JPS5825345Y2 - 内部品質分析装置 - Google Patents
内部品質分析装置Info
- Publication number
- JPS5825345Y2 JPS5825345Y2 JP10257076U JP10257076U JPS5825345Y2 JP S5825345 Y2 JPS5825345 Y2 JP S5825345Y2 JP 10257076 U JP10257076 U JP 10257076U JP 10257076 U JP10257076 U JP 10257076U JP S5825345 Y2 JPS5825345 Y2 JP S5825345Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- turntable
- internal quality
- light
- hole
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Sorting Of Articles (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、例えば、ミカン、リンゴ、ジャガイモ等の熟
度、或いは含有水分の百分比の如き各種測定対象物の内
部品質を、非破壊光透過(又は光反射)技術を用いて光
学密度により分析する装置に関し、その目的は、内部品
質の分析を能率良く連続的に行なえるようにすると共に
、連続分析故に伴いがちな問題を未然に解消して、精度
の高い分析を行なうことのできる内部品質分析装置の提
供を目的としている。
度、或いは含有水分の百分比の如き各種測定対象物の内
部品質を、非破壊光透過(又は光反射)技術を用いて光
学密度により分析する装置に関し、その目的は、内部品
質の分析を能率良く連続的に行なえるようにすると共に
、連続分析故に伴いがちな問題を未然に解消して、精度
の高い分析を行なうことのできる内部品質分析装置の提
供を目的としている。
以下、本考案の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は、本考案にかかる内部品質分析装置の斜視図で
あり、1は例えばコンベア2によりターンテーブル3上
に搬入される測定対象物、たとえば□カンである。
あり、1は例えばコンベア2によりターンテーブル3上
に搬入される測定対象物、たとえば□カンである。
図示する例では、搬入手段としてベルトコンベア2を用
いているが、その外にシュート等を用いてもよい。
いているが、その外にシュート等を用いてもよい。
上記ターンテーブル3は、ターンテーブル3の中心にあ
る回転軸4により水平方向に対して一定の傾斜角度を有
して軸支されており、その形状は円形をなす。
る回転軸4により水平方向に対して一定の傾斜角度を有
して軸支されており、その形状は円形をなす。
このターンテーブル30周縁部は、上記回転軸4を中心
とする同心円状の小溝5によって区画されており該小溝
5の外側、即ちターンテーブル3の中心より遠距離側に
は例えばスポンジ等のクッション材6を内面側に貼付け
た透孔7が、同心円状に複数個穿設されている。
とする同心円状の小溝5によって区画されており該小溝
5の外側、即ちターンテーブル3の中心より遠距離側に
は例えばスポンジ等のクッション材6を内面側に貼付け
た透孔7が、同心円状に複数個穿設されている。
淘、この透孔7はミカン等の測定対象物1が孔7内には
1りこんだ際、ターンテーブル3から下は抜は落ちない
ように、上面は広く下面は狭い形状に構成されている。
1りこんだ際、ターンテーブル3から下は抜は落ちない
ように、上面は広く下面は狭い形状に構成されている。
8はターンテーブル3上に架設しであるガイドであり、
ターンテーブル3上に搬入された測定対象物1がターン
テーブル3の外側に転落するのを防止すると共にターン
テーブル3の回転に伴って測定対象物1がこのガイド8
に当接し、透孔7内へと案内されるように略「の」の字
状に構成されている。
ターンテーブル3上に搬入された測定対象物1がターン
テーブル3の外側に転落するのを防止すると共にターン
テーブル3の回転に伴って測定対象物1がこのガイド8
に当接し、透孔7内へと案内されるように略「の」の字
状に構成されている。
9はターンテーブル3の水平面に対する最上位置となる
部分に設けられた光学的内部品質分析手段であって、そ
の概略構成図は第2図に示す如くである。
部分に設けられた光学的内部品質分析手段であって、そ
の概略構成図は第2図に示す如くである。
この第2図において、Aは光源を内蔵するケース、Bは
測定対象物1を透孔7のクッション材6上面に押圧する
押さえローラであり、測定対象物1と当接する局面には
スポンジ材「を装着しである。
測定対象物1を透孔7のクッション材6上面に押圧する
押さえローラであり、測定対象物1と当接する局面には
スポンジ材「を装着しである。
Cはモータ、Dは光源の光路とほぼ同一軸線上に配置し
た受光器で、測定対象物1が前記軸線からずれていると
き、すなわち、測定対象物1が光路上に存在しないとき
に直接的に透過してくる光を参照光として受光するもの
であり、その参照光を複数の異なる波長に分割して検出
する。
た受光器で、測定対象物1が前記軸線からずれていると
き、すなわち、測定対象物1が光路上に存在しないとき
に直接的に透過してくる光を参照光として受光するもの
であり、その参照光を複数の異なる波長に分割して検出
する。
Eは測定対象物1が光路上に存在するときに、その測定
対象物1の内部で散乱して透過してくる光を測定光とし
て受ける受光器で、前記光源の光路軸線からずれた位置
においてその測定光を複数の異なる波長に分割して検出
する。
対象物1の内部で散乱して透過してくる光を測定光とし
て受ける受光器で、前記光源の光路軸線からずれた位置
においてその測定光を複数の異なる波長に分割して検出
する。
即ち、1組の参照光受光器りと測定光受光器Eにより、
1個の測定対象物1について複数の波長における光学密
度(OD)を同時に測定して、それに基づいて対象物1
の内部品質を分析するようにしである。
1個の測定対象物1について複数の波長における光学密
度(OD)を同時に測定して、それに基づいて対象物1
の内部品質を分析するようにしである。
冑、上記構成と同様な手段の複数組を設けて、複数個の
測定対象物1の内部品質を同時的に分析するも良く、あ
るいは、単波長の光を受光する複数組の受光器D 、E
を設けて、各波長の光学密度を別々に測定するも良い。
測定対象物1の内部品質を同時的に分析するも良く、あ
るいは、単波長の光を受光する複数組の受光器D 、E
を設けて、各波長の光学密度を別々に測定するも良い。
10は遮光手段であり、たとえば、第2図に示すような
箱形のケースからなる。
箱形のケースからなる。
この遮光手段10は、ターンテーブル3の周縁に沿って
延長されておシ、その端である測定対象物1の入口10
A1出口10Bには夫々遮光用ブラシ10Cが設けであ
る。
延長されておシ、その端である測定対象物1の入口10
A1出口10Bには夫々遮光用ブラシ10Cが設けであ
る。
又、遮光手段10の切欠部10Dの端縁10Eは前記小
溝5内に挿入してあって遮光効果を高めている。
溝5内に挿入してあって遮光効果を高めている。
11は、ターンテーブル3の最低位置となる部分に設け
られた取り出しローラであり、品質の分析を終って、遮
光手段10から出て来た測定対象物1に測し当接状態で
回転して、測定対象物1を透孔7から取り出す働きをす
る。
られた取り出しローラであり、品質の分析を終って、遮
光手段10から出て来た測定対象物1に測し当接状態で
回転して、測定対象物1を透孔7から取り出す働きをす
る。
12は取り出しローラ11により取り出された測定対象
物1を搬送するコンベア、13は上記コンベア12上の
測定対象物1の通過の有無を光学的に判断する位置検出
光電管、14は上記位置検出光電管13及び、光学的内
部品質分析手段9からの信号に応じて測定対象物1を良
品と不良品に吹き分けるエアジェツトである。
物1を搬送するコンベア、13は上記コンベア12上の
測定対象物1の通過の有無を光学的に判断する位置検出
光電管、14は上記位置検出光電管13及び、光学的内
部品質分析手段9からの信号に応じて測定対象物1を良
品と不良品に吹き分けるエアジェツトである。
本考案は上述の如くに構成されるので、コンベア2によ
ってターンテーブル3上に搬入された測定対象物1は、
ターンテーブル3の回転に伴いガイド8に当接しつつ転
がり乍ら透孔7内に案内される。
ってターンテーブル3上に搬入された測定対象物1は、
ターンテーブル3の回転に伴いガイド8に当接しつつ転
がり乍ら透孔7内に案内される。
孔7内にはまりこんだ測定対象物1は遮光用ブラシ10
Cをくぐって外部光を遮断する遮光手段10内に入り、
光学的内部品質分析手段9を通過するときに、押さえロ
ーラBによって透孔7のクッション材6上面に押し付け
られ、測定対象物1は孔7内に固定された状態となる。
Cをくぐって外部光を遮断する遮光手段10内に入り、
光学的内部品質分析手段9を通過するときに、押さえロ
ーラBによって透孔7のクッション材6上面に押し付け
られ、測定対象物1は孔7内に固定された状態となる。
この場合、押さえローラBはその周囲にスポンジ材B′
を有しているので、測定対象物1を必要以上に押圧し損
傷するようなことはなく、また透孔7の内側にもクッシ
ョン材6が貼付されているので、測定対象物1はクッシ
ョン材6により隙間なく包1れる状態になυ、測定対象
物1を通らない余分な光が受光器Eに入るようなことは
ない。
を有しているので、測定対象物1を必要以上に押圧し損
傷するようなことはなく、また透孔7の内側にもクッシ
ョン材6が貼付されているので、測定対象物1はクッシ
ョン材6により隙間なく包1れる状態になυ、測定対象
物1を通らない余分な光が受光器Eに入るようなことは
ない。
このようにして内部品質の分析を終った測定対象物1は
、遮光手段10の出口10Bから遮光用ブラシ10Cを
くぐって外に出、ターンテーブル3の水平面に対して最
低位置に至ると、取り出しローラ11により透孔7から
取り出され、コンベア12上を搬送される。
、遮光手段10の出口10Bから遮光用ブラシ10Cを
くぐって外に出、ターンテーブル3の水平面に対して最
低位置に至ると、取り出しローラ11により透孔7から
取り出され、コンベア12上を搬送される。
そして、位置検出光電管13を通過することによシそれ
が何番目の測定対象物1であるかが確認され、光学的内
部品質分析手段9から送られた信号に基づいて、エアジ
ェツト14が作動若しくは停止し、測定対象物1は良品
と不良品に分けられる。
が何番目の測定対象物1であるかが確認され、光学的内
部品質分析手段9から送られた信号に基づいて、エアジ
ェツト14が作動若しくは停止し、測定対象物1は良品
と不良品に分けられる。
同、上記実施例に示したように、測定対象物1が□カン
の如き扁平な形状をなすものであるときは、ターンテー
ブル3上を、例えばミカンが転がるときに、その扁平面
がターンテーブル3に垂直になること及びターンテーブ
ル3の高する傾斜に対してミカンが進行することから、
透孔7に対し、ミカンがはまりこみやすく、且つ、その
ときの姿勢も一定になりやすい。
の如き扁平な形状をなすものであるときは、ターンテー
ブル3上を、例えばミカンが転がるときに、その扁平面
がターンテーブル3に垂直になること及びターンテーブ
ル3の高する傾斜に対してミカンが進行することから、
透孔7に対し、ミカンがはまりこみやすく、且つ、その
ときの姿勢も一定になりやすい。
以上実施例で説明したように、本考案による内部品質分
析装置は、水平面に対して傾斜した状態で回転し、且つ
、周縁には複数個の透孔を有する測定対象物載置用のタ
ーンテーブルと、前記透孔の内面に設けられたクッショ
ン材と、前記ターンテーブル上に測定対象物を搬入する
搬入手段と、ターンテーブル上の測定対象物を、ターン
テーブルの回転に伴ない前記透孔内に案内するガイドと
、光源及び受光器を具備していて、前記透孔内には1り
こんで保持された状態の測定対象物の内部品質を分析す
る光学的内部品質分析手段と、上記光学的内部品質分析
手段により分析するさいに、測定対象物を前記透孔内面
のクッション材上面に押圧するクッション機能を有する
抑圧手段と、分析時に外光の侵入を遮断する遮光手段と
よりなり、而して、測定対象物の内部品質を連続的に能
率良く分析することができ、そして、連続分析に際して
測定対象物を移送するときに、その測定対象物が動揺す
ると測定精度の誤差要因となるが、本考案では光学的測
定の際にその測定対象物を押え手段によって押圧して測
定対象物の動揺を生じさせないようにし、かつ、その場
合に遮光手段によって外部からの光の侵入を防止させる
ので両者が相乗することによって、測定精度をきわめて
高くすることができる。
析装置は、水平面に対して傾斜した状態で回転し、且つ
、周縁には複数個の透孔を有する測定対象物載置用のタ
ーンテーブルと、前記透孔の内面に設けられたクッショ
ン材と、前記ターンテーブル上に測定対象物を搬入する
搬入手段と、ターンテーブル上の測定対象物を、ターン
テーブルの回転に伴ない前記透孔内に案内するガイドと
、光源及び受光器を具備していて、前記透孔内には1り
こんで保持された状態の測定対象物の内部品質を分析す
る光学的内部品質分析手段と、上記光学的内部品質分析
手段により分析するさいに、測定対象物を前記透孔内面
のクッション材上面に押圧するクッション機能を有する
抑圧手段と、分析時に外光の侵入を遮断する遮光手段と
よりなり、而して、測定対象物の内部品質を連続的に能
率良く分析することができ、そして、連続分析に際して
測定対象物を移送するときに、その測定対象物が動揺す
ると測定精度の誤差要因となるが、本考案では光学的測
定の際にその測定対象物を押え手段によって押圧して測
定対象物の動揺を生じさせないようにし、かつ、その場
合に遮光手段によって外部からの光の侵入を防止させる
ので両者が相乗することによって、測定精度をきわめて
高くすることができる。
その上、測定対象物を緩衝状態で押圧させるので、測定
対象物を損傷するようなことがなく、シかも緩衝機能を
有することは即ち測定対象物の大きさのバラツキにも対
応できるものであシ、更には測定対象も広範囲のものを
選択できるものである。
対象物を損傷するようなことがなく、シかも緩衝機能を
有することは即ち測定対象物の大きさのバラツキにも対
応できるものであシ、更には測定対象も広範囲のものを
選択できるものである。
第1図は本考案の一実施例を示す全体斜視図、第2図は
光学的内部品質分析手段の概略構成図である。 1・・・・・・測定対象物、2・・・・・・搬入手段、
3・・・・・・ターンテーブル、4・・・・・・回転軸
、5・・・・・・小溝、6・・・・・・クッション材、
7・・・・・・透孔、8・・・・・・ガイド、9・・・
・・・光学的内部品質分析手段、10・・・・・遮光手
段、11・・・・・・取り出しローラ、12・・・・・
・コンベア、13・・・・・・位置検出光電管、14・
・・・・・エアジェツト、B・・・・・・押さえローラ
、D・・・・・・参照光の受光器、E・・・・・・測定
光受光器。
光学的内部品質分析手段の概略構成図である。 1・・・・・・測定対象物、2・・・・・・搬入手段、
3・・・・・・ターンテーブル、4・・・・・・回転軸
、5・・・・・・小溝、6・・・・・・クッション材、
7・・・・・・透孔、8・・・・・・ガイド、9・・・
・・・光学的内部品質分析手段、10・・・・・遮光手
段、11・・・・・・取り出しローラ、12・・・・・
・コンベア、13・・・・・・位置検出光電管、14・
・・・・・エアジェツト、B・・・・・・押さえローラ
、D・・・・・・参照光の受光器、E・・・・・・測定
光受光器。
Claims (1)
- 水平面に対して傾斜した状態で回転し、且つ、周縁には
複数個の透孔を有する測定対象物載置用のターンテーブ
ルと、前記透孔の内面に設けられたクッション材と、前
記ターンテーブル上に測定対象物を搬入する搬入手段と
、ターンテーブル上の測定対象物を、ターンテーブルの
回転に伴ない前記透孔内に案内するガイドと、光源及び
受光器を具備していて、前記透孔内には筐りこんで保持
された状態の測定対象物の内部品質を分析する光学的内
部品質分析手段と、上記光学的内部品質分析手段により
分析するさいに、測定対象物を前記透孔内面のクッショ
ン材上面に押圧するクッション機能を有する抑圧手段と
、分析時に外光の侵入を遮断する遮光手段とようなる内
部品質分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10257076U JPS5825345Y2 (ja) | 1976-07-31 | 1976-07-31 | 内部品質分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10257076U JPS5825345Y2 (ja) | 1976-07-31 | 1976-07-31 | 内部品質分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5320984U JPS5320984U (ja) | 1978-02-22 |
JPS5825345Y2 true JPS5825345Y2 (ja) | 1983-05-31 |
Family
ID=28712758
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10257076U Expired JPS5825345Y2 (ja) | 1976-07-31 | 1976-07-31 | 内部品質分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5825345Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4218149B2 (ja) * | 1999-09-17 | 2009-02-04 | 財団法人雑賀技術研究所 | 青果物品質測定装置 |
JP4589676B2 (ja) * | 2004-08-03 | 2010-12-01 | 住友ゴム工業株式会社 | タイヤ用ゴム部材の製造方法。 |
-
1976
- 1976-07-31 JP JP10257076U patent/JPS5825345Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5320984U (ja) | 1978-02-22 |
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