JPH07109408B2 - ブッシングの劣化診断方法 - Google Patents
ブッシングの劣化診断方法Info
- Publication number
- JPH07109408B2 JPH07109408B2 JP2079544A JP7954490A JPH07109408B2 JP H07109408 B2 JPH07109408 B2 JP H07109408B2 JP 2079544 A JP2079544 A JP 2079544A JP 7954490 A JP7954490 A JP 7954490A JP H07109408 B2 JPH07109408 B2 JP H07109408B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bushing
- electrode
- deterioration
- ground layer
- insulating material
- Prior art date
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- Expired - Lifetime
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、有機絶縁材料からなるブッシングの表層部の
劣化状態を判別するためのブッシングの劣化診断方法に
関するものである。
劣化状態を判別するためのブッシングの劣化診断方法に
関するものである。
（従来の技術） 従来一般のブッシングの検査方法は、JEC（電気規格調
査会標準規格）−183に規定されているとおり、ブッシ
ングをその使用時における同一の絶縁媒体にしたうえ、
その中心導体と支持金具間に電圧を印加してシェーリン
グブリッジ等により誘電正接および静電容量を測定する
方法である。
査会標準規格）−183に規定されているとおり、ブッシ
ングをその使用時における同一の絶縁媒体にしたうえ、
その中心導体と支持金具間に電圧を印加してシェーリン
グブリッジ等により誘電正接および静電容量を測定する
方法である。
ところがこの検査方法は検査対象となるブッシングを機
器から取り外した状態でしか検査することができないの
で、新しく製作されたブッシングの出荷前の検査には適
するものの、使用中のブッシングの劣化診断を行おうと
すると機器からブッシングの取外しおよび取付けに多く
の手数を要し、極めて不便である。
器から取り外した状態でしか検査することができないの
で、新しく製作されたブッシングの出荷前の検査には適
するものの、使用中のブッシングの劣化診断を行おうと
すると機器からブッシングの取外しおよび取付けに多く
の手数を要し、極めて不便である。
まい有機絶縁材料からなるブッシングの場合には劣化が
表面から発生する傾向があるが、上記した検査方法では
中心導体と支持金具間に電圧を印加して誘電正接および
静電容量を測定するため、劣化の大きい表層部の診断を
行えないという問題があった。
表面から発生する傾向があるが、上記した検査方法では
中心導体と支持金具間に電圧を印加して誘電正接および
静電容量を測定するため、劣化の大きい表層部の診断を
行えないという問題があった。
（発明が解決しようとする課題） 本発明は上記した従来の問題を解決して、有機絶縁材料
からなる例えばコンデンサブッシング等の劣化状況を機
器に取り付けたままの状態で簡便に診断すること、およ
び劣化の進みやすい表層部の状態を明確に診断すること
ができるブッシングの劣化診断方法を提供するために完
成されたものである。
からなる例えばコンデンサブッシング等の劣化状況を機
器に取り付けたままの状態で簡便に診断すること、およ
び劣化の進みやすい表層部の状態を明確に診断すること
ができるブッシングの劣化診断方法を提供するために完
成されたものである。
（課題を解決するための手段） 上記の課題を解決するためになされた本発明は、有機絶
縁材料からなるブッシングのコアの外周部分に、最外層
の接地層内挿電極の幅を越えない幅で金属電極を巻付
け、この金属電極と前記した最外層の接地層内挿電極に
電気的に接続している支持金具間の誘電正接、静電容
量、絶縁抵抗をシェーリングブリッジ及び絶縁抵抗計に
よって測定することを特徴とするものである。
縁材料からなるブッシングのコアの外周部分に、最外層
の接地層内挿電極の幅を越えない幅で金属電極を巻付
け、この金属電極と前記した最外層の接地層内挿電極に
電気的に接続している支持金具間の誘電正接、静電容
量、絶縁抵抗をシェーリングブリッジ及び絶縁抵抗計に
よって測定することを特徴とするものである。
（実施例） 以下に本発明を図面を参照しつつ更に詳細に説明する。
第１図において、（１）は有機絶縁材料からなるコンデ
ンサブッシングのようなブッシングであって、（２）は
その中心導体、（３）はブッシングを機器に取付けるた
めの支持金具、（４）はコンデンサコアを構成する内挿
電極、（５）は最外層の接地層内挿電極である。この最
外層の接地層内挿電極（５）は図示のように支持金具
（３）と電気的に接続され接地されている。
ンサブッシングのようなブッシングであって、（２）は
その中心導体、（３）はブッシングを機器に取付けるた
めの支持金具、（４）はコンデンサコアを構成する内挿
電極、（５）は最外層の接地層内挿電極である。この最
外層の接地層内挿電極（５）は図示のように支持金具
（３）と電気的に接続され接地されている。
本発明においては、このようなブッシング（１）のコア
の外周部分に金属電極（６）を巻付ける。この金属電極
（６）は第１図に示したように最外層の接地層内挿電極
（５）の幅を越えず、かつ支持金具（３）との間にも例
えば15mm程度の絶縁距離を持たせた状態で巻付けられて
いる。そしてこの金属電極（６）と最外層の接地層内挿
電極（５）に電気的に接続している支持金具（３）間
に、簡易シェーリングブリッジ及び絶縁抵抗計のような
測定器（７）を接続し、両者間の誘電正接、静電容量、
絶縁抵抗を測定する。
の外周部分に金属電極（６）を巻付ける。この金属電極
（６）は第１図に示したように最外層の接地層内挿電極
（５）の幅を越えず、かつ支持金具（３）との間にも例
えば15mm程度の絶縁距離を持たせた状態で巻付けられて
いる。そしてこの金属電極（６）と最外層の接地層内挿
電極（５）に電気的に接続している支持金具（３）間
に、簡易シェーリングブリッジ及び絶縁抵抗計のような
測定器（７）を接続し、両者間の誘電正接、静電容量、
絶縁抵抗を測定する。
簡易シェーリングブリッジは第２図に示される回路から
なるもので、図中に記したC1、C4、R3、R4の値から、測
定対象となる試料Ｓの誘電正接tanδ、静電容量CS、絶
縁抵抗RSを次式によって測定することができる。
なるもので、図中に記したC1、C4、R3、R4の値から、測
定対象となる試料Ｓの誘電正接tanδ、静電容量CS、絶
縁抵抗RSを次式によって測定することができる。
tanδ＝ωCSRS＝ωC4R4 CS＝ωR4/R3・C1 RS＝C4/C1・R3 このようにして測定された値は金属電極（６）と最外層
の接地層内挿電極（５）に電気的に接続している支持金
具（３）とに挟まれたブッシング（１）の表層部分の性
状を直接表しているものであり、有機絶縁材料からなる
ブッシング（１）の劣化状態を最も劣化し易い表層部に
おいて測定することができる。しかも本発明によれば、
ブッシング（１）を機器に取り付けたままでよく、使用
中のブッシング（１）の診断に極めて適したものであ
る。
の接地層内挿電極（５）に電気的に接続している支持金
具（３）とに挟まれたブッシング（１）の表層部分の性
状を直接表しているものであり、有機絶縁材料からなる
ブッシング（１）の劣化状態を最も劣化し易い表層部に
おいて測定することができる。しかも本発明によれば、
ブッシング（１）を機器に取り付けたままでよく、使用
中のブッシング（１）の診断に極めて適したものであ
る。
なお、金属電極（６）の幅を最外層の接地層内挿電極
（５）の幅を越えないようにしたのは、もし金属電極
（６）の幅が最外層の接地層内挿電極（５）の幅を越え
ると、２番目以下の内挿電極（４）と支持金具（３）と
の間の部分の性状が測定されることとなり、目的とする
表層部分の性状を的確に診断することができなくなるか
らである。
（５）の幅を越えないようにしたのは、もし金属電極
（６）の幅が最外層の接地層内挿電極（５）の幅を越え
ると、２番目以下の内挿電極（４）と支持金具（３）と
の間の部分の性状が測定されることとなり、目的とする
表層部分の性状を的確に診断することができなくなるか
らである。
（発明の効果） 本発明は以上に説明したように、有機絶縁材料からなる
ブッシングのうち、最も劣化し易い表層部の劣化状態を
正確に知ることができる。また本発明の方法によれば、
ブッシングを機器に取り付けたままで診断することがで
きるので、従来のようにブッシングの取外しや取付けに
多くの手数を必要とせず、極めて簡便に劣化状態の診断
が可能である。このため、本発明によれば有機絶縁材料
からなるブッシング全体の劣化状況を診断し、劣化によ
る事故発生を確実に防止することが可能となる。よって
本発明は従来の問題点を解消したブッシングの劣化診断
方法として、産業の発展に寄与するところは極めて大き
いものがある。
ブッシングのうち、最も劣化し易い表層部の劣化状態を
正確に知ることができる。また本発明の方法によれば、
ブッシングを機器に取り付けたままで診断することがで
きるので、従来のようにブッシングの取外しや取付けに
多くの手数を必要とせず、極めて簡便に劣化状態の診断
が可能である。このため、本発明によれば有機絶縁材料
からなるブッシング全体の劣化状況を診断し、劣化によ
る事故発生を確実に防止することが可能となる。よって
本発明は従来の問題点を解消したブッシングの劣化診断
方法として、産業の発展に寄与するところは極めて大き
いものがある。
第１図は本発明のブッシングの劣化診断方法を説明する
正面図、第２図は本発明において用いられるシェーリン
グブリッジ回路を説明する回路図である。 （１）：有機絶縁材料からなるブッシング、（３）：支
持金具、（５）：最外層の接地層内挿電極、（６）：金
属電極
正面図、第２図は本発明において用いられるシェーリン
グブリッジ回路を説明する回路図である。 （１）：有機絶縁材料からなるブッシング、（３）：支
持金具、（５）：最外層の接地層内挿電極、（６）：金
属電極
Claims (1)
- 【請求項１】有機絶縁材料からなるブッシング（１）の
コアの外周部分に、最外層の接地層内挿電極（５）の幅
を越えない幅で金属電極（６）を巻付け、この金属電極
（６）と前記した最外層の接地層内挿電極（５）に電気
的に接続している支持金具（３）間の誘電正接、静電容
量、絶縁抵抗をシェーリングブリッジ及び絶縁抵抗計に
よって測定することを特徴とするブッシングの劣化診断
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2079544A JPH07109408B2 (ja) | 1990-03-28 | 1990-03-28 | ブッシングの劣化診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2079544A JPH07109408B2 (ja) | 1990-03-28 | 1990-03-28 | ブッシングの劣化診断方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03277951A JPH03277951A (ja) | 1991-12-09 |
| JPH07109408B2 true JPH07109408B2 (ja) | 1995-11-22 |
Family
ID=13692941
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2079544A Expired - Lifetime JPH07109408B2 (ja) | 1990-03-28 | 1990-03-28 | ブッシングの劣化診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07109408B2 (ja) |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6228655A (ja) * | 1985-07-30 | 1987-02-06 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 絶縁劣化診断方法 |
-
1990
- 1990-03-28 JP JP2079544A patent/JPH07109408B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03277951A (ja) | 1991-12-09 |
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