圧計３、電流計４にて測定さ
れる。容量Ｃは以下の(1)式によつて算出される。
１ｂ間には商用周波数よりも高い周波数ｆの電圧
が高周波数電源２にて印加され、印加電圧Ｅ及び
漏洩電流１は夫々電圧計３、電流計４にて測定さ
れる。容量Ｃは以下の(1)式によつて算出される。
Ｃ＝Ｉ／2πfE …(1)
第２図においては電流計４に替えてシエーリン
グブリツジ５を接続する。このシエーリングブリ
ツジによつてtanδ（誘電正接）が測定できる。そ
うすると誘電体損失Ｐは下記(2)式にて算出され
る。
グブリツジ５を接続する。このシエーリングブリ
ツジによつてtanδ（誘電正接）が測定できる。そ
うすると誘電体損失Ｐは下記(2)式にて算出され
る。
Ｐ＝2πεCfE2×tanδ …(2)
但しεはケーブル１の絶縁物の誘電率
而して従来の測定方法と異なる点は高周波数電
源２の使用であり、(1)，(2)式において周波数ｆが
大きな値となる。従つて(1)式についてみると電流
計４の測定精度が従来方法と同程度である程度の
電流Ｉを流すこととするとそれに要する印加電圧
Ｅの値は小さくてよい。一方(2)式についてはシエ
ーリングブリツジ５に付設する検流計を従来方法
の場合と同程度に動作させるに要する印加電圧Ｅ
の値は小さくて済む。
源２の使用であり、(1)，(2)式において周波数ｆが
大きな値となる。従つて(1)式についてみると電流
計４の測定精度が従来方法と同程度である程度の
電流Ｉを流すこととするとそれに要する印加電圧
Ｅの値は小さくてよい。一方(2)式についてはシエ
ーリングブリツジ５に付設する検流計を従来方法
の場合と同程度に動作させるに要する印加電圧Ｅ
の値は小さくて済む。
つまり(1)式の場合は印加電圧Ｅに使用する周波
数ｆに反比例して印加電圧Ｅを低下させ得、(2)式
の場合は印加電圧Ｅに使用する周波数の1/2乗に
反比例して印加電圧Ｅを低下させ得る。
数ｆに反比例して印加電圧Ｅを低下させ得、(2)式
の場合は印加電圧Ｅに使用する周波数の1/2乗に
反比例して印加電圧Ｅを低下させ得る。
第３図は劣化絶縁物の等価回路を示している。
図においてCO，ROは夫々健全時の静電容量及び
絶縁抵抗を示しており、これらの並列回路に電圧
が印加されていると考えられる。
図においてCO，ROは夫々健全時の静電容量及び
絶縁抵抗を示しており、これらの並列回路に電圧
が印加されていると考えられる。
而して絶縁劣化により例えばクラツク、トリー
等が発生すると抵抗ｒと静電容量C1の直列回路
が並列付加されたと見做される。そして高い電界
強度が加わつた場合には放電ギヤツプＧが静電容
量C1に並列に存在することになる。その他熱劣
化に伴う絶縁抵抗の低下は並列抵抗r′にて表わさ
れる。
等が発生すると抵抗ｒと静電容量C1の直列回路
が並列付加されたと見做される。そして高い電界
強度が加わつた場合には放電ギヤツプＧが静電容
量C1に並列に存在することになる。その他熱劣
化に伴う絶縁抵抗の低下は並列抵抗r′にて表わさ
れる。
而して本発明による場合は印加電圧Ｅの低下に
より部分放電が生じないから放電ギヤツプＧが存
在しないこととなり、容量C1が正確に測定でき
ることになる（使用開始時にC0を測定しておく
必要があることは勿論である）。
より部分放電が生じないから放電ギヤツプＧが存
在しないこととなり、容量C1が正確に測定でき
ることになる（使用開始時にC0を測定しておく
必要があることは勿論である）。
(1)式から明らかな如く放電ギヤツプＧでの放電
が生じるとＩが大となりＣの値が大きな値として
求められる。従つて従来は正しいC1の測定がで
きなかつたので、これを絶縁劣化診断の要素とな
し得なかつたのであるが、本発明ではそれが可能
となる。つまり本発明によれば静電容量の増加量
をも絶縁劣化の診断指標として用いることが可能
となる等の効果がある。
が生じるとＩが大となりＣの値が大きな値として
求められる。従つて従来は正しいC1の測定がで
きなかつたので、これを絶縁劣化診断の要素とな
し得なかつたのであるが、本発明ではそれが可能
となる。つまり本発明によれば静電容量の増加量
をも絶縁劣化の診断指標として用いることが可能
となる等の効果がある。
以上詳述したように本発明は、診断対象の絶縁
物に常時印加される交流電圧又は直流電圧よりも
低く、高周波数の診断電圧を印加して絶縁劣化を
診断するから、絶縁診断時の作業の安全性を高め
得、またこれに付随して、診断のための準備作業
の時間を短縮できる。更に診断電圧を低下させ得
ることにより絶縁物に加わる電界強度が低下する
からクラツク、トリー等での部分放電が生じ難く
なり、適宜の周波数、電圧を選定することで部分
放電を皆無にすることができて、絶縁劣化の診断
のための測定精度を高めることができる等の優れ
た効果を奏する。
物に常時印加される交流電圧又は直流電圧よりも
低く、高周波数の診断電圧を印加して絶縁劣化を
診断するから、絶縁診断時の作業の安全性を高め
得、またこれに付随して、診断のための準備作業
の時間を短縮できる。更に診断電圧を低下させ得
ることにより絶縁物に加わる電界強度が低下する
からクラツク、トリー等での部分放電が生じ難く
なり、適宜の周波数、電圧を選定することで部分
放電を皆無にすることができて、絶縁劣化の診断
のための測定精度を高めることができる等の優れ
た効果を奏する。
第１，２図は本発明方法の実施状態を示す模式
図、第３図は劣化絶縁物の等価回路である。 ２……高周波電源、３……電圧計、４……電流
計、５……シエーリングブリツジ。
図、第３図は劣化絶縁物の等価回路である。 ２……高周波電源、３……電圧計、４……電流
計、５……シエーリングブリツジ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 所定の交流電圧が常時印加される絶縁物に交
流又は直流の診断電圧を印加して、その絶縁特性
の劣化を診断する方法において、 該絶縁物に常時印加される交流電圧よりも低
く、高周波数の診断電圧を印加してその静電容量
及び／又は誘電体損失を測定することを特徴とす
る絶縁劣化診断方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16870685A JPS6228655A (ja) | 1985-07-30 | 1985-07-30 | 絶縁劣化診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16870685A JPS6228655A (ja) | 1985-07-30 | 1985-07-30 | 絶縁劣化診断方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6228655A JPS6228655A (ja) | 1987-02-06 |
| JPH0453378B2 true JPH0453378B2 (ja) | 1992-08-26 |
Family
ID=15872937
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16870685A Granted JPS6228655A (ja) | 1985-07-30 | 1985-07-30 | 絶縁劣化診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6228655A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2325804A2 (en) | 2009-11-20 | 2011-05-25 | Ricoh Company, Ltd. | Image-drawing processing system, server, user terminal, image-drawing processing method, program, and storage medium |
| WO2013122200A1 (ja) * | 2012-02-17 | 2013-08-22 | 学校法人日本大学 | 高強度繊維複合材ケーブルの損傷評価方法および損傷検出装置 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| HU214419B (hu) * | 1989-11-09 | 1998-04-28 | B és C DIAGNOSTICS Kft | Eljárás és készülék szigetelési rendszer állapotának vizsgálatára |
| JPH07109408B2 (ja) * | 1990-03-28 | 1995-11-22 | 日本碍子株式会社 | ブッシングの劣化診断方法 |
| US5307896A (en) * | 1991-08-13 | 1994-05-03 | Nippondenso Co., Ltd. | Collision detection sensor |
| JP2895667B2 (ja) * | 1991-08-13 | 1999-05-24 | 株式会社日本自動車部品総合研究所 | 衝突検出センサ |
-
1985
- 1985-07-30 JP JP16870685A patent/JPS6228655A/ja active Granted
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2325804A2 (en) | 2009-11-20 | 2011-05-25 | Ricoh Company, Ltd. | Image-drawing processing system, server, user terminal, image-drawing processing method, program, and storage medium |
| WO2013122200A1 (ja) * | 2012-02-17 | 2013-08-22 | 学校法人日本大学 | 高強度繊維複合材ケーブルの損傷評価方法および損傷検出装置 |
| JP2013167602A (ja) * | 2012-02-17 | 2013-08-29 | Nihon Univ | 高強度繊維複合材ケーブルの損傷評価方法および損傷検出装置。 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6228655A (ja) | 1987-02-06 |
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