JPS5821875A - イメ−ジセンサ - Google Patents

イメ−ジセンサ

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Publication number
JPS5821875A
JPS5821875A JP56121118A JP12111881A JPS5821875A JP S5821875 A JPS5821875 A JP S5821875A JP 56121118 A JP56121118 A JP 56121118A JP 12111881 A JP12111881 A JP 12111881A JP S5821875 A JPS5821875 A JP S5821875A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image sensor
amorphous silicon
electrode
gap
adjacent electrodes
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP56121118A
Other languages
English (en)
Inventor
Kuniharu Yamada
邦晴 山田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Suwa Seikosha KK
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Suwa Seikosha KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp, Suwa Seikosha KK filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP56121118A priority Critical patent/JPS5821875A/ja
Publication of JPS5821875A publication Critical patent/JPS5821875A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/146Imager structures
    • H01L27/14665Imagers using a photoconductor layer

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は非晶質シリコンを光導電素子層として利用する
イメージセンサに関する。
本発明の目的は光の感度特性が7ラツトで、しかも出力
信号のバラツキが小さいイメージセンサを得ることであ
る。
従来ファクシミリ送信機の光電変換系には、CCDある
いはMOSなどの工Cセンサが使用され2ている。
しかしセンサが小型・高密度であるためレンズ光学系に
よシ原稿を縮少させる必要があシ、装置の小型化が困難
でしかも高価格である欠点を有している。
そこで0(isを光検出素子として用い、導光用に集来
性光ファイバー素子を用いるイメージセンサの研究が進
められている。
0ciEIは感度が高く、大面積化が容易である反面、
膜の均一性が悪い、緑色から赤色の光に対する感度が低
い、光のオン・オフに対する応答速度が遅い、前件を有
する等種々の欠点を有する。
本発明はかかる欠点を除去するもので、光導電素子層に
非晶質シリコンを用い、しかも隣接する電極間の間隙を
10μm以上とすることによシ、低価格で特性の優れた
イメージセンサが得られた以下図面によυ本発明につい
て更に具体的に詳述する。
第1図はイメージセンサの基本構成を示す図で、RI 
s R2”””Rnは共通電極、al 、02°゛。
C工は個別電極、Dl 、D2・・・・・・D?FLは
ダイオード、γ1、γ2・・・・・・γmは光4電素子
、RLは負荷抵抗、Eは電源である。
共通電極R,をONし、個別型&Cx、Cz・・・Ct
r>を順次ONすることにより光導電素子γ11r2・
・・・・・γmの抵抗変化が外部電流の変化として検出
される。
以下これを繰返し、1走査分の信号を得ていくなおここ
では配線数を減らすため上記の如くマトリクス駆動を示
したが、勿論共通電極を個別電極として駆動するスタテ
ィック駆動とすることも可能である。
第2図はイメージセンサの具体的な構造を示す図で、2
1はガラス基板、22は共通電極、23ば非晶質シリコ
ン層、24は個別電極、25は基台、26は絶縁フィル
ム、27は力、<−12Bは共11J−ド線、29は上
部配線である。
その製造方法は、ガラス基板21上に共通電極2.2と
して、A l l ’Or、  O%、 A B、  
N i等の金属、又は8%02%  工?L203、■
TO等の酸化物を真空蒸着、スパッタリング、イオンブ
レーティング等の手段により形成し、次いでプラズマ0
VD1スパツタリング等の手段によシ光導電層としての
非晶質シリコン層23を形成する。その後個別電極24
を共通電極22と同様にして形成し、その−Fに予め上
部配線29を設けた絶縁フィルム26を溶着する。
第6図は従来のCaSを用いたイメージセンサと本発明
による非晶質シリコン層を用いたイメージセンサの分光
感度特性を比較する図である。
縦軸は相対感度S(%)を示し、横軸は波長人(λ)を
示す。
図中31はOdS、32は非晶質シリコンの場合を示す
図から明らかな如(CaSは緑色〜赤色の光に対して急
激に感度が低下しているため光源に自ら制限を受けるが
、本発明の非晶質シリコンを用いた場合には可視光全般
に感度を有する為各種の光源が使用可能である。
又概光導電層の特性にバラツキを有する場合、出力信号
のバラツキが発生する為、±10%以内におさえる必要
があるが、0(ISではこの制御が難しく、一方弁晶質
シリコンでは比較的容易であり、量産性が優れる利点を
有する。
更に応答特性に関して、光照射後光電流が飽和値の80
%に達するまでの立上り時間、及び光遮断後飽和値の2
0%まで減衰する減衰時間を比較すると、CdSの場合
107nxで立上シ時間は25〜5000 m 7、f
’+減衰時間は20〜700m渡であるのに対して非晶
質シリコンの場合、立上り時間及び減衰時間とも数m5
ec〜数10m5ecとなり応答速度が1桁向上した。
この為低速から高速のファクシミリまで充分使用可能で
ある。
更に解像度を向上させる目的に対しては、素子数が多い
程良好な画像が得られる−が、隣接する電極の間隙が1
0μm以下になるとき一つ電流が発生する為、逆に文字
のにじみ、画像のボケが発生する− 従って隣接する電極間の間隙は10μ慨以上とする。
以上詳述した如く本発明によれば小型で、応答速度が速
く、解像度の優れたイメージセンサが得られ、小型ファ
クシミリ等に極めて有効である。
【図面の簡単な説明】
第1図はイメージセンサの基本構成を示す図である。 第2図はイメージセンサの具体的な構造を示す図である
。 第3図は従来のOdSを光導電層に用いたイメージセン
サと非晶質シリコンを用いたイメージセンサの分光感度
特性を示す図である。 以上 出願人 株式会社諏訪精工舎 代理人 最 上   務

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光導電素子の抵抗変化を利用するイメージセンサ
    において、該光4電素子として非晶質シリコンを用いる
    ことを特徴とするイメージセンサ。
  2. (2)  隣接する電極間の間隙を10μm以上とする
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のイメージ
    センサ。
JP56121118A 1981-07-31 1981-07-31 イメ−ジセンサ Pending JPS5821875A (ja)

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JP56121118A JPS5821875A (ja) 1981-07-31 1981-07-31 イメ−ジセンサ

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JP56121118A JPS5821875A (ja) 1981-07-31 1981-07-31 イメ−ジセンサ

Publications (1)

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JPS5821875A true JPS5821875A (ja) 1983-02-08

Family

ID=14803325

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP56121118A Pending JPS5821875A (ja) 1981-07-31 1981-07-31 イメ−ジセンサ

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JP (1) JPS5821875A (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5670673A (en) * 1979-11-14 1981-06-12 Hitachi Ltd Photoelectric converter
JPH071804A (ja) * 1993-06-21 1995-01-06 Atsusato Kitamura インクリボン

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5670673A (en) * 1979-11-14 1981-06-12 Hitachi Ltd Photoelectric converter
JPH071804A (ja) * 1993-06-21 1995-01-06 Atsusato Kitamura インクリボン

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