JPS58225667A - 光電変換装置 - Google Patents

光電変換装置

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JPS58225667A
JPS58225667A JP57106945A JP10694582A JPS58225667A JP S58225667 A JPS58225667 A JP S58225667A JP 57106945 A JP57106945 A JP 57106945A JP 10694582 A JP10694582 A JP 10694582A JP S58225667 A JPS58225667 A JP S58225667A
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JP
Japan
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film
photoelectric conversion
moreover
layers
conversion film
Prior art date
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Pending
Application number
JP57106945A
Other languages
English (en)
Inventor
Taiji Shimomoto
下元 泰治
Toshihisa Tsukada
俊久 塚田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS58225667A publication Critical patent/JPS58225667A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/08Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof in which radiation controls flow of current through the device, e.g. photoresistors
    • H01L31/09Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation
    • H01L31/095Devices sensitive to infrared, visible or ultraviolet radiation comprising amorphous semiconductors

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  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Optical Filters (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Color Television Image Signal Generators (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はカラーの撮像装置の巻電変換装置に関するもの
である。
従来のカラー撮@!累子は、光を分離するカラーフィル
ターとこのカラーフィルタkmた光の強度に対してフォ
トキャリアが発生し、光電変換することVCより目的會
達していた。最も一般的な形を第1図に示す。基板ガラ
スlの上にカラーフィルタ2があり、その上に透明電極
3があり、その上に光電変換膜4がある。光は2のフィ
ルタで分離され、4で光電変換されて、その信号が、6
の電子ビームで読み出される。つまり、従来はフィルタ
部分と光電変換部分が、分離されており異なった材料で
行なわれていた。本発明はこれ盆同−の材料で行なうこ
とにより、フィルターをなくシ簡便にして高精度のカラ
ー撮像装mi提供するもの2図は単管撮像素子として本
発明音用いた場合の説明図である。図中21〜27まで
はガラス基板上に形成した本発明の光電変換装置の断面
図である。この構成は、基板21の上にまず透明電極(
ネサ又はITOか半透明金属)膜22を堆積し、画面の
大きさに写真法で形成する。この膜の形成方法はスパッ
タ法CVD又は電子線蒸着法で堆積し膜厚は3000A
以下にする。次に光を変換膜23會画面22より大きく
堆積する。この膜の分光吸収率は吸収率の50%値が5
00nn1i越えないものとし、膜厚はll4m以下と
する。この膜の組成は、非晶質S1トエ=C,−H,糸
の@会には0、1 (X (1である。又、X−00場
合は水素の官有電が0.1以上とする。この上に、透明
電極24を堆積し、この膜の厚さを22よりも少なくて
も薄くないようにする。22と同様な方法によシ堆積し
膜の形が第2図の29の形になるよう化学エッチ法(H
F +HCL +HNOs )でエッチするか又はプラ
ズマ法(又はスパッタエッチ法)で加工する。
次にこの上に光電変換膜25を堆積する。この膜の厚さ
は0.5〜2.0μ内の値とする。25の換金23と同
じく非晶質5jl−x−cニーH7で構成する場合Fi
、23のXの値よりは25のXの値が大きくならないX
の値の膜とし、0.05 (x (0,7とする。
x=00膜を用いる場合には、23の膜のyの値よりも
大きくない換金用い、膜厚d5は1μm<di<3μm
の値とする。次に透明電極26會25の上に堆積する。
堆積方法は先の24..22と同様である。26の形状
は平面上くり返しピッチの1/3を越えないストライプ
状にし、先の22.24と同様な方法で加工する。この
平面口金30に示す。さらにこの上に光電変換膜27を
堆積するこの膜k S 11−x  Cx  Hyで構
成する場合には、25の場合のXよりも大きくない膜で
構成する。x = 00膜を用いる場合には25のyよ
りも少なくても大きくないもの音用いる。25の膜厚d
、は1.2μm(d、(4μmとする。以上、23,2
5.27の光電変換膜5il−8−C8−H,の組成で
ある。x、yの値および膜厚についてふれて来たが、こ
の他に23.25.および27の光電変換膜については
、これらの膜の堆積条件であるI基板は度、水素ガス、
アルゴンガス、モノシランガス圧、放電パワーなど全最
適条件化することにより、これらの膜の透過率の50%
値が各々、470〜500nm、560〜590nmお
よび、700 r+ 1n〜800nmの軛囲内に来る
ように作成する。以上までの説明では23,25゜27
(D膜O材1+KS、t−C−HyO形(Dみヶ   
  ’示したが、これらの膜にB、AA、(la又はN
p、Asi添加する場合には第1図の光電変換膜23.
25.27にこれら全添加した時の濃度が81に対して
1100pp以下になるように添加とする。
なお代表的なスパッタ法の堆積条件?示すと、単又は多
結晶Siで5N以上のターゲラトラ用い、スパッタガス
としては不活性ガス(Hel Ne1Ar、Kr、Xe
)ガス圧’fc 10−’ 〜10−”T’orr台に
セットし、高純1(VN以上)の水素會10−’ 〜1
0−”l’orr台流入し、放電パワーt1〜4 W/
cm” S 1−ターゲットに供給することにより堆積
する。上述の811−X  Cx−Hi k堆積するに
はさらにCH4やC2H8等の炭化水素系のカスか又は
5i(CHa)4等のガス會さらにもう一つのバルブよ
り導入することによりStトx−C、−H,y f堆積
し、XO値はこれらのガス圧全変化することにより、堆
積し得る。又、これら以外の微量添加物についてはこれ
らの水素化物又はこれらの有機金属ガスの状態でさらに
他のバルブより導入することにより導入し添加し得るし
、又81トx  Cxのターゲットを用いることにより
5i1−、−C8−H,會得ることができる。又、スパ
ッタ法以外では、Siの供給方法として、51(CH3
)4等のガスで供給する場合このガス圧kO,01〜I
Torr近くに保ち、20〜100W程高周波パワーを
与えてグロー放電奮起し、熱分解することによp堆積す
ることもできる。この時8+、−x  Cx  Hアを
得るにはスパッタの時と同様に各々のCH4+ C2H
ll ’P水素ガス分圧を変えて堆積することにより達
成し得るしこの場合には基板温度が重要となJ)700
C〜300Cに外部よp加熱する。なお信号の取出しは
ビームと28の間では青十緑十赤、ビームと29間は緑
十赤、ビームと30の間は赤信号が取り出され各々を処
理することによシ各色の信号が取p出せる。
実施例2 第3図は、第2図と同体な方法であるが第2図の透明電
極22,24.26が、各々図示したように、基板側か
ら、画面全体、2/3.1/3であった。これに比べて
第3図の22.24.26は、その上面図、28,29
.30で示したように各々Dl像に供する画面の1/(
’t−越えないように各々が、空間位相的に1/3ずつ
ずれた形に形成している。膜の堆積方法ならびに条件は
実施例1と同様な方法で可能である。
実施例3 第4図に示す例は固体撮像素子用の信号処理走査5i−
LSIの上に堆積された光電変換膜に本発明を適用した
例である。図中41はSi基板でその表面に各画法に対
広する電極42があり、その上に第2図の27と同じ特
性金持った光電変換膜43があり、この上に透明電極4
4全堆積加工し、次に45の光電変換膜がある。この膜
は第2図の25の特性金持ち、同様に46Fi、透明電
極47が第2図の23と同じ特性を持つ膜である。
このA44,46.48の上面図が、第4図の49.5
0.51であり、各々画素数の1/3゜2/3.3/3
t−占めている。これは撮像管の場合の実施例1に対応
した方法である。
実施例4 第5図は第4図と同様、固体撮像素子の光電変換膜とし
て用いた例である。膜の特性透明電極はそれぞれ第4図
と同体であり、同−屋が同じ特性に対応している。両者
のちがいは透明電極の上面図において本実施例の場合は
、谷49〜51の透明!極は各々画素数の1/3全占め
、空間配置的に1/3周期ずつず扛て配列されている点
にある。
実施例5 1〜4までの実施例はそれぞれ2次元に配列された而で
の色分離カラー撮像であったが、第6図に示す例は一次
元のカラ一体@(色分離)索子である。基板(例えばガ
ラス)60上に透明電極61を堆積し、この上方向に実
施例1と同し特性の膜を重ね堆積することにより構成さ
れる。透明電極は各々61,63.65であり、光電変
換膜は62,64.66でめり、それぞれ、青、緑。
赤の光に対する光電変換部分となる。実施例1の場合信
号の取出しは、電子線と各透明電極の間か      
 。
ら取り出されるが本実施例の場合には、電子線ビームに
相当する電極は67の金属電極である。青。
緑、赤信号はそれぞれ61−63.63−65゜65−
67の間から取り出すか又は信号処理して、61と63
.61−65.61−67間から取り出すことも出来る
【図面の簡単な説明】
第1図は従来型カラー撮1球装置の面板#百図、第2.
3図は本発明の実施例のカラー撮像面板の断面図と各透
明電極の平面図、第4,5図は同じく本発明を施こした
カラー固体撮像素子の断面図と各カラーに対する透明電
極の′+平面図#A6図は同じくカラーセンサーの断面
1である。 1・・・ガラス基板、2・・・カラーフィルタ、3・・
・透明電極、4・・・光電変換膜、21・・・基板、2
2,24゜26・・・透明電極、23,25.27・・
・光電変換膜、41・・・基板、42・・・1lIii
累i!極、44,48.48・・・透明電極、43,4
5.47・・・光電変換膜、60・・・基板、61,6
3.65・・・透IJ11g極、62゜64.66・・
・光電変換膜、67・・・金Ij4電極。 代理人 弁理士 薄田利幸 1 1  図 /

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、基板上に少なくても光を透過する導電体と、光11
    流に変換する、光電変愕膜とt有する光電変換素子にお
    いて、光電変換膜が、2種類以上の組成の異なる層より
    成り、その各々の光電変換膜の間に光を透過する、導i
    !不薄膜が全面又は部分的に形成されていること全特徴
    とする光電変換装置。
JP57106945A 1982-06-23 1982-06-23 光電変換装置 Pending JPS58225667A (ja)

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JP57106945A JPS58225667A (ja) 1982-06-23 1982-06-23 光電変換装置

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JP57106945A JPS58225667A (ja) 1982-06-23 1982-06-23 光電変換装置

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JPS58225667A true JPS58225667A (ja) 1983-12-27

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ID=14446506

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6182468A (ja) * 1984-09-29 1986-04-26 Toshiba Corp カラ−イメ−ジセンサ

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6182468A (ja) * 1984-09-29 1986-04-26 Toshiba Corp カラ−イメ−ジセンサ
JPH0374037B2 (ja) * 1984-09-29 1991-11-25

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